Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Puglisi, M.
Results
2012 / IEEE
By: Lo Presti, D.; Petta, C.; Bandieramonte, M.; Becciani, U.; Belluomo, F.; Belluso, M.; Billotta, S.; Blancato, A.; Bonanno, D.L.; Bonanno, G.; Carbone, B.; Costa, A.; Fallica, G.; Indelicato, V.; La Monaca, V.; La Rocca, P.; Leonora, E.; Longhitano, F.; Massimino, P.; Mazzillo, M.; Pappalardo, G.S.; Piana, A.; Pistagna, C.; Pugliatti, C.; Puglisi, M.; Randazzo, N.; Riggi, F.; Riggi, S.; Russo, G.V.; Sanfilippo, D.; Santagati, G.; Valvo, G.; Zaia, A.; Zappala', G.; Antonuccio, V.;
By: Lo Presti, D.; Petta, C.; Bandieramonte, M.; Becciani, U.; Belluomo, F.; Belluso, M.; Billotta, S.; Blancato, A.; Bonanno, D.L.; Bonanno, G.; Carbone, B.; Costa, A.; Fallica, G.; Indelicato, V.; La Monaca, V.; La Rocca, P.; Leonora, E.; Longhitano, F.; Massimino, P.; Mazzillo, M.; Pappalardo, G.S.; Piana, A.; Pistagna, C.; Pugliatti, C.; Puglisi, M.; Randazzo, N.; Riggi, F.; Riggi, S.; Russo, G.V.; Sanfilippo, D.; Santagati, G.; Valvo, G.; Zaia, A.; Zappala', G.; Antonuccio, V.;
2014 / IEEE
By: Pugliatti, C.; Antonuccio, V.; Zaia, A.; Vitello, F.; Valvo, G.; Santagati, G.; Russo, G.V.; Romeo, G.; Riggi, S.; Riggi, F.; Randazzo, N.; Bandieramonte, M.; Becciani, U.; Belluomo, F.; Belluso, M.; Billotta, S.; Blancato, A.; Bonanno, D.L.; Bonanno, G.; Costa, A.; Fallica, G.; Garozzo, S.; La Rocca, P.; Leonora, E.; Longhitano, F.; Longo, S.; Lo Presti, D.; Massimino, P.; Petta, C.; Pistagna, C.; Puglisi, M.;
By: Pugliatti, C.; Antonuccio, V.; Zaia, A.; Vitello, F.; Valvo, G.; Santagati, G.; Russo, G.V.; Romeo, G.; Riggi, S.; Riggi, F.; Randazzo, N.; Bandieramonte, M.; Becciani, U.; Belluomo, F.; Belluso, M.; Billotta, S.; Blancato, A.; Bonanno, D.L.; Bonanno, G.; Costa, A.; Fallica, G.; Garozzo, S.; La Rocca, P.; Leonora, E.; Longhitano, F.; Longo, S.; Lo Presti, D.; Massimino, P.; Petta, C.; Pistagna, C.; Puglisi, M.;
2013 / IEEE
By: Antonuccio, V.; Bandieramonte, M.; Zappala, G.; Zaia, A.; Valvo, G.; Santagati, G.; Sanfilippo, D.; Becciani, U.; Belluomo, F.; Belluso, M.; Billotta, S.; Bonanno, D.L.; Bonanno, G.; Carbone, B.; Costa, A.; Fallica, G.; Indelicato, V.; La Rocca, P.; Leonora, E.; Longhitano, F.; Lo Presti, D.; Massimino, P.; Mazzillo, M.; Petta, C.; Piana, A.; Pistagna, C.; Pugliatti, C.; Puglisi, M.; Randazzo, N.; Riggi, F.; Riggi, S.; Russo, G.V.;
By: Antonuccio, V.; Bandieramonte, M.; Zappala, G.; Zaia, A.; Valvo, G.; Santagati, G.; Sanfilippo, D.; Becciani, U.; Belluomo, F.; Belluso, M.; Billotta, S.; Bonanno, D.L.; Bonanno, G.; Carbone, B.; Costa, A.; Fallica, G.; Indelicato, V.; La Rocca, P.; Leonora, E.; Longhitano, F.; Lo Presti, D.; Massimino, P.; Mazzillo, M.; Petta, C.; Piana, A.; Pistagna, C.; Pugliatti, C.; Puglisi, M.; Randazzo, N.; Riggi, F.; Riggi, S.; Russo, G.V.;
1992 / IEEE
By: Koska, W.; Bleadon, M.; Bossert, R.; Carson, J.; Delchamps, S.; Gourlay, S.; Hanft, R.; Kuchnir, M.; Lamm, M.J.; Mantsch, P.; Mazur, P.O.; Orris, D.; Strait, J.; Wake, M.; Bush, T.; Coombes, R.; Devred, A.; DiMarco, J.; Goodzeit, C.; Kuzminski, J.; Ogitsu, T.; Puglisi, M.; Radusewicz, P.; Schermer, R.; Tompkins, J.C.; Wolf, Z.; Yu, Y.; Zheng, H.; Cottingham, J.; Ganetis, G.; Garber, M.; Ghosh, A.; Greene, A.; Gupta, R.; Kahn, S.; Herrera, J.; Kelly, E.; Morgan, G.; Muratore, J.; Prodell, A.; Rehak, M.; Rohrer, E.P.; Sampson, W.; Shutt, R.; Thompson, P.; Wanderer, P.; Willen, E.; Royet, J.; Scanlan, R.; Taylor, C.;
By: Koska, W.; Bleadon, M.; Bossert, R.; Carson, J.; Delchamps, S.; Gourlay, S.; Hanft, R.; Kuchnir, M.; Lamm, M.J.; Mantsch, P.; Mazur, P.O.; Orris, D.; Strait, J.; Wake, M.; Bush, T.; Coombes, R.; Devred, A.; DiMarco, J.; Goodzeit, C.; Kuzminski, J.; Ogitsu, T.; Puglisi, M.; Radusewicz, P.; Schermer, R.; Tompkins, J.C.; Wolf, Z.; Yu, Y.; Zheng, H.; Cottingham, J.; Ganetis, G.; Garber, M.; Ghosh, A.; Greene, A.; Gupta, R.; Kahn, S.; Herrera, J.; Kelly, E.; Morgan, G.; Muratore, J.; Prodell, A.; Rehak, M.; Rohrer, E.P.; Sampson, W.; Shutt, R.; Thompson, P.; Wanderer, P.; Willen, E.; Royet, J.; Scanlan, R.; Taylor, C.;
Results of magnetic field measurements of 40 mm aperture 17-m long SSC model collider dipole magnets
1992 / IEEEBy: Wanderer, P.; Anerella, M.; Cottingham, J.; Ganetis, G.; Garber, M.; Ghosh, A.; Greene, A.; Gupta, R.; Herrera, J.; Kahn, S.; Kelly, E.; Meade, A.; Morgan, G.; Muratore, J.; Prodell, A.; Rehak, M.; Rohrer, E.P.; Sampson, W.; Shutt, R.; Thompson, P.; Willen, E.; Bleadon, M.; Hanft, R.; Kuchnir, M.; Mantsch, P.; Mazur, P.O.; Orris, D.; Peterson, T.; Strait, J.; Royet, J.; Scanlan, R.; Taylor, C.; Bush, T.; Coombes, R.; Devred, A.; DiMarco, J.; Goodzeit, C.; Kuzminski, J.; Ogitsu, T.; Puglisi, M.; Radusewicz, P.; Sanger, P.; Schermer, R.; Tompkins, J.; Turner, J.; Wolf, Z.; Yu, Y.; Zheng, H.;
1992 / IEEE
By: Kuzminski, J.; Bush, T.; Coombes, R.; Devred, A.; DiMarco, J.; Goodzeit, C.; Puglisi, M.; Radusewicz, P.; Sanger, P.; Schermer, R.; Tompkins, J.C.; Wolf, Z.; Yu, Y.; Zheng, H.; Ogitsu, T.; Anerella, M.; Cottingham, J.; Ganetis, G.; Garber, M.; Ghosh, A.; Greene, A.; Gupta, R.; Herrera, J.; Kahn, S.; Kelly, E.; Meade, A.; Morgan, G.; Muratore, J.; Prodell, A.; Rehak, M.; Rohrer, E.P.; Sampson, W.; Shutt, R.; Thompson, P.; Wanderer, P.; Willen, E.; Bleadon, M.; Hanft, R.; Kuchnir, M.; Mantsch, P.; Mazur, P.O.; Orris, D.; Peterson, T.; Strait, J.; Royet, J.; Scanlan, R.; Taylor, C.;
By: Kuzminski, J.; Bush, T.; Coombes, R.; Devred, A.; DiMarco, J.; Goodzeit, C.; Puglisi, M.; Radusewicz, P.; Sanger, P.; Schermer, R.; Tompkins, J.C.; Wolf, Z.; Yu, Y.; Zheng, H.; Ogitsu, T.; Anerella, M.; Cottingham, J.; Ganetis, G.; Garber, M.; Ghosh, A.; Greene, A.; Gupta, R.; Herrera, J.; Kahn, S.; Kelly, E.; Meade, A.; Morgan, G.; Muratore, J.; Prodell, A.; Rehak, M.; Rohrer, E.P.; Sampson, W.; Shutt, R.; Thompson, P.; Wanderer, P.; Willen, E.; Bleadon, M.; Hanft, R.; Kuchnir, M.; Mantsch, P.; Mazur, P.O.; Orris, D.; Peterson, T.; Strait, J.; Royet, J.; Scanlan, R.; Taylor, C.;
1991 / IEEE / 0-7803-0135-8
By: Eng, W.; Cameron, P.; Sanders, R.T.; Spitz, R.; Ratti, A.; Puglisi, M.; Goldman, M.A.; Plotkin, M.; Meth, M.; McNerney, A.; Keane, J.; Kasha, D.; Jablonski, E.;
By: Eng, W.; Cameron, P.; Sanders, R.T.; Spitz, R.; Ratti, A.; Puglisi, M.; Goldman, M.A.; Plotkin, M.; Meth, M.; McNerney, A.; Keane, J.; Kasha, D.; Jablonski, E.;
1993 / IEEE
By: Nah, W.; Akhmetov, A.; Anerella, M.; Bossert, R.; Bush, T.; Capone, D.W., II; Carson, J.; Coombes, R.; Cottingham, J.; Delchamps, S.W.; Devred, A.; Di Marco, J.; Ganetis, G.; Garber, G.; Goodzeit, C.; Ghosh, A.; Gourlay, S.; Greene, A.; Gupta, R.; Hanft, R.; Jain, A.; Khan, S.; Kelly, E.; Koska, W.; Kuchnir, M.; Kuzminski, J.; Lamm, M.J.; Mantsch, P.; Mazur, P.O.; Morgan, G.; Muratore, J.; Ogitsu, T.; Orris, D.; Ozelis, J.; Peterson, T.; Pewitt, E.G.; Prodell, A.; Puglisi, M.; Radusewicz, P.; Rehak, M.; Rohrer, E.P.; Royet, J.; Sampson, W.; Sanger, P.; Scanlan, R.; Schermer, R.; Shutt, R.; Stiening, R.; Strait, J.; Taylor, C.; Thomas, R.; Thompson, P.; Tompkins, J.C.; Turner, J.; Wake, M.; Wanderer, P.; Willen, E.; Yu, Y.; Zbasnik, J.; Zhao, Y.; Zheng, H.;
By: Nah, W.; Akhmetov, A.; Anerella, M.; Bossert, R.; Bush, T.; Capone, D.W., II; Carson, J.; Coombes, R.; Cottingham, J.; Delchamps, S.W.; Devred, A.; Di Marco, J.; Ganetis, G.; Garber, G.; Goodzeit, C.; Ghosh, A.; Gourlay, S.; Greene, A.; Gupta, R.; Hanft, R.; Jain, A.; Khan, S.; Kelly, E.; Koska, W.; Kuchnir, M.; Kuzminski, J.; Lamm, M.J.; Mantsch, P.; Mazur, P.O.; Morgan, G.; Muratore, J.; Ogitsu, T.; Orris, D.; Ozelis, J.; Peterson, T.; Pewitt, E.G.; Prodell, A.; Puglisi, M.; Radusewicz, P.; Rehak, M.; Rohrer, E.P.; Royet, J.; Sampson, W.; Sanger, P.; Scanlan, R.; Schermer, R.; Shutt, R.; Stiening, R.; Strait, J.; Taylor, C.; Thomas, R.; Thompson, P.; Tompkins, J.C.; Turner, J.; Wake, M.; Wanderer, P.; Willen, E.; Yu, Y.; Zbasnik, J.; Zhao, Y.; Zheng, H.;
1993 / IEEE
By: Zhao, Y.; Akhmetov, A.; Anerella, M.; Bossert, R.; Bush, T.; Capone, D.W., II; Carson, J.; Coombes, R.; Cottingham, J.; Delchamps, S.W.; Devred, A.; Di Marco, J.; Ganetis, G.; Garber, M.; Goodzeit, C.; Ghosh, A.; Gourlay, S.; Greene, A.; Gupta, R.; Hanft, R.; Jain, A.; Kahn, S.; Kelly, E.; Koska, W.; Kuchnir, M.; Kuzminski, J.; Lamm, M.J.; Mantsch, P.; Mazur, P.O.; Morgan, G.; Muratore, J.; Nah, W.; Ogitsu, T.; Orris, D.; Ozelis, J.; Peterson, T.; Pewitt, E.G.; Prodell, A.; Puglisi, M.; Radusewicz, P.; Rehak, M.; Rohrer, E.P.; Royet, J.; Sampson, W.; Sanger, P.; Scanlan, R.; Schermer, R.; Shutt, R.; Stiening, R.; Strait, J.; Taylor, C.; Thomas, R.; Thompson, P.; Tompkins, J.C.; Turner, J.; Wake, M.; Wanderer, P.; Willen, E.; Yu, Y.; Zbasnik, J.; Zheng, H.;
By: Zhao, Y.; Akhmetov, A.; Anerella, M.; Bossert, R.; Bush, T.; Capone, D.W., II; Carson, J.; Coombes, R.; Cottingham, J.; Delchamps, S.W.; Devred, A.; Di Marco, J.; Ganetis, G.; Garber, M.; Goodzeit, C.; Ghosh, A.; Gourlay, S.; Greene, A.; Gupta, R.; Hanft, R.; Jain, A.; Kahn, S.; Kelly, E.; Koska, W.; Kuchnir, M.; Kuzminski, J.; Lamm, M.J.; Mantsch, P.; Mazur, P.O.; Morgan, G.; Muratore, J.; Nah, W.; Ogitsu, T.; Orris, D.; Ozelis, J.; Peterson, T.; Pewitt, E.G.; Prodell, A.; Puglisi, M.; Radusewicz, P.; Rehak, M.; Rohrer, E.P.; Royet, J.; Sampson, W.; Sanger, P.; Scanlan, R.; Schermer, R.; Shutt, R.; Stiening, R.; Strait, J.; Taylor, C.; Thomas, R.; Thompson, P.; Tompkins, J.C.; Turner, J.; Wake, M.; Wanderer, P.; Willen, E.; Yu, Y.; Zbasnik, J.; Zheng, H.;
1993 / IEEE
By: Bush, T.; Capone, D.W., II; Carson, J.; Coombes, R.; Cottingham, J.; Delchamps, S.W.; Devred, A.; DiMarco, J.; Ganetis, G.; Garber, M.; Goodzeit, C.; Ghosh, A.; Gourlay, S.; Greene, A.; Gupta, R.; Hanft, R.; Jain, A.; Kahn, S.; Kelly, E.; Koska, W.; Kuchnir, M.; Kuzminski, J.; Lamm, M.J.; Mantsch, P.; Mazur, P.O.; Morgan, G.; Muratore, J.; Nah, W.; Orris, D.; Ozelis, J.; Peterson, T.; Pewitt, E.G.; Prodell, A.; Puglisi, M.; Rodusewicz, P.; Rehak, M.; Rohrer, E.P.; Royet, J.; Sampson, W.; Sanger, P.; Scanlan, R.; Schermer, R.; Shutt, R.; Stiening, R.; Strait, J.; Taylor, C.; Thomas, R.; Thompson, P.; Tompkins, J.C.; Turner, J.; Wake, M.; Wanderer, P.; Willen, E.; Yu, Y.; Zbasnik, J.; Zhao, Y.; Zheng, H.; Ogitsu, T.; Akhmetov, A.; Anerella, M.; Bossert, R.;
By: Bush, T.; Capone, D.W., II; Carson, J.; Coombes, R.; Cottingham, J.; Delchamps, S.W.; Devred, A.; DiMarco, J.; Ganetis, G.; Garber, M.; Goodzeit, C.; Ghosh, A.; Gourlay, S.; Greene, A.; Gupta, R.; Hanft, R.; Jain, A.; Kahn, S.; Kelly, E.; Koska, W.; Kuchnir, M.; Kuzminski, J.; Lamm, M.J.; Mantsch, P.; Mazur, P.O.; Morgan, G.; Muratore, J.; Nah, W.; Orris, D.; Ozelis, J.; Peterson, T.; Pewitt, E.G.; Prodell, A.; Puglisi, M.; Rodusewicz, P.; Rehak, M.; Rohrer, E.P.; Royet, J.; Sampson, W.; Sanger, P.; Scanlan, R.; Schermer, R.; Shutt, R.; Stiening, R.; Strait, J.; Taylor, C.; Thomas, R.; Thompson, P.; Tompkins, J.C.; Turner, J.; Wake, M.; Wanderer, P.; Willen, E.; Yu, Y.; Zbasnik, J.; Zhao, Y.; Zheng, H.; Ogitsu, T.; Akhmetov, A.; Anerella, M.; Bossert, R.;
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap