Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Reznicek, A.
Results
2012 / IEEE
By: Hong He; Kuss, J.; Loubet, N.; Adam, T.; Reznicek, A.; Kangguo Cheng; Khakifirooz, A.; Shahidi, G.; Doris, B.; Qing Liu; Sreenivasan, R.; Ponoth, S.; Kulkarni, P.; Juntao Li;
By: Hong He; Kuss, J.; Loubet, N.; Adam, T.; Reznicek, A.; Kangguo Cheng; Khakifirooz, A.; Shahidi, G.; Doris, B.; Qing Liu; Sreenivasan, R.; Ponoth, S.; Kulkarni, P.; Juntao Li;
2011 / IEEE / 978-1-61284-175-5
By: Cheng, K.; Khakifirooz, A.; Kulkarni, P.; Ponoth, S.; Haran, B.; Kumar, A.; Adam, T.; Reznicek, A.; Loubet, N.; He, H.; Kuss, J.; Wang, M.; Levin, T.M.; Monsieur, F.; Liu, Q.; Sreenivasan, R.; Cai, J.; Kimball, A.; Mehta, S.; Luning, S.; Zhu, Y.; Zhu, Z.; Yamamoto, T.; Bryant, A.; Lin, C.; Naczas, S.; Jagannathan, H.; Edge, L.F.; Allegret-Maret, S.; Dube, A.; Kanakasabapathy, S.; Schmitz, S.; Inada, A.; Seo, S.; Raymond, M.; Zhang, Z.; Yagishita, A.; Demarest, J.; Li, J.; Hopstaken, M.; Berliner, N.; Upham, A.; Johnson, R.; Holmes, S.; Standaert, T.; Smalley, M.; Zamdmer, N.; Ren, Z.; Wu, T.; Bu, H.; Paruchuri, V.; Sadana, D.; Narayanan, V.; Haensch, W.; O'Neill, J.; Hook, T.; Khare, M.; Doris, B.;
By: Cheng, K.; Khakifirooz, A.; Kulkarni, P.; Ponoth, S.; Haran, B.; Kumar, A.; Adam, T.; Reznicek, A.; Loubet, N.; He, H.; Kuss, J.; Wang, M.; Levin, T.M.; Monsieur, F.; Liu, Q.; Sreenivasan, R.; Cai, J.; Kimball, A.; Mehta, S.; Luning, S.; Zhu, Y.; Zhu, Z.; Yamamoto, T.; Bryant, A.; Lin, C.; Naczas, S.; Jagannathan, H.; Edge, L.F.; Allegret-Maret, S.; Dube, A.; Kanakasabapathy, S.; Schmitz, S.; Inada, A.; Seo, S.; Raymond, M.; Zhang, Z.; Yagishita, A.; Demarest, J.; Li, J.; Hopstaken, M.; Berliner, N.; Upham, A.; Johnson, R.; Holmes, S.; Standaert, T.; Smalley, M.; Zamdmer, N.; Ren, Z.; Wu, T.; Bu, H.; Paruchuri, V.; Sadana, D.; Narayanan, V.; Haensch, W.; O'Neill, J.; Hook, T.; Khare, M.; Doris, B.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9949-6
By: Yamashita, T.; Basker, V.S.; Standaert, T.; Yeh, C.-C.; Yamamoto, T.; Maitra, K.; Lin, C.-H.; Faltermeier, J.; Kanakasabapathy, S.; Wang, M.; Sunamura, H.; Jagannathan, H.; Reznicek, A.; Schmitz, S.; Inada, A.; Wang, J.; Adhikari, H.; Berliner, N.; Lee, K.-L.; Kulkarni, P.; Zhu, Y.; Kumar, A.; Bryant, A.; Wu, S.; Kanarsky, T.; Cho, J.; Mclellan, E.; Holmes, S.J.; Johnson, R.C.; Levin, T.; Demarest, J.; Li, J.; Oldiges, P.; Arnold, J.; Colburn, M.; Hane, M.; Mcherron, D.; Paruchuri, V.K.; Doris, B.; Miller, R.J.; Bu, H.; Khare, M.; O'Neill, J.; Leobandung, E.;
By: Yamashita, T.; Basker, V.S.; Standaert, T.; Yeh, C.-C.; Yamamoto, T.; Maitra, K.; Lin, C.-H.; Faltermeier, J.; Kanakasabapathy, S.; Wang, M.; Sunamura, H.; Jagannathan, H.; Reznicek, A.; Schmitz, S.; Inada, A.; Wang, J.; Adhikari, H.; Berliner, N.; Lee, K.-L.; Kulkarni, P.; Zhu, Y.; Kumar, A.; Bryant, A.; Wu, S.; Kanarsky, T.; Cho, J.; Mclellan, E.; Holmes, S.J.; Johnson, R.C.; Levin, T.; Demarest, J.; Li, J.; Oldiges, P.; Arnold, J.; Colburn, M.; Hane, M.; Mcherron, D.; Paruchuri, V.K.; Doris, B.; Miller, R.J.; Bu, H.; Khare, M.; O'Neill, J.; Leobandung, E.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9949-6
By: Cheng, K.; Khakifirooz, A.; Kulkarni, P.; Ponoth, S.; Haran, B.; Kumar, A.; Adam, T.; Reznicek, A.; Loubet, N.; He, H.; Kuss, J.; Wang, M.; Levin, T.M.; Monsieur, F.; Liu, Q.; Sreenivasan, R.; Cai, J.; Kimball, A.; Mehta, S.; Luning, S.; Zhu, Y.; Zhu, Z.; Yamamoto, T.; Bryant, A.; Lin, C.; Naczas, S.; Jagannathan, H.; Edge, L.F.; Allegret-Maret, S.; Dube, A.; Kanakasabapathy, S.; Schmitz, S.; Inada, A.; Seo, S.; Raymond, M.; Zhang, Z.; Yagishita, A.; Demarest, J.; Li, J.; Hopstaken, M.; Berliner, N.; Upham, A.; Johnson, R.; Holmes, S.; Standaert, T.; Smalley, M.; Zamdmer, N.; Ren, Z.; Wu, T.; Bu, H.; Paruchuri, V.; Sadana, D.; Narayanan, V.; Haensch, W.; O'Neill, J.; Hook, T.; Khare, M.; Doris, B.;
By: Cheng, K.; Khakifirooz, A.; Kulkarni, P.; Ponoth, S.; Haran, B.; Kumar, A.; Adam, T.; Reznicek, A.; Loubet, N.; He, H.; Kuss, J.; Wang, M.; Levin, T.M.; Monsieur, F.; Liu, Q.; Sreenivasan, R.; Cai, J.; Kimball, A.; Mehta, S.; Luning, S.; Zhu, Y.; Zhu, Z.; Yamamoto, T.; Bryant, A.; Lin, C.; Naczas, S.; Jagannathan, H.; Edge, L.F.; Allegret-Maret, S.; Dube, A.; Kanakasabapathy, S.; Schmitz, S.; Inada, A.; Seo, S.; Raymond, M.; Zhang, Z.; Yagishita, A.; Demarest, J.; Li, J.; Hopstaken, M.; Berliner, N.; Upham, A.; Johnson, R.; Holmes, S.; Standaert, T.; Smalley, M.; Zamdmer, N.; Ren, Z.; Wu, T.; Bu, H.; Paruchuri, V.; Sadana, D.; Narayanan, V.; Haensch, W.; O'Neill, J.; Hook, T.; Khare, M.; Doris, B.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0847-2
By: Khakifirooz, A.; Cheng, K.; Doris, B.; Shahidi, G.; Khare, M.; Paruchuri, V.; Nguyen, B.-Y.; Schwarzenbach, W.; Daval, N.; Aulnette, C.; Holmes, S.; Schmitz, S.; Naczas, S.; Yamamoto, T.; Monsieur, F.; Levin, T.; Madan, A.; Li, J.; Zhu, Z.; Zhu, Y.; Nagumo, T.; Loubet, N.; Adam, T.; Reznicek, A.; Kuss, J.; Shahrjerdi, D.; Sreenivasan, R.; Ponoth, S.; He, H.; Kulkarni, P.; Liu, Q.; Hashemi, P.; Khare, P.; Luning, S.; Mehta, S.; Gimbert, J.;
By: Khakifirooz, A.; Cheng, K.; Doris, B.; Shahidi, G.; Khare, M.; Paruchuri, V.; Nguyen, B.-Y.; Schwarzenbach, W.; Daval, N.; Aulnette, C.; Holmes, S.; Schmitz, S.; Naczas, S.; Yamamoto, T.; Monsieur, F.; Levin, T.; Madan, A.; Li, J.; Zhu, Z.; Zhu, Y.; Nagumo, T.; Loubet, N.; Adam, T.; Reznicek, A.; Kuss, J.; Shahrjerdi, D.; Sreenivasan, R.; Ponoth, S.; He, H.; Kulkarni, P.; Liu, Q.; Hashemi, P.; Khare, P.; Luning, S.; Mehta, S.; Gimbert, J.;
2013 / IEEE
By: Khakifirooz, A.; Sreenivasan, R.; Doris, B.; Rim, K.; Bu, H.; Guo, D.; Liu, T.-S. King; Nguyen, B. Y.; Levin, T.; Cheng, K.; Standaert, T. E.; Taber, B. N.; Allibert, F.; Hashemi, P.; Chern, W.; Xu, N.; Wall, E. C.; Mochizuki, S.; Li, J.; Yin, Y.; Loubet, N.; Reznicek, A.; Mignot, S. M.; Lu, D.; He, H.; Yamashita, T.; Morin, P.; Tsutsui, G.; Chen, C.-Y.; Basker, V. S.;
By: Khakifirooz, A.; Sreenivasan, R.; Doris, B.; Rim, K.; Bu, H.; Guo, D.; Liu, T.-S. King; Nguyen, B. Y.; Levin, T.; Cheng, K.; Standaert, T. E.; Taber, B. N.; Allibert, F.; Hashemi, P.; Chern, W.; Xu, N.; Wall, E. C.; Mochizuki, S.; Li, J.; Yin, Y.; Loubet, N.; Reznicek, A.; Mignot, S. M.; Lu, D.; He, H.; Yamashita, T.; Morin, P.; Tsutsui, G.; Chen, C.-Y.; Basker, V. S.;
2004 / IEEE / 0-7803-8497-0
By: Bedell, S.W.; Reznicek, A.; Sadana, D.K.; Mitchell, R.; Ott, J.A.; Fogel, K.E.; Hovel, H.J.;
By: Bedell, S.W.; Reznicek, A.; Sadana, D.K.; Mitchell, R.; Ott, J.A.; Fogel, K.E.; Hovel, H.J.;
2004 / IEEE / 0-7803-8684-1
By: Cai, J.; Rim, K.; Leong, M.; Haensch, W.; Miller, R.; Leobandung, E.; Mocuta, A.; O'Neil, P.; Mocuta, D.; Ott, J.; Mitchell, R.; Uriarte, D.; Sadana, D.; Hovel, H.; Reznicek, A.; Bedell, S.; Wang, X.; Kumar, A.; Kanarsky, T.; Hergenrother, J.; Yin, H.; Lee, K.; Ren, Z.; Singh, D.; Bryant, A.; Jenkins, K.; Ouyang, C.;
By: Cai, J.; Rim, K.; Leong, M.; Haensch, W.; Miller, R.; Leobandung, E.; Mocuta, A.; O'Neil, P.; Mocuta, D.; Ott, J.; Mitchell, R.; Uriarte, D.; Sadana, D.; Hovel, H.; Reznicek, A.; Bedell, S.; Wang, X.; Kumar, A.; Kanarsky, T.; Hergenrother, J.; Yin, H.; Lee, K.; Ren, Z.; Singh, D.; Bryant, A.; Jenkins, K.; Ouyang, C.;
2005 / IEEE / 0-7803-9212-4
By: Fogel, K.; Ott, J.A.; Hovel, H.J.; Yang, B.; Domenicucci, A.G.; Bedell, S.W.; Reznicek, A.; Sadana, D.K.;
By: Fogel, K.; Ott, J.A.; Hovel, H.J.; Yang, B.; Domenicucci, A.G.; Bedell, S.W.; Reznicek, A.; Sadana, D.K.;
2006 / IEEE / 1-4244-0461-4
By: Hovel, H.J.; Bedell, S.W.; de Souza, J.P.; Sadana, D.K.; Reznicek, A.; Fogel, K.;
By: Hovel, H.J.; Bedell, S.W.; de Souza, J.P.; Sadana, D.K.; Reznicek, A.; Fogel, K.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2377-4
By: Yang, B.; Takalkar, R.; Leobandung, E.; Pellerin, J.; Luning, S.; Maciejewski, E.; Schepis, D.; Mocuta, D.; Park, D.-G.; Sadana, D.; Grudowski, P.; Zollner, S.; Theodore, D.; Holt, J.; Meer, H.; Sun, S.; Aime, D.; Ren, Z.; Black, L.; Dube, A.; Weijtmans, J.W.; Li, J.; Johnson, J.B.; Faltermeier, J.; Madan, A.; Zhu, Z.; Turansky, A.; Xia, G.; Chakravarti, A.; Pal, R.; Chan, K.; Reznicek, A.; Adam, T.N.; Yang, B.; de Souza, J.P.; Harley, E.C.T.; Greene, B.; Gehring, A.; Cai, M.;
By: Yang, B.; Takalkar, R.; Leobandung, E.; Pellerin, J.; Luning, S.; Maciejewski, E.; Schepis, D.; Mocuta, D.; Park, D.-G.; Sadana, D.; Grudowski, P.; Zollner, S.; Theodore, D.; Holt, J.; Meer, H.; Sun, S.; Aime, D.; Ren, Z.; Black, L.; Dube, A.; Weijtmans, J.W.; Li, J.; Johnson, J.B.; Faltermeier, J.; Madan, A.; Zhu, Z.; Turansky, A.; Xia, G.; Chakravarti, A.; Pal, R.; Chan, K.; Reznicek, A.; Adam, T.N.; Yang, B.; de Souza, J.P.; Harley, E.C.T.; Greene, B.; Gehring, A.; Cai, M.;
2006 / IEEE / 978-1-4244-3308-7
By: Cheng, K.; Khakifirooz, A.; O'Neill, J.; Doris, B.; Bu, H.; Kozlowski, P.; Sadana, D.; Wang, J.; Di, M.; Herman, J.; Smalley, M.; Levin, T.; Upham, A.; Johnson, R.; Zhu, Z.; Loesing, R.; Li, X.; Holt, J.; Jamison, P.; Seo, S.-C.; Haran, B.; Edge, L.F.; Furukawa, T.; Faltermeier, J.; Li, J.; Zhu, Y.; Adam, T.; Reznicek, A.; Schmitz, S.; Kulkarni, P.; Kanakasabapathy, S.;
By: Cheng, K.; Khakifirooz, A.; O'Neill, J.; Doris, B.; Bu, H.; Kozlowski, P.; Sadana, D.; Wang, J.; Di, M.; Herman, J.; Smalley, M.; Levin, T.; Upham, A.; Johnson, R.; Zhu, Z.; Loesing, R.; Li, X.; Holt, J.; Jamison, P.; Seo, S.-C.; Haran, B.; Edge, L.F.; Furukawa, T.; Faltermeier, J.; Li, J.; Zhu, Y.; Adam, T.; Reznicek, A.; Schmitz, S.; Kulkarni, P.; Kanakasabapathy, S.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-5641-3
By: Cheng, K.; Khakifirooz, A.; Kulkarni, P.; Ponoth, S.; Kuss, J.; Shahrjerdi, D.; Edge, L.F.; Kimball, A.; Kanakasabapathy, S.; Xiu, K.; Schmitz, S.; Reznicek, A.; Adam, T.; He, H.; Loubet, N.; Holmes, S.; Mehta, S.; Yang, D.; Upham, A.; Seo, S.-C.; Herman, J.L.; Johnson, R.; Zhu, Y.; Jamison, P.; Haran, B.S.; Zhu, Z.; Vanamurth, L.H.; Fan, S.; Horak, D.; Bu, H.; Oldiges, P.J.; Sadana, D.K.; Kozlowski, P.; McHerron, D.; O'Neill, J.; Doris, B.;
By: Cheng, K.; Khakifirooz, A.; Kulkarni, P.; Ponoth, S.; Kuss, J.; Shahrjerdi, D.; Edge, L.F.; Kimball, A.; Kanakasabapathy, S.; Xiu, K.; Schmitz, S.; Reznicek, A.; Adam, T.; He, H.; Loubet, N.; Holmes, S.; Mehta, S.; Yang, D.; Upham, A.; Seo, S.-C.; Herman, J.L.; Johnson, R.; Zhu, Y.; Jamison, P.; Haran, B.S.; Zhu, Z.; Vanamurth, L.H.; Fan, S.; Horak, D.; Bu, H.; Oldiges, P.J.; Sadana, D.K.; Kozlowski, P.; McHerron, D.; O'Neill, J.; Doris, B.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-5063-3
By: Khakifirooz, A.; Cheng, K.; Shahidi, G.; Leobondung, E.; Haensch, W.; Doris, B.; O'Neill, J.; McHerron, D.; Kozlowski, P.; Sadana, D.K.; Bu, H.; Horak, D.; Fan, S.; Faltermeier, J.; Vanamurth, L.H.; Zhu, Z.; Jamison, P.; Zhu, Y.; Johnson, R.; Herman, J.L.; Seo, S.-C.; Upham, A.; Yang, D.; Majumdar, A.; Kulkarni, P.; Cai, J.; Ponoth, S.; Kuss, J.; Haran, B.S.; Kimball, A.; Edge, L.F.; Reznicek, A.; Adam, T.; He, H.; Loubet, N.; Mehta, S.; Kanakasabapathy, S.; Schmitz, S.; Holmes, S.; Jagannathan, B.;
By: Khakifirooz, A.; Cheng, K.; Shahidi, G.; Leobondung, E.; Haensch, W.; Doris, B.; O'Neill, J.; McHerron, D.; Kozlowski, P.; Sadana, D.K.; Bu, H.; Horak, D.; Fan, S.; Faltermeier, J.; Vanamurth, L.H.; Zhu, Z.; Jamison, P.; Zhu, Y.; Johnson, R.; Herman, J.L.; Seo, S.-C.; Upham, A.; Yang, D.; Majumdar, A.; Kulkarni, P.; Cai, J.; Ponoth, S.; Kuss, J.; Haran, B.S.; Kimball, A.; Edge, L.F.; Reznicek, A.; Adam, T.; He, H.; Loubet, N.; Mehta, S.; Kanakasabapathy, S.; Schmitz, S.; Holmes, S.; Jagannathan, B.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-5450-1
By: Liu, Q.; Yagishita, A.; Sampson, R.; Doris, B.; Takayanagi, M.; Kleemeier, W.; Ishimaru, K.; Bu, H.; Hane, M.; Skotnicki, T.; Leobandung, E.; Berliner, N.; Levin, T.; Kuss, J.; Edge, L.F.; Johnson, R.; Upham, A.; Haran, B.; Reznicek, A.; Ponoth, S.; Sunamura, H.; Koburger, C.; Boeuf, F.; Monfray, S.; Kanakasabapathy, S.; Loubet, N.; Khakifirooz, A.; Kulkarni, P.; Yamamoto, T.; Cheng, K.; Fujiwara, M.; Cai, J.; Dorman, D.; Mehta, S.; Khare, P.; Yako, K.; Zhu, Y.; Mignot, S.;
By: Liu, Q.; Yagishita, A.; Sampson, R.; Doris, B.; Takayanagi, M.; Kleemeier, W.; Ishimaru, K.; Bu, H.; Hane, M.; Skotnicki, T.; Leobandung, E.; Berliner, N.; Levin, T.; Kuss, J.; Edge, L.F.; Johnson, R.; Upham, A.; Haran, B.; Reznicek, A.; Ponoth, S.; Sunamura, H.; Koburger, C.; Boeuf, F.; Monfray, S.; Kanakasabapathy, S.; Loubet, N.; Khakifirooz, A.; Kulkarni, P.; Yamamoto, T.; Cheng, K.; Fujiwara, M.; Cai, J.; Dorman, D.; Mehta, S.; Khare, P.; Yako, K.; Zhu, Y.; Mignot, S.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-9129-2
By: Zhu, Z.; Haran, B.S.; Bu, H.; Sadana, D.K.; Kozlowski, P.; O'Neill, J.; Doris, B.; Shahidi, G.; Fan, S.; Jamison, P.; Zhu, Y.; Johnson, R.; Herman, J.L.; Seo, S.; Upham, A.; Mehta, S.; He, H.; Adam, T.; Reznicek, A.; Schmitz, S.; Kanakasabapathy, S.; Kimball, A.; Edge, L.F.; Kuss, J.; Cheng, K.; Khakifirooz, A.; Kulkarni, P.; Ponoth, S.;
By: Zhu, Z.; Haran, B.S.; Bu, H.; Sadana, D.K.; Kozlowski, P.; O'Neill, J.; Doris, B.; Shahidi, G.; Fan, S.; Jamison, P.; Zhu, Y.; Johnson, R.; Herman, J.L.; Seo, S.; Upham, A.; Mehta, S.; He, H.; Adam, T.; Reznicek, A.; Schmitz, S.; Kanakasabapathy, S.; Kimball, A.; Edge, L.F.; Kuss, J.; Cheng, K.; Khakifirooz, A.; Kulkarni, P.; Ponoth, S.;
2011 / IEEE
By: Jin Cai; Kangguo Cheng; Khakifirooz, A.; Shahidi, G.; Doris, B.; Kimball, A.; Huiming Bu; Edge, L.; Adam, T.; Reznicek, A.; Kulkarni, P.;
By: Jin Cai; Kangguo Cheng; Khakifirooz, A.; Shahidi, G.; Doris, B.; Kimball, A.; Huiming Bu; Edge, L.; Adam, T.; Reznicek, A.; Kulkarni, P.;
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap