Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Retiere, F.
Results
2012 / IEEE
By: Retiere, F.; Berg, E.J.; Goertzen, A.L.; Thompson, C.J.; Kozlowski, P.; Sossi, V.; Stortz, G.; Ryner, L.;
By: Retiere, F.; Berg, E.J.; Goertzen, A.L.; Thompson, C.J.; Kozlowski, P.; Sossi, V.; Stortz, G.; Ryner, L.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Stortz, G.; Goertzen, A.L.; Thompson, C.J.; Sossi, V.; Berg, E.J.; Ryner, L.; Kozlowski, P.; Retiere, F.;
By: Stortz, G.; Goertzen, A.L.; Thompson, C.J.; Sossi, V.; Berg, E.J.; Ryner, L.; Kozlowski, P.; Retiere, F.;
2013 / IEEE
By: Goertzen, A. L.; Zhang, X.; Thompson, C.J.; Stortz, G.; Sossi, V.; Ryner, L.; Retiere, F.; Kozlowski, P.; McClarty, M.M.; Berg, E.J.; Liu, C.-Y.;
By: Goertzen, A. L.; Zhang, X.; Thompson, C.J.; Stortz, G.; Sossi, V.; Ryner, L.; Retiere, F.; Kozlowski, P.; McClarty, M.M.; Berg, E.J.; Liu, C.-Y.;
2013 / IEEE
By: Stortz, G.; Walker, M. D.; Sossi, V.; Kozlowski, P.; Thiessen, J. D.; Zhang, X.; Retiere, F.; Goertzen, A. L.; Thompson, C. J.;
By: Stortz, G.; Walker, M. D.; Sossi, V.; Kozlowski, P.; Thiessen, J. D.; Zhang, X.; Retiere, F.; Goertzen, A. L.; Thompson, C. J.;
2012 / IEEE
By: Retiere, F.; Amaudruz, P-A.; Ohlmann, C.; Olchanski, K.; Muir, A.; Mead, S.; Liu, S.; Bishop, D.; Chouinard, R.; Davis, P.; Gorel, P.; Langton, K.;
By: Retiere, F.; Amaudruz, P-A.; Ohlmann, C.; Olchanski, K.; Muir, A.; Mead, S.; Liu, S.; Bishop, D.; Chouinard, R.; Davis, P.; Gorel, P.; Langton, K.;
2014 / IEEE
By: Amaudruz, P.-A.; Thompson, C. J.; Thiessen, J. D.; Stortz, G.; Sossi, V.; Bishop, D.; Retiere, F.; Kozlowski, P.; James, L.; Goertzen, A.; Gilhully, C.; Shams, E.;
By: Amaudruz, P.-A.; Thompson, C. J.; Thiessen, J. D.; Stortz, G.; Sossi, V.; Bishop, D.; Retiere, F.; Kozlowski, P.; James, L.; Goertzen, A.; Gilhully, C.; Shams, E.;
1996 / IEEE / 0-7803-3534-1
By: Palaio, N.; Hong, W.S.; Cho, H.S.; Vujica, J.; Joo, K.S.; Kadyk, J.; Retiere, F.; Burks, M.; Perez-Mendez, V.; Luk, K.B.;
By: Palaio, N.; Hong, W.S.; Cho, H.S.; Vujica, J.; Joo, K.S.; Kadyk, J.; Retiere, F.; Burks, M.; Perez-Mendez, V.; Luk, K.B.;
1997 / IEEE
By: Kadyk, J.; Palaio, N.; Hong, W.S.; Cho, H.S.; Vujic, J.; Luk, K.B.; Joo, K.S.; Retiere, F.; Burks, M.; Perez-Mendez, V.;
By: Kadyk, J.; Palaio, N.; Hong, W.S.; Cho, H.S.; Vujic, J.; Luk, K.B.; Joo, K.S.; Retiere, F.; Burks, M.; Perez-Mendez, V.;
1997 / IEEE / 0-7803-4258-5
By: Cwetanski, P.; Beuville, E.; Burks, M.; Wieman, H.; Trentalange, S.; Smirnov, N.; Retiere, F.;
By: Cwetanski, P.; Beuville, E.; Burks, M.; Wieman, H.; Trentalange, S.; Smirnov, N.; Retiere, F.;
1998 / IEEE
By: Hong, W.S.; Vujic, J.; Palaio, N.; Perez-Mendez, V.; Kadyk, J.; Retiere, F.; Biagi, O.; Cho, H.S.;
By: Hong, W.S.; Vujic, J.; Palaio, N.; Perez-Mendez, V.; Kadyk, J.; Retiere, F.; Biagi, O.; Cho, H.S.;
1998 / IEEE / 0-7803-5021-9
By: Retiere, F.; Cho, H.S.; Hong, W.S.; Perez-Mendez, V.; Kadyk, J.; Han, S.;
By: Retiere, F.; Cho, H.S.; Hong, W.S.; Perez-Mendez, V.; Kadyk, J.; Han, S.;
2003 / IEEE
By: Singh, K.; Ritter, H.G.; Retiere, F.; Rai, G.; Kleinfelder, S.; Wurzel, S.E.; Matis, H.S.; Yamamoto, E.; Bieser, F.; Wieman, H.;
By: Singh, K.; Ritter, H.G.; Retiere, F.; Rai, G.; Kleinfelder, S.; Wurzel, S.E.; Matis, H.S.; Yamamoto, E.; Bieser, F.; Wieman, H.;
2004 / IEEE
By: Wieman, H.H.; Yandong Chen; Bieser, F.; Kleinfelder, S.; Yamamoto, E.; Gareus, R.; Ritter, H.G.; Retiere, F.; Oldenburg, M.; Matis, H.S.;
By: Wieman, H.H.; Yandong Chen; Bieser, F.; Kleinfelder, S.; Yamamoto, E.; Gareus, R.; Ritter, H.G.; Retiere, F.; Oldenburg, M.; Matis, H.S.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0922-8
By: Retiere, F.; Muennich, A.; Martin, J.P.; Marshall, C.; Sher, A.; Kurchaninov, L.; Bryman, D.; Amaudruz, P.; Lu, P.;
By: Retiere, F.; Muennich, A.; Martin, J.P.; Marshall, C.; Sher, A.; Kurchaninov, L.; Bryman, D.; Amaudruz, P.; Lu, P.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2714-7
By: Sossi, V.; Sher, A.; Retiere, F.; Muennich, A.; Martin, J. P.; Marshall, C.; Lu, P.; Kurchaninov, L.; Bryman, D.; Amaudruz, P.;
By: Sossi, V.; Sher, A.; Retiere, F.; Muennich, A.; Martin, J. P.; Marshall, C.; Lu, P.; Kurchaninov, L.; Bryman, D.; Amaudruz, P.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4454-0
By: Olchanski, K.; Pearson, C.; Bishop, D.; Retiere, F.; Amaudruz, P.-A.; Oser, S.; Wilking, M.; Honkanen, N.; Gutjahr, C.; Mizouchi, K.; Miller, A.; Zalipska, J.; Karlen, D.; Henderson, R.; Tanaka, H.; Kirby, B.; Poffenberger, P.; Hasanen, R.; Braam, N.; Lindner, T.; Poutissou, R.; Ohlmann, C.;
By: Olchanski, K.; Pearson, C.; Bishop, D.; Retiere, F.; Amaudruz, P.-A.; Oser, S.; Wilking, M.; Honkanen, N.; Gutjahr, C.; Mizouchi, K.; Miller, A.; Zalipska, J.; Karlen, D.; Henderson, R.; Tanaka, H.; Kirby, B.; Poffenberger, P.; Hasanen, R.; Braam, N.; Lindner, T.; Poutissou, R.; Ohlmann, C.;
2011 / IEEE
By: Amaudruz, P.-A.; Zalipska, J.; Braam, N.; Gutjahr, C.; Karlen, D.; Hasanen, R.; Henderson, R.; Honkanen, N.; Kirby, B.; Lindner, T.; Miller, A.; Mizouchi, K.; Ohlmann, C.; Olchanski, K.; Oser, S.; Pearson, C.; Poffenberger, P.; Poutissou, R.; Retiere, F.; Tanaka, H.; Wilking, M.; Bishop, D.;
By: Amaudruz, P.-A.; Zalipska, J.; Braam, N.; Gutjahr, C.; Karlen, D.; Hasanen, R.; Henderson, R.; Honkanen, N.; Kirby, B.; Lindner, T.; Miller, A.; Mizouchi, K.; Ohlmann, C.; Olchanski, K.; Oser, S.; Pearson, C.; Poffenberger, P.; Poutissou, R.; Retiere, F.; Tanaka, H.; Wilking, M.; Bishop, D.;