Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Reisert, B.
Results
2004 / IEEE / 0-7803-8700-7
By: Dell'Orso, M.; Galeotti, S.; Catastini, P.; Cerri, A.; Carosi, R.; Belforte, S.; Bardi, A.; Annovi, A.; Adelnan, J.; Yang, U.; Spinella, F.; Shochet, M.; Ristori, L.; Reisert, B.; Pitkanen, B.; Piendibene, M.; Pedreschi, E.; Morsani, F.; Maruyama, T.; Liu, T.; Lewis, J.; Giannetti, P.;
By: Dell'Orso, M.; Galeotti, S.; Catastini, P.; Cerri, A.; Carosi, R.; Belforte, S.; Bardi, A.; Annovi, A.; Adelnan, J.; Yang, U.; Spinella, F.; Shochet, M.; Ristori, L.; Reisert, B.; Pitkanen, B.; Piendibene, M.; Pedreschi, E.; Morsani, F.; Maruyama, T.; Liu, T.; Lewis, J.; Giannetti, P.;
2004 / IEEE / 0-7803-8700-7
By: Fedorko, W.; Frisch, H.; Bogdan, M.; Demaat, R.; Wittich, P.; Whiteson, D.; Wilson, P.; Van Berg, R.; Stabenau, S.H.; Sanders, H.; Rusu, V.; Reisert, B.; Pitkanen, M.; Neu, C.; Mansikkala, T.; Marjamaa, F.; Liu, T.; Lin, C.; Lewis, J.; Kwang, S.; Kroll, J.; Kim, Y.; Keener, P.; Hakala, M.; Hahn, K.;
By: Fedorko, W.; Frisch, H.; Bogdan, M.; Demaat, R.; Wittich, P.; Whiteson, D.; Wilson, P.; Van Berg, R.; Stabenau, S.H.; Sanders, H.; Rusu, V.; Reisert, B.; Pitkanen, M.; Neu, C.; Mansikkala, T.; Marjamaa, F.; Liu, T.; Lin, C.; Lewis, J.; Kwang, S.; Kroll, J.; Kim, Y.; Keener, P.; Hakala, M.; Hahn, K.;
2005 / IEEE / 0-7803-9221-3
By: Bitossi, M.; Shochet, M.; Bardi, A.; Annovi, A.; Adelman, J.; Torre, S.; Tang, F.; Spinella, F.; Simoni, B.; Carosi, R.; Reisert, B.; Pitkanen, M.; Piendibene, M.; Liu, T.; Lewis, J.; Giovacchini, P.; Giannetti, P.; Dell'Orso, M.;
By: Bitossi, M.; Shochet, M.; Bardi, A.; Annovi, A.; Adelman, J.; Torre, S.; Tang, F.; Spinella, F.; Simoni, B.; Carosi, R.; Reisert, B.; Pitkanen, M.; Piendibene, M.; Liu, T.; Lewis, J.; Giovacchini, P.; Giannetti, P.; Dell'Orso, M.;
2005 / IEEE / 0-7803-9221-3
By: Adelman, J.; Zanetti, A.L.; Annovi, A.; Aoki, M.; Bardi, A.; Bedeschi, F.; Beiforte, S.; Bellinger, J.; Berry, E.; Bitossi, M.; Bogdan, M.; Carlsmith, M.; Carosi, R.; Catastini, P.; Cerri, A.; Chappa, S.; Chung, W.; Ciocci, M.A.; Crescioli, F.; Dell'Orso, M.; Di Ruzza, B.; Donati, S.; Furic, I.; Galeotti, S.; Giannetti, P.; Ginsburg, C.M.; Giovacchini, P.; Handler, R.; Kim, Y.K.; Lewis, J.D.; Liu, T.; Mahlum, R.; Maruyama, T.; Morsani, F.; Ott, G.; Pedron, I.; Piendibene, M.; Pitkanen, M.; Pondrom, L.G.; Punzi, G.; Reisert, B.; Rescigno, M.; Ristori, L.; Sanders, H.; Sartori, L.; Schifano, F.; Sforza, F.; Shochet, M.; Simoni, B.; Spinella, F.; Squillacioti, P.; Tang, F.; Torre, S.; Tripiccione, R.; Volpi, G.; Yang, U.K.; Zanello, L.;
By: Adelman, J.; Zanetti, A.L.; Annovi, A.; Aoki, M.; Bardi, A.; Bedeschi, F.; Beiforte, S.; Bellinger, J.; Berry, E.; Bitossi, M.; Bogdan, M.; Carlsmith, M.; Carosi, R.; Catastini, P.; Cerri, A.; Chappa, S.; Chung, W.; Ciocci, M.A.; Crescioli, F.; Dell'Orso, M.; Di Ruzza, B.; Donati, S.; Furic, I.; Galeotti, S.; Giannetti, P.; Ginsburg, C.M.; Giovacchini, P.; Handler, R.; Kim, Y.K.; Lewis, J.D.; Liu, T.; Mahlum, R.; Maruyama, T.; Morsani, F.; Ott, G.; Pedron, I.; Piendibene, M.; Pitkanen, M.; Pondrom, L.G.; Punzi, G.; Reisert, B.; Rescigno, M.; Ristori, L.; Sanders, H.; Sartori, L.; Schifano, F.; Sforza, F.; Shochet, M.; Simoni, B.; Spinella, F.; Squillacioti, P.; Tang, F.; Torre, S.; Tripiccione, R.; Volpi, G.; Yang, U.K.; Zanello, L.;
2006 / IEEE
By: Yang, U.; Spinella, F.; Shochet, M.; Ristori, L.; Reisert, B.; Pitkanen, M.; Piendibene, M.; Pedreschi, E.; Morsani, F.; Maruyama, T.; Liu, T.; Lewis, J.; Giannetti, P.; Galeotti, S.; Dell'Orso, M.; Cerri, A.; Catastini, P.; Carosi, R.; Belforte, S.; Bardi, A.; Annovi, A.; Adelman, J.;
By: Yang, U.; Spinella, F.; Shochet, M.; Ristori, L.; Reisert, B.; Pitkanen, M.; Piendibene, M.; Pedreschi, E.; Morsani, F.; Maruyama, T.; Liu, T.; Lewis, J.; Giannetti, P.; Galeotti, S.; Dell'Orso, M.; Cerri, A.; Catastini, P.; Carosi, R.; Belforte, S.; Bardi, A.; Annovi, A.; Adelman, J.;
2006 / IEEE
By: Wittich, P.; Whiteson, D.; Wilson, P.; Van Berg, R.; Stabenau, H.; Shochet, M.; Sanders, H.; Rusu, V.; Reisert, B.; Pitkanen, S.; Neu, C.; Mansikkala, T.; Marjamaa, F.; Liu, T.; Lin, C.; Lewis, J.; Kwang, S.; Kroll, J.; Kim, Y.; Keener, P.; Hakala, M.; Hahn, K.; Frisch, H.; Fedorko, W.; Demaat, R.; Bogdan, M.; Anikeev, K.;
By: Wittich, P.; Whiteson, D.; Wilson, P.; Van Berg, R.; Stabenau, H.; Shochet, M.; Sanders, H.; Rusu, V.; Reisert, B.; Pitkanen, S.; Neu, C.; Mansikkala, T.; Marjamaa, F.; Liu, T.; Lin, C.; Lewis, J.; Kwang, S.; Kroll, J.; Kim, Y.; Keener, P.; Hakala, M.; Hahn, K.; Frisch, H.; Fedorko, W.; Demaat, R.; Bogdan, M.; Anikeev, K.;