Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Nishijima, S.
Results
2015 / IEEE
By: Okada, H.; Akiyama, Y.; Mishima, F.; Mizuno, N.; Hirota, N.; Shigemoto, N.; Maeda, T.; Matsuura, H.; Nishijima, S.;
By: Okada, H.; Akiyama, Y.; Mishima, F.; Mizuno, N.; Hirota, N.; Shigemoto, N.; Maeda, T.; Matsuura, H.; Nishijima, S.;
1988 / IEEE
By: Matsumoto, K.; Fukutsuka, T.; Okada, T.; Takahata, K.; Nishijima, S.; Yamashita, T.; Hamada, M.;
By: Matsumoto, K.; Fukutsuka, T.; Okada, T.; Takahata, K.; Nishijima, S.; Yamashita, T.; Hamada, M.;
1989 / IEEE
By: Hayashi, K.; Okamoto, S.; Nagamori, Y.; Okushiba, H.; Okada, T.; Takahata, K.; Nishijima, S.;
By: Hayashi, K.; Okamoto, S.; Nagamori, Y.; Okushiba, H.; Okada, T.; Takahata, K.; Nishijima, S.;
1989 / IEEE
By: Nishijima, S.; Yamashita, T.; Hamada, M.; Matsumoto, K.; Fukutsuka, T.; Okada, T.; Takahata, K.;
By: Nishijima, S.; Yamashita, T.; Hamada, M.; Matsumoto, K.; Fukutsuka, T.; Okada, T.; Takahata, K.;
1989 / IEEE
By: Ueminami, K.; Ikeda, K.; Takasu, N.; Mori, T.; Ikisawa, K.; Sakai, Y.; Okada, T.; Takahata, K.; Nishijima, S.;
By: Ueminami, K.; Ikeda, K.; Takasu, N.; Mori, T.; Ikisawa, K.; Sakai, Y.; Okada, T.; Takahata, K.; Nishijima, S.;
1991 / IEEE
By: Katagiri, K.; Nishijima, S.; Seo, K.; Murayama, Y.; Takasu, N.; Ikizawa, K.; Okada, T.;
By: Katagiri, K.; Nishijima, S.; Seo, K.; Murayama, Y.; Takasu, N.; Ikizawa, K.; Okada, T.;
2002 / IEEE
By: Watanabe, T.; Ozone, A.; Nakajima, H.; Fukui, S.; Hayatsu, M.; Nishijima, S.; Imaizumi, H.; Sato, T.; Yamaguchi, M.;
By: Watanabe, T.; Ozone, A.; Nakajima, H.; Fukui, S.; Hayatsu, M.; Nishijima, S.; Imaizumi, H.; Sato, T.; Yamaguchi, M.;
2004 / IEEE
By: Yoshizawa, S.; Yamazaki, S.; Nakane, H.; Yoshida, K.; Takeda, S.; Mishima, F.; Nishijima, S.; Izumi, Y.;
By: Yoshizawa, S.; Yamazaki, S.; Nakane, H.; Yoshida, K.; Takeda, S.; Mishima, F.; Nishijima, S.; Izumi, Y.;
2004 / IEEE
By: Takahashi, Y.; Fukui, S.; Watanabe, T.; Nishijima, S.; Oizumi, M.; Imaizumi, H.; Sato, T.; Yamaguchi, M.;
By: Takahashi, Y.; Fukui, S.; Watanabe, T.; Nishijima, S.; Oizumi, M.; Imaizumi, H.; Sato, T.; Yamaguchi, M.;
2004 / IEEE
By: Oizumi, M.; Imaizumi, H.; Sato, T.; Yamaguchi, M.; Nishijima, S.; Takahashi, M.; Fukui, S.; Fujita, T.; Watanabe, T.;
By: Oizumi, M.; Imaizumi, H.; Sato, T.; Yamaguchi, M.; Nishijima, S.; Takahashi, M.; Fukui, S.; Fujita, T.; Watanabe, T.;
2005 / IEEE
By: Takahashi, M.; Watanabe, T.; Nishijima, S.; Oizumi, M.; Imaizumi, H.; Sato, T.; Yamaguchi, M.; Ogawa, J.; Fukui, S.; Umeki, T.;
By: Takahashi, M.; Watanabe, T.; Nishijima, S.; Oizumi, M.; Imaizumi, H.; Sato, T.; Yamaguchi, M.; Ogawa, J.; Fukui, S.; Umeki, T.;
2006 / IEEE / 0-7803-9734-7
By: Odate, N.; Nishijima, S.; Saito, M.; Fujisawa, H.; Yoshizawa, H.; Sakai, Y.; Hirose, Y.; Ishihara, T.; Sugiyama, I.; Yoda, K.;
By: Odate, N.; Nishijima, S.; Saito, M.; Fujisawa, H.; Yoshizawa, H.; Sakai, Y.; Hirose, Y.; Ishihara, T.; Sugiyama, I.; Yoda, K.;
2008 / IEEE
By: Sasaki, A.; Muragaki, Y.; Iseki, H.; Joh, J.; Yamamoto, M.; Jun, K.; Mishima, F.; Takeda, S.; Nishijima, S.; Tabata, Y.; Saho, N.;
By: Sasaki, A.; Muragaki, Y.; Iseki, H.; Joh, J.; Yamamoto, M.; Jun, K.; Mishima, F.; Takeda, S.; Nishijima, S.; Tabata, Y.; Saho, N.;
2009 / IEEE
By: Saho, N.; Sasaki, A.; Muragaki, Y.; Iseki, H.; Tabata, Y.; Mishima, F.; Nishijima, S.;
By: Saho, N.; Sasaki, A.; Muragaki, Y.; Iseki, H.; Tabata, Y.; Mishima, F.; Nishijima, S.;
2010 / IEEE / 978-1-889335-42-1
By: Hisamori, K.; Nishijima, S.; Yamada, K.; Mishima, F.; Akiyama, Y.; Maekawa, Y.; Abe, T.;
By: Hisamori, K.; Nishijima, S.; Yamada, K.; Mishima, F.; Akiyama, Y.; Maekawa, Y.; Abe, T.;
2010 / IEEE / 978-1-889335-42-1
By: Nishijima, S.; Maekawa, Y.; Abe, T.; Mori, T.; Akiyama, Y.; Iwaki, S.; Sutani, K.; Mishima, F.;
By: Nishijima, S.; Maekawa, Y.; Abe, T.; Mori, T.; Akiyama, Y.; Iwaki, S.; Sutani, K.; Mishima, F.;