Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Rodriguez, G.
Results
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Arinin, V.A.; Buyko, A.M.; Burenkov, O.M.; Yegorychev, B.T.; Vasyukov, V.A.; Gorbachev, Y.N.; Zmushko, V.V.; Ivanova, G.O.; Ivanovsky, A.V.; Kuzyayev, A.I.; Kulagin, A.A.; Morozov, I.V.; Mokhov, V.N.; Nadezhin, S.S.; Nizovtsev, P.N.; Pavliy, V.V.; Pak, S.V.; Polienko, G.A.; Petrukhin, A.A.; Startsev, A.I.; Skobelev, A.N.; Sokolova, N.V.; Sokolov, S.S.; Soloviev, V.P.; Sofronov, V.N.; Khoroshailo, E.S.; Chaika, T.I.; Yakubov, V.B.; Anderson, B.G.; Atchison, W.L.; Faehl, R.J.; Lindemuth, I.R.; McCulloch, Q.; Olson, R.T.; Oro, D.M.; Reinovsky, R.E.; Rodriguez, G.; Stokes, J.L.; Tabaka, L.J.; Westley, D.T.;
By: Arinin, V.A.; Buyko, A.M.; Burenkov, O.M.; Yegorychev, B.T.; Vasyukov, V.A.; Gorbachev, Y.N.; Zmushko, V.V.; Ivanova, G.O.; Ivanovsky, A.V.; Kuzyayev, A.I.; Kulagin, A.A.; Morozov, I.V.; Mokhov, V.N.; Nadezhin, S.S.; Nizovtsev, P.N.; Pavliy, V.V.; Pak, S.V.; Polienko, G.A.; Petrukhin, A.A.; Startsev, A.I.; Skobelev, A.N.; Sokolova, N.V.; Sokolov, S.S.; Soloviev, V.P.; Sofronov, V.N.; Khoroshailo, E.S.; Chaika, T.I.; Yakubov, V.B.; Anderson, B.G.; Atchison, W.L.; Faehl, R.J.; Lindemuth, I.R.; McCulloch, Q.; Olson, R.T.; Oro, D.M.; Reinovsky, R.E.; Rodriguez, G.; Stokes, J.L.; Tabaka, L.J.; Westley, D.T.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0927-2
By: Tourin, A.; Seiler, J.M.; Paumel, K.; Vanderhaegen, M.; Rodriguez, G.; Jeannot, J.P.;
By: Tourin, A.; Seiler, J.M.; Paumel, K.; Vanderhaegen, M.; Rodriguez, G.; Jeannot, J.P.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0927-2
By: Bernardin, B.; Prele, G.; Jammes, C.; Rodriguez, G.; Jeannot, J.P.; Portier, J.L.; Loisy, F.; Verrier, D.; Maire, S.; Jadot, F.;
By: Bernardin, B.; Prele, G.; Jammes, C.; Rodriguez, G.; Jeannot, J.P.; Portier, J.L.; Loisy, F.; Verrier, D.; Maire, S.; Jadot, F.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-1965-2
By: Savornin, B.; Pornin, J.L.; Saint-Patrice, D.; Fanget, S.; Danthon, S.; Rodriguez, G.;
By: Savornin, B.; Pornin, J.L.; Saint-Patrice, D.; Fanget, S.; Danthon, S.; Rodriguez, G.;
2011 / IEEE
By: Leon, C.; Barbancho, J.; Rodriguez, G.; Larios, D. F.; Molina, F. J.; Mora-Merchan, J. M.;
By: Leon, C.; Barbancho, J.; Rodriguez, G.; Larios, D. F.; Molina, F. J.; Mora-Merchan, J. M.;
1994 / IEEE / 0-8186-5835-5
