Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Park, S.-H.
Results
2012 / IEEE
By: Tronza, V.; Martovetsky, N.; Park, P.-Y.; Park, S.-H.; Readman, P.; Pantsyrny, V.; Boutboul, T.; Long, F.; Liu, S.; Oberli, L.; Bordini, B.; Jewell, M.C.; Pong, I.; Devred, A.; Lu, J.;
By: Tronza, V.; Martovetsky, N.; Park, P.-Y.; Park, S.-H.; Readman, P.; Pantsyrny, V.; Boutboul, T.; Long, F.; Liu, S.; Oberli, L.; Bordini, B.; Jewell, M.C.; Pong, I.; Devred, A.; Lu, J.;
2014 / IEEE
By: Kim, Y.; Kim, S.-Y.; Moon, S.-H.; Lee, H.; Park, S.-H.; Yoon, S.; Hong, G.-W.; Choi, K.; Cheon, K.;
By: Kim, Y.; Kim, S.-Y.; Moon, S.-H.; Lee, H.; Park, S.-H.; Yoon, S.; Hong, G.-W.; Choi, K.; Cheon, K.;
1992 / IEEE / 0-7803-0042-4
By: Hwang, D.-H.; Kim, B.K.; Park, S.-H.; Bien, Z.; Lee, J.H.; Lee, H.G.;
By: Hwang, D.-H.; Kim, B.K.; Park, S.-H.; Bien, Z.; Lee, J.H.; Lee, H.G.;
1994 / IEEE / 0-7803-1844-7
By: Pham, D.; Alexander, M.; Arizpe, A.; Burgess, B.; Dietz, C.; Eisen, L.; El-Kareh, R.; Eno, J.; Gary, S.; Gerosa, G.; Goins, B.; Golab, J.; Golla, R.; Harris, R.; Ho, B.; Ho, Y.-W.; Hoover, K.; Hunter, C.; Ippolito, P.; Jessani, R.; Kahle, J.; Kishore, K.R.; Kuttanna, B.; Litch, S.; Mallick, S.; Ngo, T.; Ogden, D.; Olson, C.; Park, S.-H.; Patel, R.; Pham, M.; Prado, J.; Reeve, S.; Reininger, R.; Sanchez, H.; Schiffli, M.; Slaton, J.; Thuraisingham, G.; Torku, K.; Cang Tran; Vanderschaaf, N.; Voldstad, P.;
By: Pham, D.; Alexander, M.; Arizpe, A.; Burgess, B.; Dietz, C.; Eisen, L.; El-Kareh, R.; Eno, J.; Gary, S.; Gerosa, G.; Goins, B.; Golab, J.; Golla, R.; Harris, R.; Ho, B.; Ho, Y.-W.; Hoover, K.; Hunter, C.; Ippolito, P.; Jessani, R.; Kahle, J.; Kishore, K.R.; Kuttanna, B.; Litch, S.; Mallick, S.; Ngo, T.; Ogden, D.; Olson, C.; Park, S.-H.; Patel, R.; Pham, M.; Prado, J.; Reeve, S.; Reininger, R.; Sanchez, H.; Schiffli, M.; Slaton, J.; Thuraisingham, G.; Torku, K.; Cang Tran; Vanderschaaf, N.; Voldstad, P.;
2004 / IEEE / 0-7803-8486-5
By: Gutmann, R.J.; Chow, T.P.; Xiao, Y.; Shah, H.N.; Lorenz, R.D.; Olson, E.R.; Jahns, T.M.; Connors, J.J.; Lee, W.-K.; Park, S.-H.;
By: Gutmann, R.J.; Chow, T.P.; Xiao, Y.; Shah, H.N.; Lorenz, R.D.; Olson, E.R.; Jahns, T.M.; Connors, J.J.; Lee, W.-K.; Park, S.-H.;
2005 / IEEE / 0-7803-9268-X
By: Kim, Y.-S.; Lee, J.-H.; Noh, J.-Y.; Yoon, J.-S.; Kim, D.-J.; Hwang, M.-W.; Park, S.-H.; Kim, I.-G.; Kyungseok Oh; Joosung Park; Yang, K.-H.;
By: Kim, Y.-S.; Lee, J.-H.; Noh, J.-Y.; Yoon, J.-S.; Kim, D.-J.; Hwang, M.-W.; Park, S.-H.; Kim, I.-G.; Kyungseok Oh; Joosung Park; Yang, K.-H.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0607-4
By: Han, S.-W.; Jeong, E.-S.; Yu, H.-J.; Kim, S.-H.; Kwak, C.-H.; Seo, S.-Y.; Park, S.-H.;
By: Han, S.-W.; Jeong, E.-S.; Yu, H.-J.; Kim, S.-H.; Kwak, C.-H.; Seo, S.-Y.; Park, S.-H.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2307-1
By: Park, S.-H.; Lee, Y.-T.; Park, J.; Kim, H.-M.; Hong, W.-P.; Kim, J.-J.; Ryu, S.-W.;
By: Park, S.-H.; Lee, Y.-T.; Park, J.; Kim, H.-M.; Hong, W.-P.; Kim, J.-J.; Ryu, S.-W.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4180-8
By: Lee, Y.-T.; Park, J.; Kim, H.-M.; Kim, J.-J.; Seo, S.B.; Park, S.-H.;
By: Lee, Y.-T.; Park, J.; Kim, H.-M.; Kim, J.-J.; Seo, S.B.; Park, S.-H.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0226-6
By: Lin, C.; Ohtsuka, K.; Lee, S.-C.; Ko, K.; Liu, Z.; Kathawala, G.; Davis, B.; Chang, K.-T.; Chan, S.; Chung, S.-Y.; Chang, C.; Sun, Y.; Shiraiwa, H.; Randolph, M.; Xue, L.; Thurgate, T.; Park, S.-H.;
By: Lin, C.; Ohtsuka, K.; Lee, S.-C.; Ko, K.; Liu, Z.; Kathawala, G.; Davis, B.; Chang, K.-T.; Chan, S.; Chung, S.-Y.; Chang, C.; Sun, Y.; Shiraiwa, H.; Randolph, M.; Xue, L.; Thurgate, T.; Park, S.-H.;