Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Peters, A.
Results
2011 / IEEE
By: Pfister, H.; Feldman, C.; Rybicki, F.; Melchionna, S.; Borkin, M.; Mitsouras, D.; Peters, A.; Gajos, K.;
By: Pfister, H.; Feldman, C.; Rybicki, F.; Melchionna, S.; Borkin, M.; Mitsouras, D.; Peters, A.; Gajos, K.;
2011 / IEEE / 978-0-9775657-8-8
By: Hartnett, J.; Nagel, M.; Tobar, M.; Stanwix, P.; Parker, S.; Peters, A.; Ivanov, E.;
By: Hartnett, J.; Nagel, M.; Tobar, M.; Stanwix, P.; Parker, S.; Peters, A.; Ivanov, E.;
2015 / IEEE
By: Yan, S.; Hugues-Salas, E.; Simeonidou, D.; Zervas, G.; Richardson, D.J.; Petropoulos, P.; May-Smith, T.; Jain, S.; Peters, A.; Yan, Y.; Rahimzadeh Rofoee, B.; Saridis, G.M.; Shu, Y.; Rancano, V.J.F.;
By: Yan, S.; Hugues-Salas, E.; Simeonidou, D.; Zervas, G.; Richardson, D.J.; Petropoulos, P.; May-Smith, T.; Jain, S.; Peters, A.; Yan, Y.; Rahimzadeh Rofoee, B.; Saridis, G.M.; Shu, Y.; Rancano, V.J.F.;
2013 / IEEE
By: Wilken, T.; Lezius, M.; Holzwarth, R.; Peters, A.; Sengstock, K.; Windpassinger, P.; Hellmig, O.; Duncker, H.; Krutzik, M.; Hansch, T. W.; Kohfeldt, A.; Wicht, A.; Schkolnik, V.;
By: Wilken, T.; Lezius, M.; Holzwarth, R.; Peters, A.; Sengstock, K.; Windpassinger, P.; Hellmig, O.; Duncker, H.; Krutzik, M.; Hansch, T. W.; Kohfeldt, A.; Wicht, A.; Schkolnik, V.;
1992 / IEEE
By: Orth, T.; Peters, A.; Hoare, A.; Sollis, P.M.; Pelzl, J.; Chantrell, R.W.; Bissell, P.R.;
By: Orth, T.; Peters, A.; Hoare, A.; Sollis, P.M.; Pelzl, J.; Chantrell, R.W.; Bissell, P.R.;
1992 / IEEE / 0-7803-0637-6
By: Sollis, P.M.; Pelzl, J.; Chantrell, R.W.; Bissell, P.R.; Orth, Th.; Peters, A.; Hoare, A.;
By: Sollis, P.M.; Pelzl, J.; Chantrell, R.W.; Bissell, P.R.; Orth, Th.; Peters, A.; Hoare, A.;
1999 / IEEE / 0-7803-5463-X
By: Wittgen, M.; Peters, A.; Marouelli, P.; Luitz, S.; Vossnack, O.; Boyle, O.; Gianolii, A.; Lacourt, A.; Panzer, B.; Bal, F.;
By: Wittgen, M.; Peters, A.; Marouelli, P.; Luitz, S.; Vossnack, O.; Boyle, O.; Gianolii, A.; Lacourt, A.; Panzer, B.; Bal, F.;
1999 / IEEE / 0-7803-5696-9
By: Vossnack, O.; Panzer, B.; Lacourt, A.; Gianoli, A.; Boyle, O.; Bal, F.; Luitz, S.; Marouelli, P.; Peters, A.; Wittgen, M.;
By: Vossnack, O.; Panzer, B.; Lacourt, A.; Gianoli, A.; Boyle, O.; Bal, F.; Luitz, S.; Marouelli, P.; Peters, A.; Wittgen, M.;
2000 / IEEE
By: Peters, A.; Wittgen, M.; Vossnack, O.; Panze, B.; Luitz, S.; Marouelli, P.; Gianoli, A.; Boyle, O.; Bal, E.; Lacourt, A.;
By: Peters, A.; Wittgen, M.; Vossnack, O.; Panze, B.; Luitz, S.; Marouelli, P.; Gianoli, A.; Boyle, O.; Bal, E.; Lacourt, A.;
2000 / IEEE / 0-7803-5744-2
By: Mlynek, J.; Peters, A.; Eiermann, B.; Muller, H.; Pradl, O.; Brazmaier, C.; Schiller, S.;
By: Mlynek, J.; Peters, A.; Eiermann, B.; Muller, H.; Pradl, O.; Brazmaier, C.; Schiller, S.;
2001 / IEEE / 1-55752-662-1
By: Lvovsky, A.I.; Dekorsy, D.; Kovalchuk, E.V.; Schiller, S.; Peters, A.; Mlynek, J.; Braxmaier, C.;
By: Lvovsky, A.I.; Dekorsy, D.; Kovalchuk, E.V.; Schiller, S.; Peters, A.; Mlynek, J.; Braxmaier, C.;
2001 / IEEE / 1-55752-663-X
By: Mlynek, J.; Braxmaier, C.; Muller, H.; Schiller, S.; Lammerzahl, C.; Peters, A.;
By: Mlynek, J.; Braxmaier, C.; Muller, H.; Schiller, S.; Lammerzahl, C.; Peters, A.;
2002 / IEEE / 0-7803-7242-5
By: Muller, H.; Peters, A.; Schiller, S.; Mlynek, J.; Herrmann, S.; Braxmaier, C.;
By: Muller, H.; Peters, A.; Schiller, S.; Mlynek, J.; Herrmann, S.; Braxmaier, C.;
2003 / IEEE
By: Wendt, M.; Knaack, K.; Nietzsche, S.; Neubert, R.; Vodel, W.; Peters, A.; Wittenburg, K.;
By: Wendt, M.; Knaack, K.; Nietzsche, S.; Neubert, R.; Vodel, W.; Peters, A.; Wittenburg, K.;
2005 / IEEE / 0-7803-8973-5
By: vanZoest, T.; Brinkmann, W.; Prengel, P.; Dittus, H.-J.; Schleich, W.; Waiser, R.; Steinmetz, T.; Reichet, J.; Lewoczko, W.; Schuldt, T.; Peters, A.; Schmidt, M.; Vogel, A.; Bongs, K.; Ertmer, W.; Konemann, T.; Rasel, E.M.;
By: vanZoest, T.; Brinkmann, W.; Prengel, P.; Dittus, H.-J.; Schleich, W.; Waiser, R.; Steinmetz, T.; Reichet, J.; Lewoczko, W.; Schuldt, T.; Peters, A.; Schmidt, M.; Vogel, A.; Bongs, K.; Ertmer, W.; Konemann, T.; Rasel, E.M.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0930-3
By: Gohlke, M.; Schuldt, T.; Braxmaier, C.; Peters, A.; Johann, U.; Weise, D.;
By: Gohlke, M.; Schuldt, T.; Braxmaier, C.; Peters, A.; Johann, U.; Weise, D.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0930-3
By: Sorrentino, F.; de Angelis, M.; Giorgini, A.; Tino, G.M.; Ertmer, W.; Rasel, E.M.; Peters, A.; Landragin, A.; Bouyer, P.; Wendrich, T.; Muller, T.; Zaiser, M.; Mehlstauble, T.; Pereira Dos Santos, F.; Le Gouet, J.; Gauguet, A.; Impens, F.; Brantut, J.P.; Lugan, P.; Nyman, R.; Josse, V.; Kovalchuk, E.; Senger, A.; Schmidt, M.; Prevedelli, M.;
By: Sorrentino, F.; de Angelis, M.; Giorgini, A.; Tino, G.M.; Ertmer, W.; Rasel, E.M.; Peters, A.; Landragin, A.; Bouyer, P.; Wendrich, T.; Muller, T.; Zaiser, M.; Mehlstauble, T.; Pereira Dos Santos, F.; Le Gouet, J.; Gauguet, A.; Impens, F.; Brantut, J.P.; Lugan, P.; Nyman, R.; Josse, V.; Kovalchuk, E.; Senger, A.; Schmidt, M.; Prevedelli, M.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0930-3
By: van Zoest, T.; Lammerzahl, C.; Peters, A.; Schiemangk, M.; Lewoczko-Adamczyk, W.; Walser, R.; Schleich, W.P.; Nandi, G.; Dittus, H.; Rasel, E.; Brinkmann, W.; Konemann, T.; Reichel, J.; Steinmetz, T.; Sengstock, K.; Bongs, K.; Wildfang, S.; Vogel, A.; Ertmer, W.;
By: van Zoest, T.; Lammerzahl, C.; Peters, A.; Schiemangk, M.; Lewoczko-Adamczyk, W.; Walser, R.; Schleich, W.P.; Nandi, G.; Dittus, H.; Rasel, E.; Brinkmann, W.; Konemann, T.; Reichel, J.; Steinmetz, T.; Sengstock, K.; Bongs, K.; Wildfang, S.; Vogel, A.; Ertmer, W.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4079-5
By: Herr, W.; van Zoest, T.; Reichel, J.; Steinmetz, T.; Peters, A.; Schiemangk, M.; Lewoczko-Adamczyk, W.; Sengstock, K.; Vogel, A.; Schleich, W.P.; Walser, R.; Kajari, E.; Dittus, H.; Lammerzahl, C.; Brinkmann, W.; Muntinga, H.; Konemann, T.; Bongs, K.; Ertmer, W.; Rasel, E.M.; Seidel, S.; Ahlers, H.; Singh, Y.; Gaaloul, N.;
By: Herr, W.; van Zoest, T.; Reichel, J.; Steinmetz, T.; Peters, A.; Schiemangk, M.; Lewoczko-Adamczyk, W.; Sengstock, K.; Vogel, A.; Schleich, W.P.; Walser, R.; Kajari, E.; Dittus, H.; Lammerzahl, C.; Brinkmann, W.; Muntinga, H.; Konemann, T.; Bongs, K.; Ertmer, W.; Rasel, E.M.; Seidel, S.; Ahlers, H.; Singh, Y.; Gaaloul, N.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4079-5
By: Johann, U.; Weise, D.; Gohlke, M.; Schuldt, T.; Braxmaier, C.; Peters, A.;
By: Johann, U.; Weise, D.; Gohlke, M.; Schuldt, T.; Braxmaier, C.; Peters, A.;