Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Park, S.J.
Results
1996 / IEEE / 0-7803-3376-4
By: Lee, H.S.; Kim, J.B.; Moon, H.S.; Cho, H.; Park, S.J.; Park, J.D.; Kwon, B.K.; Yang, S.H.;
By: Lee, H.S.; Kim, J.B.; Moon, H.S.; Cho, H.; Park, S.J.; Park, J.D.; Kwon, B.K.; Yang, S.H.;
1998 / IEEE / 4-930813-83-2
By: Park, C.G.; Chae-Deok Lee; Koguchi, N.; Noh, S.K.; Chanro Park; Kyu-Seok Lee; Park, S.J.; Hwack Joo Lee;
By: Park, C.G.; Chae-Deok Lee; Koguchi, N.; Noh, S.K.; Chanro Park; Kyu-Seok Lee; Park, S.J.; Hwack Joo Lee;
1999 / IEEE / 7-5635-0402-8
By: Park, S.J.; Choi, Y.B.; Moon, D.C.; Cho, S.H.; Jeong, K.T.; Shin, K.S.;
By: Park, S.J.; Choi, Y.B.; Moon, D.C.; Cho, S.H.; Jeong, K.T.; Shin, K.S.;
2001 / IEEE / 0-7803-6685-9
By: Park, S.J.; Kim, J.K.; Jeong, S.S.; Lee, S.J.; Nam, S.J.; Im, C.D.; Kim, B.H.; Kim, J.B.;
By: Park, S.J.; Kim, J.K.; Jeong, S.S.; Lee, S.J.; Nam, S.J.; Im, C.D.; Kim, B.H.; Kim, J.B.;
2003 / IEEE / 0-7803-7699-4
By: Kim, S.H.; Nam, S.H.; Chung, C.W.; Kim, K.R.; Park, S.J.; Park, Y.J.;
By: Kim, S.H.; Nam, S.H.; Chung, C.W.; Kim, K.R.; Park, S.J.; Park, Y.J.;
2003 / IEEE / 0-7803-7738-9
By: Bae, Y.S.; Park, J.H.; Park, S.J.; Nam, S.H.; Huang, J.Y.; Hwang, W.H.;
By: Bae, Y.S.; Park, J.H.; Park, S.J.; Nam, S.H.; Huang, J.Y.; Hwang, W.H.;
2004 / IEEE / 0-7803-8684-1
By: Kim, D.H.; Kim, J.Y.; Kim, K.; Park, Y.G.; Jin, G.Y.; Choi, W.T.; Park, S.J.; Hyung, Y.W.; Lee, J.B.; Ahn, T.H.; Yoon, K.H.; Jeong, S.S.; Seo, J.W.; Shin, J.C.; Kim, H.J.; Lee, Y.S.; Kim, Y.I.; Jeong, M.Y.; Woo, D.S.; Kim, H.J.; Oh, H.J.; Park, B.J.; Kwon, J.M.; Kim, S.E.; Huh, M.; Hwang, Y.S.; Park, J.M.; Han, D.H.; Kim, D.I.; Cho, M.H.; Lee, B.H.; Hwang, H.K.; Song, J.W.; Kang, N.J.; Ha, G.W.; Song, S.S.; Shim, M.S.;
By: Kim, D.H.; Kim, J.Y.; Kim, K.; Park, Y.G.; Jin, G.Y.; Choi, W.T.; Park, S.J.; Hyung, Y.W.; Lee, J.B.; Ahn, T.H.; Yoon, K.H.; Jeong, S.S.; Seo, J.W.; Shin, J.C.; Kim, H.J.; Lee, Y.S.; Kim, Y.I.; Jeong, M.Y.; Woo, D.S.; Kim, H.J.; Oh, H.J.; Park, B.J.; Kwon, J.M.; Kim, S.E.; Huh, M.; Hwang, Y.S.; Park, J.M.; Han, D.H.; Kim, D.I.; Cho, M.H.; Lee, B.H.; Hwang, H.K.; Song, J.W.; Kang, N.J.; Ha, G.W.; Song, S.S.; Shim, M.S.;
2004 / IEEE / 0-7803-8684-1
By: Shin, H.J.; Wee, Y.J.; Lee, K.-W.; Suh, G.P.; Kang, H.-K.; Lee, N.I.; Park, S.J.; Choi, W.-H.; Lee, A.M.; Lee, J.E.; Kim, I.R.; Maeng, J.Y.; Oh, I.H.; Kim, M.Y.; Lee, H.J.; Ku, J.E.; Moon, Y.J.; Nam, S.W.; Hwang, J.W.; Lee, S.J.; Park, K.-K.; Lee, S.J.; Suh, B.S.; Choi, S.M.; Kim, J.H.; Kim, A.T.; Kim, T.K.;
By: Shin, H.J.; Wee, Y.J.; Lee, K.-W.; Suh, G.P.; Kang, H.-K.; Lee, N.I.; Park, S.J.; Choi, W.-H.; Lee, A.M.; Lee, J.E.; Kim, I.R.; Maeng, J.Y.; Oh, I.H.; Kim, M.Y.; Lee, H.J.; Ku, J.E.; Moon, Y.J.; Nam, S.W.; Hwang, J.W.; Lee, S.J.; Park, K.-K.; Lee, S.J.; Suh, B.S.; Choi, S.M.; Kim, J.H.; Kim, A.T.; Kim, T.K.;
2005 / IEEE / 0-7803-9058-X
By: Kim, J.Y.; Woo, D.S.; Kinam Kim; Park, Y.J.; Jin, G.Y.; Kim, H.S.; Choi, W.T.; Cho, M.H.; Lee, B.H.; Kim, Y.I.; Jung, M.Y.; Lee, Y.S.; Kim, Y.R.; Park, S.J.; Lee, C.S.; Han, D.H.; Huh, M.; Kim, D.H.; Kim, D.I.; Hwang, Y.S.; Song, S.S.; Oh, H.J.; Kim, H.J.; Kim, S.E.; Park, B.J.; Kwon, J.M.; Shim, M.S.; Ha, G.W.; Song, J.W.; Kang, N.J.; Park, J.M.; Hwang, H.K.;
By: Kim, J.Y.; Woo, D.S.; Kinam Kim; Park, Y.J.; Jin, G.Y.; Kim, H.S.; Choi, W.T.; Cho, M.H.; Lee, B.H.; Kim, Y.I.; Jung, M.Y.; Lee, Y.S.; Kim, Y.R.; Park, S.J.; Lee, C.S.; Han, D.H.; Huh, M.; Kim, D.H.; Kim, D.I.; Hwang, Y.S.; Song, S.S.; Oh, H.J.; Kim, H.J.; Kim, S.E.; Park, B.J.; Kwon, J.M.; Shim, M.S.; Ha, G.W.; Song, J.W.; Kang, N.J.; Park, J.M.; Hwang, H.K.;
2005 / IEEE / 1-55752-783-0
By: Yoo, B.S.; Park, S.J.; Lee, V.H.; Song, H.W.; Park, M.R.; Kim, J.H.; Han, W.S.; Kwon, O.K.; Park, S.H.K.;
By: Yoo, B.S.; Park, S.J.; Lee, V.H.; Song, H.W.; Park, M.R.; Kim, J.H.; Han, W.S.; Kwon, O.K.; Park, S.H.K.;
2005 / IEEE / 0-7803-9053-9
By: Lawn, M.A.; Warrington, R.B.; Wouters, M.J.; Fisk, P.T.H.; Thorn, J.S.; Park, S.J.; Gajawecra, A.; Quigg, S.;
By: Lawn, M.A.; Warrington, R.B.; Wouters, M.J.; Fisk, P.T.H.; Thorn, J.S.; Park, S.J.; Gajawecra, A.; Quigg, S.;
2005 / IEEE / 0-7803-9053-9
By: Park, S.J.; Longdell, J.J.; Lawn, M.A.; Wouters, M.J.; Fisk, P.T.H.; Warrington, R.B.;
By: Park, S.J.; Longdell, J.J.; Lawn, M.A.; Wouters, M.J.; Fisk, P.T.H.; Warrington, R.B.;
2005 / IEEE / 0-7803-8859-3
By: Oh, J.S.; Park, S.J.; Wang, X.; Ko, I.S.; Park, J.H.; Park, C.D.; Kim, C.B.; Parc, Y.W.;
By: Oh, J.S.; Park, S.J.; Wang, X.; Ko, I.S.; Park, J.H.; Park, C.D.; Kim, C.B.; Parc, Y.W.;
2005 / IEEE / 0-7803-9221-3
By: Vaska, P.; Junnarkar, S.; Pratte, J.F.; Villanueva, A.; Park, S.J.; Woody, C.L.; Southekal, S.; Stoll, S.P.; Kriplani, A.; Schlyer, D.J.;
By: Vaska, P.; Junnarkar, S.; Pratte, J.F.; Villanueva, A.; Park, S.J.; Woody, C.L.; Southekal, S.; Stoll, S.P.; Kriplani, A.; Schlyer, D.J.;
2006 / IEEE / 1-4244-0560-2
By: Vaska, P.; Schlyer, D.J.; Kriplani, A.; Pratte, J.F.; Stoll, S.P.; Junnarkar, S.; Woody, C.L.; Park, S.J.; Southekal, S.;
By: Vaska, P.; Schlyer, D.J.; Kriplani, A.; Pratte, J.F.; Stoll, S.P.; Junnarkar, S.; Woody, C.L.; Park, S.J.; Southekal, S.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0646-3
By: Warrington, R.B.; Wouters, M.J.; Manson, P.J.; Park, S.J.; Fisk, P.T.H.; Lawn, M.A.;
By: Warrington, R.B.; Wouters, M.J.; Manson, P.J.; Park, S.J.; Fisk, P.T.H.; Lawn, M.A.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0787-3
By: Kim, J.H.; Lee, S.H.; Moon, W.K.; Park, S.J.; Park, J.S.; Kim, K.G.;
By: Kim, J.H.; Lee, S.H.; Moon, W.K.; Park, S.J.; Park, J.S.; Kim, K.G.;
2006 / IEEE / 978-1-4244-0540-4
By: Park, K.-H.; Maeng, S.; Moon, S.E.; Lee, H.-Y.; Ji, H.J.; Kim, E.-K.; Kim, G.T.; Park, S.J.;
By: Park, K.-H.; Maeng, S.; Moon, S.E.; Lee, H.-Y.; Ji, H.J.; Kim, E.-K.; Kim, G.T.; Park, S.J.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1173-3
By: Ryu, S.P.; Jung, K.W.; Kim, K.W.; Park, J.H.; Lee, J.I.; Cho, N.K.; Choi, W.J.; Song, J.D.; Park, S.J.; Lim, J.Y.;
By: Ryu, S.P.; Jung, K.W.; Kim, K.W.; Park, J.H.; Lee, J.I.; Cho, N.K.; Choi, W.J.; Song, J.D.; Park, S.J.; Lim, J.Y.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1032-3
By: Stoll, S.P.; Woody, C.L.; Park, S.J.; Southekal, S.; Junnarkar, S.; Schlyer, D.J.; Kriplani, A.; Vaska, P.; Pratte, J.F.;
By: Stoll, S.P.; Woody, C.L.; Park, S.J.; Southekal, S.; Junnarkar, S.; Schlyer, D.J.; Kriplani, A.; Vaska, P.; Pratte, J.F.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0916-7
By: Kim, S.H.; Yang, H.R.; Park, S.J.; Kwon, S.J.; Jang, S.D.; Son, Y.G.; Oh, J.S.; Namkung, W.; Cho, M.H.; Moon, S.I.;
By: Kim, S.H.; Yang, H.R.; Park, S.J.; Kwon, S.J.; Jang, S.D.; Son, Y.G.; Oh, J.S.; Namkung, W.; Cho, M.H.; Moon, S.I.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0916-7
By: Park, S.J.; Namkung, W.; Cho, M.; Gil, Y.M.; Oh, J.S.; Moon, S.I.; Yang, H.R.; Kim, S.H.; Jang, J.;
By: Park, S.J.; Namkung, W.; Cho, M.; Gil, Y.M.; Oh, J.S.; Moon, S.I.; Yang, H.R.; Kim, S.H.; Jang, J.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0916-7
By: Yang, H.R.; Kim, S.H.; Oh, J.S.; Park, S.J.; Cho, M.; Kwon, S.J.; Son, Y.G.; Jang, S.D.; Namkung, W.;
By: Yang, H.R.; Kim, S.H.; Oh, J.S.; Park, S.J.; Cho, M.; Kwon, S.J.; Son, Y.G.; Jang, S.D.; Namkung, W.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1929-6
By: Park, S.J.; Park, Y.J.; Kim, S.H.; Namkung, W.; Oh, J.S.; Yang, H.R.; Kim, S.H.; Cho, M.;
By: Park, S.J.; Park, Y.J.; Kim, S.H.; Namkung, W.; Oh, J.S.; Yang, H.R.; Kim, S.H.; Cho, M.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1929-6
By: Jang, S.D.; Yang, H.R.; Namkung, W.; Cho, M.; Kwon, S.J.; Kim, S.H.; Oh, J.S.; Park, S.J.; Son, Y.G.;
By: Jang, S.D.; Yang, H.R.; Namkung, W.; Cho, M.; Kwon, S.J.; Kim, S.H.; Oh, J.S.; Park, S.J.; Son, Y.G.;