Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Nomura, H.
Results
2011 / IEEE / 978-4-8634-8182-4
By: Nomura, H.; Yoshimoto, N.; Sakamoto, T.; Tadokoro, M.; Ujikawa, H.; Nishihara, S.;
By: Nomura, H.; Yoshimoto, N.; Sakamoto, T.; Tadokoro, M.; Ujikawa, H.; Nishihara, S.;
1993 / IEEE / 0-7803-1220-1
By: Nagata, Y.; Uematsu, T.; Saitoh, T.; Iga, T.; Nomura, H.; Warabisako, T.; Ohtsuka, T.;
By: Nagata, Y.; Uematsu, T.; Saitoh, T.; Iga, T.; Nomura, H.; Warabisako, T.; Ohtsuka, T.;
1996 / IEEE
By: Aiba, T.; Iimura, T.; Tamada, N.; Kajikawa, K.; Natori, N.; Sekine, S.; Onishi, T.; Arai, K.; Fuchino, S.; Tateishi, H.; Nomura, H.; Ishii, I.; Kaiho, K.; Higuchi, N.;
By: Aiba, T.; Iimura, T.; Tamada, N.; Kajikawa, K.; Natori, N.; Sekine, S.; Onishi, T.; Arai, K.; Fuchino, S.; Tateishi, H.; Nomura, H.; Ishii, I.; Kaiho, K.; Higuchi, N.;
1995 / IEEE / 0-7803-1965-6
By: Tsusaka, Y.; Naito, T.; Sato, Y.; Akao, N.; Nagamatsu, S.; Kuno, T.; Nomura, H.; Tanaka, M.; Koide, M.;
By: Tsusaka, Y.; Naito, T.; Sato, Y.; Akao, N.; Nagamatsu, S.; Kuno, T.; Nomura, H.; Tanaka, M.; Koide, M.;
1996 / IEEE / 0-7803-3393-4
By: Sugihara, S.; Murooka, K.; Shine, T.; Nomura, H.; Matsuda, S.; Mitsui, S.; Sunouchi, K.; Kikuchi, Y.; Kawaguchiya, H.; Kondo, K.;
By: Sugihara, S.; Murooka, K.; Shine, T.; Nomura, H.; Matsuda, S.; Mitsui, S.; Sunouchi, K.; Kikuchi, Y.; Kawaguchiya, H.; Kondo, K.;
1997 / IEEE
By: Kajikawa, K.; Arai, K.; Fuchino, S.; Tateishi, H.; Natori, N.; Tamada, N.; Ishii, I.; Higuchi, N.; Sekine, S.; Nomura, H.; Kaiho, K.;
By: Kajikawa, K.; Arai, K.; Fuchino, S.; Tateishi, H.; Natori, N.; Tamada, N.; Ishii, I.; Higuchi, N.; Sekine, S.; Nomura, H.; Kaiho, K.;
1997 / IEEE / 4-930813-75-1
By: Itabashi, K.; Tsuboi, S.; Taguchi, M.; Nakamura, H.; Hashimoto, K.; Futoh, W.; Fukuda, K.; Hanyu, I.; Asai, S.; Chijimatsu, T.; Kawamura, E.; Yao, T.; Takagi, H.; Ohta, Y.; Karasawa, T.; Iio, H.; Onods, M.; Inoue, F.; Nomura, H.; Satoh, Y.; Higashimoto, M.; Matsumiya, M.; Miyabo, T.; Ikeda, T.; Yamazaki, T.; Miyajima, M.; Watanabe, K.; Kawamura, S.;
By: Itabashi, K.; Tsuboi, S.; Taguchi, M.; Nakamura, H.; Hashimoto, K.; Futoh, W.; Fukuda, K.; Hanyu, I.; Asai, S.; Chijimatsu, T.; Kawamura, E.; Yao, T.; Takagi, H.; Ohta, Y.; Karasawa, T.; Iio, H.; Onods, M.; Inoue, F.; Nomura, H.; Satoh, Y.; Higashimoto, M.; Matsumiya, M.; Miyabo, T.; Ikeda, T.; Yamazaki, T.; Miyajima, M.; Watanabe, K.; Kawamura, S.;
1999 / IEEE
By: Natori, N.; Sekine, S.; Tateishi, H.; Ishii, I.; Higuchi, N.; Nomura, H.; Fuchino, S.; Fujima, K.; Tsugawa, K.; Arai, K.; Kaiho, K.; Yamaguchi, H.;
By: Natori, N.; Sekine, S.; Tateishi, H.; Ishii, I.; Higuchi, N.; Nomura, H.; Fuchino, S.; Fujima, K.; Tsugawa, K.; Arai, K.; Kaiho, K.; Yamaguchi, H.;
2000 / IEEE / 0-7803-6420-1
By: Kobayashi, S.; Suzuki, H.; Nomura, H.; Kurihara, H.; Tanaka, S.; Muto, D.; Ono, T.;
By: Kobayashi, S.; Suzuki, H.; Nomura, H.; Kurihara, H.; Tanaka, S.; Muto, D.; Ono, T.;
2000 / IEEE / 0-7803-6438-4
By: Hashimoto, K.; Kohyama, Y.; Hatada, A.; Kubota, T.; Watanabe, Y.; Kurahashi, T.; Tomita, H.; Hosaka, K.; Tanaka, M.; Minakata, H.; Mizutani, T.; Sakata, A.; Nakajima, K.; Nomura, H.; Nitta, H.; Miyashita, T.;
By: Hashimoto, K.; Kohyama, Y.; Hatada, A.; Kubota, T.; Watanabe, Y.; Kurahashi, T.; Tomita, H.; Hosaka, K.; Tanaka, M.; Minakata, H.; Mizutani, T.; Sakata, A.; Nakajima, K.; Nomura, H.; Nitta, H.; Miyashita, T.;
2004 / IEEE / 0-7803-8267-6
By: Horinaka, M.; Yamamoto, T.; Onodera, H.; Hashimoto, K.; Nomura, H.; Yamazaki, D.;
By: Horinaka, M.; Yamamoto, T.; Onodera, H.; Hashimoto, K.; Nomura, H.; Yamazaki, D.;
2004 / IEEE / 0-7803-8267-6
By: Hashimoto, K.; Nomura, H.; Horinakal, M.; Yamamoto, T.; Yamazaki, D.; Onodera, H.;
By: Hashimoto, K.; Nomura, H.; Horinakal, M.; Yamamoto, T.; Yamazaki, D.; Onodera, H.;
1983 / IEEE
By: Hayashi, J.; Kasahara, K.; Matushita, S.; Nomura, H.; Suzuki, A.; Taguchi, K.; Makita, K.;
By: Hayashi, J.; Kasahara, K.; Matushita, S.; Nomura, H.; Suzuki, A.; Taguchi, K.; Makita, K.;
2005 / IEEE / 0-7803-9382-1
By: Nomura, H.; Ogawa, H.; Hosoda, M.; Sakai, K.; Takagi, K.; Horii, K.;
By: Nomura, H.; Ogawa, H.; Hosoda, M.; Sakai, K.; Takagi, K.; Horii, K.;
2006 / IEEE / 1-4244-0079-1
By: Kato, A.; Taura, T.; Suzuki, A.; Mishina, K.; Toyama, T.; Yamamoto, J.; Kikuchi, M.; Amano, K.; Muramatsu, Y.; Nitta, Y.; Fukushima, N.; Nomura, H.; Yasui, Y.;
By: Kato, A.; Taura, T.; Suzuki, A.; Mishina, K.; Toyama, T.; Yamamoto, J.; Kikuchi, M.; Amano, K.; Muramatsu, Y.; Nitta, Y.; Fukushima, N.; Nomura, H.; Yasui, Y.;