Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Ritzenthaler, R.
Results
2011 / IEEE / 978-1-4577-0192-4
By: Faynot, O.; Iniguez, B.; Lime, F.; Ritzenthaler, R.; Pascal, F.; ElHusseini, J.; Bawedin, M.; Armand, J.; Martinez, F.; Valenza, M.;
By: Faynot, O.; Iniguez, B.; Lime, F.; Ritzenthaler, R.; Pascal, F.; ElHusseini, J.; Bawedin, M.; Armand, J.; Martinez, F.; Valenza, M.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-1117-6
By: Cerdeira, A.; Claeys, C.; Togo, M.; Franco, J.; Ritzenthaler, R.; Estrada, M.;
By: Cerdeira, A.; Claeys, C.; Togo, M.; Franco, J.; Ritzenthaler, R.; Estrada, M.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0192-3
By: Bhat, N.; Collaert, N.; Chiarella, T.; De Keersgieter, A.; Bhat, K.N.; Mercha, K.; Medury, A.; Ritzenthaler, R.;
By: Bhat, N.; Collaert, N.; Chiarella, T.; De Keersgieter, A.; Bhat, K.N.; Mercha, K.; Medury, A.; Ritzenthaler, R.;
2014 / IEEE
By: Simoen, E.; Ritzenthaler, R.; Claeys, C.; Schram, T.; Aoulaiche, M.; Spessot, A.; Fazan, P.; Na, H.-J.; Lee, S.-G.; Son, Y.; Noh, K.B.; Arimura, H.; Horiguchi, N.; Thean, A.;
By: Simoen, E.; Ritzenthaler, R.; Claeys, C.; Schram, T.; Aoulaiche, M.; Spessot, A.; Fazan, P.; Na, H.-J.; Lee, S.-G.; Son, Y.; Noh, K.B.; Arimura, H.; Horiguchi, N.; Thean, A.;
2014 / IEEE
By: Mertens, H.; Ritzenthaler, R.; Thean, A.V-Y; Horiguchi, N.; Collaert, N.; Barla, K.; Vandervorst, W.; Groeseneken, G.; Bender, H.; Hikavyy, A.; Franco, J.; Lee, J. W.; Brunco, D. P.; Eneman, G.; Witters, L.; Mitard, J.; Kubicek, S.; Devriendt, K.; Tsvetanova, D.; Milenin, A. P.; Vrancken, C.; Geypen, J.;
By: Mertens, H.; Ritzenthaler, R.; Thean, A.V-Y; Horiguchi, N.; Collaert, N.; Barla, K.; Vandervorst, W.; Groeseneken, G.; Bender, H.; Hikavyy, A.; Franco, J.; Lee, J. W.; Brunco, D. P.; Eneman, G.; Witters, L.; Mitard, J.; Kubicek, S.; Devriendt, K.; Tsvetanova, D.; Milenin, A. P.; Vrancken, C.; Geypen, J.;
2014 / IEEE
By: Duan, M.; Zhang, J. F.; Asenov, A.; Groeseneken, G.; Thean, A.; Ritzenthaler, R.; Schram, T.; Kaczer, B.; Zhang, W.; Ji, Z.;
By: Duan, M.; Zhang, J. F.; Asenov, A.; Groeseneken, G.; Thean, A.; Ritzenthaler, R.; Schram, T.; Kaczer, B.; Zhang, W.; Ji, Z.;
2014 / IEEE
By: Crupi, F.; Groeseneken, G.; Horiguchi, N.; Togo, M.; Ritzenthaler, R.; Franco, J.; Cho, M.; Tallarico, A. N.;
By: Crupi, F.; Groeseneken, G.; Horiguchi, N.; Togo, M.; Ritzenthaler, R.; Franco, J.; Cho, M.; Tallarico, A. N.;
2014 / IEEE
By: Asenov, A.; Groeseneken, G.; Ritzenthaler, R.; Schram, T.; Duan, M.; Zhang, W.D.; Ji, Z.; Zhang, J.F.; Kaczer, B.;
By: Asenov, A.; Groeseneken, G.; Ritzenthaler, R.; Schram, T.; Duan, M.; Zhang, W.D.; Ji, Z.; Zhang, J.F.; Kaczer, B.;
2005 / IEEE / 4-900784-00-1
By: Allain, F.; Papon, A.M.; Garros, X.; Tosti, L.; Vizioz, C.; Brevard, L.; Ritzenthaler, R.; Casse, M.; Faynot, O.; Jahan, C.; Deleonibus, S.; Giffard, B.; Toffoli, A.; Guillaumot, B.; Vinet, M.; Martin, F.; Dansas, H.;
By: Allain, F.; Papon, A.M.; Garros, X.; Tosti, L.; Vizioz, C.; Brevard, L.; Ritzenthaler, R.; Casse, M.; Faynot, O.; Jahan, C.; Deleonibus, S.; Giffard, B.; Toffoli, A.; Guillaumot, B.; Vinet, M.; Martin, F.; Dansas, H.;
2005 / IEEE / 4-900784-00-1
By: Ducroquet, F.; Damlencourt, J.-F.; Ernst, T.; Ritzenthaler, R.; Scheiblin, P.; Weber, O.; Deleonibus, S.; Guillaumot, B.; Toffoli, A.; Andrieu, F.; Brevard, L.; Dansas, H.; Papon, A.-M.; Le Tiec, Y.;
By: Ducroquet, F.; Damlencourt, J.-F.; Ernst, T.; Ritzenthaler, R.; Scheiblin, P.; Weber, O.; Deleonibus, S.; Guillaumot, B.; Toffoli, A.; Andrieu, F.; Brevard, L.; Dansas, H.; Papon, A.-M.; Le Tiec, Y.;
2005 / IEEE / 0-7803-9203-5
By: Deleonibus, S.; Brevard, L.; Kuriyama, A.; Jahan, C.; Faynot, O.; Ritzenthaler, R.; Cristoloveanu, S.;
By: Deleonibus, S.; Brevard, L.; Kuriyama, A.; Jahan, C.; Faynot, O.; Ritzenthaler, R.; Cristoloveanu, S.;
2006 / IEEE / 1-4244-0289-1
By: Barbe, J.-C.; Ernst, T.; Dupre, C.; Faynot, O.; Mescot, X.; Jahan, C.; Ritzenthaler, R.; Cristoloveanu, S.; Deleonibus, S.; Andrieu, F.; Brevard, L.;
By: Barbe, J.-C.; Ernst, T.; Dupre, C.; Faynot, O.; Mescot, X.; Jahan, C.; Ritzenthaler, R.; Cristoloveanu, S.; Deleonibus, S.; Andrieu, F.; Brevard, L.;
2006 / IEEE / 1-4244-0438-X
By: Ernst, T.; Deleonibus, S.; Ghibaudo, G.; Faynot, O.; Rivallin, P.; Suhm, A.; Guillaumot, B.; Rivoire, M.; Hartmann, J.M.; Rabille, G.; Lafond, D.; Delaye, V.; Andrieu, F.; Borel, S.; Vizioz, C.; Toffoli, A.; De Crecy, F.; Barbe, J.C.; Maffini-Alvaro, V.; Ritzenthaler, R.; Bernard, E.; Isheden, C.; Dupre, C.;
By: Ernst, T.; Deleonibus, S.; Ghibaudo, G.; Faynot, O.; Rivallin, P.; Suhm, A.; Guillaumot, B.; Rivoire, M.; Hartmann, J.M.; Rabille, G.; Lafond, D.; Delaye, V.; Andrieu, F.; Borel, S.; Vizioz, C.; Toffoli, A.; De Crecy, F.; Barbe, J.C.; Maffini-Alvaro, V.; Ritzenthaler, R.; Bernard, E.; Isheden, C.; Dupre, C.;
2007 / IEEE / 978-4-900784-03-1
By: Rochette, F.; Bernard, E.; Poiroux, T.; Barral, V.; Deleonibus, S.; Autran, J.L.; Munteanu, D.; LeCarval, G.; Vinet, M.; Grosgeorges, P.; Ritzenthaler, R.; Previtali, B.; Casse, M.; Andrieu, F.; Tosti, L.; Faynot, O.; Barraud, S.;
By: Rochette, F.; Bernard, E.; Poiroux, T.; Barral, V.; Deleonibus, S.; Autran, J.L.; Munteanu, D.; LeCarval, G.; Vinet, M.; Grosgeorges, P.; Ritzenthaler, R.; Previtali, B.; Casse, M.; Andrieu, F.; Tosti, L.; Faynot, O.; Barraud, S.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2039-1
By: Liyang Pan; Guangjian Shi; Jun Xu; Zhigang Zhang; Lei Sun; Ritzenthaler, R.;
By: Liyang Pan; Guangjian Shi; Jun Xu; Zhigang Zhang; Lei Sun; Ritzenthaler, R.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-6030-4
By: Ritzenthaler, R.; Darbandy, G.; Iiguez, B.; Cerdeira, A.; Estrada, M.; Garduo, S.I.; Lime, F.;
By: Ritzenthaler, R.; Darbandy, G.; Iiguez, B.; Cerdeira, A.; Estrada, M.; Garduo, S.I.; Lime, F.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-6030-4
By: Ritzenthaler, R.; Iiguez, B.; Cristoloveanu, S.; Faynot, O.; Lime, F.;
By: Ritzenthaler, R.; Iiguez, B.; Cristoloveanu, S.; Faynot, O.; Lime, F.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-6661-0
By: Lime, F.; Ritzenthaler, R.; Cristoloveanu, S.; Faynot, O.; Iniguez, B.;
By: Lime, F.; Ritzenthaler, R.; Cristoloveanu, S.; Faynot, O.; Iniguez, B.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-7865-1
By: Martinez, F.; Miranda, E.; Iniguez, B.; Ritzenthaler, R.; Lime, F.; Faynot, O.; Pascal, F.;
By: Martinez, F.; Miranda, E.; Iniguez, B.; Ritzenthaler, R.; Lime, F.; Faynot, O.; Pascal, F.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0091-0
By: Ritzenthaler, R.; Valenza, M.; Bawedin, M.; Martinez, F.; Husseini, J.E.; Iniguez, B.; Lime, F.;
By: Ritzenthaler, R.; Valenza, M.; Bawedin, M.; Martinez, F.; Husseini, J.E.; Iniguez, B.; Lime, F.;