Your Search Results

Use materials by this author in your textbook!

AcademicPub holds over eight million pieces of educational content – such as case studies and journal articles – for you to mix-and-match your way.

Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.

Author: Pasqualucci, E.

Results

2005 / IEEE / 0-7803-9183-7
By: Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Wiesmann, M.; Yasu, Y.; Zobernig, G.; Anjos, A.; Armstrong, S.; Baines, J.T.M.; Beck, H.R.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Bosman, M.; Burckhart, D.; Caprini, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Ciobotaru, M.; Comune, G.; Conde, P.; Corso-Radu, A.; Crone, G.; Damazio, D.; De Santo, A.; Gomez, M.D.; Di Mattia, A.; Dobson, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Ferrari, R.; Francis, D.; Gadomski, S.; Gameiro, S.; Garitaonandia, H.; George, S.; Ghete, V.; Goncalo, R.; Gorini, B.; Gruwe, M.; Haller, J.; Joos, M.; Kabana, S.; Kazarov, A.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Kirk, J.; Kolos, S.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lankford, A.; Lehmann, G.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Meirosu, C.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Osuna, C.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Reale, V.P.; Petersen, J.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sancheztt, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Sloper, J.; Sobreira, A.; Soloviev, I.; Soluk, R.; Stancu, S.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Tarem, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Tremblet, L.; Unel, G.; Usai, G.; Vandelli, W.; Pinto, B.V.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.J.; Wickens, F.J.;
2006 / IEEE
By: dos Anjos, A.; Armstrong, S.; Baines, J.T.M.; Beck, H.P.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Bosman, M.; Burckhart, D.; Caprini, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Ciobotaru, M.; Comune, G.; Conde, P.; Corso-Radu, A.; Crone, G.; Damazio, D.; de Santo, A.; Diaz-Gomez, M.; Di Mattia, A.; Dobson, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Ferrari, R.; Francis, D.; Gadomski, S.; Gameiro, S.; Garitaonandia, H.; George, S.; Ghete, V.; Goncalo, R.; Gorini, B.; Gruwe, M.; Haeberli, C.; Haller, J.; Joos, M.; Kabana, S.; Kazarov, A.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Kirk, J.; Kolos, S.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lankford, A.; Lehmann, G.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Meirosu, C.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Osuna, C.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Reale, V.P.; Petersen, J.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Sloper, J.; Sobreira, A.; Soloviev, I.; Soluk, R.; Stancu, S.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Tarem, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Tremblet, L.; Unel, G.; Usai, G.; Vandelli, W.; Pinto, B.V.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.J.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Wiesmann, M.; Yasu, Y.; Zobernig, G.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0866-5
By: Riu, I.; Abolms, M.; Adragna, P.; Avolio, G.; Backhand, S.; Badescu, E.; Batreanu, S.; Battaglia, A.; Beck, H.; Bee, C.; Blair, R.R.; Bogaerts, A.; Bold, T.; Bosnian, M.; Boyd, J.; Burckhart-Chromek, D.; Caprini, M.; Cimino, D.; Ciobotaru, M.; Corso-Radu, A.; Costa, M.J.; Torres, R.C.; Cranfield, R.; Crone, G.; Dawson, J.; De Almeida Simoes, J.; DellaPietra, M.; Demers, S.; Di Mattia, A.; Dobson, M.; Dos Anjos, A.; Dotti, A.; Drake, G.; Ellis, N.; Ermoline, Y.; Eschrich, I.; Ferland, J.; Ferrari, R.; Ferrer, M.L.; Francis, D.; Gadomski, S.; Gameiro, S.; Garitaonandia, H.; Gaudio, G.; Gorini, B.; Gowdy, S.; Green, B.; Haberichter, W.; Hadavand, H.; Haeberli, C.; Hauschild, M.; Hauser, R.; Hillier, S.; Hinkelbein, C.; Hughes-Jones, R.; Idarraga, J.; Joos, M.; Kazarov, A.; Kekoe, R.; Kieft, G.; Kirk, J.; Kolos, S.; Kordas, K.; Korcyl, K.; Kugel, A.; Leahu, L.; Leahu, M.; Miotto, G.L.; Lellouch, D.; Mapelli, L.; Martin, B.; Masik, J.; Mcpherson, R.; Meessen, C.; Meirosu, C.; Mineev, M.; Misiejuk, A.; Mornacchi, G.; Mueller, M.; Garcia, R.M.; Nagasaka, Y.; Negri, A.; Padilla, C.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Pauly, T.; Petersen, J.; Pope, B.; Renkel, P.; Roda, C.; Salvatore, D.; Scannicchio, D.; Schiavi, C.; Schlereth, J.; Scholtes, I.; Sivoklokov, S.; Sloper, J.E.; Soloviev, I.; Spiwoks, R.; Stancu, S.; Stelzer, J.; Strong, J.; Sushkov, S.; Tremblet, L.; Unel, G.; Vandelh, W.; Vermeulen, J.; Von Der Schmitt, J.; Werner, P.; Wheeler-Ellis, S.; Wickens, F.; Wiedenmann, W.; Wilkens, H.; Wmklmeier, F.; Wu, X.; Yasu, Y.; Zema, F.; Zhang, J.; Zobermg, H.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0866-5
By: Aielli, G.; Aloisio, A.; Alviggi, M.G.; Antonelli, S.; Ask, S.; Bellagamba, L.; Ben Ami, S.; Benhammou, Y.; Berge, D.; Bianco, M.; Biglietti, M.G.; Boscherini, D.; Bressler, S.; Bruni, A.; Bruni, G.; Buda, S.; Camarri, P.; Canale, V.; Caracinha, D.; Cardarelli, R.; Carlino, G.; Chiodini, G.; Ciapetti, G.; Coluccia, M.R.; Constantin, S.; Conventi, F.; DeAsmundis, R.; DellaPietra, M.; DellaVolpe, D.; Dogaru, M.; De Pedis, D.; Di Girolamo, A.; DiCiaccio, A.; Di Mattia, A.; Ellis, N.; Etzion, E.; Farthouat, P.; Fukunaga, C.; Gallno, P.; Gorini, E.; Grancagnolo, F.; Giusti, P.; Haas, S.; Haller, J.; Hasegawa, Y.; Iacobucci, G.; Ikeno, M.; Iengo, P.; Ishino, M.; Iwasaki, H.; Izzo, V.; Kadosaka, T.; Kajomovitz, E.; Kanaya, N.; Kawagoe, K.; Kawamoto, T.; Kiyamura, H.; Klofver, P.; Kobayashi, T.; Kohno, T.; Krasznahorkay, A.; Kubota, T.; Kurashige, H.; Kuwabara, T.; Lellouch, D.; Mikenberg, G.; Liberti, B.; Lifshitz, R.; Luci, C.; Lupu, N.; Marchese, F.; Messina, A.; Migliaccio, A.; Nagano, K.; Nisati, A.; Niwa, T.; Nomachi, M.; Nomoto, H.; Nozaki, M.; Ochi, A.; Ohm, C.; Okumura, Y.; Omachi, C.; Oshita, H.; Patricelli, S.; Pauly, T.; Perantoni, M.; Lima, H.P.; Petrolo, E.; Pasqualucci, E.; Pastore, F.; Pectu, M.; Perrino, R.; Polini, A.; Primavera, M.; Roich, A.; Rosati, S.; Salamon, A.; Sakamoto, H.; Santonico, R.; Sasaki, O.; Schuler, G.; de Seixas, J.M.; Sekhniaidze, G.; Solfaroli, E.; Spagnolo, S.; Spila, F.; Spiwoks, R.; Sugaya, Y.; Sugimoto, T.; Takahashi, Y.; Takeda, H.; Takeshita, T.; Tanaka, S.; Tarem, S.; Tomoto, M.; Treidel, O.B.; Vari, R.; Veneziano, S.; Wengler, T.; Yamaguchi, Y.; Yasu, Y.; Zanello, L.;
2008 / IEEE
By: Aielli, G.; Aloisio, A.; Alviggi, M.G.; Antonelli, S.; Ask, S.; Bellagamba, L.; Ben Amii, S.; Benhammou, Y.; Berge, D.; Bianco, M.; Biglietti, M.G.; Boscherini, D.; Bressler, S.; Bruni, A.; Bruni, G.; Buda, S.; Camarri, P.; Canale, V.; Caracinha, D.; Cardarelli, R.; Carlino, G.; Chiodini, G.; Ciapetti, G.; Coluccia, M.R.; Constantin, S.; Conventi, F.; De Asmundis, R.; Della Pietra, M.; Della Volpe, D.; Dogaru, M.; De Pedis, D.; Di Girolamo, A.; DiCiaccio, A.; Di Mattia, A.; Ellis, N.; Etzion, E.; Farthouat, P.; Fukunaga, C.; Gallno, P.; Gorini, E.; Grancagnolo, F.; Giusti, P.; Haas, S.; Haller, J.; Hasegawa, Y.; Iacobucci, G.; Ikeno, M.; Iengo, P.; Ishino, M.; Iwasaki, H.; Izzo, V.; Kadosaka, T.; Kajomovitz, E.; Kanaya, N.; Kawagoe, K.; Kawamoto, T.; Kiyamura, H.; Klofver, P.; Kobayashi, T.; Kohno, T.; Krasznahorkay, A.; Kubota, T.; Kurashige, H.; Kuwabara, T.; Lellouch, D.; Levinson, L.; Liberti, B.; Lifshitz, R.; Luci, C.; Lupu, N.; Marchese, F.; Messina, A.; Mikenberg, G.; Migliaccio, A.; Nagano, K.; Nisati, A.; Niwa, T.; Nomachi, M.; Nomoto, H.; Nozaki, M.; Ochi, A.; Ohm, C.; Okumura, Y.; Omachi, C.; Oshita, H.; Patricelli, S.; Pauly, T.; Perantoni, M.; Lima, H.P.; Petrolo, E.; Pasqualucci, E.; Pastore, F.; Pectu, M.; Perrino, R.; Polini, A.; Primavera, M.; Roich, A.; Rosati, S.; Salamon, A.; Sakamoto, H.; Santonico, R.; Sasaki, O.; Schuler, G.; de Seixas, J.M.; Sekhniaidze, G.; Solfaroli, E.; Spagnolo, S.; Spila, F.; Spiwoks, R.; Sugaya, Y.; Sugimoto, T.; Takahashi, Y.; Takeda, H.; Takeshita, T.; Tanaka, S.; Tarem, S.; Tomoto, M.; Treidel, O.B.; Vari, R.; Veneziano, S.; Wengler, T.; Yamaguchi, Y.; Yasu, Y.; Zanello, L.;
2008 / IEEE
By: Riu, I.; Abolins, M.; Adragna, P.; Avolio, G.; Backlund, S.; Badescu, E.; Baines, J.; Batreanu, S.; Battaglia, A.; Beck, H.P.; Bee, C.; Bell, P.; Blair, R.R.; Bogaerts, A.; Bold, T.; Bosman, M.; Boyd, J.; Burckhart-Chromek, D.; Caprini, M.; Cimino, D.; Ciobotaru, M.; Corso-Radu, A.; Costa, M.J.; Torres, R.C.; Cranfield, R.; Crone, G.; Dawson, J.; De Almeida Simoes, J.; DellaPietra, M.; Demers, S.; Di Mattia, A.; Dobson, M.; Dos Anjos, A.; Dotti, A.; Drake, G.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Ermoline, Y.; Eschrich, I.; Ferland, J.; Ferrari, R.; Ferrer, M.L.; Francis, D.; Gadomski, S.; Gameiro, S.; Garitaonandia, H.; Gaudio, G.; Gorini, B.; Gowdy, S.; Green, B.; Haberichter, W.; Hadavand, H.; Haeberli, C.; Hauschild, M.; Hauser, R.; Hillier, S.; Hinkelbein, C.; Hughes-Jones, R.; Idarraga, J.; Joos, M.; Kazarov, A.; Kehoe, R.; Kieft, G.; Kirk, J.; Kolos, S.; Kordas, K.; Korcyl, K.; Kugel, A.; Leahu, L.; Leahu, M.; Miotto, G.L.; Lellouch, D.; Mapelli, L.; Martin, B.; Masik, J.; Mcpherson, R.; Meessen, C.; Meirosu, C.; Mineev, M.; Misiejuk, A.; Mornacchi, G.; Mueller, M.; Garcia, R.M.; Nagasaka, Y.; Negri, A.; Padilla, C.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Pauly, T.; Petersen, J.; Pope, B.; Renkel, P.; Roda, C.; Salvatore, D.; Scannicchio, D.; Schiavi, C.; Schlereth, J.; Scholtes, I.; Sivoklokov, S.; Sloper, J.E.; Soloviev, I.; Spiwoks, R.; Stancu, S.; Stelzer, J.; Strong, J.; Sushkov, S.; Tremblet, L.; Unel, G.; Vandelli, W.; Vermeulen, J.; Von Der Schmitt, J.; Werner, P.; Wheeler-Ellis, S.; Wickens, F.; Wiedenmann, W.; Wilkens, H.; Winklmeier, F.; Wu, X.; Yasu, Y.; Zema, F.; Zhang, J.; Zobernig, H.;