Your Search Results

Use materials by this author in your textbook!

AcademicPub holds over eight million pieces of educational content – such as case studies and journal articles – for you to mix-and-match your way.

Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.

Author: Roda, C.

Results

2006 / IEEE
By: Adragna, P.; Alexa, C.; Anderson, K.; Antonaki, A.; Batusov, V.; Bednar, P.; Binet, S.; Biscarat, C.; Blanchot, G.; Bogush, A.; Bohm, C.; Boldea, V.; Bosman, M.; Bromberg, C.; Budagov, J.; Caloba, L.; Calvet, D.; Carvalho, J.; Castelo, J.; Castillo, M.V.; Sforza, M.C.; Cavasinni, V.; Cerqueira, A.S.; Chadelas, R.; Costanzo, D.; Cogswell, F.; Constantinescu, S.; Crouau, M.; Cuenca, C.; Damazio, D.O.; Daudon, F.; David, M.; Davidek, T.; De, K.; Del Prete, T.; Di Girolamo, B.; Dita, S.; Dolejsi, J.; Dolezal, Z.; Dotti, A.; Downing, R.; Efthymiopoulos, I.; Errede, D.; Errede, S.; Farbin, A.; Fassouliotis, D.; Fedorko, I.; Fenyuk, A.; Ferdi, C.; Ferrer, A.; Flaminio, V.; Fullana, E.; Garde, V.; Giakoumopoulou, V.; Gildemeister, O.; Gilewsky, V.; Giangiobbe, V.; Giokaris, N.; Gomes, A.; Gonzalez, V.; Grabsky, V.; Grenier, P.; Gris, P.; Guarino, V.; Guicheney, C.; Gupta, A.; Hakobyan, H.; Haney, M.; Henriques, A.; Higon, E.; Holmgren, S.; Hurwitz, M.; Huston, J.; Iglesias, C.; And, K.J.; Junk, T.; Karyukhin, A.; Khubua, J.; Klereborn, J.; Korolkov, I.; Krivkova, P.; Kulchitsky, Y.; Kurochkin, Yu.; Kuzhir, P.; Lambert, D.; Le Compte, T.; Lefevre, R.; Leitner, R.; Lembesi, M.; Li, J.; Liablin, M.; Lokajicek, M.; Lomakin, Y.; Amengual, J.M.L.; Lupi, A.; Maidantchik, C.; Maio, A.; Maliukov, S.; Manousakis, A.; Marques, C.; Marroquim, F.; Martin, F.; Mazzoni, E.; Montarou, G.; Merritt, F.; Miagkov, A.; Miller, R.; Minashvili, I.; Miralles, L.; Nemecek, S.; Nessi, M.; Nodulman, L.; Norniella, O.; Onofre, A.; Oreglia, M.; Pantea, D.; Pallin, D.; Pilcher, J.; Pina, J.; Pinhao, J.; Podlyski, F.; Portell, X.; Poveda, J.; Price, L.E.; Pribyl, L.; Proudfoot, J.; Ramstedt, M.; Reinmuth, G.; Richards, R.; Roda, C.; Romanov, V.; Rosnet, P.; Roy, P.; Rumiantsau, V.; Russakovich, N.; Salto, O.; Salvachua, B.; Sanchis, E.; Sanders, H.; Santoni, C.; Santos, J.; Saraiva, J.G.; Sarri, F.; Satsunkevitch, I.; Says, L.-P.; Schlager, G.; Schlereth, J.; Seixas, J.M.; Sellden, B.; Shevtsov, P.; Shochet, M.; Da Silva, P.; Silva, J.; Simaitis, V.; Sissakian, A.; Solodkov, A.; Solovianov, O.; Sosebee, M.; Spano, F.; Stanek, R.; Starchenko, E.; Starovoitov, P.; Suk, M.; Sykora, I.; Tang, F.; Tas, P.; Teuscher, R.; Tokar, S.; Topilin, N.; Torres, J.; Tsulaia, V.; Underwood, D.; Usai, G.; Valkar, S.; Valls, J.A.; Vartapetian, A.; Vazeille, F.; Vichou, I.; Vinogradov, V.; Vivarelli, I.; Volpi, M.; White, A.; Zaitsev, A.; Zenine, A.; Zenis, T.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0866-5
By: Riu, I.; Abolms, M.; Adragna, P.; Avolio, G.; Backhand, S.; Badescu, E.; Batreanu, S.; Battaglia, A.; Beck, H.; Bee, C.; Blair, R.R.; Bogaerts, A.; Bold, T.; Bosnian, M.; Boyd, J.; Burckhart-Chromek, D.; Caprini, M.; Cimino, D.; Ciobotaru, M.; Corso-Radu, A.; Costa, M.J.; Torres, R.C.; Cranfield, R.; Crone, G.; Dawson, J.; De Almeida Simoes, J.; DellaPietra, M.; Demers, S.; Di Mattia, A.; Dobson, M.; Dos Anjos, A.; Dotti, A.; Drake, G.; Ellis, N.; Ermoline, Y.; Eschrich, I.; Ferland, J.; Ferrari, R.; Ferrer, M.L.; Francis, D.; Gadomski, S.; Gameiro, S.; Garitaonandia, H.; Gaudio, G.; Gorini, B.; Gowdy, S.; Green, B.; Haberichter, W.; Hadavand, H.; Haeberli, C.; Hauschild, M.; Hauser, R.; Hillier, S.; Hinkelbein, C.; Hughes-Jones, R.; Idarraga, J.; Joos, M.; Kazarov, A.; Kekoe, R.; Kieft, G.; Kirk, J.; Kolos, S.; Kordas, K.; Korcyl, K.; Kugel, A.; Leahu, L.; Leahu, M.; Miotto, G.L.; Lellouch, D.; Mapelli, L.; Martin, B.; Masik, J.; Mcpherson, R.; Meessen, C.; Meirosu, C.; Mineev, M.; Misiejuk, A.; Mornacchi, G.; Mueller, M.; Garcia, R.M.; Nagasaka, Y.; Negri, A.; Padilla, C.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Pauly, T.; Petersen, J.; Pope, B.; Renkel, P.; Roda, C.; Salvatore, D.; Scannicchio, D.; Schiavi, C.; Schlereth, J.; Scholtes, I.; Sivoklokov, S.; Sloper, J.E.; Soloviev, I.; Spiwoks, R.; Stancu, S.; Stelzer, J.; Strong, J.; Sushkov, S.; Tremblet, L.; Unel, G.; Vandelh, W.; Vermeulen, J.; Von Der Schmitt, J.; Werner, P.; Wheeler-Ellis, S.; Wickens, F.; Wiedenmann, W.; Wilkens, H.; Wmklmeier, F.; Wu, X.; Yasu, Y.; Zema, F.; Zhang, J.; Zobermg, H.;
2008 / IEEE
By: Riu, I.; Abolins, M.; Adragna, P.; Avolio, G.; Backlund, S.; Badescu, E.; Baines, J.; Batreanu, S.; Battaglia, A.; Beck, H.P.; Bee, C.; Bell, P.; Blair, R.R.; Bogaerts, A.; Bold, T.; Bosman, M.; Boyd, J.; Burckhart-Chromek, D.; Caprini, M.; Cimino, D.; Ciobotaru, M.; Corso-Radu, A.; Costa, M.J.; Torres, R.C.; Cranfield, R.; Crone, G.; Dawson, J.; De Almeida Simoes, J.; DellaPietra, M.; Demers, S.; Di Mattia, A.; Dobson, M.; Dos Anjos, A.; Dotti, A.; Drake, G.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Ermoline, Y.; Eschrich, I.; Ferland, J.; Ferrari, R.; Ferrer, M.L.; Francis, D.; Gadomski, S.; Gameiro, S.; Garitaonandia, H.; Gaudio, G.; Gorini, B.; Gowdy, S.; Green, B.; Haberichter, W.; Hadavand, H.; Haeberli, C.; Hauschild, M.; Hauser, R.; Hillier, S.; Hinkelbein, C.; Hughes-Jones, R.; Idarraga, J.; Joos, M.; Kazarov, A.; Kehoe, R.; Kieft, G.; Kirk, J.; Kolos, S.; Kordas, K.; Korcyl, K.; Kugel, A.; Leahu, L.; Leahu, M.; Miotto, G.L.; Lellouch, D.; Mapelli, L.; Martin, B.; Masik, J.; Mcpherson, R.; Meessen, C.; Meirosu, C.; Mineev, M.; Misiejuk, A.; Mornacchi, G.; Mueller, M.; Garcia, R.M.; Nagasaka, Y.; Negri, A.; Padilla, C.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Pauly, T.; Petersen, J.; Pope, B.; Renkel, P.; Roda, C.; Salvatore, D.; Scannicchio, D.; Schiavi, C.; Schlereth, J.; Scholtes, I.; Sivoklokov, S.; Sloper, J.E.; Soloviev, I.; Spiwoks, R.; Stancu, S.; Stelzer, J.; Strong, J.; Sushkov, S.; Tremblet, L.; Unel, G.; Vandelli, W.; Vermeulen, J.; Von Der Schmitt, J.; Werner, P.; Wheeler-Ellis, S.; Wickens, F.; Wiedenmann, W.; Wilkens, H.; Winklmeier, F.; Wu, X.; Yasu, Y.; Zema, F.; Zhang, J.; Zobernig, H.;