Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Oakley, D.C.
Results
2011 / IEEE / 978-1-4244-8939-8
By: Klamkin, J.; Madison, S.M.; Juodawlkis, P.W.; Yegnanarayanan, S.; Oakley, D.C.; Missaggia, L.J.; O'Donnell, F.J.; Napoleone, A.;
By: Klamkin, J.; Madison, S.M.; Juodawlkis, P.W.; Yegnanarayanan, S.; Oakley, D.C.; Missaggia, L.J.; O'Donnell, F.J.; Napoleone, A.;
2002 / IEEE / 0-7803-7500-9
By: Twichell, J.C.; Williamson, R.C.; Donnelly, J.P.; Missaggia, L.J.; Molvar, K.M.; Mahoney, L.J.; Juodawlkis, P.W.; Groves, S.H.; Napoleone, A.; Oakley, D.C.; Hargreaves, J.J.; O'Donnell, F.J.;
By: Twichell, J.C.; Williamson, R.C.; Donnelly, J.P.; Missaggia, L.J.; Molvar, K.M.; Mahoney, L.J.; Juodawlkis, P.W.; Groves, S.H.; Napoleone, A.; Oakley, D.C.; Hargreaves, J.J.; O'Donnell, F.J.;
2002 / IEEE / 0-7803-7500-9
By: Calawa, S.D.; Donnelly, J.P.; Napoleone, A.; Oakley, D.C.; Mahoney, L.J.; McIntosh, K.A.; Shaver, D.C.; Duerr, E.K.; Molvar, K.M.;
By: Calawa, S.D.; Donnelly, J.P.; Napoleone, A.; Oakley, D.C.; Mahoney, L.J.; McIntosh, K.A.; Shaver, D.C.; Duerr, E.K.; Molvar, K.M.;
2003 / IEEE / 0-7803-7888-1
By: Mahoney, L.J.; Calawa, S.D.; Napoleone, A.; Oakley, D.C.; Donnelly, J.P.; Mclntosh, K.A.; Molvar, K.M.; Manfra, M.J.; Turner, G.W.; Aull, B.F.; Duerr, E.K.; Molnar, R.J.; Mahan, J.;
By: Mahoney, L.J.; Calawa, S.D.; Napoleone, A.; Oakley, D.C.; Donnelly, J.P.; Mclntosh, K.A.; Molvar, K.M.; Manfra, M.J.; Turner, G.W.; Aull, B.F.; Duerr, E.K.; Molnar, R.J.; Mahan, J.;
2003 / IEEE / 0-7803-7888-1
By: Plant, J.J.; Bailey, R.J.; O'Donnell, F.J.; Juodawlkis, P.W.; Ray, K.G.; Betts, G.E.; Napoleone, A.; Oakley, D.C.;
By: Plant, J.J.; Bailey, R.J.; O'Donnell, F.J.; Juodawlkis, P.W.; Ray, K.G.; Betts, G.E.; Napoleone, A.; Oakley, D.C.;
2005 / IEEE / 0-7803-8981-6
By: Dauler, E.A.; Cohen, D.M.; Verghese, S.; Smith, G.M.; Oakley, D.C.; McIntosh, K.A.; Donnelly, J.P.; Mahoney, L.J.; Liau, Z.-L.; Jensen, K.E.; Hopman, P.I.; Groves, S.H.; Duerr, E.K.;
By: Dauler, E.A.; Cohen, D.M.; Verghese, S.; Smith, G.M.; Oakley, D.C.; McIntosh, K.A.; Donnelly, J.P.; Mahoney, L.J.; Liau, Z.-L.; Jensen, K.E.; Hopman, P.I.; Groves, S.H.; Duerr, E.K.;
2005 / IEEE / 0-7803-9217-5
By: Juodawlkis, P.W.; Oakley, D.C.; Rothschild, M.; Marchant, M.F.; Hardy, D.E.; Efremow, N.N.; Cann, S.G.; Swint, R.B.; Bloomstein, T.M.; Twichell, J.C.; Turner, G.W.; Chludzinski, J.W.; Vineis, C.J.; Napoleone, A.;
By: Juodawlkis, P.W.; Oakley, D.C.; Rothschild, M.; Marchant, M.F.; Hardy, D.E.; Efremow, N.N.; Cann, S.G.; Swint, R.B.; Bloomstein, T.M.; Twichell, J.C.; Turner, G.W.; Chludzinski, J.W.; Vineis, C.J.; Napoleone, A.;
2006 / IEEE
By: Oakley, D.C.; Groves, S.H.; McIntosh, K.A.; Duerr, E.K.; Donnelly, J.P.; Shaver, D.C.; Verghese, S.; Smith, G.M.; Jensen, K.E.; Dauler, E.A.; Hopman, P.I.; Molvar, K.M.; Mahoney, L.J.; Vineis, C.J.;
By: Oakley, D.C.; Groves, S.H.; McIntosh, K.A.; Duerr, E.K.; Donnelly, J.P.; Shaver, D.C.; Verghese, S.; Smith, G.M.; Jensen, K.E.; Dauler, E.A.; Hopman, P.I.; Molvar, K.M.; Mahoney, L.J.; Vineis, C.J.;
