Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Ohuchi, N.
Results
1992 / IEEE
By: Endo, K.; Ozaki, T.; Ohsawa, Y.; Kubo, T.; Kabe, A.; Ohuchi, N.; Fukuma, H.; Sugahara, R.; Egawa, K.; Morita, Y.; Tsuchiya, K.;
By: Endo, K.; Ozaki, T.; Ohsawa, Y.; Kubo, T.; Kabe, A.; Ohuchi, N.; Fukuma, H.; Sugahara, R.; Egawa, K.; Morita, Y.; Tsuchiya, K.;
1991 / IEEE / 0-7803-0135-8
By: Kurokawa, S.; Kuroda, S.; Kubo, T.; Egawa, K.; Kabe, A.; Fukuma, H.; Morita, Y.; Endo, K.; Tsuchiya, K.; Sugahara, R.; Ozaki, T.; Ohuchi, N.; Ohsawa, Y.;
By: Kurokawa, S.; Kuroda, S.; Kubo, T.; Egawa, K.; Kabe, A.; Fukuma, H.; Morita, Y.; Endo, K.; Tsuchiya, K.; Sugahara, R.; Ozaki, T.; Ohuchi, N.; Ohsawa, Y.;
1991 / IEEE / 0-7803-0135-8
By: Endo, K.; Egawa, K.; Tsuchiya, K.; Sugahara, R.; Kubo, T.; Ozaki, T.; Ohuchi, N.; Ohsawa, Y.; Morita, Y.;
By: Endo, K.; Egawa, K.; Tsuchiya, K.; Sugahara, R.; Kubo, T.; Ozaki, T.; Ohuchi, N.; Ohsawa, Y.; Morita, Y.;
1995 / IEEE
By: Ogitsu, T.; Tsuchiya, K.; Kobayashi, T.M.; Ajima, Y.; Ohuchi, N.; Doi, Y.; Haruyama, T.;
By: Ogitsu, T.; Tsuchiya, K.; Kobayashi, T.M.; Ajima, Y.; Ohuchi, N.; Doi, Y.; Haruyama, T.;
1996 / IEEE
By: Hirabayashi, H.; Kawamata, H.; Haruyama, T.; Higashi, N.; Doi, Y.; Kimura, N.; Shintomi, T.; Yamamoto, A.; Kato, S.; Mizumaki, S.; Perin, R.; Leroy, D.; Brianti, G.; Yamaoka, H.; Tsuchiya, K.; Terashima, A.; Tanaka, K.; Ohuchi, N.; Ogitsu, T.; Makida, Y.; Kobayashi, T.M.; Seog-Whan Kim;
By: Hirabayashi, H.; Kawamata, H.; Haruyama, T.; Higashi, N.; Doi, Y.; Kimura, N.; Shintomi, T.; Yamamoto, A.; Kato, S.; Mizumaki, S.; Perin, R.; Leroy, D.; Brianti, G.; Yamaoka, H.; Tsuchiya, K.; Terashima, A.; Tanaka, K.; Ohuchi, N.; Ogitsu, T.; Makida, Y.; Kobayashi, T.M.; Seog-Whan Kim;
1996 / IEEE
By: Tsuchiya, K.; Doi, Y.; Haruyama, T.; Ogitsu, T.; Ajima, Y.; Kobayashi, T.M.; Ohuchi, N.;
By: Tsuchiya, K.; Doi, Y.; Haruyama, T.; Ogitsu, T.; Ajima, Y.; Kobayashi, T.M.; Ohuchi, N.;
1997 / IEEE
By: Kovachev, V.; Nakamoto, T.; Kim, S.W.; Kawamata, H.; Kimura, N.; Higashi, N.; Haruyama, T.; Doi, Y.; Yamamoto, A.; Shintomi, T.; Tanaka, A.; Orikasa, T.; Makishima, K.; Kato, S.; Kato, S.; Leroy, D.; Perin, R.; Tsuchiya, K.; Terashima, A.; Tanaka, K.; Ogitsu, T.; Ohuchi, N.;
By: Kovachev, V.; Nakamoto, T.; Kim, S.W.; Kawamata, H.; Kimura, N.; Higashi, N.; Haruyama, T.; Doi, Y.; Yamamoto, A.; Shintomi, T.; Tanaka, A.; Orikasa, T.; Makishima, K.; Kato, S.; Kato, S.; Leroy, D.; Perin, R.; Tsuchiya, K.; Terashima, A.; Tanaka, K.; Ogitsu, T.; Ohuchi, N.;
1997 / IEEE
By: Nakamoto, T.; Kimura, N.; Kawamata, H.; Haruyama, T.; Kim, S.W.; Doi, Y.; Ohuchi, N.; Ogitsu, T.; Tsuchiya, K.; Sasaki, K.; Kovachev, V.T.; Kirby, G.A.; Yamamoto, A.; Terashima, A.; Kato, S.; Tanaka, K.; Shintomi, T.;
By: Nakamoto, T.; Kimura, N.; Kawamata, H.; Haruyama, T.; Kim, S.W.; Doi, Y.; Ohuchi, N.; Ogitsu, T.; Tsuchiya, K.; Sasaki, K.; Kovachev, V.T.; Kirby, G.A.; Yamamoto, A.; Terashima, A.; Kato, S.; Tanaka, K.; Shintomi, T.;
1997 / IEEE
By: Yamamoto, A.; Taylor, T.M.; Ostojic, R.; Kirby, G.; Terashima, A.; Higashi, N.; Shintomi, T.; Ohuchi, N.; Ogitsu, T.; Nakamoto, T.; Tsuchiya, K.;
By: Yamamoto, A.; Taylor, T.M.; Ostojic, R.; Kirby, G.; Terashima, A.; Higashi, N.; Shintomi, T.; Ohuchi, N.; Ogitsu, T.; Nakamoto, T.; Tsuchiya, K.;
1999 / IEEE
By: Qiu, M.; Ajima, Y.; Ogitsu, T.; Tsuchiya, K.; Ohuchi, N.; Shintomi, T.; Yamamoto, A.;
By: Qiu, M.; Ajima, Y.; Ogitsu, T.; Tsuchiya, K.; Ohuchi, N.; Shintomi, T.; Yamamoto, A.;
1999 / IEEE
By: Yamamoto, A.; Tsuchiya, K.; Nakamoto, T.; Taylor, T.M.; Ostojic, R.; Kirby, G.A.; Terashima, A.; Shintomi, T.; Tanaka, K.; Sasaki, K.; Ohuchi, N.; Ogitsu, T.; Kimura, N.; Higashi, N.; Barkhardt, E.;
By: Yamamoto, A.; Tsuchiya, K.; Nakamoto, T.; Taylor, T.M.; Ostojic, R.; Kirby, G.A.; Terashima, A.; Shintomi, T.; Tanaka, K.; Sasaki, K.; Ohuchi, N.; Ogitsu, T.; Kimura, N.; Higashi, N.; Barkhardt, E.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Ohnishi, Y.; Akai, K.; Yoshimoto, S.; Yoshida, M.; Yamamoto, N.; Tobiyama, M.; Tejima, M.; Tawada, M.; Tawada, T.; Suwada, T.; Suetsugu, Y.; Suetake, M.; Satoh, K.; Pestrikov, D.; Oide, K.; Ohuchi, N.; Ohsawa, S.; Ohmi, K.; Ogawa, Y.; Nakamura, T.; Mimashi, T.; Akasaka, N.; Enomoto, A.; Ftanagan, J.; Fukuma, H.; Funakoshi, Y.; Furukawa, K.; Hiramatsu, S.; Hosoyama, K.; Huan, N.; Ieiri, T.; Iida, N.; Kamitani, T.; Kato, S.; Kikuchi, M.; Kikutani, E.; Koiso, H.; Masuzawa, M.; Michizono, S.;
By: Ohnishi, Y.; Akai, K.; Yoshimoto, S.; Yoshida, M.; Yamamoto, N.; Tobiyama, M.; Tejima, M.; Tawada, M.; Tawada, T.; Suwada, T.; Suetsugu, Y.; Suetake, M.; Satoh, K.; Pestrikov, D.; Oide, K.; Ohuchi, N.; Ohsawa, S.; Ohmi, K.; Ogawa, Y.; Nakamura, T.; Mimashi, T.; Akasaka, N.; Enomoto, A.; Ftanagan, J.; Fukuma, H.; Funakoshi, Y.; Furukawa, K.; Hiramatsu, S.; Hosoyama, K.; Huan, N.; Ieiri, T.; Iida, N.; Kamitani, T.; Kato, S.; Kikuchi, M.; Kikutani, E.; Koiso, H.; Masuzawa, M.; Michizono, S.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Ohuchi, N.; Ogitsu, T.; Nakamura, T.; Kubo, T.; Tsuchiya, K.; Ozaki, T.; Akiyama, A.; Yoshida, M.;
By: Ohuchi, N.; Ogitsu, T.; Nakamura, T.; Kubo, T.; Tsuchiya, K.; Ozaki, T.; Akiyama, A.; Yoshida, M.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Akai, K.; Akasaka, N.; Yoshimoto, S.; Yoshida, M.; Yamamoto, N.; Tobiyama, M.; Tejima, M.; Tawada, M.; Suwada, T.; Suetsugu, Y.; Suetake, M.; Satoh, K.; Pestrikov, D.; Oide, K.; Ohuchi, N.; Ohsawa, S.; Ohnishi, Y.; Ohmi, K.; Ogawa, Y.; Nakamura, T.; Mimashi, T.; Michizono, S.; Masuzawa, M.; Enomoto, A.; Managan, J.; Fukuma, H.; Funakoshi, Y.; Furukawa, K.; Hiramatsu, S.; Hosoyama, K.; Huang, N.; Ieiri, T.; Iida, N.; Kamitani, T.; Kato, S.; Kikuchi, M.; Kikutani, E.; Koiso, H.;
By: Akai, K.; Akasaka, N.; Yoshimoto, S.; Yoshida, M.; Yamamoto, N.; Tobiyama, M.; Tejima, M.; Tawada, M.; Suwada, T.; Suetsugu, Y.; Suetake, M.; Satoh, K.; Pestrikov, D.; Oide, K.; Ohuchi, N.; Ohsawa, S.; Ohnishi, Y.; Ohmi, K.; Ogawa, Y.; Nakamura, T.; Mimashi, T.; Michizono, S.; Masuzawa, M.; Enomoto, A.; Managan, J.; Fukuma, H.; Funakoshi, Y.; Furukawa, K.; Hiramatsu, S.; Hosoyama, K.; Huang, N.; Ieiri, T.; Iida, N.; Kamitani, T.; Kato, S.; Kikuchi, M.; Kikutani, E.; Koiso, H.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Funakoshi, Y.; Akai, K.; Yoshimoto, S.; Yoshida, M.; Yamamoto, N.; Tobiyama, M.; Tejima, M.; Tawada, M.; Suwada, T.; Suetsugu, Y.; Suetake, M.; Satoh, K.; Pestrikov, D.; Oide, K.; Ohuchi, N.; Ohsawa, S.; Ohnishi, Y.; Ohmi, K.; Ogawa, Y.; Nakamura, T.; Mimashi, T.; Michizono, S.; Masuzawa, M.; Akasaka, N.; Enomoto, A.; Flanagan, J.; Fukuma, H.; Furtkawa, K.; Hiramatsu, S.; Hosoyama, K.; Huan, N.; Ieiri, T.; Iida, N.; Kamitani, T.; Kato, S.; Kikuchi, M.; Kikutani, E.; Koiso, H.;
By: Funakoshi, Y.; Akai, K.; Yoshimoto, S.; Yoshida, M.; Yamamoto, N.; Tobiyama, M.; Tejima, M.; Tawada, M.; Suwada, T.; Suetsugu, Y.; Suetake, M.; Satoh, K.; Pestrikov, D.; Oide, K.; Ohuchi, N.; Ohsawa, S.; Ohnishi, Y.; Ohmi, K.; Ogawa, Y.; Nakamura, T.; Mimashi, T.; Michizono, S.; Masuzawa, M.; Akasaka, N.; Enomoto, A.; Flanagan, J.; Fukuma, H.; Furtkawa, K.; Hiramatsu, S.; Hosoyama, K.; Huan, N.; Ieiri, T.; Iida, N.; Kamitani, T.; Kato, S.; Kikuchi, M.; Kikutani, E.; Koiso, H.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Akai, K.; Akasaka, N.; Enomoto, A.; Flanagan, J.; Fukuma, H.; Funakoshi, Y.; Furukawa, K.; Haba, J.; Hiramatsu, S.; Hosoyama, K.; Huang, N.; Ieiri, T.; Iida, N.; Kamitani, T.; Kato, S.; Kikuchi, M.; Kikutani, E.; Koiso, H.; Kurokawa, S.-I.; Masuzawa, M.; Michizono, S.; Mimashi, T.; Nakamura, T.; Ogawa, Y.; Ohmi, K.; Ohnishi, Y.; Ohsawa, S.; Ohuchi, N.; Oide, K.; Pestrikov, D.; Satoh, K.; Suetake, M.; Suetsugu, Y.; Suwada, T.; Tawada, M.; Tejima, M.; Tobiyama, M.; Yamamoto, N.; Yoshida, M.; Yoshimoto, S.; Yoshioka, M.; Browder, T.;
By: Akai, K.; Akasaka, N.; Enomoto, A.; Flanagan, J.; Fukuma, H.; Funakoshi, Y.; Furukawa, K.; Haba, J.; Hiramatsu, S.; Hosoyama, K.; Huang, N.; Ieiri, T.; Iida, N.; Kamitani, T.; Kato, S.; Kikuchi, M.; Kikutani, E.; Koiso, H.; Kurokawa, S.-I.; Masuzawa, M.; Michizono, S.; Mimashi, T.; Nakamura, T.; Ogawa, Y.; Ohmi, K.; Ohnishi, Y.; Ohsawa, S.; Ohuchi, N.; Oide, K.; Pestrikov, D.; Satoh, K.; Suetake, M.; Suetsugu, Y.; Suwada, T.; Tawada, M.; Tejima, M.; Tobiyama, M.; Yamamoto, N.; Yoshida, M.; Yoshimoto, S.; Yoshioka, M.; Browder, T.;
2000 / IEEE
By: Tanaka, K.; Tsuchiya, K.; Nakamoto, T.; Yamamoto, A.; Shintomi, T.; Yamaoka, H.; Ohuchi, N.; Ogitsu, T.; Higashi, N.; Terashima, A.;
By: Tanaka, K.; Tsuchiya, K.; Nakamoto, T.; Yamamoto, A.; Shintomi, T.; Yamaoka, H.; Ohuchi, N.; Ogitsu, T.; Higashi, N.; Terashima, A.;
2000 / IEEE
By: Ohuchi, N.; Ogitsu, T.; Shintomi, T.; Qiu, M.; Yamamoto, A.; Nakamoto, T.; Tsuchiya, K.;
By: Ohuchi, N.; Ogitsu, T.; Shintomi, T.; Qiu, M.; Yamamoto, A.; Nakamoto, T.; Tsuchiya, K.;
2000 / IEEE
By: Tsuchiya, K.; Shintomi, T.; Ogitsu, T.; Nakamoto, T.; Yamamoto, A.; Ajima, Y.; Ohuchi, N.; Qiu, M.;
By: Tsuchiya, K.; Shintomi, T.; Ogitsu, T.; Nakamoto, T.; Yamamoto, A.; Ajima, Y.; Ohuchi, N.; Qiu, M.;
2000 / IEEE
By: Ogitsu, T.; Ohhata, I.; Iida, M.; Higashi, N.; Kimura, N.; Haruyama, T.; Burkhardt, E.; Ajima, Y.; Tsuchiya, K.; Yamamoto, A.; Nakamoto, T.; Terashima, A.; Tanaka, K.; Shintomi, T.; Ohuchi, N.;
By: Ogitsu, T.; Ohhata, I.; Iida, M.; Higashi, N.; Kimura, N.; Haruyama, T.; Burkhardt, E.; Ajima, Y.; Tsuchiya, K.; Yamamoto, A.; Nakamoto, T.; Terashima, A.; Tanaka, K.; Shintomi, T.; Ohuchi, N.;
2001 / IEEE
By: Kimura, N.; Murai, S.; Higashi, N.; Iida, M.; Haruyama, T.; Burkhardt, E.E.; Ajima, Y.; Shintomi, T.; Yamaoka, H.; Yamamoto, A.; Tsuchiya, K.; Terashima, A.; Tanaka, K.; Sugita, K.; Ruber, R.J.M.Y.; Osaki, O.; Orikasa, A.; Ohuchi, N.; Ohhata, H.; Ogitsu, T.; Nakamoto, T.;
By: Kimura, N.; Murai, S.; Higashi, N.; Iida, M.; Haruyama, T.; Burkhardt, E.E.; Ajima, Y.; Shintomi, T.; Yamaoka, H.; Yamamoto, A.; Tsuchiya, K.; Terashima, A.; Tanaka, K.; Sugita, K.; Ruber, R.J.M.Y.; Osaki, O.; Orikasa, A.; Ohuchi, N.; Ohhata, H.; Ogitsu, T.; Nakamoto, T.;
2001 / IEEE
By: Nakamoto, T.; Terashima, A.; Shintomi, T.; Ohuchi, N.; Ogitsu, T.; Kimura, N.; Higashi, N.; Burkhardt, E.E.; Tsuchiya, K.; Yamamoto, A.;
By: Nakamoto, T.; Terashima, A.; Shintomi, T.; Ohuchi, N.; Ogitsu, T.; Kimura, N.; Higashi, N.; Burkhardt, E.E.; Tsuchiya, K.; Yamamoto, A.;
2001 / IEEE / 0-7803-7191-7
By: Funakoshi, Y.; Akai, K.; Enomoto, A.; Flanagan, J.; Fukuma, H.; Furukawa, K.; Haba, J.; Hiramatsu, S.; Hosoyama, K.; Ieiri, T.; Iida, N.; Ikeda, H.; Kamada, S.; Kamitani, T.; Kato, S.; Kikuchi, M.; Kikutani, E.; Koiso, H.; Kurokawa, S.I.; Masuzawa, M.; Matsumoto, T.; Mimashi, T.; Nakamura, T.T.; Ogawa, Y.; Ohmi, K.; Ohnishi, Y.; Ohsawa, S.; Ohuchi, N.; Oide, K.; Perevedentsev, E.A.; Satoh, K.; Suetake, M.; Suetsugu, Y.; Suwada, T.; Takasaki, F.; Tawada, M.; Tejima, M.; Tobiyama, M.; Uno, S.; Wu, Y.; Yamamoto, N.; Yoshida, M.; Yoshimoto, S.; Yoshioka, M.; Zimmermann, F.;
By: Funakoshi, Y.; Akai, K.; Enomoto, A.; Flanagan, J.; Fukuma, H.; Furukawa, K.; Haba, J.; Hiramatsu, S.; Hosoyama, K.; Ieiri, T.; Iida, N.; Ikeda, H.; Kamada, S.; Kamitani, T.; Kato, S.; Kikuchi, M.; Kikutani, E.; Koiso, H.; Kurokawa, S.I.; Masuzawa, M.; Matsumoto, T.; Mimashi, T.; Nakamura, T.T.; Ogawa, Y.; Ohmi, K.; Ohnishi, Y.; Ohsawa, S.; Ohuchi, N.; Oide, K.; Perevedentsev, E.A.; Satoh, K.; Suetake, M.; Suetsugu, Y.; Suwada, T.; Takasaki, F.; Tawada, M.; Tejima, M.; Tobiyama, M.; Uno, S.; Wu, Y.; Yamamoto, N.; Yoshida, M.; Yoshimoto, S.; Yoshioka, M.; Zimmermann, F.;
2001 / IEEE / 0-7803-7191-7
By: Orikasa, T.; Murai, S.; Sugita, K.; Tsuchiya, K.; Terashima, A.; Tanaka, K.; Shintomi, T.; Ruber, R.; Ohuchi, N.; Ohhata, H.; Ogitsu, T.; Nakamoto, T.; Kimura, N.; Iida, M.; Hirano, H.; Higashi, N.; Burkhardt, E.; Ajima, Y.; Yamamoto, A.; Osaki, O.;
By: Orikasa, T.; Murai, S.; Sugita, K.; Tsuchiya, K.; Terashima, A.; Tanaka, K.; Shintomi, T.; Ruber, R.; Ohuchi, N.; Ohhata, H.; Ogitsu, T.; Nakamoto, T.; Kimura, N.; Iida, M.; Hirano, H.; Higashi, N.; Burkhardt, E.; Ajima, Y.; Yamamoto, A.; Osaki, O.;
2002 / IEEE
By: Orikasa, T.; Ajima, Y.; Nakamoto, T.; Yamamoto, A.; Tsuchiya, K.; Terashima, A.; Tanaka, K.; Sugita, K.; Shintomi, T.; Oosaki, O.; Ohuchi, N.; Ogitsu, T.; Dajima, W.; Murai, S.; Kimura, N.; Kanahara, T.; Hirano, H.; Higashi, N.; Hashiguchi, E.; Fujii, T.; Burkhardt, E.E.;
By: Orikasa, T.; Ajima, Y.; Nakamoto, T.; Yamamoto, A.; Tsuchiya, K.; Terashima, A.; Tanaka, K.; Sugita, K.; Shintomi, T.; Oosaki, O.; Ohuchi, N.; Ogitsu, T.; Dajima, W.; Murai, S.; Kimura, N.; Kanahara, T.; Hirano, H.; Higashi, N.; Hashiguchi, E.; Fujii, T.; Burkhardt, E.E.;
2002 / IEEE
By: Nakamoto, T.; Ohuchi, N.; Ogitsu, T.; Oosaki, O.; Murai, S.; Orikasa, T.; Yamamoto, A.; Tsuchiya, K.; Terashima, A.; Shintomi, T.; Tanaka, K.; Ohhata, H.; Kimura, N.; Lida, M.; Hirano, H.; Higashi, N.; Burkhardt, E.; Ajima, Y.;
By: Nakamoto, T.; Ohuchi, N.; Ogitsu, T.; Oosaki, O.; Murai, S.; Orikasa, T.; Yamamoto, A.; Tsuchiya, K.; Terashima, A.; Shintomi, T.; Tanaka, K.; Ohhata, H.; Kimura, N.; Lida, M.; Hirano, H.; Higashi, N.; Burkhardt, E.; Ajima, Y.;
2002 / IEEE
By: Tsuchiya, K.; Hirano, H.; Ohuchi, N.; Yamamoto, A.; Ajima, Y.; Shintomi, T.; Kimura, N.; Ogitsu, T.; Nakamoto, T.;
By: Tsuchiya, K.; Hirano, H.; Ohuchi, N.; Yamamoto, A.; Ajima, Y.; Shintomi, T.; Kimura, N.; Ogitsu, T.; Nakamoto, T.;
2002 / IEEE
By: Ogitsu, T.; Shintomi, T.; Nakamoto, T.; Tsuchiya, K.; Ajima, Y.; Qiu, M.; Ohuchi, N.; Yamamoto, A.;
By: Ogitsu, T.; Shintomi, T.; Nakamoto, T.; Tsuchiya, K.; Ajima, Y.; Qiu, M.; Ohuchi, N.; Yamamoto, A.;
2002 / IEEE
By: Ajima, Y.; Ohuchi, N.; Hirano, H.; Yamamoto, A.; Tsuchiya, K.; Shintomi, T.; Ogitsu, T.;
By: Ajima, Y.; Ohuchi, N.; Hirano, H.; Yamamoto, A.; Tsuchiya, K.; Shintomi, T.; Ogitsu, T.;
2002 / IEEE
By: Sugita, K.; Yamamoto, A.; Tsuchiya, K.; Shintomi, T.; Hirano, H.; Ohuchi, N.; Nakamoto, T.; Ogitsu, T.;
By: Sugita, K.; Yamamoto, A.; Tsuchiya, K.; Shintomi, T.; Hirano, H.; Ohuchi, N.; Nakamoto, T.; Ogitsu, T.;
2003 / IEEE
By: Mompo, R.; Giloux, C.; Tsuchiya, K.; Ogitsu, T.; Ohuchi, N.; Taylor, T.M.; Siemko, A.; Shintomi, T.; Yamamoto, A.; Walckiers, L.; Delsolaro, W.V.; Nakamoto, T.;
By: Mompo, R.; Giloux, C.; Tsuchiya, K.; Ogitsu, T.; Ohuchi, N.; Taylor, T.M.; Siemko, A.; Shintomi, T.; Yamamoto, A.; Walckiers, L.; Delsolaro, W.V.; Nakamoto, T.;
2003 / IEEE
By: Sugita, K.; Yamamoto, A.; Tsuchiya, K.; Shintomi, T.; Ohuchi, N.; Nakamoto, T.; Ogitsu, T.;
By: Sugita, K.; Yamamoto, A.; Tsuchiya, K.; Shintomi, T.; Ohuchi, N.; Nakamoto, T.; Ogitsu, T.;
2003 / IEEE
By: Nakamoto, T.; Ajima, Y.; Yamamoto, A.; Tsuchiya, K.; Terashima, A.; Tanaka, K.; Sugita, K.; Sugawara, S.; Shintomi, T.; Orikasa, T.; Ohuchi, N.; Ohhata, H.; Ogitsu, T.; Odajima, W.; Murai, S.; Kimura, N.; Kanahara, T.; Iida, M.; Hirano, H.; Higashi, N.; Hashiguchi, E.; Fujii, T.;
By: Nakamoto, T.; Ajima, Y.; Yamamoto, A.; Tsuchiya, K.; Terashima, A.; Tanaka, K.; Sugita, K.; Sugawara, S.; Shintomi, T.; Orikasa, T.; Ohuchi, N.; Ohhata, H.; Ogitsu, T.; Odajima, W.; Murai, S.; Kimura, N.; Kanahara, T.; Iida, M.; Hirano, H.; Higashi, N.; Hashiguchi, E.; Fujii, T.;
2003 / IEEE / 0-7803-7738-9
By: Sugawara, S.; Sugita, K.; Ohhata, H.; Ogitsy, T.; Shintomi, T.; Nakamoto, T.; Kimura, N.; Iida, M.; Higashi, N.; Ajima, Y.; Ohuchi, N.; Orikasa, T.; Odajima, W.; Murai, S.; Hashiguchi, E.; Kanahara, T.; Fujii, T.; Yamamoto, A.; Tsuchiya, K.; Terashima, A.; Tanaka, K.;
By: Sugawara, S.; Sugita, K.; Ohhata, H.; Ogitsy, T.; Shintomi, T.; Nakamoto, T.; Kimura, N.; Iida, M.; Higashi, N.; Ajima, Y.; Ohuchi, N.; Orikasa, T.; Odajima, W.; Murai, S.; Hashiguchi, E.; Kanahara, T.; Fujii, T.; Yamamoto, A.; Tsuchiya, K.; Terashima, A.; Tanaka, K.;
2004 / IEEE
By: Sugita, K.; Shintomi, T.; Nakamoto, T.; Ogitsu, T.; Tsuchiya, K.; Ajima, Y.; Ohuchi, N.; Yamamoto, A.;
By: Sugita, K.; Shintomi, T.; Nakamoto, T.; Ogitsu, T.; Tsuchiya, K.; Ajima, Y.; Ohuchi, N.; Yamamoto, A.;
2004 / IEEE
By: Yamamoto, A.; Tsuchiya, K.; Shintomi, T.; Ogitsu, T.; Nakamoto, T.; Ajima, Y.; Ohuchi, N.;
By: Yamamoto, A.; Tsuchiya, K.; Shintomi, T.; Ogitsu, T.; Nakamoto, T.; Ajima, Y.; Ohuchi, N.;
2004 / IEEE
By: Ohuchi, N.; Ogitsu, T.; Sugita, K.; Yamamoto, A.; Tsuchiya, K.; Shintomi, T.; Nakamoto, T.;
By: Ohuchi, N.; Ogitsu, T.; Sugita, K.; Yamamoto, A.; Tsuchiya, K.; Shintomi, T.; Nakamoto, T.;
2005 / IEEE
By: Tsuchiya, K.; Fujii, T.; Tanaka, K.; Sugita, K.; Sugawara, S.; Shintomi, T.; Ohhata, K.; Terashima, A.; Kimura, N.; Iida, M.; Higashi, N.; Ajima, Y.; Ohuchi, N.; Ogitsu, T.; Nakamoto, T.; Yamamoto, A.; Orikasa, T.; Odajima, W.; Murai, S.; Kanahara, T.; Hashiguchi, E.;
By: Tsuchiya, K.; Fujii, T.; Tanaka, K.; Sugita, K.; Sugawara, S.; Shintomi, T.; Ohhata, K.; Terashima, A.; Kimura, N.; Iida, M.; Higashi, N.; Ajima, Y.; Ohuchi, N.; Ogitsu, T.; Nakamoto, T.; Yamamoto, A.; Orikasa, T.; Odajima, W.; Murai, S.; Kanahara, T.; Hashiguchi, E.;
2005 / IEEE / 0-7803-8859-3
By: Funakoshi, Y.; Akai, K.; Zimmermann, F.; Yoshimoto, S.; Yoshida, Mi.; Yoshida, Ma.; Yokoyama, K.; Yano, Y.; Yamamoto, Y.; Yamamoto, N.; Uno, S.; Uehara, S.; Tokuda, N.; Ebihara, K.; Egawa, K.; Enomoto, A.; Flanagan, J.; Fukuma, H.; Furukawa, K.; Furuya, T.; Haba, J.; Hiramatsu, S.; Ieiri, T.; Iida, N.; Ikeda, H.; Kageyama, T.; Kamada, S.; Kamitani, T.; Kato, S.; Kikuchi, M.; Kikutani, E.; Koiso, H.; Masuzawa, M.; Mimashi, T.; Morita, A.; Nakamura, T.T.; Nakayama, H.; Ogawa, Y.; Ohmi, K.; Ohnishi, Y.; Ohuchi, N.; Oide, K.; Ono, M.; Shimada, M.; Stanic, S.; Suetake, M.; Suetsugu, Y.; Sugimura, T.; Suwada, T.; Tawada, M.; Tejima, M.; Tobiyama, M.;
By: Funakoshi, Y.; Akai, K.; Zimmermann, F.; Yoshimoto, S.; Yoshida, Mi.; Yoshida, Ma.; Yokoyama, K.; Yano, Y.; Yamamoto, Y.; Yamamoto, N.; Uno, S.; Uehara, S.; Tokuda, N.; Ebihara, K.; Egawa, K.; Enomoto, A.; Flanagan, J.; Fukuma, H.; Furukawa, K.; Furuya, T.; Haba, J.; Hiramatsu, S.; Ieiri, T.; Iida, N.; Ikeda, H.; Kageyama, T.; Kamada, S.; Kamitani, T.; Kato, S.; Kikuchi, M.; Kikutani, E.; Koiso, H.; Masuzawa, M.; Mimashi, T.; Morita, A.; Nakamura, T.T.; Nakayama, H.; Ogawa, Y.; Ohmi, K.; Ohnishi, Y.; Ohuchi, N.; Oide, K.; Ono, M.; Shimada, M.; Stanic, S.; Suetake, M.; Suetsugu, Y.; Sugimura, T.; Suwada, T.; Tawada, M.; Tejima, M.; Tobiyama, M.;
2005 / IEEE / 0-7803-8859-3
By: Ostojic, R.; Bossert, R.; Yamamoto, A.; Velev, G.; Delsolaro, W.V.; Tsuchiya, K.; Taylor, T.; Tartaglia, M.; Sylvester, C.; Strait, J.; Shintomi, T.; Schlabach, P.; Rabehl, R.; DiMarco, J.; Feher, S.; Karppinen, M.; Kerby, J.; Kimura, N.; Lamm, M.; Nakamoto, T.; Nicol, T.; Nobrega, A.; Ogitsu, T.; Ohuchi, N.; Page, T.; Peterson, T.;
By: Ostojic, R.; Bossert, R.; Yamamoto, A.; Velev, G.; Delsolaro, W.V.; Tsuchiya, K.; Taylor, T.; Tartaglia, M.; Sylvester, C.; Strait, J.; Shintomi, T.; Schlabach, P.; Rabehl, R.; DiMarco, J.; Feher, S.; Karppinen, M.; Kerby, J.; Kimura, N.; Lamm, M.; Nakamoto, T.; Nicol, T.; Nobrega, A.; Ogitsu, T.; Ohuchi, N.; Page, T.; Peterson, T.;
2005 / IEEE / 0-7803-8859-3
By: Shibata, K.; Kanazawa, K.; Suetsugu, Y.; Shirai, M.; Hisamatsu, H.; Ohuchi, N.;
By: Shibata, K.; Kanazawa, K.; Suetsugu, Y.; Shirai, M.; Hisamatsu, H.; Ohuchi, N.;
2005 / IEEE / 0-7803-8859-3
By: Kako, E.; Noguchi, S.; Yamazaki, M.; Ouchi, N.; Nakata, M.; Kobayashi, H.; Hori, T.; Chishiro, E.; Akaoka, N.; Tsuchiya, K.; Shishido, T.; Ohuchi, N.;
By: Kako, E.; Noguchi, S.; Yamazaki, M.; Ouchi, N.; Nakata, M.; Kobayashi, H.; Hori, T.; Chishiro, E.; Akaoka, N.; Tsuchiya, K.; Shishido, T.; Ohuchi, N.;
2006 / IEEE
By: Nakamoto, T.; Ohuchi, N.; Ogitsu, T.; Sugita, K.; Yamamoto, A.; Tsuchiya, K.; Shintomi, T.;
By: Nakamoto, T.; Ohuchi, N.; Ogitsu, T.; Sugita, K.; Yamamoto, A.; Tsuchiya, K.; Shintomi, T.;
2006 / IEEE
By: Seki, Y.; Ohno, M.; Okamoto, K.; Watanabe, I.; Urata, M.; Hanai, S.; Kimura, S.; Suzuki, J.; Oku, T.; Nakamura, K.; Shimizu, H.; Adachi, T.; Tsuchiya, K.; Shintomi, T.; Ohuchi, N.; Mitsuda, C.; Takao, T.;
By: Seki, Y.; Ohno, M.; Okamoto, K.; Watanabe, I.; Urata, M.; Hanai, S.; Kimura, S.; Suzuki, J.; Oku, T.; Nakamura, K.; Shimizu, H.; Adachi, T.; Tsuchiya, K.; Shintomi, T.; Ohuchi, N.; Mitsuda, C.; Takao, T.;
2006 / IEEE
By: Lamm, M.J.; Nakamoto, T.; Kerby, J.; Kimura, N.; Karppinen, M.; DiMarco, J.; Bossert, R.; Feher, S.; Yamamoto, A.; Velev, G.V.; Delsolaro, W.V.; Tsuchiya, K.; Taylor, T.; Tartaglia, M.; Sylvester, C.; Strait, J.; Shintomi, T.; Schlabach, P.; Rabehl, R.; Peterson, T.; Page, T.; Ostojic, R.; Ohuchi, N.; Ogitsu, T.; Nobrega, A.; Nicol, T.;
By: Lamm, M.J.; Nakamoto, T.; Kerby, J.; Kimura, N.; Karppinen, M.; DiMarco, J.; Bossert, R.; Feher, S.; Yamamoto, A.; Velev, G.V.; Delsolaro, W.V.; Tsuchiya, K.; Taylor, T.; Tartaglia, M.; Sylvester, C.; Strait, J.; Shintomi, T.; Schlabach, P.; Rabehl, R.; Peterson, T.; Page, T.; Ostojic, R.; Ohuchi, N.; Ogitsu, T.; Nobrega, A.; Nicol, T.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0916-7
By: Abe, T.; Akai, K.; Akemoto, M.; Akiyama, A.; Arinaga, M.; Ebihara, K.; Egawa, K.; Enomoto, A.; Flanagan, J.; Fukuda, S.; Fukuma, H.; Funakoshi, Y.; Furukawa, K.; Furuya, T.; Hara, K.; Higo, T.; Hiramatsu, S.; Hisamatsu, H.; Honma, H.; Honma, T.; Hosoyama, K.; Ieiri, T.; Iida, N.; Ikeda, H.; Ikeda, M.; Inagaki, S.; Isagawa, S.; Ishii, H.; Kabe, A.; Kadokura, E.; Kageyama, T.; Kakihara, K.; Kako, E.; Kamada, S.; Kamitani, T.; Kanazawa, K.; Katagiri, H.; Kato, S.; Kawamoto, T.; Kazakov, S.; Kikuchi, M.; Kikutani, E.; Kitagawa, K.; Koiso, H.; Kojima, Y.; Komada, I.; Kubo, T.; Kudo, K.; Kudo, N.; Marutsuka, K.; Masuzawa, M.; Matsumoto, S.; Matsumoto, T.; Michizono, S.; Mikawa, K.; Mimashi, T.; Mitsunobu, S.; Mori, K.; Morita, A.; Morita, Y.; Nakai, H.; Nakajima, H.; Nakamura, T.T.; Nakanishi, H.; Nakanishi, K.; Nakao, K.; Ninomiya, S.; Ogawa, Y.; Ohmi, K.; Ohsawa, S.; Ohsawa, Y.; Ohnishi, Y.; Ohuchi, N.; Oide, K.; Ono, M.; Ozaki, T.; Saito, K.; Sakai, H.; Sakamoto, Y.; Sato, M.; Satoh, M.; Shibata, K.; Shidara, T.; Shirai, M.; Shirakawa, A.; Sueno, T.; Suetake, M.; Suetsugu, Y.; Sugahara, R.; Sugimura, T.; Suwada, T.; Tajima, O.; Takano, S.; Takasaki, S.; Takenaka, T.; Takeuchi, Y.; Tawada, M.; Tejima, M.; Tobiyama, M.; Tokuda, N.; Uehara, S.; Uno, S.; Yamamoto, Y.; Yano, Y.; Yokoyama, K.; Yoshida, M.; Yoshida, M.; Yoshimoto, S.; Yoshino, K.; Perevedentsev, E.; Shatilov, D.N.;
By: Abe, T.; Akai, K.; Akemoto, M.; Akiyama, A.; Arinaga, M.; Ebihara, K.; Egawa, K.; Enomoto, A.; Flanagan, J.; Fukuda, S.; Fukuma, H.; Funakoshi, Y.; Furukawa, K.; Furuya, T.; Hara, K.; Higo, T.; Hiramatsu, S.; Hisamatsu, H.; Honma, H.; Honma, T.; Hosoyama, K.; Ieiri, T.; Iida, N.; Ikeda, H.; Ikeda, M.; Inagaki, S.; Isagawa, S.; Ishii, H.; Kabe, A.; Kadokura, E.; Kageyama, T.; Kakihara, K.; Kako, E.; Kamada, S.; Kamitani, T.; Kanazawa, K.; Katagiri, H.; Kato, S.; Kawamoto, T.; Kazakov, S.; Kikuchi, M.; Kikutani, E.; Kitagawa, K.; Koiso, H.; Kojima, Y.; Komada, I.; Kubo, T.; Kudo, K.; Kudo, N.; Marutsuka, K.; Masuzawa, M.; Matsumoto, S.; Matsumoto, T.; Michizono, S.; Mikawa, K.; Mimashi, T.; Mitsunobu, S.; Mori, K.; Morita, A.; Morita, Y.; Nakai, H.; Nakajima, H.; Nakamura, T.T.; Nakanishi, H.; Nakanishi, K.; Nakao, K.; Ninomiya, S.; Ogawa, Y.; Ohmi, K.; Ohsawa, S.; Ohsawa, Y.; Ohnishi, Y.; Ohuchi, N.; Oide, K.; Ono, M.; Ozaki, T.; Saito, K.; Sakai, H.; Sakamoto, Y.; Sato, M.; Satoh, M.; Shibata, K.; Shidara, T.; Shirai, M.; Shirakawa, A.; Sueno, T.; Suetake, M.; Suetsugu, Y.; Sugahara, R.; Sugimura, T.; Suwada, T.; Tajima, O.; Takano, S.; Takasaki, S.; Takenaka, T.; Takeuchi, Y.; Tawada, M.; Tejima, M.; Tobiyama, M.; Tokuda, N.; Uehara, S.; Uno, S.; Yamamoto, Y.; Yano, Y.; Yokoyama, K.; Yoshida, M.; Yoshida, M.; Yoshimoto, S.; Yoshino, K.; Perevedentsev, E.; Shatilov, D.N.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0916-7
By: Funakoshi, Y.; Ohmi, K.; Agho, T.; Akai, K.; Ebihara, K.; Egawa, K.; Enomoto, A.; Flanagan, J.; Fukuma, H.; Furukawa, K.; Furuya, T.; Haba, J.; Hiramatsu, S.; Ieiri, T.; Iida, N.; Ikeda, H.; Kageyama, T.; Kamada, S.; Kamitani, T.; Kato, S.; Kikuchi, M.; Kikutani, E.; Koiso, H.; Masuzawa, M.; Mimashi, T.; Morita, A.; Nakamura, T.T.; Nakanishi, K.; Nakayama, H.; Ogawa, Y.; Ohnishi, Y.; Ohuchi, N.; Oide, K.; Ono, M.; Shimada, M.; Suetake, M.; Suetsugu, Y.; Sugimura, T.; Suwada, T.; Tejima, M.; Tobiyama, M.; Tokuda, N.; Uehara, S.; Uno, S.; Yamamoto, Y.; Yano, Y.; Yokoyama, K.; Yoshida, M.; Yoshida, M.; Yoshimoto, S.; Perevedentsev, E.; Shatilov, D.N.;
By: Funakoshi, Y.; Ohmi, K.; Agho, T.; Akai, K.; Ebihara, K.; Egawa, K.; Enomoto, A.; Flanagan, J.; Fukuma, H.; Furukawa, K.; Furuya, T.; Haba, J.; Hiramatsu, S.; Ieiri, T.; Iida, N.; Ikeda, H.; Kageyama, T.; Kamada, S.; Kamitani, T.; Kato, S.; Kikuchi, M.; Kikutani, E.; Koiso, H.; Masuzawa, M.; Mimashi, T.; Morita, A.; Nakamura, T.T.; Nakanishi, K.; Nakayama, H.; Ogawa, Y.; Ohnishi, Y.; Ohuchi, N.; Oide, K.; Ono, M.; Shimada, M.; Suetake, M.; Suetsugu, Y.; Sugimura, T.; Suwada, T.; Tejima, M.; Tobiyama, M.; Tokuda, N.; Uehara, S.; Uno, S.; Yamamoto, Y.; Yano, Y.; Yokoyama, K.; Yoshida, M.; Yoshida, M.; Yoshimoto, S.; Perevedentsev, E.; Shatilov, D.N.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0916-7
By: Funakoshi, Y.; Agho, T.; Akai, K.; Ebihara, K.; Egawa, K.; Enomoto, A.; Flanagan, J.; Fukuma, H.; Furukawa, K.; Furuya, T.; Haba, J.; Hiramatsu, S.; Ieiri, T.; Iida, N.; Ikeda, H.; Kageyama, T.; Kamada, S.; Kamitani, T.; Kato, S.; Kikuchi, M.; Kikutani, E.; Koiso, H.; Masuzawa, M.; Mimashi, T.; Morita, A.; Nakamura, T.T.; Nakanishi, K.; Nakayama, H.; Ogawa, Y.; Ohmi, K.; Ohnishi, Y.; Ohuchi, N.; Oide, K.; Ono, M.; Shimada, M.; Suetake, M.; Suetsugu, Y.; Sugimura, T.; Suwada, T.; Tawada, M.; Tejima, M.; Tobiyama, M.; Tokuda, N.; Uehara, S.; Uno, S.; Yamamoto, N.; Yamamoto, Y.; Yano, Y.; Yokoyama, K.; Yoshida, M.; Yoshida, M.; Yoshimoto, S.; Zimmermann, F.;
By: Funakoshi, Y.; Agho, T.; Akai, K.; Ebihara, K.; Egawa, K.; Enomoto, A.; Flanagan, J.; Fukuma, H.; Furukawa, K.; Furuya, T.; Haba, J.; Hiramatsu, S.; Ieiri, T.; Iida, N.; Ikeda, H.; Kageyama, T.; Kamada, S.; Kamitani, T.; Kato, S.; Kikuchi, M.; Kikutani, E.; Koiso, H.; Masuzawa, M.; Mimashi, T.; Morita, A.; Nakamura, T.T.; Nakanishi, K.; Nakayama, H.; Ogawa, Y.; Ohmi, K.; Ohnishi, Y.; Ohuchi, N.; Oide, K.; Ono, M.; Shimada, M.; Suetake, M.; Suetsugu, Y.; Sugimura, T.; Suwada, T.; Tawada, M.; Tejima, M.; Tobiyama, M.; Tokuda, N.; Uehara, S.; Uno, S.; Yamamoto, N.; Yamamoto, Y.; Yano, Y.; Yokoyama, K.; Yoshida, M.; Yoshida, M.; Yoshimoto, S.; Zimmermann, F.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0916-7
By: Abe, T.; Agho, T.; Akai, K.; Akemoto, M.; Akiyama, A.; Arinaga, M.; Ebihara, K.; Egawa, K.; Enomoto, A.; Flanagan, J.; Fukuda, S.; Fukuma, H.; Funakoshi, Y.; Furukawa, K.; Funiya, T.; Hara, K.; Higo, T.; Hiramatsu, S.; Hisamatsu, H.; Honma, H.; Honma, T.; Hosoyama, K.; Ieiri, T.; Iida, N.; Ikeda, H.; Ikeda, M.; Inagaki, S.; Isagawa, S.; Ishii, H.; Kabe, A.; Kadokura, E.; Kageyama, T.; Kakihara, K.; Kako, E.; Kamada, S.; Kamitani, T.; Kanazawa, K.; Katagiri, H.; Kato, S.; Kawamoto, T.; Kazakov, S.; Kikuchi, M.; Kikutani, E.; Kitagawa, K.; Koiso, H.; Kojima, Y.; Komada, I.; Kubo, T.; Kudo, K.; Kudo, N.; Marutsuka, K.; Masuzawa, M.; Matsumoto, S.; Matsumoto, T.; Michizono, S.; Mikawa, K.; Mimashi, T.; Mitsunobu, S.; Mori, K.; Morita, A.; Morita, Y.; Nakai, H.; Nakajima, H.; Nakamura, T.T.; Nakanishi, H.; Nakanishi, K.; Nakao, K.; Ninomiya, S.; Ogawa, Y.; Ohmi, K.; Ohsawa, S.; Ohsawa, Y.; Ohnishi, Y.; Ohuchi, N.; Oide, K.; Ono, M.; Ozaki, T.; Saito, K.; Sakai, H.; Sakamoto, Y.; Sato, M.; Satoh, M.; Shibata, K.; Shidara, T.; Shirai, M.; Shirakawa, A.; Sueno, T.; Suetake, M.; Suetsugu, Y.; Sugahara, R.; Sugimura, T.; Suwada, T.; Tajima, O.; Takano, S.; Takasaki, S.; Takenaka, T.; Takeuchi, Y.; Tawada, M.; Tejima, M.; Tobiyama, M.; Tokuda, N.; Uehara, S.; Uno, S.; Yamamoto, Y.; Yano, Y.; Yokoyama, K.; Yoshida, M.; Yoshida, M.; Yoshimoto, S.; Yoshino, K.; Perevedentsev, E.; Shatilov, D.N.;
By: Abe, T.; Agho, T.; Akai, K.; Akemoto, M.; Akiyama, A.; Arinaga, M.; Ebihara, K.; Egawa, K.; Enomoto, A.; Flanagan, J.; Fukuda, S.; Fukuma, H.; Funakoshi, Y.; Furukawa, K.; Funiya, T.; Hara, K.; Higo, T.; Hiramatsu, S.; Hisamatsu, H.; Honma, H.; Honma, T.; Hosoyama, K.; Ieiri, T.; Iida, N.; Ikeda, H.; Ikeda, M.; Inagaki, S.; Isagawa, S.; Ishii, H.; Kabe, A.; Kadokura, E.; Kageyama, T.; Kakihara, K.; Kako, E.; Kamada, S.; Kamitani, T.; Kanazawa, K.; Katagiri, H.; Kato, S.; Kawamoto, T.; Kazakov, S.; Kikuchi, M.; Kikutani, E.; Kitagawa, K.; Koiso, H.; Kojima, Y.; Komada, I.; Kubo, T.; Kudo, K.; Kudo, N.; Marutsuka, K.; Masuzawa, M.; Matsumoto, S.; Matsumoto, T.; Michizono, S.; Mikawa, K.; Mimashi, T.; Mitsunobu, S.; Mori, K.; Morita, A.; Morita, Y.; Nakai, H.; Nakajima, H.; Nakamura, T.T.; Nakanishi, H.; Nakanishi, K.; Nakao, K.; Ninomiya, S.; Ogawa, Y.; Ohmi, K.; Ohsawa, S.; Ohsawa, Y.; Ohnishi, Y.; Ohuchi, N.; Oide, K.; Ono, M.; Ozaki, T.; Saito, K.; Sakai, H.; Sakamoto, Y.; Sato, M.; Satoh, M.; Shibata, K.; Shidara, T.; Shirai, M.; Shirakawa, A.; Sueno, T.; Suetake, M.; Suetsugu, Y.; Sugahara, R.; Sugimura, T.; Suwada, T.; Tajima, O.; Takano, S.; Takasaki, S.; Takenaka, T.; Takeuchi, Y.; Tawada, M.; Tejima, M.; Tobiyama, M.; Tokuda, N.; Uehara, S.; Uno, S.; Yamamoto, Y.; Yano, Y.; Yokoyama, K.; Yoshida, M.; Yoshida, M.; Yoshimoto, S.; Yoshino, K.; Perevedentsev, E.; Shatilov, D.N.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0916-7
By: Masuzawa, M.; Hisamatsu, H.; Hayano, H.; Masumoto, T.; Itou, Y.; Tagawa, T.; Noguchi, S.; Kajiura, S.; Semba, T.; Tsuchiya, K.; Terashima, A.; Saito, K.; Ohuchi, N.;
By: Masuzawa, M.; Hisamatsu, H.; Hayano, H.; Masumoto, T.; Itou, Y.; Tagawa, T.; Noguchi, S.; Kajiura, S.; Semba, T.; Tsuchiya, K.; Terashima, A.; Saito, K.; Ohuchi, N.;
2010 / IEEE
By: Takeda, M.; Ohuchi, N.; Fukabori, A.; Tanaka, H.; Furuya, Y.; Maeo, S.; Fujimoto, Y.; Abe, N.; Ito, M.; Rodrigues dos Santos, T.; Sasaki, K.; Kumagai, K.; Baba, M.; Miyake, M.; Yamamoto, S.; Usuki, Y.; Kamada, K.; Yokota, Y.; Yoshikawa, A.; Yanagida, T.;
By: Takeda, M.; Ohuchi, N.; Fukabori, A.; Tanaka, H.; Furuya, Y.; Maeo, S.; Fujimoto, Y.; Abe, N.; Ito, M.; Rodrigues dos Santos, T.; Sasaki, K.; Kumagai, K.; Baba, M.; Miyake, M.; Yamamoto, S.; Usuki, Y.; Kamada, K.; Yokota, Y.; Yoshikawa, A.; Yanagida, T.;
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap