Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Oh, Y.K.
Results
2012 / IEEE
By: Oh, Y.K.; Lee, K.S.; Bang, E.N.; Kim, K.M.; Park, K.R.; Kwon, M.; Yang, H.L.; Kim, H.T.; Sa, J.W.; Kim, H.K.; Kim, Y.O.;
By: Oh, Y.K.; Lee, K.S.; Bang, E.N.; Kim, K.M.; Park, K.R.; Kwon, M.; Yang, H.L.; Kim, H.T.; Sa, J.W.; Kim, H.K.; Kim, Y.O.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0668-4
By: Jang, H.S.; Im, B.S.; Im, K.H.; Her, N.I.; Choi, C.H.; Lee, G.S.; Kwon, M.; Hong, H.; Park, K.H.D.S.; Ha, T.H.; Kim, K.H.; Park, M.K.; Cho, K.W.; Kim, H.K.; Sa, J.W.; Park, K.R.; Kim, W.C.; Park, Y.M.; Kim, B.C.; Kim, Y.S.; Oh, Y.K.; Kim, K.; Bak, J.S.; Yang, H.L.;
By: Jang, H.S.; Im, B.S.; Im, K.H.; Her, N.I.; Choi, C.H.; Lee, G.S.; Kwon, M.; Hong, H.; Park, K.H.D.S.; Ha, T.H.; Kim, K.H.; Park, M.K.; Cho, K.W.; Kim, H.K.; Sa, J.W.; Park, K.R.; Kim, W.C.; Park, Y.M.; Kim, B.C.; Kim, Y.S.; Oh, Y.K.; Kim, K.; Bak, J.S.; Yang, H.L.;
1997 / IEEE / 0-7803-4226-7
By: Jung, Y.S.; Kessel, C.; Kim, D.L.; Kim, K.S.; Kim, J.Y.; Kim, W.C.; Kyum, M.C.; Lee, D.Y.; Lee, B.Y.; Lee, D.K.; Lee, S.G.; Lim, J.Y.; Manickam, J.; Montgomery, B.; Namkung, W.; Nevins, W.; Oh, Y.K.; Park, J.H.; Pomphrey, N.; Reiersen, W.; Schultz, J.H.; Schmidt, J.A.; Simmons, R.T.; Sinnis, J.C.; Swain, D.W.; Sevier, L.; Wang, P.W.; Yang, J.G.; You, G.H.; Yoon, B.J.; Young, K.M.; Choi, D.I.; Lee, G.S.; Jinchoon Kim; Park, H.K.; Chang, C.S.; Choi, B.H.; Kim, K.; Cho, M.H.; Neilson, G.H.; Baang, S.; Bernabei, S.; Brown, T.; Chang, H.Y.; Cho, C.H.; Cho, S.; Cho, Y.S.; Chung, K.H.; Kie-Hyung Chung; Dahlgren, F.; Grisham, L.; Han, J.H.; Huh, N.I.; Hwang, S.M.; Hwang, Y.S.; Hill, D.; Hong, B.G.; Hong, J.S.; Hong, S.H.; Im, K.H.; In, S.R.; Jardin, S.; Jhang, H.G.; Joo, M.;
By: Jung, Y.S.; Kessel, C.; Kim, D.L.; Kim, K.S.; Kim, J.Y.; Kim, W.C.; Kyum, M.C.; Lee, D.Y.; Lee, B.Y.; Lee, D.K.; Lee, S.G.; Lim, J.Y.; Manickam, J.; Montgomery, B.; Namkung, W.; Nevins, W.; Oh, Y.K.; Park, J.H.; Pomphrey, N.; Reiersen, W.; Schultz, J.H.; Schmidt, J.A.; Simmons, R.T.; Sinnis, J.C.; Swain, D.W.; Sevier, L.; Wang, P.W.; Yang, J.G.; You, G.H.; Yoon, B.J.; Young, K.M.; Choi, D.I.; Lee, G.S.; Jinchoon Kim; Park, H.K.; Chang, C.S.; Choi, B.H.; Kim, K.; Cho, M.H.; Neilson, G.H.; Baang, S.; Bernabei, S.; Brown, T.; Chang, H.Y.; Cho, C.H.; Cho, S.; Cho, Y.S.; Chung, K.H.; Kie-Hyung Chung; Dahlgren, F.; Grisham, L.; Han, J.H.; Huh, N.I.; Hwang, S.M.; Hwang, Y.S.; Hill, D.; Hong, B.G.; Hong, J.S.; Hong, S.H.; Im, K.H.; In, S.R.; Jardin, S.; Jhang, H.G.; Joo, M.;
1999 / IEEE / 0-7803-5661-6
By: Kim, T.I.; Choo, A.G.; Ma, J.S.; Oh, Y.K.; Ahn, J.H.; Lee, S.H.; Jeong, J.;
By: Kim, T.I.; Choo, A.G.; Ma, J.S.; Oh, Y.K.; Ahn, J.H.; Lee, S.H.; Jeong, J.;
1999 / IEEE / 0-7803-5661-6
By: Yu, J.S.; Bang, D.S.; Cho, S.R.; Ha, H.C.; Lee, S.D.; Oh, Y.K.; Kim, N.H.; Kim, T.I.; Choo, A.G.; Ma, J.S.;
By: Yu, J.S.; Bang, D.S.; Cho, S.R.; Ha, H.C.; Lee, S.D.; Oh, Y.K.; Kim, N.H.; Kim, T.I.; Choo, A.G.; Ma, J.S.;
2001 / IEEE
By: Park, Y.M.; Kim, Y.S.; Oh, Y.K.; Choi, C.H.; Ri, H.-C.; Lee, G.S.; Ivanov, D.; Kim, D.L.;
By: Park, Y.M.; Kim, Y.S.; Oh, Y.K.; Choi, C.H.; Ri, H.-C.; Lee, G.S.; Ivanov, D.; Kim, D.L.;
2001 / IEEE
By: Her, N.I.; Kim, J.Y.; Jhang, H.G.; You, K.-I.; Lee, G.S.; Lee, D.K.; Sa, J.W.; Choi, C.H.; Oh, Y.K.;
By: Her, N.I.; Kim, J.Y.; Jhang, H.G.; You, K.-I.; Lee, G.S.; Lee, D.K.; Sa, J.W.; Choi, C.H.; Oh, Y.K.;
2001 / IEEE
By: Kim, T.I.; Choo, A.G.; Oh, Y.K.; Ma, J.S.; Yonggyoo Kim; Ahn, J.H.; Lee, S.H.; Jichai Jeong;
By: Kim, T.I.; Choo, A.G.; Oh, Y.K.; Ma, J.S.; Yonggyoo Kim; Ahn, J.H.; Lee, S.H.; Jichai Jeong;
2002 / IEEE
By: Oh, Y.K.; Choi, C.H.; Lee, S.C.; Kwon, T.H.; Lee, Y.W.; Lee, D.K.; Hong, C.D.; Ahn, H.J.; Kim, D.S.; Lee, J.S.;
By: Oh, Y.K.; Choi, C.H.; Lee, S.C.; Kwon, T.H.; Lee, Y.W.; Lee, D.K.; Hong, C.D.; Ahn, H.J.; Kim, D.S.; Lee, J.S.;
2002 / IEEE
By: Choi, C.H.; Cho, S.; Kim, J.Y.; You, K.-I.; Lee, D.K.; Oh, Y.K.; Ahn, H.J.; Sa, J.W.;
By: Choi, C.H.; Cho, S.; Kim, J.Y.; You, K.-I.; Lee, D.K.; Oh, Y.K.; Ahn, H.J.; Sa, J.W.;
2002 / IEEE
By: Her, N.I.; Park, Y.M.; Kim, Y.S.; Lee, G.S.; Kim, K.; Sa, J.W.; Choi, C.H.; Oh, Y.K.;
By: Her, N.I.; Park, Y.M.; Kim, Y.S.; Lee, G.S.; Kim, K.; Sa, J.W.; Choi, C.H.; Oh, Y.K.;
2002 / IEEE
By: Lee, D.K.; You, K.-I.; Sa, J.W.; Choi, C.H.; Oh, Y.K.; Hong, C.D.; Kwon, M.; Lee, S.C.; Lee, Y.W.; Lee, J.S.; Kwon, T.H.; Ahn, H.J.; Lee, G.S.;
By: Lee, D.K.; You, K.-I.; Sa, J.W.; Choi, C.H.; Oh, Y.K.; Hong, C.D.; Kwon, M.; Lee, S.C.; Lee, Y.W.; Lee, J.S.; Kwon, T.H.; Ahn, H.J.; Lee, G.S.;
2002 / IEEE / 0-7803-7073-2
By: Ahn, H.J.; Her, N.I.; Lee, G.S.; Kwon, M.; Bak, J.S.; Choi, C.H.; Oh, Y.K.; Kim, W.C.; Kim, D.L.; Kim, J.H.; Yu, I.K.; Kim, B.C.; Kim, H.K.; Park, J.Y.; Kim, G.H.; Hong, G.H.; Im, K.H.; Sa, J.W.; Cho, S.;
By: Ahn, H.J.; Her, N.I.; Lee, G.S.; Kwon, M.; Bak, J.S.; Choi, C.H.; Oh, Y.K.; Kim, W.C.; Kim, D.L.; Kim, J.H.; Yu, I.K.; Kim, B.C.; Kim, H.K.; Park, J.Y.; Kim, G.H.; Hong, G.H.; Im, K.H.; Sa, J.W.; Cho, S.;
2002 / IEEE / 0-7803-7073-2
By: Choi, C.H.; Sa, J.W.; Lee, G.S.; Bak, J.S.; Kwon, M.; Her, N.I.; Cho, S.; Oh, Y.K.; Lee, D.K.; Kim, K.; Kim, Y.S.; Park, Y.M.; Cho, K.J.; Ahn, H.J.;
By: Choi, C.H.; Sa, J.W.; Lee, G.S.; Bak, J.S.; Kwon, M.; Her, N.I.; Cho, S.; Oh, Y.K.; Lee, D.K.; Kim, K.; Kim, Y.S.; Park, Y.M.; Cho, K.J.; Ahn, H.J.;
2004 / IEEE
By: Kwon, M.; Lee, G.S.; Park, Y.M.; Kim, W.C.; Kim, Y.S.; Kim, K.; Oh, Y.K.; Her, N.I.; Kim, B.C.; Kim, H.K.; Sa, J.W.; Yang, H.L.; Choi, C.H.; Bak, J.S.; Team, K.S.T.A.R.;
By: Kwon, M.; Lee, G.S.; Park, Y.M.; Kim, W.C.; Kim, Y.S.; Kim, K.; Oh, Y.K.; Her, N.I.; Kim, B.C.; Kim, H.K.; Sa, J.W.; Yang, H.L.; Choi, C.H.; Bak, J.S.; Team, K.S.T.A.R.;
2004 / IEEE
By: Park, Y.M.; Lee, Y.J.; Lee, G.S.; Bak, J.S.; Oh, Y.K.; Kim, W.C.; Jin, S.B.; Kim, Y.S.;
By: Park, Y.M.; Lee, Y.J.; Lee, G.S.; Bak, J.S.; Oh, Y.K.; Kim, W.C.; Jin, S.B.; Kim, Y.S.;
2004 / IEEE / 1-55752-772-5
By: Shim, C.S.; Kim, T.I.; Oh, Y.J.; Ko, J.H.; Hwang, S.T.; Lee, Ch.; Shin, D.J.; Kim, H.S.; Lee, J.H.; Oh, Y.K.; Lee, J.K.; Jung, D.K.;
By: Shim, C.S.; Kim, T.I.; Oh, Y.J.; Ko, J.H.; Hwang, S.T.; Lee, Ch.; Shin, D.J.; Kim, H.S.; Lee, J.H.; Oh, Y.K.; Lee, J.K.; Jung, D.K.;
2005 / IEEE
By: Lee, S.J.; Park, H.; Baek, S.; Chung, W.; Park, K.; Lee, G.S.; Bak, J.S.; Kim, K.; Oh, Y.K.; Ahn, S.; Lim, B.; Lee, D.; Lee, K.; Joo, J.; Kim, K.P.; Lee, S.; Chu, Y.;
By: Lee, S.J.; Park, H.; Baek, S.; Chung, W.; Park, K.; Lee, G.S.; Bak, J.S.; Kim, K.; Oh, Y.K.; Ahn, S.; Lim, B.; Lee, D.; Lee, K.; Joo, J.; Kim, K.P.; Lee, S.; Chu, Y.;
2005 / IEEE
By: Bak, J.S.; Suh, Y.; Oh, Y.K.; Pak, K.; Chu, Y.; Chung, W.; Lee, S.I.; Park, H.K.; Park, H.T.; Kim, C.S.; Choi, J.Y.; Lim, B.S.; Kim, S.Y.; Kim, K.; Yoon, C.S.;
By: Bak, J.S.; Suh, Y.; Oh, Y.K.; Pak, K.; Chu, Y.; Chung, W.; Lee, S.I.; Park, H.K.; Park, H.T.; Kim, C.S.; Choi, J.Y.; Lim, B.S.; Kim, S.Y.; Kim, K.; Yoon, C.S.;
2004 / IEEE / 0-7803-8595-0
By: Lee, E.H.; Lee, J.K.; Kim, T.; Oh, Y.K.; Shin, D.J.; Kim, H.S.; Lee, J.H.; Kim, J.Y.; Bang, Y.C.;
By: Lee, E.H.; Lee, J.K.; Kim, T.; Oh, Y.K.; Shin, D.J.; Kim, H.S.; Lee, J.H.; Kim, J.Y.; Bang, Y.C.;
2005 / IEEE / 1-55752-783-0
By: Park, M.K.; Park, J.W.; Lee, J.K.; Lee, E.H.; Kwon, J.W.; Keh, Y.C.; Shin, D.J.; Shim, C.S.; Jang, D.H.; Oh, Y.J.; Seongtaek Hwang; Jung, D.K.; Park, S.B.; Kim, H.S.; Shin, H.S.; Lee, J.S.; Heo, D.; Shin, H.C.; Yun, I.K.; Kim, S.W.; Oh, Y.K.; Kang, J.K.;
By: Park, M.K.; Park, J.W.; Lee, J.K.; Lee, E.H.; Kwon, J.W.; Keh, Y.C.; Shin, D.J.; Shim, C.S.; Jang, D.H.; Oh, Y.J.; Seongtaek Hwang; Jung, D.K.; Park, S.B.; Kim, H.S.; Shin, H.S.; Lee, J.S.; Heo, D.; Shin, H.C.; Yun, I.K.; Kim, S.W.; Oh, Y.K.; Kang, J.K.;
2005 / IEEE
By: Jang, D.H.; Oh, Y.K.; Lee, J.H.; Lee, E.H.; Baek, J.M.; Rhee, D.Y.; Park, J.W.; Kwon, J.W.;
By: Jang, D.H.; Oh, Y.K.; Lee, J.H.; Lee, E.H.; Baek, J.M.; Rhee, D.Y.; Park, J.W.; Kwon, J.W.;
2005 / IEEE / 0-7803-8891-7
By: Oh, Y.K.; Lee, J.K.; Lee, J.S.; Park, S.S.; Shin, D.J.; Hwang, S.L.; Jang, D.H.; Kim, Y.H.; Bang, Y.C.; Kang, J.K.; Keh, Y.C.; Lee, E.H.;
By: Oh, Y.K.; Lee, J.K.; Lee, J.S.; Park, S.S.; Shin, D.J.; Hwang, S.L.; Jang, D.H.; Kim, Y.H.; Bang, Y.C.; Kang, J.K.; Keh, Y.C.; Lee, E.H.;
2005 / IEEE / 0-7803-9217-5
By: Shin, D.J.; Kim, H.S.; Kim, S.W.; Jung, D.K.; Shin, H.C.; Yun, I.K.; Lee, J.S.; Heo, D.; Shim, C.S.; Jang, D.H.; Oh, Y.K.; Oh, Y.J.; Hwang, S.T.; Park, S.B.; Shin, H.S.;
By: Shin, D.J.; Kim, H.S.; Kim, S.W.; Jung, D.K.; Shin, H.C.; Yun, I.K.; Lee, J.S.; Heo, D.; Shim, C.S.; Jang, D.H.; Oh, Y.K.; Oh, Y.J.; Hwang, S.T.; Park, S.B.; Shin, H.S.;
2006 / IEEE
By: Dong Jae Shin; Shim, C.S.; Keh, Y.C.; Kwon, J.W.; Lee, E.H.; Lee, J.K.; Park, M.K.; Park, J.W.; Oh, Y.K.; Kim, S.W.; Yun, I.K.; Shin, H.C.; Heo, D.; Lee, J.S.; Shin, H.S.; Kim, H.S.; Park, S.B.; Jung, D.K.; Seongtaek Hwang; Oh, Y.J.; Jang, D.H.;
By: Dong Jae Shin; Shim, C.S.; Keh, Y.C.; Kwon, J.W.; Lee, E.H.; Lee, J.K.; Park, M.K.; Park, J.W.; Oh, Y.K.; Kim, S.W.; Yun, I.K.; Shin, H.C.; Heo, D.; Lee, J.S.; Shin, H.S.; Kim, H.S.; Park, S.B.; Jung, D.K.; Seongtaek Hwang; Oh, Y.J.; Jang, D.H.;
Uncooled C-band wide-band gain lasers with 32-channel coverage and -20-dBm ASE injection for WDM-PON
2006 / IEEEBy: Oh, Y.K.; Lee, J.K.; Kim, I.; Park, S.S.; Lee, J.S.; Jang, D.H.; Shin, D.J.; Keh, Y.C.; Kang, J.K.; Bang, Y.C.; Lee, E.H.;
2006 / IEEE
By: Kim, K.; Bak, J.S.; Lim, B.S.; Park, K.R.; Cho, K.W.; Kim, J.S.; Oh, Y.K.; Baek, S.H.; Yonekawa, H.; Park, S.H.; Choi, S.M.; Lee, S.J.; Chung, W.H.; Chu, Y.; Lee, S.; Lee, G.S.;
By: Kim, K.; Bak, J.S.; Lim, B.S.; Park, K.R.; Cho, K.W.; Kim, J.S.; Oh, Y.K.; Baek, S.H.; Yonekawa, H.; Park, S.H.; Choi, S.M.; Lee, S.J.; Chung, W.H.; Chu, Y.; Lee, S.; Lee, G.S.;
2005 / IEEE / 0-4244-0159-6
By: Oh, Y.K.; Yang, H.L.; Bak, J.S.; Lee, G.S.; Park, Y.M.; Sa, J.W.; Choi, C.H.; Im, B.S.; Park, K.R.;
By: Oh, Y.K.; Yang, H.L.; Bak, J.S.; Lee, G.S.; Park, Y.M.; Sa, J.W.; Choi, C.H.; Im, B.S.; Park, K.R.;
2007 / IEEE
By: Oh, Y.K.; Kim, K.; Lee, H.; Yonekawa, H.; Park, K.; Kim, J.; Park, S.H.; Baek, S.; Lee, S.; Chu, Y.; Chung, W.; Wang, Q.; Jeong, S.; Bak, J.S.;
By: Oh, Y.K.; Kim, K.; Lee, H.; Yonekawa, H.; Park, K.; Kim, J.; Park, S.H.; Baek, S.; Lee, S.; Chu, Y.; Chung, W.; Wang, Q.; Jeong, S.; Bak, J.S.;
2008 / IEEE
By: Park, S.H.; Chung, W.; Oh, Y.K.; Kim, Y.S.; Kim, W.C.; Park, K.R.; Cho, K.W.; Bak, J.S.; Chu, Y.; Yonekawa, H.; Kim, J.S.; Park, W.W.; Moon, K.M.; Han, W.S.; Lee, H.J.;
By: Park, S.H.; Chung, W.; Oh, Y.K.; Kim, Y.S.; Kim, W.C.; Park, K.R.; Cho, K.W.; Bak, J.S.; Chu, Y.; Yonekawa, H.; Kim, J.S.; Park, W.W.; Moon, K.M.; Han, W.S.; Lee, H.J.;
2009 / IEEE
By: Lee, Y.J.; Bak, J.S.; Kim, Y.S.; Jang, H.S.; Kwag, S.W.; Chang, Y.B.; Park, H.T.; Woo, I.S.; Song, N.H.; Bang, E.N.; Ha, T.H.; Baek, S.; Kim, M.K.; Kim, W.C.; Oh, Y.K.; Park, Y.M.;
By: Lee, Y.J.; Bak, J.S.; Kim, Y.S.; Jang, H.S.; Kwag, S.W.; Chang, Y.B.; Park, H.T.; Woo, I.S.; Song, N.H.; Bang, E.N.; Ha, T.H.; Baek, S.; Kim, M.K.; Kim, W.C.; Oh, Y.K.; Park, Y.M.;
2009 / IEEE
By: Bak, J.S.; Oh, Y.K.; Ha, T.H.; Lee, S.J.; Park, Y.M.; Yong Chu; Hyun Jung Lee; Park, K.R.; Kim, Y.O.; Yonekawa, H.; Park, M.K.;
By: Bak, J.S.; Oh, Y.K.; Ha, T.H.; Lee, S.J.; Park, Y.M.; Yong Chu; Hyun Jung Lee; Park, K.R.; Kim, Y.O.; Yonekawa, H.; Park, M.K.;
2009 / IEEE
By: Soo Hwan Park; Han, W.S.; Moon, K.M.; Park, W.W.; Kim, J.S.; Yonekawa, H.; Bak, J.S.; Hyun Jung Lee; Cho, K.W.; Park, K.R.; Kim, W.C.; Yaung-Soo Kim; Oh, Y.K.; Yong Chu;
By: Soo Hwan Park; Han, W.S.; Moon, K.M.; Park, W.W.; Kim, J.S.; Yonekawa, H.; Bak, J.S.; Hyun Jung Lee; Cho, K.W.; Park, K.R.; Kim, W.C.; Yaung-Soo Kim; Oh, Y.K.; Yong Chu;
2009 / IEEE
By: Bang, E.N.; Park, K.R.; Soo Hwan Park; Lee, D.K.; Lee, K.S.; Hahn, S.H.; Yoon, S.W.; Hyun Jung Lee; Kim, Y.O.; Yonekawa, H.; Yong Chu; Leuer, J.A.; Bak, J.S.; Oh, Y.K.;
By: Bang, E.N.; Park, K.R.; Soo Hwan Park; Lee, D.K.; Lee, K.S.; Hahn, S.H.; Yoon, S.W.; Hyun Jung Lee; Kim, Y.O.; Yonekawa, H.; Yong Chu; Leuer, J.A.; Bak, J.S.; Oh, Y.K.;
2009 / IEEE
By: Yaung-Soo Kim; Lee, G.S.; Lee, Y.J.; Kwag, S.W.; Chang, Y.B.; Song, N.H.; Woo, I.S.; Park, H.T.; Cho, K.W.; Chang, H.S.; Park, D.S.; Joo, J.J.; Moon, K.M.; Park, K.R.; Yong Chu; Yonekawa, H.; Kim, Y.O.; Bang, E.N.; Kim, H.K.; Kim, K.P.; Park, M.K.; Baek, S.; Hong, J.S.; Ha, T.H.; Kim, Y.J.; Hwang, I.S.; Yang, H.L.; Oh, Y.K.; Bak, J.S.; Kwon, M.; Park, Y.M.;
By: Yaung-Soo Kim; Lee, G.S.; Lee, Y.J.; Kwag, S.W.; Chang, Y.B.; Song, N.H.; Woo, I.S.; Park, H.T.; Cho, K.W.; Chang, H.S.; Park, D.S.; Joo, J.J.; Moon, K.M.; Park, K.R.; Yong Chu; Yonekawa, H.; Kim, Y.O.; Bang, E.N.; Kim, H.K.; Kim, K.P.; Park, M.K.; Baek, S.; Hong, J.S.; Ha, T.H.; Kim, Y.J.; Hwang, I.S.; Yang, H.L.; Oh, Y.K.; Bak, J.S.; Kwon, M.; Park, Y.M.;
2009 / IEEE
By: Hahn, S.H.; Kim, K.H.; Choi, J.H.; Lee, D.K.; Chang, H.S.; Lee, Y.J.; Park, S.H.; Park, Y.M.; Hyun Jung Lee; Kim, Y.O.; Baang, E.N.; Yonekawa, H.; Yong Chu; Park, K.R.; Bak, J.S.; Oh, Y.K.; Kim, Y.S.; Cho, K.W.; Park, M.K.; Hwang, I.S.;
By: Hahn, S.H.; Kim, K.H.; Choi, J.H.; Lee, D.K.; Chang, H.S.; Lee, Y.J.; Park, S.H.; Park, Y.M.; Hyun Jung Lee; Kim, Y.O.; Baang, E.N.; Yonekawa, H.; Yong Chu; Park, K.R.; Bak, J.S.; Oh, Y.K.; Kim, Y.S.; Cho, K.W.; Park, M.K.; Hwang, I.S.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2635-5
By: Yang, H.L.; Kim, W.C.; Park, K.R.; Park, M.K.; Bae, Y.S.; Kim, Y.S.; Kim, J.; Yoon, S.W.; Jeon, Y.M.; Jin, J.K.; Choi, J.H.; Sang-hee Hahn; Mueller, D.; Jackson, G.L.; Hyatt, A.W.; Eidietis, N.W.; Leuer, J.A.; Welander, A.S.; Johnson, R.D.; Piglowski, D.A.; Penaflor, B.C.; Humphreys, D.A.; Walker, M.L.; Kwon, M.; Oh, Y.K.;
By: Yang, H.L.; Kim, W.C.; Park, K.R.; Park, M.K.; Bae, Y.S.; Kim, Y.S.; Kim, J.; Yoon, S.W.; Jeon, Y.M.; Jin, J.K.; Choi, J.H.; Sang-hee Hahn; Mueller, D.; Jackson, G.L.; Hyatt, A.W.; Eidietis, N.W.; Leuer, J.A.; Welander, A.S.; Johnson, R.D.; Piglowski, D.A.; Penaflor, B.C.; Humphreys, D.A.; Walker, M.L.; Kwon, M.; Oh, Y.K.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2635-5
By: Penaflor, B.G.; Johnson, R.D.; Walker, M.L.; Welander, A.S.; Yoon, S.W.; Hahn, S.H.; Oh, Y.K.; Xiao, B.J.; Wang, H.Z.; Yuan, Q.P.; Mueller, D.; Piglowski, D.A.; Jackson, G.L.; Hyatt, A.W.; Humphreys, D.A.; Ferron, J.R.; Eidietis, N.W.; Leuer, J.A.;
By: Penaflor, B.G.; Johnson, R.D.; Walker, M.L.; Welander, A.S.; Yoon, S.W.; Hahn, S.H.; Oh, Y.K.; Xiao, B.J.; Wang, H.Z.; Yuan, Q.P.; Mueller, D.; Piglowski, D.A.; Jackson, G.L.; Hyatt, A.W.; Humphreys, D.A.; Ferron, J.R.; Eidietis, N.W.; Leuer, J.A.;
2010 / IEEE
By: Leuer, J.A.; Eidietis, N.W.; Yuan, Q.P.; Wang, H.Z.; Xiao, B.J.; Oh, Y.K.; Hahn, S.H.; Yoon, S.W.; Welander, A.S.; Mueller, D.; Walker, M.L.; Piglowski, D.A.; Penaflor, B.G.; Johnson, R.D.; Jackson, G.L.; Hyatt, A.W.; Humphreys, D.A.; Ferron, J.R.;
By: Leuer, J.A.; Eidietis, N.W.; Yuan, Q.P.; Wang, H.Z.; Xiao, B.J.; Oh, Y.K.; Hahn, S.H.; Yoon, S.W.; Welander, A.S.; Mueller, D.; Walker, M.L.; Piglowski, D.A.; Penaflor, B.G.; Johnson, R.D.; Jackson, G.L.; Hyatt, A.W.; Humphreys, D.A.; Ferron, J.R.;
2010 / IEEE
By: Oh, Y.K.; Yonekawa, H.; Park, S.H.; Chu, Y.; Na, H.K.; Kim, Y.O.; Park, K.R.; Lee, S.J.; Kim, K.P.; Lee, H.J.;
By: Oh, Y.K.; Yonekawa, H.; Park, S.H.; Chu, Y.; Na, H.K.; Kim, Y.O.; Park, K.R.; Lee, S.J.; Kim, K.P.; Lee, H.J.;
2010 / IEEE
By: Hahn, S.H.; Choi, J.H.; Park, H.T.; Park, Y.M.; Chu, Y.; Park, K.R.; Lee, H.J.; Oh, D.K.; Yang, H.L.; Oh, Y.K.;
By: Hahn, S.H.; Choi, J.H.; Park, H.T.; Park, Y.M.; Chu, Y.; Park, K.R.; Lee, H.J.; Oh, D.K.; Yang, H.L.; Oh, Y.K.;
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap