Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Ouyang, C.
Results
2012 / IEEE
By: Ouyang, C.; Wu, K.; Lim, P.H.; Wong, V.; Shum, P.P.; Aditya, S.; Lam, H.Q.; Wong, J.H.; Lee, K.E.K.;
By: Ouyang, C.; Wu, K.; Lim, P.H.; Wong, V.; Shum, P.P.; Aditya, S.; Lam, H.Q.; Wong, J.H.; Lee, K.E.K.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-634-7
By: Kamath, R.R.; Sung, C.; Oden, Z.M.; Ramos, R.F.; Carstens, E.; Ouyang, C.; Yiwen Cui;
By: Kamath, R.R.; Sung, C.; Oden, Z.M.; Ramos, R.F.; Carstens, E.; Ouyang, C.; Yiwen Cui;
1997 / IEEE / 0-7803-4093-0
By: Maly, W.; Khare, J.; Heineken, H.T.; Pleskacz, W.A.; Ouyang, C.; Nag, P.K.;
By: Maly, W.; Khare, J.; Heineken, H.T.; Pleskacz, W.A.; Ouyang, C.; Nag, P.K.;
1998 / IEEE / 0-8186-8359-7
By: Ouyang, C.; Simon, P.; Nag, P.K.; Khare, J.; Heineken, H.T.; Maly, W.;
By: Ouyang, C.; Simon, P.; Nag, P.K.; Khare, J.; Heineken, H.T.; Maly, W.;
1998 / IEEE
By: Ouyang, C.; Maly, W.P.; Strojwas, A.J.; Nurani, R.K.; Shindo, W.; Derrett, J.; McIntyre, M.G.; Akella, R.;
By: Ouyang, C.; Maly, W.P.; Strojwas, A.J.; Nurani, R.K.; Shindo, W.; Derrett, J.; McIntyre, M.G.; Akella, R.;
2000 / IEEE / 0-7803-5809-0
By: Heineken, H.; Ryu, K.; Ouyang, C.; d'Abreu, M.; Shaikh, S.; Khare, J.;
By: Heineken, H.; Ryu, K.; Ouyang, C.; d'Abreu, M.; Shaikh, S.; Khare, J.;
2002 / IEEE / 0-7803-7312-X
By: Oldiges, P.; Cai, J.; Ouyang, C.; Ajmera, A.; Steigerwalt, M.; Ning, T.; Shahidi, G.; Jenkins, K.; Stein, K.;
By: Oldiges, P.; Cai, J.; Ouyang, C.; Ajmera, A.; Steigerwalt, M.; Ning, T.; Shahidi, G.; Jenkins, K.; Stein, K.;
2004 / IEEE / 0-7803-8684-1
By: Cai, J.; Rim, K.; Leong, M.; Haensch, W.; Miller, R.; Leobandung, E.; Mocuta, A.; O'Neil, P.; Mocuta, D.; Ott, J.; Mitchell, R.; Uriarte, D.; Sadana, D.; Hovel, H.; Reznicek, A.; Bedell, S.; Wang, X.; Kumar, A.; Kanarsky, T.; Hergenrother, J.; Yin, H.; Lee, K.; Ren, Z.; Singh, D.; Bryant, A.; Jenkins, K.; Ouyang, C.;
By: Cai, J.; Rim, K.; Leong, M.; Haensch, W.; Miller, R.; Leobandung, E.; Mocuta, A.; O'Neil, P.; Mocuta, D.; Ott, J.; Mitchell, R.; Uriarte, D.; Sadana, D.; Hovel, H.; Reznicek, A.; Bedell, S.; Wang, X.; Kumar, A.; Kanarsky, T.; Hergenrother, J.; Yin, H.; Lee, K.; Ren, Z.; Singh, D.; Bryant, A.; Jenkins, K.; Ouyang, C.;
2006 / IEEE / 1-4244-0438-X
By: Narasimha, S.; Onishi, K.; Nayfeh, H.M.; Waite, A.; Weybright, M.; Johnson, J.; Fonseca, C.; Corliss, D.; Robinson, C.; Crouse, M.; Yang, D.; Wu, C.-H.J.; Gabor, A.; Adam, T.; Ahsan, I.; Belyansky, M.; Black, L.; Butt, S.; Cheng, J.; Chou, A.; Costrini, G.; Dimitrakopoulos, C.; Domenicucci, A.; Fisher, P.; Frye, A.; Gates, S.; Greco, S.; Grunow, S.; Hargrove, M.; Holt, J.; Jeng, S.-J.; Kelling, M.; Kim, B.; Landers, W.; Larosa, G.; Lea, D.; Lee, M.H.; Liu, X.; Lustig, N.; McKnight, A.; Nicholson, L.; Nielsen, D.; Nummy, K.; Ontalus, V.; Ouyang, C.; Ouyang, X.; Prindle, C.; Pal, R.; Rausch, W.; Restaino, D.; Sheraw, C.; Sim, J.; Simon, A.; Standaert, T.; Sung, C.Y.; Tabakman, K.; Tian, C.; Van Den Nieuwenhuizen, R.; Van Meer, H.; Vayshenker, A.; Wehella-Gamage, D.; Werking, J.; Wong, R.C.; Yu, J.; Wu, S.; Augur, R.; Brown, D.; Chen, X.; Edelstein, D.; Grill, A.; Khare, M.; Li, Y.; Luning, S.; Norum, J.; Sankaran, S.; Schepis, D.; Wachnik, R.; Wise, R.; Warm, C.; Ivers, T.; Agnello, P.;
By: Narasimha, S.; Onishi, K.; Nayfeh, H.M.; Waite, A.; Weybright, M.; Johnson, J.; Fonseca, C.; Corliss, D.; Robinson, C.; Crouse, M.; Yang, D.; Wu, C.-H.J.; Gabor, A.; Adam, T.; Ahsan, I.; Belyansky, M.; Black, L.; Butt, S.; Cheng, J.; Chou, A.; Costrini, G.; Dimitrakopoulos, C.; Domenicucci, A.; Fisher, P.; Frye, A.; Gates, S.; Greco, S.; Grunow, S.; Hargrove, M.; Holt, J.; Jeng, S.-J.; Kelling, M.; Kim, B.; Landers, W.; Larosa, G.; Lea, D.; Lee, M.H.; Liu, X.; Lustig, N.; McKnight, A.; Nicholson, L.; Nielsen, D.; Nummy, K.; Ontalus, V.; Ouyang, C.; Ouyang, X.; Prindle, C.; Pal, R.; Rausch, W.; Restaino, D.; Sheraw, C.; Sim, J.; Simon, A.; Standaert, T.; Sung, C.Y.; Tabakman, K.; Tian, C.; Van Den Nieuwenhuizen, R.; Van Meer, H.; Vayshenker, A.; Wehella-Gamage, D.; Werking, J.; Wong, R.C.; Yu, J.; Wu, S.; Augur, R.; Brown, D.; Chen, X.; Edelstein, D.; Grill, A.; Khare, M.; Li, Y.; Luning, S.; Norum, J.; Sankaran, S.; Schepis, D.; Wachnik, R.; Wise, R.; Warm, C.; Ivers, T.; Agnello, P.;
2007 / IEEE / 978-4-900784-03-1
By: Chudzik, M.; Doris, B.; Chen, T.C.; Khare, M.; Divakaruni, R.; Zhang, Y.; Wise, R.; Narayanan, V.; Takayanagi, M.; Iijima, R.; Ando, T.; Zafar, S.; Wang, X.; Vayshenker, A.; Steen, M.; Stathis, J.; Paruchuri, V.K.; Moumen, N.; Linder, B.; Kim, Y.; He, W.; Hargrove, M.; Gribelyuk, M.; Casarotto, D.; Carter, R.; Callegari, S.; Mo, R.; Sleight, J.; Cartier, E.; Dewan, C.; Park, D.; Bu, H.; Natzle, W.; Yan, W.; Ouyang, C.; Henson, K.; Boyd, D.;
By: Chudzik, M.; Doris, B.; Chen, T.C.; Khare, M.; Divakaruni, R.; Zhang, Y.; Wise, R.; Narayanan, V.; Takayanagi, M.; Iijima, R.; Ando, T.; Zafar, S.; Wang, X.; Vayshenker, A.; Steen, M.; Stathis, J.; Paruchuri, V.K.; Moumen, N.; Linder, B.; Kim, Y.; He, W.; Hargrove, M.; Gribelyuk, M.; Casarotto, D.; Carter, R.; Callegari, S.; Mo, R.; Sleight, J.; Cartier, E.; Dewan, C.; Park, D.; Bu, H.; Natzle, W.; Yan, W.; Ouyang, C.; Henson, K.; Boyd, D.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1954-8
By: Fuller, N.; Ouyang, C.; Xinlin Wang; Huiming Bu; Joseph, E.; Huang, E.; Shahidi, G.; Purushothaman, S.; Chun-Yung Sung; Haensch, W.; Sunfei Fang; Lauer, I.; Mallikarjunan, A.; Tien Cheng; Shobha, H.; Simonyi, E.;
By: Fuller, N.; Ouyang, C.; Xinlin Wang; Huiming Bu; Joseph, E.; Huang, E.; Shahidi, G.; Purushothaman, S.; Chun-Yung Sung; Haensch, W.; Sunfei Fang; Lauer, I.; Mallikarjunan, A.; Tien Cheng; Shobha, H.; Simonyi, E.;
2009 / IEEE
By: Haensch, W.; Koester, S.J.; Ouyang, C.; Venigalla, R.; Majumdar, A.; Holt, J.R.; Kumar, A.; Xinlin Wang; Dobuzinsky, D.;
By: Haensch, W.; Koester, S.J.; Ouyang, C.; Venigalla, R.; Majumdar, A.; Holt, J.R.; Kumar, A.; Xinlin Wang; Dobuzinsky, D.;
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap