Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Nishimura, M.
Results
2012 / IEEE
By: Nakayama, K.; Tsuchida, H.; Ito, M.; Miyazawa, T.; Asano, K.; Nishimura, M.; Tanaka, A.;
By: Nakayama, K.; Tsuchida, H.; Ito, M.; Miyazawa, T.; Asano, K.; Nishimura, M.; Tanaka, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8115-6
By: Fuse, Y.; Kiyohiro, N.; Kotani, S.; Tanzawa, T.; Watanabe, H.; Yoshimura, C.; Nishimura, M.; Furuya, M.;
By: Fuse, Y.; Kiyohiro, N.; Kotani, S.; Tanzawa, T.; Watanabe, H.; Yoshimura, C.; Nishimura, M.; Furuya, M.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-729-0
By: Tanioka, T.; Kobayashi, H.; Oomori, M.; Yasuhara, Y.; Yuasa, A.; Nishimura, M.;
By: Tanioka, T.; Kobayashi, H.; Oomori, M.; Yasuhara, Y.; Yuasa, A.; Nishimura, M.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-1073-5
By: Narikiyo, T.; Kawanishi, M.; Hyodo, K.; Nishimura, M.; Ugurlu, B.;
By: Narikiyo, T.; Kawanishi, M.; Hyodo, K.; Nishimura, M.; Ugurlu, B.;
2014 / IEEE
By: Ootani, W.; Nishimura, M.; Gatti, F.; De Gerone, M.; Cattaneo, P. W.; Uchiyama, Y.; Rossella, M.;
By: Ootani, W.; Nishimura, M.; Gatti, F.; De Gerone, M.; Cattaneo, P. W.; Uchiyama, Y.; Rossella, M.;
1992 / IEEE / 0-7803-0573-6
By: Ohbo, M.; Kawakami, Y.; Toyoda, A.; Mutoh, N.; Orihara, K.; Morimoto, M.; Hokari, Y.; Teranishi, N.; Akiyama, I.; Kohno, A.; Nakashiba, Y.; Nishimura, M.; Arai, K.; Hatano, K.; Chiba, K.; Nakano, T.;
By: Ohbo, M.; Kawakami, Y.; Toyoda, A.; Mutoh, N.; Orihara, K.; Morimoto, M.; Hokari, Y.; Teranishi, N.; Akiyama, I.; Kohno, A.; Nakashiba, Y.; Nishimura, M.; Arai, K.; Hatano, K.; Chiba, K.; Nakano, T.;
1995 / IEEE
By: Hatano, K.; Arai, K.; Chiba, K.; Nakano, T.; Kawai, S.; Kawakami, Y.; Ohbo, M.; Toyoda, A.; Mutoh, N.; Orihara, K.; Morimoto, M.; Hokari, Y.; Teranishi, N.; Akiyama, I.; Kohno, A.; Nakashiba, Y.; Nishimura, M.;
By: Hatano, K.; Arai, K.; Chiba, K.; Nakano, T.; Kawai, S.; Kawakami, Y.; Ohbo, M.; Toyoda, A.; Mutoh, N.; Orihara, K.; Morimoto, M.; Hokari, Y.; Teranishi, N.; Akiyama, I.; Kohno, A.; Nakashiba, Y.; Nishimura, M.;
1996 / IEEE
By: Amano, M.; Sekita, M.; Yamaji, K.; Sato, M.; Oomori, T.; Konishi, H.; Nishimura, M.;
By: Amano, M.; Sekita, M.; Yamaji, K.; Sato, M.; Oomori, T.; Konishi, H.; Nishimura, M.;
1997 / IEEE
By: Koyanagi, K.; Kuroda, K.; Takafuji, A.; Sugiyama, K.; Nishimura, M.; Takahashi, E.; Miura, I.;
By: Koyanagi, K.; Kuroda, K.; Takafuji, A.; Sugiyama, K.; Nishimura, M.; Takahashi, E.; Miura, I.;
1997 / IEEE / 0-7803-3823-5
By: Nishimura, M.; Katagiri, H.; Watanabe, T.; Sega, T.; Fujita, M.; Maruyama, S.; Onozawa, T.;
By: Nishimura, M.; Katagiri, H.; Watanabe, T.; Sega, T.; Fujita, M.; Maruyama, S.; Onozawa, T.;
1998 / IEEE / 84-89900-14-0
By: Makio, Y.; Sasaoka, E.; Onishi, M.; Hirano, M.; Kato, T.; Yokoyama, Y.; Nishimura, M.;
By: Makio, Y.; Sasaoka, E.; Onishi, M.; Hirano, M.; Kato, T.; Yokoyama, Y.; Nishimura, M.;
1999 / IEEE / 0-7803-5674-8
By: Iijima, A.; Minamitani, H.; Hosaka, H.; Ishikawa, N.; Nishimura, M.; Ueno, A.;
By: Iijima, A.; Minamitani, H.; Hosaka, H.; Ishikawa, N.; Nishimura, M.; Ueno, A.;
1996 / IEEE / 0-7803-3751-4
By: Higuchi, T.; Yyamagati, Y.; Tomizawa, K.; Nishimura, M.; Mendes, J.;
By: Higuchi, T.; Yyamagati, Y.; Tomizawa, K.; Nishimura, M.; Mendes, J.;
2000 / IEEE / 1-55752-630-3
By: Sasaoka, E.; Tsukitani, M.; Yanada, E.; Nishimura, M.; Makio, Y.; Ohga, Y.;
By: Sasaoka, E.; Tsukitani, M.; Yanada, E.; Nishimura, M.; Makio, Y.; Ohga, Y.;
1996 / IEEE / 1-55752-422-X
By: Hattori, Y.; Nishimura, M.; Nakazato, K.; Iwashima, T.; Inoue, A.; Shigehara, M.; Kakui, M.;
By: Hattori, Y.; Nishimura, M.; Nakazato, K.; Iwashima, T.; Inoue, A.; Shigehara, M.; Kakui, M.;
2002 / IEEE / 0-7803-7185-2
By: Komiya, T.; Shiozaki, M.; Katayama, M.; Kanie, T.; Nishimura, M.; Saitoh, K.;
By: Komiya, T.; Shiozaki, M.; Katayama, M.; Kanie, T.; Nishimura, M.; Saitoh, K.;
2001 / IEEE / 0-7803-6705-7
By: Onishi, M.; Kato, T.; Tada, A.; Hirano, M.; Nishimura, M.; Makio, Y.;
By: Onishi, M.; Kato, T.; Tada, A.; Hirano, M.; Nishimura, M.; Makio, Y.;
2001 / IEEE / 0-7803-6705-7
By: Onishi, M.; Sasaoka, E.; Hasegawa, T.; Koshiba, M.; Tsuji, Y.; Nishimura, M.;
By: Onishi, M.; Sasaoka, E.; Hasegawa, T.; Koshiba, M.; Tsuji, Y.; Nishimura, M.;
2002 / IEEE / 1-55752-701-6
By: Nishimura, M.; Hanazuka, S.; Uchiyama, K.; Kunitake, K.; Takaoka, S.; Tanaka, M.; Kato, T.; Omori, H.; Okuno, T.; Yokoyama, Y.;
By: Nishimura, M.; Hanazuka, S.; Uchiyama, K.; Kunitake, K.; Takaoka, S.; Tanaka, M.; Kato, T.; Omori, H.; Okuno, T.; Yokoyama, Y.;
1982 / IEEE
By: Ishihara, Y.; Kamata, T.; Nishimura, M.; Arai, K.; Akiyama, I.; Takeuchi, E.; Teranishi, N.; Tanigawa, H.; Oda, E.;
By: Ishihara, Y.; Kamata, T.; Nishimura, M.; Arai, K.; Akiyama, I.; Takeuchi, E.; Teranishi, N.; Tanigawa, H.; Oda, E.;
2003 / IEEE
By: Harumoto, M.; Iwashima, T.; Kanie, T.; Katayama, M.; Shigehara, M.; Sano, T.; Nishimura, M.; Suganuma, H.;
By: Harumoto, M.; Iwashima, T.; Kanie, T.; Katayama, M.; Shigehara, M.; Sano, T.; Nishimura, M.; Suganuma, H.;
2003 / IEEE / 1-55752-746-6
By: Tsuzaki, T.; Miyamoto, T.; Nishimura, M.; Shigematsu, M.; Okuno, T.; Onishi, M.; Hirano, I.; Kakui, M.;
By: Tsuzaki, T.; Miyamoto, T.; Nishimura, M.; Shigematsu, M.; Okuno, T.; Onishi, M.; Hirano, I.; Kakui, M.;
2003 / IEEE / 1-55752-746-6
By: Katsuyama, T.; Inoue, A.; Shibata, T.; Yamaguchi, A.; Nakanishi, H.; Takahashi, S.; Nishimura, M.; Kawabata, Y.; Hashimoto, J.; Okuno, T.; Tanaka, M.; Shigematsu, M.; Hayashi, H.;
By: Katsuyama, T.; Inoue, A.; Shibata, T.; Yamaguchi, A.; Nakanishi, H.; Takahashi, S.; Nishimura, M.; Kawabata, Y.; Hashimoto, J.; Okuno, T.; Tanaka, M.; Shigematsu, M.; Hayashi, H.;
2003 / IEEE / 1-55752-746-6
By: Nishimura, M.; Saitoh, K.; Suganuma, H.; Furukawa, M.; Shiozaki, M.; Kanie, T.; Sunaga, T.; Kohda, H.; Sano, T.; Katayama, M.;
By: Nishimura, M.; Saitoh, K.; Suganuma, H.; Furukawa, M.; Shiozaki, M.; Kanie, T.; Sunaga, T.; Kohda, H.; Sano, T.; Katayama, M.;
2003 / IEEE / 1-55752-746-6
By: Iwashima, T.; Sano, T.; Nishimura, M.; Suganuma, H.; Shigehara, M.; Harumoto, M.; Kanie, T.; Katayama, M.;
By: Iwashima, T.; Sano, T.; Nishimura, M.; Suganuma, H.; Shigehara, M.; Harumoto, M.; Kanie, T.; Katayama, M.;
2005 / IEEE / 0-7803-9361-9
By: Osaka, K.; Chiba, S.; Tanioka, T.; Kawanishi, C.; Nagamine, I.; Ren, F.; Takasaka, Y.; Tada, T.; Yamashita, R.; Kishimoto, M.; Nishimura, M.; Yamamoto, A.; Locsin, R.C.; Kuroiwa, S.;
By: Osaka, K.; Chiba, S.; Tanioka, T.; Kawanishi, C.; Nagamine, I.; Ren, F.; Takasaka, Y.; Tada, T.; Yamashita, R.; Kishimoto, M.; Nishimura, M.; Yamamoto, A.; Locsin, R.C.; Kuroiwa, S.;
2005 / IEEE / 0-7803-8741-4
By: Okahisa, T.; Akutagawa, M.; Nitta, Y.; Kinouchi, Y.; Nishimura, M.; Oonishi, Y.; Miyamoto, H.;
By: Okahisa, T.; Akutagawa, M.; Nitta, Y.; Kinouchi, Y.; Nishimura, M.; Oonishi, Y.; Miyamoto, H.;
2007 / IEEE
By: Muraoka, H.; Hajime Aoi; Osawa, H.; Okamoto, Y.; Nishimura, M.; Nakamura, Y.; Nakamura, Y.;
By: Muraoka, H.; Hajime Aoi; Osawa, H.; Okamoto, Y.; Nishimura, M.; Nakamura, Y.; Nakamura, Y.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0787-3
By: Kinouchi, Y.; Kaji, R.; Nakane, S.; Nishimura, M.; Nitta, Y.; Okahisa, T.; Miyamoto, H.; Akutagawa, M.; Ohnishi, Y.;
By: Kinouchi, Y.; Kaji, R.; Nakane, S.; Nishimura, M.; Nitta, Y.; Okahisa, T.; Miyamoto, H.; Akutagawa, M.; Ohnishi, Y.;
1994 / IEEE
By: Kashiwakura, Y.; Ozawa, K.; Nishimura, M.; Nimura, K.; Itoh, Y.; Ohsawa, M.; Ueda, A.; Kumagai, A.;
By: Kashiwakura, Y.; Ozawa, K.; Nishimura, M.; Nimura, K.; Itoh, Y.; Ohsawa, M.; Ueda, A.; Kumagai, A.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-5393-1
By: Miyanagi, Y.; Tanaka, A.; Sugawara, Y.; Asano, K.; Nakayama, K.; Nishimura, M.; Ogata, S.; Hayashi, T.; Izumi, T.;
By: Miyanagi, Y.; Tanaka, A.; Sugawara, Y.; Asano, K.; Nakayama, K.; Nishimura, M.; Ogata, S.; Hayashi, T.; Izumi, T.;