2006 / IEEE / 1-4244-0090-2
By: Groves, S.H.; Hopman, P.I.; Frechette, J.P.; Funk, J.E.; Duerr, E.K.; Donnelly, J.P.; Dauler, E.A.; Aversa, J.C.; Aull, B.F.; Vineis, C.J.; Verghese, S.; Smith, G.M.; Shaver, D.C.; Ouellette, E.J.; Oakley, D.C.; Napoleone, A.; McIntosh, K.A.; Mahoney, L.J.; Mahan, J.M.; Liau, Z.-L.; Jensen, K.E.;
By: Groves, S.H.; Hopman, P.I.; Frechette, J.P.; Funk, J.E.; Duerr, E.K.; Donnelly, J.P.; Dauler, E.A.; Aversa, J.C.; Aull, B.F.; Vineis, C.J.; Verghese, S.; Smith, G.M.; Shaver, D.C.; Ouellette, E.J.; Oakley, D.C.; Napoleone, A.; McIntosh, K.A.; Mahoney, L.J.; Mahan, J.M.; Liau, Z.-L.; Jensen, K.E.;
2007 / IEEE
By: Verghese, S.; Tyrrell, B.M.; Duerr, E.K.; McIntosh, K.A.; Chapman, D.C.; Vineis, C.J.; Smith, G.M.; Funk, J.E.; Jensen, K.E.; Hopman, P.I.; Shaver, D.C.; Aull, B.F.; Aversa, J.C.; Frechette, J.P.; Glettler, J.B.; Zong Long Liau; Mahan, J.M.; Mahoney, L.J.; Molvar, K.M.; ODonnell, F.J.; Oakley, D.C.; Ouellette, E.J.; Renzi, M.J.; Donnelly, J.P.;
By: Verghese, S.; Tyrrell, B.M.; Duerr, E.K.; McIntosh, K.A.; Chapman, D.C.; Vineis, C.J.; Smith, G.M.; Funk, J.E.; Jensen, K.E.; Hopman, P.I.; Shaver, D.C.; Aull, B.F.; Aversa, J.C.; Frechette, J.P.; Glettler, J.B.; Zong Long Liau; Mahan, J.M.; Mahoney, L.J.; Molvar, K.M.; ODonnell, F.J.; Oakley, D.C.; Ouellette, E.J.; Renzi, M.J.; Donnelly, J.P.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0924-2
By: Smith, G.M.; Donnelly, J.P.; Ray, K.G.; Oakley, D.C.; Chapman, D.C.; O'Donnell, F.J.; Molvar, K.M.; Mahoney, L.J.; Kumar, N.R.; Funk, J.E.; Verghese, S.; Shaver, D.C.; Duerr, E.K.; Mcintosh, K.A.;
By: Smith, G.M.; Donnelly, J.P.; Ray, K.G.; Oakley, D.C.; Chapman, D.C.; O'Donnell, F.J.; Molvar, K.M.; Mahoney, L.J.; Kumar, N.R.; Funk, J.E.; Verghese, S.; Shaver, D.C.; Duerr, E.K.; Mcintosh, K.A.;
2008 / IEEE / 978-1-55752-859-9
By: Chapman, D.C.; Oakley, D.C.; Goyal, A.K.; Plant, J.J.; Juodawlkis, P.W.; Napoleone, A.;
By: Chapman, D.C.; Oakley, D.C.; Goyal, A.K.; Plant, J.J.; Juodawlkis, P.W.; Napoleone, A.;
2008 / IEEE / 978-1-55752-859-9
By: Juodawlkis, P.W.; Napoleone, A.; Chapman, D.C.; Oakley, D.C.; Plant, J.J.; Madison, S.M.;
By: Juodawlkis, P.W.; Napoleone, A.; Chapman, D.C.; Oakley, D.C.; Plant, J.J.; Madison, S.M.;
2006 / IEEE / 978-1-55752-813-1
By: Groves, S.H.; Mahoney, L.J.; Donnelly, J.P.; Dauler, E.A.; Duerr, E.K.; Hopman, P.I.; Jensen, K.E.; Younger, R.D.; Vineis, C.J.; Verghese, S.; Shaver, D.C.; Oakley, D.C.; Napoleone, A.; Molvar, K.M.; McIntosh, K.A.;
By: Groves, S.H.; Mahoney, L.J.; Donnelly, J.P.; Dauler, E.A.; Duerr, E.K.; Hopman, P.I.; Jensen, K.E.; Younger, R.D.; Vineis, C.J.; Verghese, S.; Shaver, D.C.; Oakley, D.C.; Napoleone, A.; Molvar, K.M.; McIntosh, K.A.;
2006 / IEEE / 978-1-55752-813-1
By: Donnelly, J.P.; McIntosh, K.A.; Smith, G.M.; Ray, K.G.; Oakley, D.C.; O'Donnell, F.J.; Molvar, K.M.; Mahoney, L.J.; Hopman, P.I.; Mahan, J.M.; Funk, J.E.; Verghese, S.; Shaver, D.C.; Vineis, C.J.; Duerr, E.K.;
By: Donnelly, J.P.; McIntosh, K.A.; Smith, G.M.; Ray, K.G.; Oakley, D.C.; O'Donnell, F.J.; Molvar, K.M.; Mahoney, L.J.; Hopman, P.I.; Mahan, J.M.; Funk, J.E.; Verghese, S.; Shaver, D.C.; Vineis, C.J.; Duerr, E.K.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2258-6
By: Funk, J.E.; Verghese, S.; Shaver, D.C.; Duerr, E.K.; McIntosh, K.A.; Mahoney, L.J.; Smith, G.M.; Donnelly, J.P.; Oakley, D.C.; Chapman, D.C.; Molvar, K.M.;
By: Funk, J.E.; Verghese, S.; Shaver, D.C.; Duerr, E.K.; McIntosh, K.A.; Mahoney, L.J.; Smith, G.M.; Donnelly, J.P.; Oakley, D.C.; Chapman, D.C.; Molvar, K.M.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-5096-1
By: Hui-Wen Chen; Bowers, J.E.; Juodawlkis, P.W.; Chang-Lee Chen; Di Liang; Chapman, D.C.; Napoleone, A.; Oakley, D.C.;
By: Hui-Wen Chen; Bowers, J.E.; Juodawlkis, P.W.; Chang-Lee Chen; Di Liang; Chapman, D.C.; Napoleone, A.; Oakley, D.C.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4511-0
By: Bolkhovsky, V.; Hu, W.; Suntharalingam, V.; Soares, A.M.; Donnelly, J.P.; Berger, R.; Mahoney, L.J.; Oakley, D.C.; Chapman, D.C.; Knecht, J.M.; Yost, D.-R.; Chen, C.L.; Shaver, D.C.; Keast, C.L.; Wheeler, B.D.;
By: Bolkhovsky, V.; Hu, W.; Suntharalingam, V.; Soares, A.M.; Donnelly, J.P.; Berger, R.; Mahoney, L.J.; Oakley, D.C.; Chapman, D.C.; Knecht, J.M.; Yost, D.-R.; Chen, C.L.; Shaver, D.C.; Keast, C.L.; Wheeler, B.D.;
2011 / IEEE
By: Juodawlkis, P.W.; Plant, J.J.; Loh, W.; Missaggia, L.J.; O'Donnell, F.J.; Oakley, D.C.; Donnelly, J.P.; Klamkin, J.; Gopinath, J.T.; Ripin, D.J.; Gee, S.; Delfyett, P.J.; Napoleone, A.;
By: Juodawlkis, P.W.; Plant, J.J.; Loh, W.; Missaggia, L.J.; O'Donnell, F.J.; Oakley, D.C.; Donnelly, J.P.; Klamkin, J.; Gopinath, J.T.; Ripin, D.J.; Gee, S.; Delfyett, P.J.; Napoleone, A.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-906-0
By: Oakley, D.C.; O'Donnell, F.J.; Loh, W.; Missaggia, L.J.; Napoloeone, A.; Plant, J.J.; Juodawlkis, P.W.; Donnelly, J.P.; Klamkin, J.;
By: Oakley, D.C.; O'Donnell, F.J.; Loh, W.; Missaggia, L.J.; Napoloeone, A.; Plant, J.J.; Juodawlkis, P.W.; Donnelly, J.P.; Klamkin, J.;
2011 / IEEE
By: Napoleone, A.; Oakley, D.C.; Klamkin, J.; Madison, S.M.; Juodawlkis, P.W.; Plant, J.J.;
By: Napoleone, A.; Oakley, D.C.; Klamkin, J.; Madison, S.M.; Juodawlkis, P.W.; Plant, J.J.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-911-4
By: Hollis, M.A.; Madison, S.M.; Klamkin, J.; Juodawlkis, P.W.; Plant, J.J.; Oakley, D.C.; Caissie, J.M.; Missaggia, L.J.; Sheehan, M.; O'Donnell, F.J.; Napoleone, A.;
By: Hollis, M.A.; Madison, S.M.; Klamkin, J.; Juodawlkis, P.W.; Plant, J.J.; Oakley, D.C.; Caissie, J.M.; Missaggia, L.J.; Sheehan, M.; O'Donnell, F.J.; Napoleone, A.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-757-3
By: Oakley, D.C.; Madison, S.M.; Klamkin, J.; Juodawlkis, P.W.; Plant, J.J.; Napoleone, A.; Caissie, J.M.; Missaggia, L.J.; Sheehan, M.; O'Donnell, F.J.;
By: Oakley, D.C.; Madison, S.M.; Klamkin, J.; Juodawlkis, P.W.; Plant, J.J.; Napoleone, A.; Caissie, J.M.; Missaggia, L.J.; Sheehan, M.; O'Donnell, F.J.;
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap