Your Search Results

Use materials by this author in your textbook!

AcademicPub holds over eight million pieces of educational content – such as case studies and journal articles – for you to mix-and-match your way.

Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.

Author: Passuello, D.

Results

2006 / IEEE
By: Acernese, F.; Amico, P.; Al-Shourbagy, M.; Aoudia, S.; Avino, S.; Babusci, D.; Ballardin, G.; Barille, R.; Barone, F.; Barsotti, L.; Barsuglia, M.; Beauville, F.; Bizouard, M.A.; Boccara, C.; Bondu, F.; Bosi, L.; Bradaschia, C.; Braccini, S.; Brillet, A.; Brisson, V.; Brocco, L.; Buskulic, D.; Calloni, E.; Campagna, E.; Cavalier, F.; Cavalieri, R.; Cella, G.; Chassande-Mottin, E.; Corda, C.; Clapson, A.-C.; Cleva, F.; Coulon, J.-P.; Cuoco, E.; Dattilo, V.; Davier, M.; De Rosa, R.; Di Fiore, L.; Di Virgilio, A.; Dujardin, B.; Eleuteri, A.; Enard, D.; Ferrante, I.; Fidecaro, F.; Fiori, I.; Flaminio, R.; Fournier, J.-D.; Frasca, S.; Frasconi, F.; Freise, A.; Gammaitoni, L.; Gennai, A.; Giazotto, A.; Giordano, G.; Giordano, L.; Gouaty, R.; Grosjean, D.; Guidi, G.; Hebri, S.; Heitmann, H.; Hello, P.; Holloway, L.; Kreckelbergh, S.; La Penna, P.; Loriette, V.; Loupias, M.; Losurdo, G.; Mackowski, J.-M.; Majorana, E.; Man, C.N.; Mantovani, M.; Marchesoni, F.; Marion, F.; Marque, J.; Martelli, F.; Masserot, A.; Mazzoni, M.; Milano, L.; Moins, C.; Moreau, J.; Morgado, N.; Mours, B.; Pai, A.; Palomba, C.; Paoletti, F.; Pardi, S.; Pasqualetti, A.; Passaquieti, R.; Passuello, D.; Perniola, B.; Piergiovanni, F.; Pinard, L.; Poggiani, R.; Punturo, M.; Puppo, P.; Qipiani, K.; Rapagnani, P.; Reita, V.; Remillieux, A.; Ricci, F.; Ricciardi, I.; Ruggi, P.; Russo, G.; Solimeno, S.; Spallicci, A.; Stanga, R.; Taddei, R.; Tombolato, D.; Tonelli, M.; Toncelli, A.; Tournefier, E.; Travasso, F.; Vajente, G.; Verkindt, D.; Vetrano, F.; Vicere, A.; Vinet, J.-Y.; Vocca, H.; Yvert, M.; Zhang, Z.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0866-5
By: Acernese, F.; Amico, P.; Alshourbagy, M.; Antonucci, F.; Aoudia, S.; Astone, P.; Avino, S.; Babusci, D.; Ballardin, G.; Barone, F.; Barsotti, L.; Barsuglia, M.; Bauer, T.S.; Beauville, F.; Bigotta, S.; Bizouard, M.A.; Boccara, C.; Bondu, F.; Bosi, L.; Bradaschia, C.; Birindelli, S.; Braccini, S.; van den Brand, J.F.J.; Brillet, A.; Brisson, V.; Buskulic, D.; Calloni, E.; Campagna, E.; Carbognani, F.; Cavalier, F.; Cavalieri, R.; Cella, G.; Cesarini, E.; Mottin, C.; Christensen, N.; Clapson, A.-C.; Cleva, F.; Corda, C.; Corsi, A.; Cottone, F.; Coulon, J.-P.; Cuoco, E.; Dari, A.; Dattilo, V.; Davier, M.; del Prete, M.; De Rosa, R.; Di Fiori, L.; Di Virgilio, A.; Dujardin, B.; Eleuteri, A.; Evans, M.; Ferrante, I.; Fidecaro, F.; Fiori, I.; Flaminio, R.; Fournier, J.-D.; Frasca, S.; Frasconi, F.; Gamaitoni, L.; Garuli, F.; Genin, E.; Gennai, A.; Giazotto, A.; Giordano, G.; Giordano, L.; Gouaty, R.; Grosjean, D.; Guidi, G.; Hamdani, S.; Hebri, S.; Heitmann, H.; Hello, P.; Huet, D.; Karkar, S.; Kreckelbergh, S.; La Penna, P.; Laval, M.; Leroy, N.; Letendre, N.; Lopez, B.; Lorenzini, M.; Loriette, V.; Losurdo, G.; Mackowski, J.-M.; Majorana, E.; Man, C.N.; Mantovani, M.; Marchesoni, F.; Marion, F.; Marque, J.; Martelli, F.; Masserot, A.; Mazzoni, M.; Menzinger, F.; Milano, L.; Moins, C.; Moreau, J.; Morgado, N.; Mours, B.; Nocera, F.; Palomba, C.; Paoletti, F.; Pardi, S.; Pasqualetti, A.; Passaquieti, R.; Passuello, F.P.D.; Passuello, D.; Piergiovanni, F.; Pinard, L.; Poggiani, R.; Punturo, M.; Puppo, P.; van der Putten, S.; Qipiani, K.; Rapagnani, P.; Reita, V.; Remillieux, A.; Ricci, F.; Ricciardi, I.; Ruggi, P.; Russo, G.; Solimeno, S.; Spallicci, A.; Tarallo, M.; Tonelli, M.; Toncelli, A.; Tournefier, E.; Travasso, F.; Tremola, C.; Vajente, G.; Verkindt, D.; Vetrano, F.; Vicere, A.; Vinet, J.-Y.; Vocca, H.; Yvert, M.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0866-5
By: Acernese, F.; Amico, P.; Alshourbagy, M.; Antonucci, F.; Aoudia, S.; Astone, P.; Avino, S.; Babusci, D.; Ballardin, G.; Barone, F.; Barsotti, L.; Barsuglia, M.; Bauer, T.S.; Beauville, F.; Bigotta, S.; Birindelli, S.; Bizouard, M.A.; Boccara, C.; Bondu, F.; Bosi, L.; Bradaschia, C.; Braccini, S.; van den Brand, F.J.; Brillet, A.; Brisson, V.; Buskulic, D.; Calloni, E.; Campagna, E.; Carbognani, F.; Cavalier, F.; Cavalieri, R.; Cella, G.; Cesarini, E.; Chassande-Mottin, E.; Christensen, N.; Corda, C.; Corsi, A.; Cottone, F.; Clapson, A.-C.; Cleva, F.; Coulon, J.-P.; Cuoco, E.; Dari, A.; Dattilo, V.; Davier, M.; del Prete, M.; De Rosa, R.; Di Fiore, L.; Di Virgilio, A.; Dujardin, B.; Eleuteri, A.; Evans, M.; Ferrante, I.; Fidecaro, F.; Fiori, I.; Flaminio, R.; Fournier, J.-D.; Frasca, S.; Frasconi, F.; Gammaitoni, L.; Garufi, F.; Genin, E.; Gennai, A.; Giazotto, A.; Giordano, G.; Giordano, L.; Gouaty, R.; Grosjean, D.; Guidi, G.; Hamdani, S.; Hebri, S.; Heitmann, H.; Hello, P.; Huet, D.; Karkar, S.; Kreckelbergh, S.; La Penna, P.; Laval, M.; Leroy, N.; Letendre, N.; Lopez, B.; Lorenzini; Loriette, V.; Losurdo, G.; Mackowski, J.-M.; Majorana, E.; Man, C.N.; Mantovani, M.; Marchesoni, F.; Marion, F.; Marque, J.; Martelli, F.; Masserot, A.; Mazzoni, M.; Milano, L.; Menzinger, F.; Moins, C.; Moreau, J.; Morgado, N.; Mours, B.; Nocera, F.; Palomba, C.; Paoletti, F.; Pardi, S.; Pasqualetti, A.; Passaquieti, R.; Passuello, D.; Piergiovanni, F.; Pinard, L.; Poggiani, R.; Punturo, M.; Puppo, P.; van der Putten, S.; Qipiani, K.; Rapagnani, P.; Reita, V.; Remillieux, A.; Ricci, F.; Ricciardi, I.; Ruggi, P.; Russo, G.; Solimeno, S.; Spallicci, A.; Tarallo, M.; Tonelli, M.; Toncelli, A.; Tournefier, E.; Travasso, F.; Tremola, C.; Vajente, G.; Verkindt, D.; Vetrano, F.; Vicere, A.; Vinet, J.-Y.; Vocca, H.; Yvert, M.;
2008 / IEEE
By: Acernese, F.; Amico, P.; Alshourbagy, M.; Antonucci, F.; Aoudia, S.; Astone, P.; Avino, S.; Babusci, D.; Ballardin, G.; Barone, F.; Barsotti, L.; Barsuglia, M.; Bauer, T.S.; Beauville, F.; Bigotta, S.; Birindelli, S.; Bizouard, M.A.; Boccara, C.; Bondu, F.; Bosi, L.; Bradaschia, C.; Braccini, S.; van den Brand, F.J.; Brillet, A.; Brisson, V.; Buskulic, D.; Calloni, E.; Campagna, E.; Carbognani, F.; Cavalier, F.; Cavalieri, R.; Cella, G.; Cesarini, E.; Chassande-Mottin, E.; Christensen, N.; Corda, C.; Corsi, A.; Cottone, F.; Clapson, A.-C.; Cleva, F.; Coulon, J.-P.; Cuoco, E.; Dari, A.; Dattilo, V.; Davier, M.; del Prete, M.; De Rosa, R.; Di Fiore, L.; Di Virgilio, A.; Dujardin, B.; Eleuteri, A.; Evans, M.; Ferrante, I.; Fidecaro, F.; Fiori, I.; Flaminio, R.; Fournier, J.-D.; Frasca, S.; Frasconi, F.; Gammaitoni, L.; Garufi, F.; Genin, E.; Gennai, A.; Giazotto, A.; Giordano, G.; Giordano, L.; Gouaty, R.; Grosjean, D.; Guidi, G.; Hamdani, S.; Hebri, S.; Heitmann, H.; Hello, P.; Huet, D.; Karkar, S.; Kreckelbergh, S.; La Penna, P.; Laval, M.; Leroy, N.; Letendre, N.; Lopez, B.; Lorenzini, M.; Loriette, V.; Losurdo, G.; Mackowski, J.-M.; Majorana, E.; Man, C.N.; Mantovani, M.; Marchesoni, F.; Marion, F.; Marque, J.; Martelli, F.; Masserot, A.; Mazzoni, M.; Milano, L.; Menzinger, F.; Moins, C.; Moreau, J.; Morgado, N.; Mours, B.; Nocera, F.; Palomba, C.; Paoletti, F.; Pardi, S.; Pasqualetti, A.; Passaquieti, R.; Passuello, D.; Piergiovanni, F.; Pinard, L.; Poggiani, R.; Punturo, M.; Puppo, P.; van der Putten, S.; Qipiani, K.; Rapagnani, P.; Reita, V.; Remillieux, A.; Ricci, F.; Ricciardi, I.; Ruggi, P.; Russo, G.; Solimeno, S.; Spallicci, A.; Tarallo, M.; Tonelli, M.; Toncelli, A.; Tournefier, E.; Travasso, F.; Tremola, C.; Vajente, G.; Verkindt, D.; Vetrano, F.; Vicere, A.; Vinet, J.-Y.; Vocca, H.; Yvert, M.;
2008 / IEEE
By: Acernese, F.; Amico, P.; Alshourbagy, M.; Antonucci, F.; Aoudia, S.; Astone, P.; Avino, S.; Babusci, D.; Barille, R.; Ballardin, G.; Barone, F.; Barsotti, L.; Barsuglia, M.; Bauer, T.S.; Beauville, F.; Bigotta, S.; Bizouard, M.A.; Boccara, C.; Bondu, F.; Bosi, L.; Bradaschia, C.; Birindelli, S.; Braccini, S.; van den Brand, J.F.J.; Brillet, A.; Brisson, V.; Buskulic, D.; Calloni, E.; Campagna, E.; Carbognani, F.; Cavalier, F.; Cavalieri, R.; Cella, G.; Cesarini, E.; Chassande-Mottin, E.; Christensen, N.; Clapson, A.C.; Cleva, F.; Corda, C.; Corsi, A.; Cottone, F.; Coulon, J.P.; Cuoco, E.; Dari, A.; Dattilo, V.; Davier, M.; del Prete, M.; De Rosa, R.; Di Fiore, L.; Di Virgilio, A.; Dujardin, B.; Eleuteri, A.; Evans, M.; Ferrante, I.; Fidecaro, F.; Fournier, J.D.; Freise, A.; Gammaitoni, L.; Garufi, F.; Genin, E.; Gennai, A.; Giazotto, A.; Giordano, L.; Gouaty, R.; Guidi, G.; Hebri, S.; Heitmann, H.; Hello, P.; Huet, D.; Karkar, S.; Kreckelbergh, S.; La Penna, P.; Laval, M.; Leroy, N.; Letendre, N.; Lopez, B.; Loriette, V.; Losurdo, G.; Mackowski, J.M.; Majorana, E.; Man, C.N.; Mantovani, M.; Marchesoni, F.; Marion, F.; Marque, J.; Masserot, A.; Milano, L.; Moins, C.; Moreau, J.; Morgado, N.; Mours, B.; Nocera, F.; Palomba, C.; Paoletti, F.; Pardi, S.; Pasqualetti, A.; Passaquieti, R.; Passuello, D.; Piergiovanni, F.; Pinard, L.; Poggiani, R.; Punturo, M.; Puppo, P.; van der Putten, S.; Qipiani, K.; Rapagnani, P.; Reita, V.; Remillieux, A.; Ricci, F.; Ricciardi, I.; Ruggi, P.; Russo, G.; Solimeno, S.; Spallicci, A.; Tarallo, M.; Tonelli, M.; Toncelli, A.; Tournefier, E.; Travasso, F.; Tremola, C.; Vajente, G.; Verkindt, D.; Vetrano, F.; Vicere, A.; Vinet, J.Y.; Vocca, H.; Yvert, M.;