Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Reiersen, W.
Results
2012 / IEEE
By: Lyraud, C.; Rodriguez-Mateos, F.; Jong, C.; Jewell, M.; Bessette, D.; Libeyre, P.; Sgobba, S.; Reed, R.; Dalder, E.; Myatt, L.; Freudenberg, K.; Litherland, S.; Hussung, R.; Rey, C.; Martovetsky, N.; Reiersen, W.; Hamada, K.;
By: Lyraud, C.; Rodriguez-Mateos, F.; Jong, C.; Jewell, M.; Bessette, D.; Libeyre, P.; Sgobba, S.; Reed, R.; Dalder, E.; Myatt, L.; Freudenberg, K.; Litherland, S.; Hussung, R.; Rey, C.; Martovetsky, N.; Reiersen, W.; Hamada, K.;
1993 / IEEE / 0-7803-1412-3
By: Neilson, G.; Ulrickson, M.; Reiersen, W.; Porkolab, M.; Nevins, W.; Jardin, S.C.; Goldston, R.;
By: Neilson, G.; Ulrickson, M.; Reiersen, W.; Porkolab, M.; Nevins, W.; Jardin, S.C.; Goldston, R.;
1997 / IEEE / 0-7803-4226-7
By: Jung, Y.S.; Kessel, C.; Kim, D.L.; Kim, K.S.; Kim, J.Y.; Kim, W.C.; Kyum, M.C.; Lee, D.Y.; Lee, B.Y.; Lee, D.K.; Lee, S.G.; Lim, J.Y.; Manickam, J.; Montgomery, B.; Namkung, W.; Nevins, W.; Oh, Y.K.; Park, J.H.; Pomphrey, N.; Reiersen, W.; Schultz, J.H.; Schmidt, J.A.; Simmons, R.T.; Sinnis, J.C.; Swain, D.W.; Sevier, L.; Wang, P.W.; Yang, J.G.; You, G.H.; Yoon, B.J.; Young, K.M.; Choi, D.I.; Lee, G.S.; Jinchoon Kim; Park, H.K.; Chang, C.S.; Choi, B.H.; Kim, K.; Cho, M.H.; Neilson, G.H.; Baang, S.; Bernabei, S.; Brown, T.; Chang, H.Y.; Cho, C.H.; Cho, S.; Cho, Y.S.; Chung, K.H.; Kie-Hyung Chung; Dahlgren, F.; Grisham, L.; Han, J.H.; Huh, N.I.; Hwang, S.M.; Hwang, Y.S.; Hill, D.; Hong, B.G.; Hong, J.S.; Hong, S.H.; Im, K.H.; In, S.R.; Jardin, S.; Jhang, H.G.; Joo, M.;
By: Jung, Y.S.; Kessel, C.; Kim, D.L.; Kim, K.S.; Kim, J.Y.; Kim, W.C.; Kyum, M.C.; Lee, D.Y.; Lee, B.Y.; Lee, D.K.; Lee, S.G.; Lim, J.Y.; Manickam, J.; Montgomery, B.; Namkung, W.; Nevins, W.; Oh, Y.K.; Park, J.H.; Pomphrey, N.; Reiersen, W.; Schultz, J.H.; Schmidt, J.A.; Simmons, R.T.; Sinnis, J.C.; Swain, D.W.; Sevier, L.; Wang, P.W.; Yang, J.G.; You, G.H.; Yoon, B.J.; Young, K.M.; Choi, D.I.; Lee, G.S.; Jinchoon Kim; Park, H.K.; Chang, C.S.; Choi, B.H.; Kim, K.; Cho, M.H.; Neilson, G.H.; Baang, S.; Bernabei, S.; Brown, T.; Chang, H.Y.; Cho, C.H.; Cho, S.; Cho, Y.S.; Chung, K.H.; Kie-Hyung Chung; Dahlgren, F.; Grisham, L.; Han, J.H.; Huh, N.I.; Hwang, S.M.; Hwang, Y.S.; Hill, D.; Hong, B.G.; Hong, J.S.; Hong, S.H.; Im, K.H.; In, S.R.; Jardin, S.; Jhang, H.G.; Joo, M.;
1997 / IEEE / 0-7803-4226-7
By: Schultz, J.H.; Choi, H.; Baang, S.; Kim, K.; Myatt, L.M.; Michel, P.; Reiersen, W.; Wang, P.W.; Radovinsky, A.; Brown, T.;
By: Schultz, J.H.; Choi, H.; Baang, S.; Kim, K.; Myatt, L.M.; Michel, P.; Reiersen, W.; Wang, P.W.; Radovinsky, A.; Brown, T.;
1997 / IEEE / 0-7803-4226-7
By: Yoon, B.J.; Cho, S.; Reiersen, W.; Park, H.K.; Lee, G.S.; Kim, H.S.; In, S.R.; Dahlgren, F.; Brown, T.G.; Kim, J.;
By: Yoon, B.J.; Cho, S.; Reiersen, W.; Park, H.K.; Lee, G.S.; Kim, H.S.; In, S.R.; Dahlgren, F.; Brown, T.G.; Kim, J.;
1997 / IEEE / 0-7803-4226-7
By: Reiersen, W.; Fan, H.; Neumeyer, C.; Bromberg, L.; Bonanos, P.; Steiner, D.; Dahlgren, F.;
By: Reiersen, W.; Fan, H.; Neumeyer, C.; Bromberg, L.; Bonanos, P.; Steiner, D.; Dahlgren, F.;
2002 / IEEE / 0-7803-7073-2
By: Reiersen, W.; Schneider, H.; Baker, E.; Marsala, R.; Hatcher, R.; Neumeyer, C.; Ramakrishnan, S.;
By: Reiersen, W.; Schneider, H.; Baker, E.; Marsala, R.; Hatcher, R.; Neumeyer, C.; Ramakrishnan, S.;
2002 / IEEE / 0-7803-7073-2
By: Strickler, D.; Nelson, B.; Fogarty, P.; Fan, H.-M.; Reiersen, W.; Brooks, A.; Cole, M.; Williamson, D.;
By: Strickler, D.; Nelson, B.; Fogarty, P.; Fan, H.-M.; Reiersen, W.; Brooks, A.; Cole, M.; Williamson, D.;
2003 / IEEE / 0-7803-7908-X
By: Nelson, B.; Cole, M.; Sutton, L.; Malinowski, F.; Viola, M.; Reiersen, W.; Williamson, D.; Brown, T.; Heitzenroeder, P.; Keilbach, R.; Neilson, G.H.; Goranson, P.;
By: Nelson, B.; Cole, M.; Sutton, L.; Malinowski, F.; Viola, M.; Reiersen, W.; Williamson, D.; Brown, T.; Heitzenroeder, P.; Keilbach, R.; Neilson, G.H.; Goranson, P.;
2005 / IEEE / 0-4244-0159-6
By: Goranson, P.; Raftopoulos, S.; Fogarty, P.; Chrzanowski, J.; Cole, M.; Brown, T.; Gettelfinger, G.; Brooks, A.; Zarnstorff, M.; Reiersen, W.; Nelson, B.; Lyon, J.; Heitzenroeder, P.; Neilson, G.H.; Williamson, D.; Williams, M.; Viola, M.; Strykowsky, R.; Simmons, R.; Stratton, B.; Schmidt, J.;
By: Goranson, P.; Raftopoulos, S.; Fogarty, P.; Chrzanowski, J.; Cole, M.; Brown, T.; Gettelfinger, G.; Brooks, A.; Zarnstorff, M.; Reiersen, W.; Nelson, B.; Lyon, J.; Heitzenroeder, P.; Neilson, G.H.; Williamson, D.; Williams, M.; Viola, M.; Strykowsky, R.; Simmons, R.; Stratton, B.; Schmidt, J.;
2005 / IEEE / 0-4244-0159-6
By: Nelson, B.; Raftopolous, S.; Heitzenroeder, P.; Hargrove, T.; Fogarty, P.; Freudenberg, K.; Fan, H.-M.; Cole, M.; Chrzanowski, J.; Brown T; Brooks, A.; Williamson, D.; Strickler, D.; Lovett, G.; Stratton, B.; Reiersen, W.;
By: Nelson, B.; Raftopolous, S.; Heitzenroeder, P.; Hargrove, T.; Fogarty, P.; Freudenberg, K.; Fan, H.-M.; Cole, M.; Chrzanowski, J.; Brown T; Brooks, A.; Williamson, D.; Strickler, D.; Lovett, G.; Stratton, B.; Reiersen, W.;
2005 / IEEE / 0-4244-0159-6
By: Chrzanowski, J.; Dahlgren, F.; Myatt, L.; Brooks, A.; Reiersen, W.; Rushinski, J.; Kalish, M.; Freudenberg, K.;
By: Chrzanowski, J.; Dahlgren, F.; Myatt, L.; Brooks, A.; Reiersen, W.; Rushinski, J.; Kalish, M.; Freudenberg, K.;
2005 / IEEE / 0-4244-0159-6
By: Malinowski, F.; Heitzenroeder, P.; Brown, T.; Viola, M.E.; McCorkle, D.; Reiersen, W.; Cole, M.; Manuel, M.; Nelson, B.; Goranson, P.; Sutton, L.;
By: Malinowski, F.; Heitzenroeder, P.; Brown, T.; Viola, M.E.; McCorkle, D.; Reiersen, W.; Cole, M.; Manuel, M.; Nelson, B.; Goranson, P.; Sutton, L.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1193-1
By: Cole, M.; Chrzanowski, J.; Brown, T.; Brooks, A.; Heitzenroeder, P.; Nelson, B.; Reiersen, W.; Zarnstorff, M.; Williamson, D.; Williams, M.; Viola, M.; Strykowsky, R.; Stratton, B.; Raftopoulos, S.; Neilson, G.H.; Lyon, J.; Labik, G.; Kalish, M.; Goranson, P.; Gettelfinger, G.; Fogarty, P.; Fan, H.-M.; Dudek, L.;
By: Cole, M.; Chrzanowski, J.; Brown, T.; Brooks, A.; Heitzenroeder, P.; Nelson, B.; Reiersen, W.; Zarnstorff, M.; Williamson, D.; Williams, M.; Viola, M.; Strykowsky, R.; Stratton, B.; Raftopoulos, S.; Neilson, G.H.; Lyon, J.; Labik, G.; Kalish, M.; Goranson, P.; Gettelfinger, G.; Fogarty, P.; Fan, H.-M.; Dudek, L.;
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap