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Author: Oka, S.
Results
1990 / IEEE
By: Miura, A.; Dobashi, M.; Kamada, H.; Kobayashi, S.; Oka, S.; Uchida, S.; Yakihara, T.;
By: Miura, A.; Dobashi, M.; Kamada, H.; Kobayashi, S.; Oka, S.; Uchida, S.; Yakihara, T.;
1989 / IEEE / 0-7803-0817-4
By: Uchida, S.; Yakihara, T.; Kobayashi, S.; Miura, A.; Oka, S.; Kamada, H.;
By: Uchida, S.; Yakihara, T.; Kobayashi, S.; Miura, A.; Oka, S.; Kamada, H.;
1992 / IEEE / 0-7803-0473-X
By: Oka, S.; Nogami, T.; Haida, O.; Maeda, C.; Nakata, T.; Naganuma, K.;
By: Oka, S.; Nogami, T.; Haida, O.; Maeda, C.; Nakata, T.; Naganuma, K.;
1992 / IEEE / 0-7803-0817-4
By: Yakihara, T.; Miura, A.; Fujita, T.; Nonoyama, A.; Oka, S.; Kobayashi, S.;
By: Yakihara, T.; Miura, A.; Fujita, T.; Nonoyama, A.; Oka, S.; Kobayashi, S.;
1996 / IEEE / 0-7803-3312-8
By: Murata, D.; Fujita, T.; Oka, S.; Kobayashi, S.; Yakihara, T.; Kobayashi, H.; Miura, A.; Matsuura, H.; Tobari, T.; Yamanaka, R.;
By: Murata, D.; Fujita, T.; Oka, S.; Kobayashi, S.; Yakihara, T.; Kobayashi, H.; Miura, A.; Matsuura, H.; Tobari, T.; Yamanaka, R.;
1996 / IEEE / 0-7803-3246-6
By: Matsuura, H.; Murata, D.; Fujita, T.; Oka, S.; Kobayashi, S.; Yakihara, T.; Yamanaka, M.; Miura, A.; Aoki, I.; Tezuka, K.;
By: Matsuura, H.; Murata, D.; Fujita, T.; Oka, S.; Kobayashi, S.; Yakihara, T.; Yamanaka, M.; Miura, A.; Aoki, I.; Tezuka, K.;
1994 / IEEE / 0-7803-1453-0
By: Fukazawa, A.; Okuda, Y.; Oka, S.; Hira, S.; Kurihara, N.; Yamaki, H.;
By: Fukazawa, A.; Okuda, Y.; Oka, S.; Hira, S.; Kurihara, N.; Yamaki, H.;
1997 / IEEE / 0-7803-3747-6
By: Mizuta, T.; Kobayashi, H.; Murata, D.; Oka, S.; Yakihara, T.; Miura, A.; Matsuura, H.; Uchida, K.;
By: Mizuta, T.; Kobayashi, H.; Murata, D.; Oka, S.; Yakihara, T.; Miura, A.; Matsuura, H.; Uchida, K.;
1997 / IEEE / 0-7803-3734-4
By: Kuno, T.; Sugiura, H.; Matoba, N.; Kakuta, Y.; Asakawa, K.; Oka, S.;
By: Kuno, T.; Sugiura, H.; Matoba, N.; Kakuta, Y.; Asakawa, K.; Oka, S.;
1999 / IEEE / 0-7803-5585-7
By: Yakihara, T.; Uchida, K.; Matsuura, H.; Aoki, I.; Kobayashi, S.; Miura, A.; Fujita, T.; Oka, S.;
By: Yakihara, T.; Uchida, K.; Matsuura, H.; Aoki, I.; Kobayashi, S.; Miura, A.; Fujita, T.; Oka, S.;
2000 / IEEE / 0-7803-5687-X
By: Fujita, T.; Oka, S.; Kobayashi, S.; Yakihara, T.; Matsuura, H.; Uchida, K.; Miura, A.;
By: Fujita, T.; Oka, S.; Kobayashi, S.; Yakihara, T.; Matsuura, H.; Uchida, K.; Miura, A.;
2001 / IEEE
By: Uchida, K.; Miura, A.; Fujita, T.; Oka, S.; Kobayashi, S.; Yakihara, T.; Matsuura, H.;
By: Uchida, K.; Miura, A.; Fujita, T.; Oka, S.; Kobayashi, S.; Yakihara, T.; Matsuura, H.;
2003 / IEEE / 1-55752-746-6
By: Fujita, T.; Oka, S.; Dobashi, M.; Mogi, T.; Araki, S.; Kobayashi, S.; Kudou, T.; Umezawa, T.; Wada, M.; Miura, A.; Yakihara, T.;
By: Fujita, T.; Oka, S.; Dobashi, M.; Mogi, T.; Araki, S.; Kobayashi, S.; Kudou, T.; Umezawa, T.; Wada, M.; Miura, A.; Yakihara, T.;
2004 / IEEE / 1-55752-772-5
By: Wada, M.; Yakihara, T.; Kobayashi, S.; Kodaka, H.; Fujita, T.; Ikezawa, K.; Oka, S.; Asano, Y.; Nakajima, S.; Suehiro, M.; Iio, S.; Sato, C.; Miura, A.; Matsuura, H.;
By: Wada, M.; Yakihara, T.; Kobayashi, S.; Kodaka, H.; Fujita, T.; Ikezawa, K.; Oka, S.; Asano, Y.; Nakajima, S.; Suehiro, M.; Iio, S.; Sato, C.; Miura, A.; Matsuura, H.;
2007 / IEEE / 1-4244-0841-5
By: Kawayama, I.; Oka, S.; Kondo, J.; Kiwa, T.; Tsukada, K.; Tonouchi, M.; Yamada, H.;
By: Kawayama, I.; Oka, S.; Kondo, J.; Kiwa, T.; Tsukada, K.; Tonouchi, M.; Yamada, H.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1438-3
By: Kawayama, I.; Oka, S.; Kondo, J.; Kiwa, T.; Tsukada, K.; Tonouchi, M.; Yamada, H.;
By: Kawayama, I.; Oka, S.; Kondo, J.; Kiwa, T.; Tsukada, K.; Tonouchi, M.; Yamada, H.;
1993 / IEEE
By: Sige-eda, T.; Oka, S.; Tomita, M.; Mori, K.; Nagasawa, M.; Nakagawa, K.; Kurihara, N.; Yokoyama, E.;
By: Sige-eda, T.; Oka, S.; Tomita, M.; Mori, K.; Nagasawa, M.; Nakagawa, K.; Kurihara, N.; Yokoyama, E.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2227-2
By: Oka, S.; Uneme, S.; Toyama, A.; Suzuki, T.; Akasaka, Y.; Yakihara, T.; Izawa, T.; Sugawara, H.; Ikezawa, K.; Miura, A.;
By: Oka, S.; Uneme, S.; Toyama, A.; Suzuki, T.; Akasaka, Y.; Yakihara, T.; Izawa, T.; Sugawara, H.; Ikezawa, K.; Miura, A.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-4725-1
By: Okazaki, H.; Furuta, T.; Kawai, K.; Fukuda, A.; Murase, A.; Narahashi, S.; Oka, S.;
By: Okazaki, H.; Furuta, T.; Kawai, K.; Fukuda, A.; Murase, A.; Narahashi, S.; Oka, S.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-6431-9
By: Mochizuki, S.; Togo, H.; Kado, Y.; Kukutsu, N.; Toyoda, I.; Oka, S.;
By: Mochizuki, S.; Togo, H.; Kado, Y.; Kukutsu, N.; Toyoda, I.; Oka, S.;