Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Ogata, S.
Results
2012 / IEEE / 978-1-4673-1257-8
By: Norimatsu, K.; Kurihara, M.; Akutsu, H.; Li Zhang; Nagamine, S.; Hara, K.; Hayase, Y.; Ogata, S.;
By: Norimatsu, K.; Kurihara, M.; Akutsu, H.; Li Zhang; Nagamine, S.; Hara, K.; Hayase, Y.; Ogata, S.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-1597-6
By: Miyanagi, Y.; Hayashi, T.; Nakayama, K.; Izumi, T.; Ogata, S.; Tanaka, A.; Asano, K.;
By: Miyanagi, Y.; Hayashi, T.; Nakayama, K.; Izumi, T.; Ogata, S.; Tanaka, A.; Asano, K.;
2015 / IEEE
By: Fukuda, K.; Okamoto, D.; Kimoto, T.; Okumura, H.; Asano, K.; Ogata, S.; Hayashi, T.; Izumi, T.; Shinohe, T.; Takao, K.; Matsunaga, S.; Takei, M.; Arai, M.; Katakami, S.; Kato, T.; Yonezawa, Y.; Tanaka, Y.; Harada, S.; Okamoto, M.; Deguchi, T.; Mizushima, T.; Takenaka, K.; Fujisawa, H.;
By: Fukuda, K.; Okamoto, D.; Kimoto, T.; Okumura, H.; Asano, K.; Ogata, S.; Hayashi, T.; Izumi, T.; Shinohe, T.; Takao, K.; Matsunaga, S.; Takei, M.; Arai, M.; Katakami, S.; Kato, T.; Yonezawa, Y.; Tanaka, Y.; Harada, S.; Okamoto, M.; Deguchi, T.; Mizushima, T.; Takenaka, K.; Fujisawa, H.;
1990 / IEEE
By: Yokoyama, S.; Yamanouchi, H.; Yoshida, S.; Okiai, R.; Terashima, K.; Maekawa, Y.; Ogata, S.;
By: Yokoyama, S.; Yamanouchi, H.; Yoshida, S.; Okiai, R.; Terashima, K.; Maekawa, Y.; Ogata, S.;
1991 / IEEE / 0-7803-0453-5
By: Tomiku, M.; Yokoyama, M.; Hirano, M.; Kawashima, Y.; Ogata, S.; Kuno, T.;
By: Tomiku, M.; Yokoyama, M.; Hirano, M.; Kawashima, Y.; Ogata, S.; Kuno, T.;
1995 / IEEE / 0-7803-2140-5
By: Ogata, S.; Hashimoto, K.; Tokunaga, M.; Shimotashiro, M.; Kurosawa, Y.;
By: Ogata, S.; Hashimoto, K.; Tokunaga, M.; Shimotashiro, M.; Kurosawa, Y.;
1998 / IEEE
By: Ogata, S.; Vashishta, P.; Tsuruta, K.; Kalia, R.K.; Omeltchenko, A.; Ebbsjo, I.; Campbell, T.J.; Bachlechner, M.E.; Nakano, A.; Madhukar, A.;
By: Ogata, S.; Vashishta, P.; Tsuruta, K.; Kalia, R.K.; Omeltchenko, A.; Ebbsjo, I.; Campbell, T.J.; Bachlechner, M.E.; Nakano, A.; Madhukar, A.;
1999 / IEEE / 0-7803-4538-X
By: Yokoo, H.; Hisamune, T.; Nishihashi, T.; Sakurada, Y.; Fujiyama, J.; Kashimoto, K.; Fuwa, K.; Ogata, S.; Kunibe, T.; Iwase, Y.; Miyaya, T.; Shimizu, T.; Tomita, M.; Fukui, R.; Ishiwatari, S.; Niikura, K.; Kimura, N.; Sakuishi, T.;
By: Yokoo, H.; Hisamune, T.; Nishihashi, T.; Sakurada, Y.; Fujiyama, J.; Kashimoto, K.; Fuwa, K.; Ogata, S.; Kunibe, T.; Iwase, Y.; Miyaya, T.; Shimizu, T.; Tomita, M.; Fukui, R.; Ishiwatari, S.; Niikura, K.; Kimura, N.; Sakuishi, T.;
1999 / IEEE / 0-7803-4538-X
By: Yuyama, J.; Fujiyama, J.; Suzuki, H.; Yokoo, H.; Sugimoto, R.; Sakurada, Y.; Iwase, Y.; Sasaki, N.; Ogata, S.; Kunibe, T.;
By: Yuyama, J.; Fujiyama, J.; Suzuki, H.; Yokoo, H.; Sugimoto, R.; Sakurada, Y.; Iwase, Y.; Sasaki, N.; Ogata, S.; Kunibe, T.;
2000 / IEEE
By: Nakano, A.; Vashishta, P.; Walsh, P.; Shimojo, F.; Rino, J.P.; Omeltchenko, A.; Branicio, P.; Ogata, S.; Madhukar, A.; Kalia, R.K.; Ebbsjo, I.; Campbell, T.J.; Bachlechner, M.E.;
By: Nakano, A.; Vashishta, P.; Walsh, P.; Shimojo, F.; Rino, J.P.; Omeltchenko, A.; Branicio, P.; Ogata, S.; Madhukar, A.; Kalia, R.K.; Ebbsjo, I.; Campbell, T.J.; Bachlechner, M.E.;
2001 / IEEE
By: Vashishta, P.; Lidorikis, E.; Kalia, R.K.; Bachlechner, M.E.; Voyiadjis, G.Z.; Shimojo, F.; Nakano, A.; Ogata, S.; Campbell, T.J.;
By: Vashishta, P.; Lidorikis, E.; Kalia, R.K.; Bachlechner, M.E.; Voyiadjis, G.Z.; Shimojo, F.; Nakano, A.; Ogata, S.; Campbell, T.J.;
2001 / IEEE / 0-7803-7324-3
By: Fukazawa, Y.; Mizuno, T.; Kelly, H.; Valtersson, P.; Sjogren, M.; Ozaki, M.; Lindner, T.; Kamae, T.; Handa, T.; Ogata, S.; Mizushima, H.; Hirano, K.;
By: Fukazawa, Y.; Mizuno, T.; Kelly, H.; Valtersson, P.; Sjogren, M.; Ozaki, M.; Lindner, T.; Kamae, T.; Handa, T.; Ogata, S.; Mizushima, H.; Hirano, K.;
2001 / IEEE / 0-7803-7324-3
By: Thompson, D.J.; Hartman, R.C.; Kelly, H.; Kotani, T.; Krizmanic, J.; Moiseev, A.; Ormes, J.F.; Ritz, S.; Schaefer, R.; Sheppard, D.; Singh, S.; Godfrey, G.; do Couto e Silva, E.; Dubois, R.; Giebels, B.; Haller, G.; Handa, T.; Kamae, T.; Kavelaars, A.; Linder, T.; Ozaki, M.; Rochester, L.S.; Roterman, F.M.; Russell, J.J.; Sjogren, M.; Usher, T.; Valtersson, P.; Waite, A.P.; Williams, S.M.; Lauben, D.; Michelson, P.; Nolan, P.L.; Wallace, J.; Mizuno, T.; Fukazawa, Y.; Hirano, K.; Mizushima, H.; Ogata, S.; Grove, J.E.; Ampe, J.; Johnson, W.N.; Lovellette, M.; Phlips, B.; Wood, D.; Sadrozinski, H.F.-W.; Briber, S.; Dann, J.; Hirayama, M.; Johnson, R.P.; Kliewer, S.; Kroger, W.; Manildi, J.; Paliaga, G.; Rowe, W.A.; Schalk, T.; Webster, A.; Kuss, M.; Lumb, N.; Spandre, G.;
By: Thompson, D.J.; Hartman, R.C.; Kelly, H.; Kotani, T.; Krizmanic, J.; Moiseev, A.; Ormes, J.F.; Ritz, S.; Schaefer, R.; Sheppard, D.; Singh, S.; Godfrey, G.; do Couto e Silva, E.; Dubois, R.; Giebels, B.; Haller, G.; Handa, T.; Kamae, T.; Kavelaars, A.; Linder, T.; Ozaki, M.; Rochester, L.S.; Roterman, F.M.; Russell, J.J.; Sjogren, M.; Usher, T.; Valtersson, P.; Waite, A.P.; Williams, S.M.; Lauben, D.; Michelson, P.; Nolan, P.L.; Wallace, J.; Mizuno, T.; Fukazawa, Y.; Hirano, K.; Mizushima, H.; Ogata, S.; Grove, J.E.; Ampe, J.; Johnson, W.N.; Lovellette, M.; Phlips, B.; Wood, D.; Sadrozinski, H.F.-W.; Briber, S.; Dann, J.; Hirayama, M.; Johnson, R.P.; Kliewer, S.; Kroger, W.; Manildi, J.; Paliaga, G.; Rowe, W.A.; Schalk, T.; Webster, A.; Kuss, M.; Lumb, N.; Spandre, G.;
2001 / IEEE / 0-7803-7324-3
By: Thompson, D.J.; Hartman, R.C.; Kelly, H.; Kotani, T.; Krizmanic, J.; Moiseev, A.; Onnes, J.F.; Ritz, S.; Schaefer, R.; Sheppard, D.; Singh, S.; Godfrey, G.; Silva, E.D.C.E.; Dubois, R.; Giebels, B.; Haller, G.; Handa, T.; Kamae, T.; Kavelaars, A.; Linder, T.; Ozakil, M.; Rochester, L.S.; Roterman, F.M.; Russell, J.J.; Sjogren, M.; Usher, T.; Valtersson, P.; Waite, A.P.; Williams, S.M.; Lauben, D.; Michelson, P.; Nolan, P.L.; Wallace, J.; Mizuno, T.; Fukazawa, Y.; Hirano, K.; Mizushima, H.; Ogata, S.; Grove, J.E.; Ampe, J.; Johnson, W.N.; Lovellette, M.; Phlips, B.; Wood, D.; Sadrozinski, Hf.-W.; Briber, S.; Dann, J.; Hirayama, M.; Johnson, R.P.; Kliewer, S.; Kroger, W.; Manildi, J.; Paliaga, G.; Rowe, W.A.; Schalk, T.; Webster, A.; Kuss, M.; Lumb, N.; Spandre, G.;
By: Thompson, D.J.; Hartman, R.C.; Kelly, H.; Kotani, T.; Krizmanic, J.; Moiseev, A.; Onnes, J.F.; Ritz, S.; Schaefer, R.; Sheppard, D.; Singh, S.; Godfrey, G.; Silva, E.D.C.E.; Dubois, R.; Giebels, B.; Haller, G.; Handa, T.; Kamae, T.; Kavelaars, A.; Linder, T.; Ozakil, M.; Rochester, L.S.; Roterman, F.M.; Russell, J.J.; Sjogren, M.; Usher, T.; Valtersson, P.; Waite, A.P.; Williams, S.M.; Lauben, D.; Michelson, P.; Nolan, P.L.; Wallace, J.; Mizuno, T.; Fukazawa, Y.; Hirano, K.; Mizushima, H.; Ogata, S.; Grove, J.E.; Ampe, J.; Johnson, W.N.; Lovellette, M.; Phlips, B.; Wood, D.; Sadrozinski, Hf.-W.; Briber, S.; Dann, J.; Hirayama, M.; Johnson, R.P.; Kliewer, S.; Kroger, W.; Manildi, J.; Paliaga, G.; Rowe, W.A.; Schalk, T.; Webster, A.; Kuss, M.; Lumb, N.; Spandre, G.;
2002 / IEEE / 0-7803-7318-9
By: Hayashi, T.; Ogata, S.; Kodama, H.; Singh, R.; Asano, K.; Takayama, D.; Sugawara, Y.;
By: Hayashi, T.; Ogata, S.; Kodama, H.; Singh, R.; Asano, K.; Takayama, D.; Sugawara, Y.;
2002 / IEEE / 0-7803-7389-8
By: Tanaka, A.; Aizawa, T.; Ogata, S.; Kimachi, M.; Asokawa, Y.; Higashikage, H.;
By: Tanaka, A.; Aizawa, T.; Ogata, S.; Kimachi, M.; Asokawa, Y.; Higashikage, H.;
2002 / IEEE
By: Thompson, D.J.; Godfrey, G.; Williams, S.M.; Grove, J.E.; Mizuno, T.; Sadrozinski, H.F.-W.; Kamae, T.; Ampe, J.; Briber, S.; Dann, J.; do Couto e Silva, E.; Dubois, R.; Fukazawa, Y.; Giebels, B.; Haller, G.; Handa, T.; Hartman, R.C.; Hirano, K.; Hirayama, M.; Johnson, R.P.; Johnson, W.N.; Kavelaars, A.; Kelly, H.; Kliewer, S.; Kotani, T.; Krizmanic, J.; Kroeger, W.; Kuss, M.; Lauben, D.; Linder, T.; Lovellette, M.; Lumb, N.; Manildi, J.; Michelson, P.; Mizushima, H.; Moiseev, A.; Nolan, P.L.; Ogata, S.; Ormes, J.F.; Ozaki, M.; Paliaga, G.; Phlips, B.F.; Ritz, S.; Rochester, L.S.; Roterman, F.M.; Rowe, W.A.; Russell, J.J.; Schaefer, R.; Schalk, T.; Sheppard, D.; Singh, S.; Sjogren, M.; Spandre, G.; Usher, T.; Valtersson, P.; Waite, A.P.; Wallace, J.; Webster, A.; Wood, D.;
By: Thompson, D.J.; Godfrey, G.; Williams, S.M.; Grove, J.E.; Mizuno, T.; Sadrozinski, H.F.-W.; Kamae, T.; Ampe, J.; Briber, S.; Dann, J.; do Couto e Silva, E.; Dubois, R.; Fukazawa, Y.; Giebels, B.; Haller, G.; Handa, T.; Hartman, R.C.; Hirano, K.; Hirayama, M.; Johnson, R.P.; Johnson, W.N.; Kavelaars, A.; Kelly, H.; Kliewer, S.; Kotani, T.; Krizmanic, J.; Kroeger, W.; Kuss, M.; Lauben, D.; Linder, T.; Lovellette, M.; Lumb, N.; Manildi, J.; Michelson, P.; Mizushima, H.; Moiseev, A.; Nolan, P.L.; Ogata, S.; Ormes, J.F.; Ozaki, M.; Paliaga, G.; Phlips, B.F.; Ritz, S.; Rochester, L.S.; Roterman, F.M.; Rowe, W.A.; Russell, J.J.; Schaefer, R.; Schalk, T.; Sheppard, D.; Singh, S.; Sjogren, M.; Spandre, G.; Usher, T.; Valtersson, P.; Waite, A.P.; Wallace, J.; Webster, A.; Wood, D.;
2003 / IEEE / 0-7803-7876-8
By: Takayama, D.; Sugawara, Y.; Hayashi, T.; Ogata, S.; Miyauchi, A.; Ryu, S.; Asano, K.;
By: Takayama, D.; Sugawara, Y.; Hayashi, T.; Ogata, S.; Miyauchi, A.; Ryu, S.; Asano, K.;
2004 / IEEE / 4-88686-060-5
By: Takayama, D.; Sugawara, Y.; Ogata, S.; Palmour, J.; Ryu, S.; Agarwal, A.; Asano, K.;
By: Takayama, D.; Sugawara, Y.; Ogata, S.; Palmour, J.; Ryu, S.; Agarwal, A.; Asano, K.;
2005 / IEEE / 0-7803-8890-9
By: Miyanagi, Y.; Ogata, S.; Asano, K.; Sugawara, Y.; Agarwal, A.; Okada, S.; Palmour, J.; Ryu, S.;
By: Miyanagi, Y.; Ogata, S.; Asano, K.; Sugawara, Y.; Agarwal, A.; Okada, S.; Palmour, J.; Ryu, S.;
2001 / IEEE / 1-58113-293-X
By: Kalia, R.K.; Nakano, A.; Saini, S.; Shimojo, F.; Ogata, S.; Campbell, T.J.; Vashishta, P.;
By: Kalia, R.K.; Nakano, A.; Saini, S.; Shimojo, F.; Ogata, S.; Campbell, T.J.; Vashishta, P.;
2002 / IEEE / 0-7695-1524-X
By: Nakano, A.; Kalia, R.K.; Kikuchi, H.; Tsuruta, K.; Saini, S.; Vashishta, P.; Shimojo, F.; Kouno, T.; Ogata, S.; Iyetomi, H.;
By: Nakano, A.; Kalia, R.K.; Kikuchi, H.; Tsuruta, K.; Saini, S.; Vashishta, P.; Shimojo, F.; Kouno, T.; Ogata, S.; Iyetomi, H.;
2005 / IEEE / 1-4244-0081-3
By: Katayama, N.; Akanuma, M.; Tanaka, H.; Nishiyama, Y.; Yoshida, A.; Ogata, S.; Miyazaki, M.;
By: Katayama, N.; Akanuma, M.; Tanaka, H.; Nishiyama, Y.; Yoshida, A.; Ogata, S.; Miyazaki, M.;
2006 / IEEE / 0-7803-9714-2
By: Okada, S.; Miyanagi, Y.; Sugawara, Y.; Izumi, T.; Ogata, S.; Asano, K.; Shoji, Y.; Palmour, J.; Ryu, S.; Agarwal, A.;
By: Okada, S.; Miyanagi, Y.; Sugawara, Y.; Izumi, T.; Ogata, S.; Asano, K.; Shoji, Y.; Palmour, J.; Ryu, S.; Agarwal, A.;
2007 / IEEE / 1-4244-1095-9
By: Nakayama, K.; Tanaka, A.; Sugawara, Y.; Asano, K.; Miyanagi, Y.; Izumi, T.; Ogata, S.; Okada, S.;
By: Nakayama, K.; Tanaka, A.; Sugawara, Y.; Asano, K.; Miyanagi, Y.; Izumi, T.; Ogata, S.; Okada, S.;
180kVA Three Phase SiCGT Inverter Utilizing Novel VF Degradation Reduction Phenomena for SiC Devices
2007 / IEEE / 1-4244-1095-9By: Tanaka, A.; Izumi, T.; Okada, S.; Ogata, S.; Sugawara, Y.; Asano, K.; Nakayama, K.; Miyanagi, Y.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1532-8
By: Okada, S.; Ogata, S.; Nakayama, K.; Miyanagi, Y.; Izumi, T.; Sugawara, Y.; Asano, K.; Tanaka, A.; Ishii, R.;
By: Okada, S.; Ogata, S.; Nakayama, K.; Miyanagi, Y.; Izumi, T.; Sugawara, Y.; Asano, K.; Tanaka, A.; Ishii, R.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1532-8
By: Tanaka, A.; Nakayama, K.; Asano, K.; Miyanagi, Y.; Sugawara, Y.; Izumi, T.; Okada, S.; Ogata, S.;
By: Tanaka, A.; Nakayama, K.; Asano, K.; Miyanagi, Y.; Sugawara, Y.; Izumi, T.; Okada, S.; Ogata, S.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3935-5
By: Sekiguchi, S.; Ogata, S.; Nakano, A.; Takemiya, H.; Tanaka, Y.; Song, Y.;
By: Sekiguchi, S.; Ogata, S.; Nakano, A.; Takemiya, H.; Tanaka, Y.; Song, Y.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3525-8
By: Ogata, S.; Sugawara, Y.; Ishi, R.; Okada, S.; Izumi, T.; Tanaka, A.; Asano, K.; Miyanagi, Y.; Nakayama, K.;
By: Ogata, S.; Sugawara, Y.; Ishi, R.; Okada, S.; Izumi, T.; Tanaka, A.; Asano, K.; Miyanagi, Y.; Nakayama, K.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-5094-7
By: Ogata, S.; Kitaoka, S.; Kamiya, K.; Tsumoto, K.; Yoshimura, T.; Tomita, M.;
By: Ogata, S.; Kitaoka, S.; Kamiya, K.; Tsumoto, K.; Yoshimura, T.; Tomita, M.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-5393-1
By: Miyanagi, Y.; Tanaka, A.; Sugawara, Y.; Asano, K.; Nakayama, K.; Nishimura, M.; Ogata, S.; Hayashi, T.; Izumi, T.;
By: Miyanagi, Y.; Tanaka, A.; Sugawara, Y.; Asano, K.; Nakayama, K.; Nishimura, M.; Ogata, S.; Hayashi, T.; Izumi, T.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-7718-0
By: Nakayama, K.; Miyanagi, Y.; Sugawara, Y.; Tanaka, A.; Izumi, T.; Asano, K.; Ogata, S.; Nishimura, M.; Hayashi, T.;
By: Nakayama, K.; Miyanagi, Y.; Sugawara, Y.; Tanaka, A.; Izumi, T.; Asano, K.; Ogata, S.; Nishimura, M.; Hayashi, T.;
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap