Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Park, D.-G.
Results
2013 / IEEE
By: Park, D.-G.; Muralidhar, R.; Jenkins, K. A.; Yoon, J.; Cai, J.; Yau, J.-B.; D'Emic, C.; Ning, T. H.; Chan, K. K.;
By: Park, D.-G.; Muralidhar, R.; Jenkins, K. A.; Yoon, J.; Cai, J.; Yau, J.-B.; D'Emic, C.; Ning, T. H.; Chan, K. K.;
2003 / IEEE / 4-89114-033-X
By: Divakaruni, R.; Bronner, G.; Crabbe, E.; Jammy, R.; Li, Y.; Feng, G.; Edleman, N.; Dobuzinsky, D.; Strane, J.; Settlemyer, K.; Economikos, L.; Akatsu, H.; Weybright, M.; Chidambarrao, D.; Saroop, S.; Park, D.-G.; Chudzik, M.; Belyansky, M.; Radens, C.;
By: Divakaruni, R.; Bronner, G.; Crabbe, E.; Jammy, R.; Li, Y.; Feng, G.; Edleman, N.; Dobuzinsky, D.; Strane, J.; Settlemyer, K.; Economikos, L.; Akatsu, H.; Weybright, M.; Chidambarrao, D.; Saroop, S.; Park, D.-G.; Chudzik, M.; Belyansky, M.; Radens, C.;
2003 / IEEE / 0-7803-7765-6
By: Chudzik, M.; Ramachandran, R.; Park, D.-G.; McStay, I.; Settlemyer, K.; Parkinson, P.S.; Cheng, K.; Papworth, P.; Jammy, R.; Strong, A.; Chen, F.; Sung, C.-Y.;
By: Chudzik, M.; Ramachandran, R.; Park, D.-G.; McStay, I.; Settlemyer, K.; Parkinson, P.S.; Cheng, K.; Papworth, P.; Jammy, R.; Strong, A.; Chen, F.; Sung, C.-Y.;
2004 / IEEE / 0-7803-8289-7
By: Park, D.-G.; Luo, Z.J.; Wann, C.H.; Sekiguchi, A.; Ng, H.; Rengarajan, R.; Jammy, R.; Wise, R.; Steegen, A.; Narayanan, V.; D'Emic, C.; Kozlowski, P.; Duch, E.; Kim, H.; Ku, V.; Mitchell, R.; Chakravarti, A.; Ronsheim, P.; Gluschenkov, O.; Bruley, J.; Chudzik, M.; Chou, A.; Lee, B.H.; Jamison, P.; Edleman, N.; Zhu, W.; Nguyen, P.; Wong, K.; Cabral, C.;
By: Park, D.-G.; Luo, Z.J.; Wann, C.H.; Sekiguchi, A.; Ng, H.; Rengarajan, R.; Jammy, R.; Wise, R.; Steegen, A.; Narayanan, V.; D'Emic, C.; Kozlowski, P.; Duch, E.; Kim, H.; Ku, V.; Mitchell, R.; Chakravarti, A.; Ronsheim, P.; Gluschenkov, O.; Bruley, J.; Chudzik, M.; Chou, A.; Lee, B.H.; Jamison, P.; Edleman, N.; Zhu, W.; Nguyen, P.; Wong, K.; Cabral, C.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1614-1
By: Haizhou Yin; Shahidi, G.; Park, D.-G.; Ning, T.H.; Ishimaru, K.; Takayanagi, M.; Sadana, D.K.; Kleinhenz, R.; Pfeiffer, G.; Fogel, K.; Rovedo, N.; Luo, Z.J.; Chen, X.; Ott, J.A.; Cai, J.; Zhang, R.; Ohuchi, K.; Hasumi, R.; Sung, C.Y.; Saenger, K.L.; Hamaguchi, M.;
By: Haizhou Yin; Shahidi, G.; Park, D.-G.; Ning, T.H.; Ishimaru, K.; Takayanagi, M.; Sadana, D.K.; Kleinhenz, R.; Pfeiffer, G.; Fogel, K.; Rovedo, N.; Luo, Z.J.; Chen, X.; Ott, J.A.; Cai, J.; Zhang, R.; Ohuchi, K.; Hasumi, R.; Sung, C.Y.; Saenger, K.L.; Hamaguchi, M.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1802-2
By: Sadana, D.; Park, D.-G.; Lauer, I.; Pal, R.; Kanarsky, T.; Chakravarti, A.; Harley, E.; Yang, B.; Weijtmans, J.W.; Black, L.; Dube, A.; Miller, J.; Adam, T.; Pinto, T.; Madan, A.; Zhu, Z.; Xia, G.; Chan, K.; Takalkar, R.; Yang, B.F.; Li, J.; Pei, G.; Zhibin Ren;
By: Sadana, D.; Park, D.-G.; Lauer, I.; Pal, R.; Kanarsky, T.; Chakravarti, A.; Harley, E.; Yang, B.; Weijtmans, J.W.; Black, L.; Dube, A.; Miller, J.; Adam, T.; Pinto, T.; Madan, A.; Zhu, Z.; Xia, G.; Chan, K.; Takalkar, R.; Yang, B.F.; Li, J.; Pei, G.; Zhibin Ren;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1954-8
By: Ren, Z.; Jin Cai; Haensch, W.E.; Park, D.-G.; Haizhou Yin; Ning, T.H.; Majumdar, A.;
By: Ren, Z.; Jin Cai; Haensch, W.E.; Park, D.-G.; Haizhou Yin; Ning, T.H.; Majumdar, A.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2377-4
By: Yang, B.; Takalkar, R.; Leobandung, E.; Pellerin, J.; Luning, S.; Maciejewski, E.; Schepis, D.; Mocuta, D.; Park, D.-G.; Sadana, D.; Grudowski, P.; Zollner, S.; Theodore, D.; Holt, J.; Meer, H.; Sun, S.; Aime, D.; Ren, Z.; Black, L.; Dube, A.; Weijtmans, J.W.; Li, J.; Johnson, J.B.; Faltermeier, J.; Madan, A.; Zhu, Z.; Turansky, A.; Xia, G.; Chakravarti, A.; Pal, R.; Chan, K.; Reznicek, A.; Adam, T.N.; Yang, B.; de Souza, J.P.; Harley, E.C.T.; Greene, B.; Gehring, A.; Cai, M.;
By: Yang, B.; Takalkar, R.; Leobandung, E.; Pellerin, J.; Luning, S.; Maciejewski, E.; Schepis, D.; Mocuta, D.; Park, D.-G.; Sadana, D.; Grudowski, P.; Zollner, S.; Theodore, D.; Holt, J.; Meer, H.; Sun, S.; Aime, D.; Ren, Z.; Black, L.; Dube, A.; Weijtmans, J.W.; Li, J.; Johnson, J.B.; Faltermeier, J.; Madan, A.; Zhu, Z.; Turansky, A.; Xia, G.; Chakravarti, A.; Pal, R.; Chan, K.; Reznicek, A.; Adam, T.N.; Yang, B.; de Souza, J.P.; Harley, E.C.T.; Greene, B.; Gehring, A.; Cai, M.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2377-4
By: Henson, K.; Bu, H.; Khare, M.; Chudzik, M.; Narayanan, V.; Park, D.-G.; Luckowski, E.; Graves-Abe, T.; Wong, K.; Zhang, B.; Bailey, T.; Knarr, R.; Arndt, R.; Harley, E.; Frank, M.; Cartier, E.; Shepard, J.; Yan, W.; Gribelyuk, M.; Wang, X.; Tsang, Y.; Schonenberg, K.; Ramani, K.; Ramachandran, R.; Mo, R.; Na, M.H.; Liang, Y.; Kwon, U.; Krishnan, S.; Schaeffer, J.; Jha, R.; Moumen, N.; Carter, R.; DeWan, C.; Donaton, R.; Guo, D.; Hargrove, M.; He, W.;
By: Henson, K.; Bu, H.; Khare, M.; Chudzik, M.; Narayanan, V.; Park, D.-G.; Luckowski, E.; Graves-Abe, T.; Wong, K.; Zhang, B.; Bailey, T.; Knarr, R.; Arndt, R.; Harley, E.; Frank, M.; Cartier, E.; Shepard, J.; Yan, W.; Gribelyuk, M.; Wang, X.; Tsang, Y.; Schonenberg, K.; Ramani, K.; Ramachandran, R.; Mo, R.; Na, M.H.; Liang, Y.; Kwon, U.; Krishnan, S.; Schaeffer, J.; Jha, R.; Moumen, N.; Carter, R.; DeWan, C.; Donaton, R.; Guo, D.; Hargrove, M.; He, W.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2784-0
By: Park, D.-G.; Stein, K.; Khare, M.; Divakaruni, R.; Steegen, A.; Lindsay, R.; Sherony, M.; Narayanan, V.; Samavedam, S.; Theon, V.-Y.; Chudzik, M.; Schepis, D.; Haetty, J.; Chowdhury, M.; Kanarsky, T.; Yan, W.; Chen, J.; Zhuang, H.; Jaeger, D.; Chen, X.; Loesing, R.; Tang, T.; Hatzistergos, M.; Moumen, N.; von Arnim, K.; Han, S.; Schruefer, K.; Lee, Y.; Han, J.-P.; Li, W.; Yin, H.; Pacha, C.; Kim, N.; Ostermayr, M.; Eller, M.; Kim, S.; Kim, K.;
By: Park, D.-G.; Stein, K.; Khare, M.; Divakaruni, R.; Steegen, A.; Lindsay, R.; Sherony, M.; Narayanan, V.; Samavedam, S.; Theon, V.-Y.; Chudzik, M.; Schepis, D.; Haetty, J.; Chowdhury, M.; Kanarsky, T.; Yan, W.; Chen, J.; Zhuang, H.; Jaeger, D.; Chen, X.; Loesing, R.; Tang, T.; Hatzistergos, M.; Moumen, N.; von Arnim, K.; Han, S.; Schruefer, K.; Lee, Y.; Han, J.-P.; Li, W.; Yin, H.; Pacha, C.; Kim, N.; Ostermayr, M.; Eller, M.; Kim, S.; Kim, K.;
2006 / IEEE / 978-1-4244-3308-7
By: Greene, B.; Liang, Q.; Amarnath, K.; Wang, Y.; Schaeffer, J.; Cai, M.; Liang, Y.; Saroop, S.; Cheng, J.; Rotondaro, A.; Han, S.-J.; Mo, R.; McStay, K.; Ku, S.; Pal, R.; Kumar, M.; Dirahoui, B.; Yang, B.; Tamweber, F.; Lee, W.-H.; Steigerwalt, M.; Weijtmans, H.; Holt, J.; Black, L.; Samavedam, S.; Turner, M.; Ramani, K.; Lee, D.; Belyansky, M.; Chowdhury, M.; Aime, D.; Min, B.; van Meer, H.; Yin, H.; Chan, K.; Angyal, M.; Zaleski, M.; Ogunsola, O.; Child, C.; Zhuang, L.; Yan, H.; Permanaa, D.; Sleight, J.; Guo, D.; Mittl, S.; Ioannou, D.; Wu, E.; Chudzik, M.; Park, D.-G.; Brown, D.; Luning, S.; Mocuta, D.; Maciejewski, E.; Henson, K.; Leobandung, E.;
By: Greene, B.; Liang, Q.; Amarnath, K.; Wang, Y.; Schaeffer, J.; Cai, M.; Liang, Y.; Saroop, S.; Cheng, J.; Rotondaro, A.; Han, S.-J.; Mo, R.; McStay, K.; Ku, S.; Pal, R.; Kumar, M.; Dirahoui, B.; Yang, B.; Tamweber, F.; Lee, W.-H.; Steigerwalt, M.; Weijtmans, H.; Holt, J.; Black, L.; Samavedam, S.; Turner, M.; Ramani, K.; Lee, D.; Belyansky, M.; Chowdhury, M.; Aime, D.; Min, B.; van Meer, H.; Yin, H.; Chan, K.; Angyal, M.; Zaleski, M.; Ogunsola, O.; Child, C.; Zhuang, L.; Yan, H.; Permanaa, D.; Sleight, J.; Guo, D.; Mittl, S.; Ioannou, D.; Wu, E.; Chudzik, M.; Park, D.-G.; Brown, D.; Luning, S.; Mocuta, D.; Maciejewski, E.; Henson, K.; Leobandung, E.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-5641-3
By: Park, D.-G.; Guillorn, M.A.; Cai, J.; Frank, D.J.; Zhu, Y.; Haensch, W.; Ren, Z.; Miki, H.; Tega, N.; D'Emic, C.P.; Torii, K.;
By: Park, D.-G.; Guillorn, M.A.; Cai, J.; Frank, D.J.; Zhu, Y.; Haensch, W.; Ren, Z.; Miki, H.; Tega, N.; D'Emic, C.P.; Torii, K.;
2010 / IEEE
By: Solomon, P.M.; Haensch, W.; Park, D.-G.; Ouyang, Q.; Silverman, J.; Ozcan, A.; Lee, K.-L.; Zuo, G.; Chhabra, V.; Song, W.; Newbury, J.; Pyzyna, A.; Ott, J.; Bruley, J.; Bucchignano, J.; Klaus, D.; Guillorn, M.; Murray, C.; Maurer, S.; Hopstaken, M.; Zhu, Y.; Lavoie, C.; Yang, B.; D'Emic, C.; Pagette, F.; Zhen Zhang;
By: Solomon, P.M.; Haensch, W.; Park, D.-G.; Ouyang, Q.; Silverman, J.; Ozcan, A.; Lee, K.-L.; Zuo, G.; Chhabra, V.; Song, W.; Newbury, J.; Pyzyna, A.; Ott, J.; Bruley, J.; Bucchignano, J.; Klaus, D.; Guillorn, M.; Murray, C.; Maurer, S.; Hopstaken, M.; Zhu, Y.; Lavoie, C.; Yang, B.; D'Emic, C.; Pagette, F.; Zhen Zhang;
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap