Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Ripin, D.J.
Results
1999 / IEEE
By: Kolodziejski, L.A.; Petrich, G.S.; Kuo-Yi Lim; Ripin, D.J.; Villeneuve, P.R.; Ippen, E.P.; Joannopoulos, J.D.; Thoen, E.R.; Shanhui Fan;
By: Kolodziejski, L.A.; Petrich, G.S.; Kuo-Yi Lim; Ripin, D.J.; Villeneuve, P.R.; Ippen, E.P.; Joannopoulos, J.D.; Thoen, E.R.; Shanhui Fan;
1999 / IEEE / 1-55752-595-1
By: Joannopoulos, J.D.; Thoen, E.R.; Villeneuve, P.R.; Shanjui Fan; Ippen, E.P.; Petrich, G.S.; Kuo-Yi Lien; Ripin, D.J.; Kolodziejski, L.A.;
By: Joannopoulos, J.D.; Thoen, E.R.; Villeneuve, P.R.; Shanjui Fan; Ippen, E.P.; Petrich, G.S.; Kuo-Yi Lien; Ripin, D.J.; Kolodziejski, L.A.;
2000 / IEEE / 1-55752-608-7
By: Kolodziejski, L.A.; Joannopoulos, J.D.; Petrich, G.S.; Fan, S.; Ripin, D.J.; Erchak, A.A.; Ippen, E.P.;
By: Kolodziejski, L.A.; Joannopoulos, J.D.; Petrich, G.S.; Fan, S.; Ripin, D.J.; Erchak, A.A.; Ippen, E.P.;
2000 / IEEE / 1-55752-634-6
By: Kolodziejski, L.A.; Joannopoulos, J.D.; Petrich, G.S.; Fan, S.; Ripin, D.J.; Erchak, A.A.; Ippen, E.P.;
By: Kolodziejski, L.A.; Joannopoulos, J.D.; Petrich, G.S.; Fan, S.; Ripin, D.J.; Erchak, A.A.; Ippen, E.P.;
2002 / IEEE / 1-55752-708-3
By: Ripin, D.J.; Rakich, P.; Fan, S.; Erchak, A.A.; Petrich, G.S.; Ippen, E.P.; Kolodziejski, L.A.; Joannopoulos, J.D.;
By: Ripin, D.J.; Rakich, P.; Fan, S.; Erchak, A.A.; Petrich, G.S.; Ippen, E.P.; Kolodziejski, L.A.; Joannopoulos, J.D.;
2002 / IEEE / 1-55752-706-7
By: Kolodziejski, L.A.; Petrich, G.S.; Erchak, A.A.; Ippen, E.P.; Ripin, D.J.; Kaertner, F.X.; Shen, H.M.; Gopinath, J.T.;
By: Kolodziejski, L.A.; Petrich, G.S.; Erchak, A.A.; Ippen, E.P.; Ripin, D.J.; Kaertner, F.X.; Shen, H.M.; Gopinath, J.T.;
2002 / IEEE / 1-55752-706-7
By: Petrich, G.S.; Ripin, D.J.; Rakich, P.; Fan, S.; Joannopoulos, J.D.; Ippen, E.R.; Erchak, A.A.; Kolodziejski, L.L.A.;
By: Petrich, G.S.; Ripin, D.J.; Rakich, P.; Fan, S.; Joannopoulos, J.D.; Ippen, E.R.; Erchak, A.A.; Kolodziejski, L.L.A.;
2002 / IEEE / 1-55752-706-7
By: Petrich, G.S.; Kaertner, F.X.; Shen, H.M.; Gopinath, J.T.; Kolodziejski, L.A.; Erchak, A.A.; Ripin, D.J.; Ippen, E.P.;
By: Petrich, G.S.; Kaertner, F.X.; Shen, H.M.; Gopinath, J.T.; Kolodziejski, L.A.; Erchak, A.A.; Ripin, D.J.; Ippen, E.P.;
Efficient coupling of radiation into guided slab resonances through two-dimensional photonic crystal
2003 / IEEE / 1-55752-749-0By: Fan, S.; Rakich, P.; Ippen, E.P.; Kolodziejski, L.A.; Erchak, A.A.; Joannopoulos, J.D.; Petrich, G.S.; Ripin, D.J.;
Efficient coupling of radiation into guided slab resonances through two-dimensional photonic crystal
2003 / IEEE / 1-55752-748-2By: Joannopoulos, J.D.; Rakich, P.; Ippen, E.P.; Kolodziejski, L.A.; Fan, S.; Petrich, G.S.; Ripin, D.J.; Erchak, A.A.;
2007 / IEEE
By: Ripin, D.J.; Juodawlkis, P.W.; Donnelly, J.P.; Missaggia, L.; Gopinath, J.T.; Plant, J.J.; Harris, C.; Huang, R.K.; Chann, B.;
By: Ripin, D.J.; Juodawlkis, P.W.; Donnelly, J.P.; Missaggia, L.; Gopinath, J.T.; Plant, J.J.; Harris, C.; Huang, R.K.; Chann, B.;
2007 / IEEE
By: Tso Yee Fan; Ripin, D.J.; Aggarwal, R.L.; Ochoa, J.R.; Bien Chann; Tilleman, M.; Spitzberg, J.;
By: Tso Yee Fan; Ripin, D.J.; Aggarwal, R.L.; Ochoa, J.R.; Bien Chann; Tilleman, M.; Spitzberg, J.;
2006 / IEEE / 978-1-55752-813-1
By: Missaggia, L.; Harris, C.; Huang, R.K.; Bien Chann; Donnelly, J.P.; Gopinath, J.T.; Ripin, D.J.; Plant, J.J.; Juodawlkis, P.W.;
By: Missaggia, L.; Harris, C.; Huang, R.K.; Bien Chann; Donnelly, J.P.; Gopinath, J.T.; Ripin, D.J.; Plant, J.J.; Juodawlkis, P.W.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4079-5
By: Ochoa, J.R.; Augst, S.J.; Rand, D.A.; Goyal, A.K.; Fan, T.Y.; Gopinath, J.T.; Hybl, J.D.; Ripin, D.J.;
By: Ochoa, J.R.; Augst, S.J.; Rand, D.A.; Goyal, A.K.; Fan, T.Y.; Gopinath, J.T.; Hybl, J.D.; Ripin, D.J.;
2011 / IEEE
By: Juodawlkis, P.W.; Plant, J.J.; Loh, W.; Missaggia, L.J.; O'Donnell, F.J.; Oakley, D.C.; Donnelly, J.P.; Klamkin, J.; Gopinath, J.T.; Ripin, D.J.; Gee, S.; Delfyett, P.J.; Napoleone, A.;
By: Juodawlkis, P.W.; Plant, J.J.; Loh, W.; Missaggia, L.J.; O'Donnell, F.J.; Oakley, D.C.; Donnelly, J.P.; Klamkin, J.; Gopinath, J.T.; Ripin, D.J.; Gee, S.; Delfyett, P.J.; Napoleone, A.;