By: Lagares, J.; Inigo, J.; Gimenez, G.; Rodriguez, G.; Reig, F.; Navarro, L.;
By: Lagares, J.; Inigo, J.; Gimenez, G.; Rodriguez, G.; Reig, F.; Navarro, L.;
1996 / IEEE / 0-7803-3547-3
By: Hunt, B.; Johnston, R.; Bass, E.A.; Hall, W.; Izhizuka, A.; Gottberg, I.; Rodriguez, G.;
By: Hunt, B.; Johnston, R.; Bass, E.A.; Hall, W.; Izhizuka, A.; Gottberg, I.; Rodriguez, G.;
1997 / IEEE / 0-7803-4160-0
By: Das, H.; Charles, S.; Istrate, D.; Steele, R.; Rodriguez, G.; Boswell, C.; Ohm, T.;
By: Das, H.; Charles, S.; Istrate, D.; Steele, R.; Rodriguez, G.; Boswell, C.; Ohm, T.;
1996 / IEEE / 0-7803-3811-1
By: Rodriguez, G.; Paljug, E.; Boswell, C.; Ohm, T.; Das, H.; Barlow, E.; Steele, R.;
By: Rodriguez, G.; Paljug, E.; Boswell, C.; Ohm, T.; Das, H.; Barlow, E.; Steele, R.;
1997 / IEEE / 0-7803-4213-5
By: Coulter, W.L.; Cochrane, J.C.; Bartsch, R.R.; Wright, B.L.; Winske, D.; Trainor, R.J.; Taylor, A.; Studebaker, J.K.; Stone, J.B.; Stokes, J.L.; Sanders, L.D.; Rohlev, L.E.; Rodriguez, G.; Roberts, J.P.; Oro, D.M.; Oona, H.; Morgan, D.V.; Hall, C.R.; Gore, R.A.; Fulton, R.D.; Fortgang, C.M.; Erickson, G.A.; Ekdahl, C.A.; Calahan, K.R.; Brownell, J.H.; Bartlett, R.J.; Anderson, W.E.; Atchison, W.L.; Sheppard, M.G.;
By: Coulter, W.L.; Cochrane, J.C.; Bartsch, R.R.; Wright, B.L.; Winske, D.; Trainor, R.J.; Taylor, A.; Studebaker, J.K.; Stone, J.B.; Stokes, J.L.; Sanders, L.D.; Rohlev, L.E.; Rodriguez, G.; Roberts, J.P.; Oro, D.M.; Oona, H.; Morgan, D.V.; Hall, C.R.; Gore, R.A.; Fulton, R.D.; Fortgang, C.M.; Erickson, G.A.; Ekdahl, C.A.; Calahan, K.R.; Brownell, J.H.; Bartlett, R.J.; Anderson, W.E.; Atchison, W.L.; Sheppard, M.G.;
1998 / IEEE / 0-7803-4792-7
By: Shlacter, J.S.; Taylor, A.; Atchison, W.L.; Bartsch, R.R.; Benage, J.F.; Cochrane, J.C.; Coulter, W.L.; Ekdahl, C.A.; Faehl, R.J.; Fulton, R.D.; Guzik, J.; Holtkamp, D.; Jones, M.E.; Keinigs, R.; King, N.S.P.; Lee, H.; Lindemuth, I.R.; Morgan, D.V.; Obst, A.W.; Oona, H.; Oro, D.; Platts, D.; Reinovsky, R.E.; Rodriguez, G.; Sandoval, G.M.; Scudder, D.W.; Sheppard, M.; Sorenson, D.S.; Stokes, J.L.; Adams, P.J.;
By: Shlacter, J.S.; Taylor, A.; Atchison, W.L.; Bartsch, R.R.; Benage, J.F.; Cochrane, J.C.; Coulter, W.L.; Ekdahl, C.A.; Faehl, R.J.; Fulton, R.D.; Guzik, J.; Holtkamp, D.; Jones, M.E.; Keinigs, R.; King, N.S.P.; Lee, H.; Lindemuth, I.R.; Morgan, D.V.; Obst, A.W.; Oona, H.; Oro, D.; Platts, D.; Reinovsky, R.E.; Rodriguez, G.; Sandoval, G.M.; Scudder, D.W.; Sheppard, M.; Sorenson, D.S.; Stokes, J.L.; Adams, P.J.;
1998 / IEEE / 0-7803-4792-7
By: Trainor, R.J.; Wood, B.; Parsons, W.M.; Bartsch, R.R.; Benage, J.F.; Bowers, R.L.; Bowman, D.W.; Cochrane, J.C.; Davis, H.A.; Ekdahl, C.A.; Fulton, R.D.; Gribble, R.F.; Guzik, J.; Jones, M.E.; Keinigs, R.; Kyrala, G.; Lee, H.; Munson, C.; Oro, D.; Ney, S.A.; Platts, D.; Reinovsky, R.E.; Roberts, J.; Rodriguez, G.; Scudder, D.W.; Sheppard, M.; Shlachter, J.S.; Taylor, A.; Watt, R.G.;
By: Trainor, R.J.; Wood, B.; Parsons, W.M.; Bartsch, R.R.; Benage, J.F.; Bowers, R.L.; Bowman, D.W.; Cochrane, J.C.; Davis, H.A.; Ekdahl, C.A.; Fulton, R.D.; Gribble, R.F.; Guzik, J.; Jones, M.E.; Keinigs, R.; Kyrala, G.; Lee, H.; Munson, C.; Oro, D.; Ney, S.A.; Platts, D.; Reinovsky, R.E.; Roberts, J.; Rodriguez, G.; Scudder, D.W.; Sheppard, M.; Shlachter, J.S.; Taylor, A.; Watt, R.G.;
1997 / IEEE / 0-7803-4213-5
By: Trainor, R.J.; Parsons, W.M.; Ballard, E.O.; Bartsch, R.R.; Benage, J.F.; Bennett, G.A.; Bowers, R.L.; Bowman, D.W.; Brownell, J.H.; Cochrane, J.C.; Davis, H.A.; Ekdahl, C.A.; Fulton, R.D.; Gribble, R.F.; Griego, J.R.; Guzik, J.; Jones, M.E.; Hinckley, W.B.; Hosack, K.W.; Kasik, R.J.; Keinigs, R.; Lee, H.; Lopez, E.A.; Lindemuth, I.R.; Monroe, M.D.; Moses, R.W.; Oro, D.; Ney, S.A.; Pierce, D.D.; Platts, D.; Reass, W.A.; Reinovsky, R.E.; Rodriguez, G.; Salazar, H.R.; Sandoval, G.M.; Scudder, D.W.; Sheppard, M.; Shlachter, J.S.; Taylor, A.; Thompson, M.C.; Valdez, G.A.; Watt, R.G.; Wurden, G.A.;
By: Trainor, R.J.; Parsons, W.M.; Ballard, E.O.; Bartsch, R.R.; Benage, J.F.; Bennett, G.A.; Bowers, R.L.; Bowman, D.W.; Brownell, J.H.; Cochrane, J.C.; Davis, H.A.; Ekdahl, C.A.; Fulton, R.D.; Gribble, R.F.; Griego, J.R.; Guzik, J.; Jones, M.E.; Hinckley, W.B.; Hosack, K.W.; Kasik, R.J.; Keinigs, R.; Lee, H.; Lopez, E.A.; Lindemuth, I.R.; Monroe, M.D.; Moses, R.W.; Oro, D.; Ney, S.A.; Pierce, D.D.; Platts, D.; Reass, W.A.; Reinovsky, R.E.; Rodriguez, G.; Salazar, H.R.; Sandoval, G.M.; Scudder, D.W.; Sheppard, M.; Shlachter, J.S.; Taylor, A.; Thompson, M.C.; Valdez, G.A.; Watt, R.G.; Wurden, G.A.;
1997 / IEEE / 0-7803-4213-5
By: Shlachter, J.S.; Wurden, G.A.; Atchison, W.L.; Bartsch, R.R.; Benage, J.F.; Cochrane, J.C.; Coulter, W.L.; Ekdahl, C.A.; Faehl, R.J.; Fulton, R.D.; Guzik, J.; Holtkamp, D.; Jones, M.E.; Keinigs, R.; King, N.S.P.; Kyrala, G.A.; Lee, H.; Lindemuth, I.R.; Morgan, D.V.; Moses, R.W.; Obst, A.W.; Oona, H.; Oro, D.; Parsons, W.M.; Platts, D.; Reinovsky, R.E.; Rodriguez, G.; Scudder, D.W.; Sheppard, M.; Sorenson, D.S.; Stokes, J.L.; Taylor, A.; Trainor, R.J.; Watt, R.G.; Adams, P.J.;
By: Shlachter, J.S.; Wurden, G.A.; Atchison, W.L.; Bartsch, R.R.; Benage, J.F.; Cochrane, J.C.; Coulter, W.L.; Ekdahl, C.A.; Faehl, R.J.; Fulton, R.D.; Guzik, J.; Holtkamp, D.; Jones, M.E.; Keinigs, R.; King, N.S.P.; Kyrala, G.A.; Lee, H.; Lindemuth, I.R.; Morgan, D.V.; Moses, R.W.; Obst, A.W.; Oona, H.; Oro, D.; Parsons, W.M.; Platts, D.; Reinovsky, R.E.; Rodriguez, G.; Scudder, D.W.; Sheppard, M.; Sorenson, D.S.; Stokes, J.L.; Taylor, A.; Trainor, R.J.; Watt, R.G.; Adams, P.J.;
1999 / IEEE
By: Weisbin, C.R.; Rodriguez, G.; Matthies, L.; Shoemaker, C.; Krotkov, E.; Lavery, D.; Blitch, J.;
By: Weisbin, C.R.; Rodriguez, G.; Matthies, L.; Shoemaker, C.; Krotkov, E.; Lavery, D.; Blitch, J.;
1999 / IEEE / 1-55752-576-X
By: Siders, J.L.W.; Rodriguez, G.; Taylor, A.J.; Trugman, S.A.; Siders, C.W.;
By: Siders, J.L.W.; Rodriguez, G.; Taylor, A.J.; Trugman, S.A.; Siders, C.W.;
1999 / IEEE / 0-7803-5498-2
By: Holtkamp, D.B.; Roberts, J.P.; Clark, D.A.; Oro, D.M.; McCuistian, B.T.; Watt, R.G.; Fulton, R.D.; Rodriguez, G.; Taylor, A.J.; Trainor, R.J.; Bartsch, R.R.;
By: Holtkamp, D.B.; Roberts, J.P.; Clark, D.A.; Oro, D.M.; McCuistian, B.T.; Watt, R.G.; Fulton, R.D.; Rodriguez, G.; Taylor, A.J.; Trainor, R.J.; Bartsch, R.R.;
1999 / IEEE / 0-7803-5498-2
By: Goforth, J.H.; Anderson, W.A.; Armijo, E.V.; Atchison, W.L.; Bartos, J.J.; Clark, D.A.; Day, R.D.; Deninger, W.J.; Faehl, R.J.; Fowler, C.M.; Garcia, F.P.; Garcia, O.F.; Herrera, D.H.; Herrera, T.J.; Keinigs, R.K.; King, J.C.; Lindemuth, J.R.; Lopez, E.A.; Martinez, E.C.; Martinez, D.; McGuire, J.A.; Morgan, D.; Oona, H.; Oro, D.M.; Parker, J.V.; Randolph, R.B.; Reinovsky, R.E.; Rodriguez, G.; Stokes, J.L.; Sena, F.C.; Tabaka, L.J.; Tasker, D.G.; Taylor, A.J.; Torres, D.T.; Anderson, H.D.; Broste, W.B.; Johnson, J.B.;
By: Goforth, J.H.; Anderson, W.A.; Armijo, E.V.; Atchison, W.L.; Bartos, J.J.; Clark, D.A.; Day, R.D.; Deninger, W.J.; Faehl, R.J.; Fowler, C.M.; Garcia, F.P.; Garcia, O.F.; Herrera, D.H.; Herrera, T.J.; Keinigs, R.K.; King, J.C.; Lindemuth, J.R.; Lopez, E.A.; Martinez, E.C.; Martinez, D.; McGuire, J.A.; Morgan, D.; Oona, H.; Oro, D.M.; Parker, J.V.; Randolph, R.B.; Reinovsky, R.E.; Rodriguez, G.; Stokes, J.L.; Sena, F.C.; Tabaka, L.J.; Tasker, D.G.; Taylor, A.J.; Torres, D.T.; Anderson, H.D.; Broste, W.B.; Johnson, J.B.;
2000 / IEEE / 0-7695-0619-4
By: Morasso, P.; Vitali, P.; Frisone, F.; Perissinotto, S.; Parodi, C.; Sanguineti, V.; Rodriguez, G.;
By: Morasso, P.; Vitali, P.; Frisone, F.; Perissinotto, S.; Parodi, C.; Sanguineti, V.; Rodriguez, G.;
2001 / IEEE / 0-7803-7141-0
By: Kulagin, A.A.; Mokhov, V.N.; Kuzaev, A.I.; Gorbachev, Y.N.; Ivanova, G.G.; Chernyshev, V.K.; Buyko, A.M.; Tabaka, L.J.; Stokes, J.L.; Rodriguez, G.; Reinovsky, R.E.; Lindemuth, I.R.; Faehl, R.J.; Clark, D.A.; Atchison, W.L.; Anderson, B.G.; Yakubov, V.B.; Sofronov, V.N.; Petrukhin, A.A.; Pak, S.V.;
By: Kulagin, A.A.; Mokhov, V.N.; Kuzaev, A.I.; Gorbachev, Y.N.; Ivanova, G.G.; Chernyshev, V.K.; Buyko, A.M.; Tabaka, L.J.; Stokes, J.L.; Rodriguez, G.; Reinovsky, R.E.; Lindemuth, I.R.; Faehl, R.J.; Clark, D.A.; Atchison, W.L.; Anderson, B.G.; Yakubov, V.B.; Sofronov, V.N.; Petrukhin, A.A.; Pak, S.V.;
2001 / IEEE / 0-7803-7141-0
By: Turchi, P.J.; Sommars, W.; Anderson, H.D.; Anderson, W.; Atchison, W.L.; Bartos, J.; Bowers, R.L.; Guzik, J.; Kanzleiter, R.; Lebeda, C.; Olson, R.T.; Oro, D.; Randolph, R.B.; Reinovsky, R.E.; Roberts, J.; Rodriguez, G.; Sandoval, G.; Salazar, M.; Stokes, J.; Studebaker, J.; Taylor, A.J.; Cavazos, T.; Coffey, S.; Degnan, J.H.; Gale, D.; Kiuttu, G.; Peterkin, R.E.; Anderson, B.;
By: Turchi, P.J.; Sommars, W.; Anderson, H.D.; Anderson, W.; Atchison, W.L.; Bartos, J.; Bowers, R.L.; Guzik, J.; Kanzleiter, R.; Lebeda, C.; Olson, R.T.; Oro, D.; Randolph, R.B.; Reinovsky, R.E.; Roberts, J.; Rodriguez, G.; Sandoval, G.; Salazar, M.; Stokes, J.; Studebaker, J.; Taylor, A.J.; Cavazos, T.; Coffey, S.; Degnan, J.H.; Gale, D.; Kiuttu, G.; Peterkin, R.E.; Anderson, B.;
2001 / IEEE / 0-7803-7141-0
By: Kanzleiter, R.J.; Atchison, W.L.; Bowers, R.L.; Gittings, M.; Guzik, J.A.; Kiuttu, D.G.; Roberts, J.P.; Rodriguez, G.; Stokes, J.L.; Turchi, P.J.; Coffey, S.; Oro, D.M.;
By: Kanzleiter, R.J.; Atchison, W.L.; Bowers, R.L.; Gittings, M.; Guzik, J.A.; Kiuttu, D.G.; Roberts, J.P.; Rodriguez, G.; Stokes, J.L.; Turchi, P.J.; Coffey, S.; Oro, D.M.;
2001 / IEEE / 0-7803-7120-8
By: Tabaka, L.J.; Stokes, J.L.; Rodriguez, G.; Anderson, B.G.; Clark, D.A.;
By: Tabaka, L.J.; Stokes, J.L.; Rodriguez, G.; Anderson, B.G.; Clark, D.A.;
2001 / IEEE / 0-7803-7120-8
By: Kiuttu, G.; Degnan, J.; Coffey, S.; Turchi, P.; Stokes, J.; Rodriguez, G.; Atchison, W.; Roberts, J.; Oro, D.; Guzik, J.; Gittings, M.; Bowers, R.; Kanzleiter, R.;
By: Kiuttu, G.; Degnan, J.; Coffey, S.; Turchi, P.; Stokes, J.; Rodriguez, G.; Atchison, W.; Roberts, J.; Oro, D.; Guzik, J.; Gittings, M.; Bowers, R.; Kanzleiter, R.;
2001 / IEEE / 0-7803-7120-8
By: Turchi, P.J.; Sommars, W.; Anderson, B.; Anderson, H.D.; Anderson, W.; Atchison, W.L.; Bartos, J.; Bowers, R.L.; Corrow, R.; Echave, J.; Froggett, B.; Guzik, J.; Kanzleiter, R.; Lebeda, C.; Olson, R.T.; Oro, D.; Peterson, K.; Pritchett, R.; Randolph, R.B.; Reinovsky, R.E.; Roberts, J.; Rodriguez, G.; Sandoval, G.; Salazar, M.; Stokes, J.; Studebaker, J.; Tabaka, L.; Taylor, A.J.; Cavazos, T.; Coffey, S.; Degnan, J.H.; Gale, D.; Kiuttu, G.; Peterkin, R.E.; Alvey, K.;
By: Turchi, P.J.; Sommars, W.; Anderson, B.; Anderson, H.D.; Anderson, W.; Atchison, W.L.; Bartos, J.; Bowers, R.L.; Corrow, R.; Echave, J.; Froggett, B.; Guzik, J.; Kanzleiter, R.; Lebeda, C.; Olson, R.T.; Oro, D.; Peterson, K.; Pritchett, R.; Randolph, R.B.; Reinovsky, R.E.; Roberts, J.; Rodriguez, G.; Sandoval, G.; Salazar, M.; Stokes, J.; Studebaker, J.; Tabaka, L.; Taylor, A.J.; Cavazos, T.; Coffey, S.; Degnan, J.H.; Gale, D.; Kiuttu, G.; Peterkin, R.E.; Alvey, K.;
2002 / IEEE
By: Turchi, P.J.; Taylor, A.J.; Adams, C.; Anderson, B.; Anderson, H.D.; Anderson, W.E.; Armijo, E.; Atchison, W.L.; Bartos, J.; Bowers, R.L.; Cameron, B.; Cavazos, T.; Coffey, S.; Corrow, R.; Degnan, J.H.; Echave, J.; Froggett, B.; Gale, D.; Garcia, F.; Guzik, J.A.; Henneke, B.; Kanzleiter, R.J.; Kiuttu, G.; Lebeda, C.; Olson, R.T.; Oro, D.; Parker, J.V.; Peterkin, R.E., Jr.; Peterson, K.; Pritchett, R.; Randolph, R.B.; Reinovsky, R.E.; Roberts, J.; Rodriguez, G.; Sandoval, D.; Sandoval, G.; Salazar, M.A.; Sommars, W.; Steckle, W.; Stokes, J.L.; Studebaker, J.; Tabaka, L.; Alvey, K.;
By: Turchi, P.J.; Taylor, A.J.; Adams, C.; Anderson, B.; Anderson, H.D.; Anderson, W.E.; Armijo, E.; Atchison, W.L.; Bartos, J.; Bowers, R.L.; Cameron, B.; Cavazos, T.; Coffey, S.; Corrow, R.; Degnan, J.H.; Echave, J.; Froggett, B.; Gale, D.; Garcia, F.; Guzik, J.A.; Henneke, B.; Kanzleiter, R.J.; Kiuttu, G.; Lebeda, C.; Olson, R.T.; Oro, D.; Parker, J.V.; Peterkin, R.E., Jr.; Peterson, K.; Pritchett, R.; Randolph, R.B.; Reinovsky, R.E.; Roberts, J.; Rodriguez, G.; Sandoval, D.; Sandoval, G.; Salazar, M.A.; Sommars, W.; Steckle, W.; Stokes, J.L.; Studebaker, J.; Tabaka, L.; Alvey, K.;
2003 / IEEE / 0-7803-7789-3
By: Gorzelewski, A.; Duenas, B.; Rodriguez, G.; Suarez, B.; Corona, F.; Sacristan, E.; Calderon, M.;
By: Gorzelewski, A.; Duenas, B.; Rodriguez, G.; Suarez, B.; Corona, F.; Sacristan, E.; Calderon, M.;
2003 / IEEE / 0-7803-7789-3
By: Gonzalez, R.; Rodriguez, G.; Rodriguez, J.; Meissimilly, G.; Canizares, M.;
By: Gonzalez, R.; Rodriguez, G.; Rodriguez, J.; Meissimilly, G.; Canizares, M.;
2004 / IEEE / 0-7803-8334-6
By: Delchie, J.M.; Lample, R.; Chanconie, T.; Cazal, Y.; Cambonie, J.F.; Combes, P.; Boyer, J.L.; Bedoch, J.P.; Lassalle, F.; Bayol, F.; Cadiergues, R.; Roques, B.; Mangeant, C.; Thomas, J.C.; Saule, L.; Rodriguez, G.; Ritter, S.; Morell, A.; Laspalles, S.;
By: Delchie, J.M.; Lample, R.; Chanconie, T.; Cazal, Y.; Cambonie, J.F.; Combes, P.; Boyer, J.L.; Bedoch, J.P.; Lassalle, F.; Bayol, F.; Cadiergues, R.; Roques, B.; Mangeant, C.; Thomas, J.C.; Saule, L.; Rodriguez, G.; Ritter, S.; Morell, A.; Laspalles, S.;
2004 / IEEE / 0-7803-8586-1
By: Boyer, J.L.; Cambonie, J.F.; Cadiergues, R.; Roques, B.; Bedoch, J.P.; Calamy, H.; Hamann, F.; Lassalle, F.; Bayol, F.; Mangeant, Ch.; Thomas, J.C.; Saule, L.; Rodriguez, G.; Ritter, S.; Morell, A.; Laspalles, S.; Lample, R.; Delchie, J.M.; Combes, P.; Chanconie, T.; Cazal, Y.;
By: Boyer, J.L.; Cambonie, J.F.; Cadiergues, R.; Roques, B.; Bedoch, J.P.; Calamy, H.; Hamann, F.; Lassalle, F.; Bayol, F.; Mangeant, Ch.; Thomas, J.C.; Saule, L.; Rodriguez, G.; Ritter, S.; Morell, A.; Laspalles, S.; Lample, R.; Delchie, J.M.; Combes, P.; Chanconie, T.; Cazal, Y.;
2004 / IEEE / 1-889335-21-5
By: Drummond, M.; Weisbin, C.R.; Rodriguez, G.; Manvi, R.; Lincoln, W.; Howard, A.;
By: Drummond, M.; Weisbin, C.R.; Rodriguez, G.; Manvi, R.; Lincoln, W.; Howard, A.;
2005 / IEEE / 0-7803-9245-0
By: Alvarez, G.; Rodriguez, G.; Martin, A.; Hernandez, L.; Hernandez, A.;
By: Alvarez, G.; Rodriguez, G.; Martin, A.; Hernandez, L.; Hernandez, A.;
2005 / IEEE / 0-7803-9189-6
By: Frogget, B.C.; Esquibel, D.L.; Malone, R.M.; Rodriguez, G.; Lare, G.A.; McCulloch, Q.; Goodwin, P.M.; Clarke, S.A.; Becker, J.R.;
By: Frogget, B.C.; Esquibel, D.L.; Malone, R.M.; Rodriguez, G.; Lare, G.A.; McCulloch, Q.; Goodwin, P.M.; Clarke, S.A.; Becker, J.R.;
2005 / IEEE / 0-7803-9189-6
By: Arinin, V.A.; Buyko, A.M.; Burenkov, O.M.; Yegorychev, B.T.; Vasyukov, V.A.; Gorbachev, Y.N.; Zmushko, V.V.; Ivanova, G.G.; Ivanovskiy, A.V.; Kuzyayev, A.I.; Kulagin, A.A.; Morozov, I.V.; Mokhov, V.N.; Nadezhin, S.S.; Nizovtsev, P.N.; Pavliy, V.V.; Pak, S.V.; Polienko, G.A.; Petrukhin, A.A.; Startsev, A.I.; Skobelev, A.N.; Sokolova, N.V.; Sokolov, S.S.; Soloviev, V.P.; Sofronov, V.N.; Khoroshailo, E.S.; Chaika, T.I.; Yakubov, V.B.; Anderson, B.G.; Atchison, W.L.; Faehl, R.J.; Lindemuth, I.R.; McCulloch, Q.; Olson, R.T.; Oro, D.M.; Reinovsky, R.E.; Rodriguez, G.; Stokes, J.L.; Tabaka, L.J.; Westley, D.T.;
By: Arinin, V.A.; Buyko, A.M.; Burenkov, O.M.; Yegorychev, B.T.; Vasyukov, V.A.; Gorbachev, Y.N.; Zmushko, V.V.; Ivanova, G.G.; Ivanovskiy, A.V.; Kuzyayev, A.I.; Kulagin, A.A.; Morozov, I.V.; Mokhov, V.N.; Nadezhin, S.S.; Nizovtsev, P.N.; Pavliy, V.V.; Pak, S.V.; Polienko, G.A.; Petrukhin, A.A.; Startsev, A.I.; Skobelev, A.N.; Sokolova, N.V.; Sokolov, S.S.; Soloviev, V.P.; Sofronov, V.N.; Khoroshailo, E.S.; Chaika, T.I.; Yakubov, V.B.; Anderson, B.G.; Atchison, W.L.; Faehl, R.J.; Lindemuth, I.R.; McCulloch, Q.; Olson, R.T.; Oro, D.M.; Reinovsky, R.E.; Rodriguez, G.; Stokes, J.L.; Tabaka, L.J.; Westley, D.T.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0915-0
By: Pate, T.V.; Theuer, K.E.; Malone, R.M.; Gomez, G.H.; Delzer, K.W.; Berglin, R.A.; Becker, J.R.; Reinovsky, R.E.; Faehl, R.J.; Salazar, M.A.; Goodwin, P.M.; Rodriguez, G.; Oro, D.M.; Hammerberg, J.E.; Rousculp, C.L.; Morgan, D.V.;
By: Pate, T.V.; Theuer, K.E.; Malone, R.M.; Gomez, G.H.; Delzer, K.W.; Berglin, R.A.; Becker, J.R.; Reinovsky, R.E.; Faehl, R.J.; Salazar, M.A.; Goodwin, P.M.; Rodriguez, G.; Oro, D.M.; Hammerberg, J.E.; Rousculp, C.L.; Morgan, D.V.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0787-3
By: Micera, S.; Barbieri, M.P.; Anerdi, G.; Odetti, L.; Mazzei, D.; Rodriguez, G.; Dario, P.; Rizza, E.;
By: Micera, S.; Barbieri, M.P.; Anerdi, G.; Odetti, L.; Mazzei, D.; Rodriguez, G.; Dario, P.; Rizza, E.;
2007 / IEEE / 978-1-55752-834-6
By: Taylor, A. J.; Yellampalle, B.; Glownia, J. H.; Kim, K. Y.; Rodriguez, G.;
By: Taylor, A. J.; Yellampalle, B.; Glownia, J. H.; Kim, K. Y.; Rodriguez, G.;
Next Page
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap