Author: Nielsen, J.

2011 / IEEE / 978-1-61284-425-1
By: Nielsen, J.; Sand, A.;

2011 / IEEE / 978-1-4577-0611-0
By: Kanters, J.K.; Nielsen, J.; Graff, C.; Struijk, J.J.; Toft, E.; Schmidt, S.E.; Matz, J.;

2012 / IEEE / 978-1-4673-0387-3
By: Nielsen, J.; Dehghanian, V.; Jafarnia-Jahromi, A.; Broumandan, A.; Lachapelle, G.;

2015 / IEEE
By: Nielsen, J.; Nielsen, J. B. B.; Larsen, J.;

1989 / IEEE
By: Richards, J.T.; Nielsen, J.;

1991 / IEEE
By: Nielsen, J.;

1991 / IEEE
By: Nielsen, J.; Hoefer, W.;

1992 / IEEE
By: Nielsen, J.;

1992 / IEEE
By: Chatenoud, F.; Nielsen, J.; Normandin, R.; Janz, S.; Dai, H.; Williams, R.;

1993 / IEEE
By: Nielsen, J.;

1995 / IEEE
By: Nielsen, J.;

1995 / IEEE
By: Nielsen, J.;

1995 / IEEE
By: Nielsen, J.;

1994 / IEEE / 0-7803-2129-4
By: Nielsen, J.; Sandini, G.;

1996 / IEEE
By: Nielsen, J.;

1996 / IEEE
By: Faber, J.M.; Nielsen, J.;

1996 / IEEE
By: Nielsen, J.;

1996 / IEEE
By: Nielsen, J.;

1996 / IEEE
By: Miller, A.; Nielsen, J.;

1996 / IEEE
By: Nielsen, J.;

1996 / IEEE
By: Nielsen, J.;

1997 / IEEE
By: Nielsen, J.;

1996 / IEEE / 0-7803-3253-9
By: Sandini, G.; Manganas, A.; Woelder, W.; Scheffer, D.; Sassi, A.; Questa, P.; Nielsen, J.; Mannucci, A.; Argyros, A.; Hermans, L.; Guerin, C.; Frowein, H.; Ferrari, F.; Dierickx, B.; Dario, P.; Auffret, E.;

1997 / IEEE
By: Nielsen, J.;

1997 / IEEE
By: Nielsen, J.;

1998 / IEEE / 0-7803-4320-4
By: Lai, S.; Nielsen, J.; Bedard, C.;

1999 / IEEE / 0-7803-5180-0
By: Nielsen, J.; Arai, T.; Tanikawa, T.;

1999 / IEEE / 0-7803-5668-3
By: Nielsen, J.; Strawczynski, L.; Yiping Wang;

1999 / IEEE / 0-7803-5780-9
By: Symington, S.; Nielsen, J.; Tufarolo, J.; Hyon, T.C.; Ivers, J.; Wilson, A.; Weatherly, R.;

1999 / IEEE / 0-7803-5780-9
By: Ivers, J.; Wilson, A.; Weatherly, R.; Symington, S.; Nielsen, J.; Tufaroio, J.; Hyon, T.C.;

2002 / IEEE / 0-7803-7376-6
By: Nordstrom, E.; Nielsen, J.; Lundberg, D.; Lundgren, H.; Tschudin, C.;

2001 / IEEE / 0-7803-7324-3
By: Re, V.; Borean, C.; Bozzi, C.; Carassiti, V.; Cotta Ramusino, A.; Piemontese, L.; Breon, A.B.; Brown, D.; Clark, A.R.; Goozen, F.; Hernikl, C.; Kerth, L.T.; Gritsan, A.; Lynch, G.; Perazzo, A.; Roe, N.A.; Zizka, G.; Roberts, D.; Schieck, J.; Brenna, E.; Citterio, M.; Lanni, F.; Palombo, F.; Ratti, L.; Manfredi, P.F.; Angelini, C.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Bondioli, M.; Bosi, F.; Bucci, F.; Calderini, G.; Carpinelli, M.; Ceccanti, M.; Forti, F.; Gagliardi, D.; Giorgi, M.A.; Lusiani, A.; Mammini, P.; Morganti, M.; Morsani, F.; Neri, N.; Paoloni, E.; Profeti, A.; Rama, M.; Rizzo, G.; Sandrelli, F.; Simi, G.; Triggiani, G.; Walsh, J.; Burchat, P.; Cheng, C.; Kirkby, D.; Meyer, T.I.; Roat, C.; Bona, M.; Bianchi, F.; Gamba, D.; Trapani, P.; Bosisio, L.; Della Ricca, G.; Dittongo, S.; Lanceri, L.; Pompili, A.; Poropat, P.; Rashevskaia, I.; Vuagnin, G.; Burke, S.; Callahan, D.; Campagnari, C.; Dahmes, B.; Hale, D.; Hart, P.; Kuznetsova, N.; Kyre, S.; Levy, S.; Long, O.; May, J.; Mazur, M.; Richman, J.; Verkerke, W.; Witherell, M.; Beringer, J.; Eisner, A.M.; Frey, A.; Grillo, A.A.; Grothe, M.; Johnson, R.P.; Kroeger, W.; Lockman, W.S.; Pulliam, T.; Rowe, W.; Schmitz, R.E.; Seiden, A.; Spencer, E.N.; Turri, M.; Walkoviak, W.; Wilder, M.; Wilson, M.; Charles, E.; Elmer, P.; Nielsen, J.; Orejudos, W.; Scott, I.; Zobernig, H.; Laplace, S.;

1974 / IEEE
By: Brandle, C.; Hagedorn, F.; Blank, S.; Nielsen, J.;

1974 / IEEE
By: Licht, S.; Nielsen, J.; Brandle, C.;

1976 / IEEE
By: Nielsen, J.;

1977 / IEEE
By: Biolsi, W.; Blank, S.; Nielsen, J.;

1971 / IEEE
By: Bobeck, A.; Robinson, M.; Nielsen, J.; Bobeck, A.; Robinson, M.; Nielsen, J.;

1973 / IEEE
By: Nielsen, J.; Levinstein, H.; Johnson, W.; Byrnes, P.; Le Craw, R.; Wolfe, R.; Spiwak, R.;

2002 / IEEE
By: Re, V.; Borean, C.; Bozzi, C.; Carassiti, V.; Ramusino, A.C.; Piemontese, L.; Breon, A.B.; Brown, D.; Clark, A.R.; Goozen, F.; Hernikl, C.; Kerth, L.T.; Gritsan, A.; Lynch, G.; Perazzo, A.; Roe, N.A.; Zizka, G.; Roberts, D.; Schieck, J.; Brenna, E.; Citterio, A.; Lanni, F.; Palombo, F.; Ratti, L.; Manfredi, P.F.; Angelini, C.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Bondioli, M.; Bosi, F.; Bucci, F.; Calderini, G.; Carpinelli, A.; Ceccanti, M.; Forti, F.; Gagliardi, D.; Giorgi, M.A.; Lusiani, A.; Mammini, P.; Morganti, M.; Morsani, F.; Neri, N.; Paoloni, E.; Profeti, A.; Rama, M.; Rizzo, G.; Sandrelli, F.; Simi, G.; Triggiani, G.; Walsh, J.; Burchat, P.; Cheng, C.; Kirkby, D.; Meyer, T.I.; Roat, C.; Bona, A.; Bianchi, F.; Gamba, D.; Trapani, P.; Bosisio, L.; Della Ricca, G.; Dittongo, S.; Lanceri, L.; Pompili, A.; Poropat, P.; Rashevskaia, I.; Vuagnin, G.; Burke, S.; Callahan, D.; Campagnari, C.; Dahmes, B.; Hale, D.; Hart, P.; Kuznetsova, N.; Kyre, S.; Levy, S.; Long, O.; May, J.; Mazur, M.; Richman, J.; Verkerke, W.; Witherell, M.; Beringer, J.; Eisner, A.A.; Frey, A.; Grillo, A.A.; Grothe, A.; Johnson, R.P.; Kroeger, W.; Lockman, W.S.; Pulliam, T.; Rowe, W.; Schmitz, R.E.; Seiden, A.; Spencer, E.N.; Turri, M.; Walkoviak, W.; Wilder, M.; Wilson, M.; Charles, E.; Elmer, P.; Nielsen, J.; Orejudos, W.; Scott, I.; Zobernig, H.; Laplace, S.;

2002 / IEEE / 0-7695-1683-1
By: Falkman, P.; Lennartson, B.; Nielsen, J.;

2003 / IEEE / 0-7803-7860-1
By: Nielsen, J.; Lund, H.H.;

2003 / IEEE / 0-7803-7888-1
By: Johnson, E.; Woodard, N.; Logan, R.T., Jr.; Nielsen, J.; Chien Chen; Demers, J.;

2004 / IEEE / 0-7803-8267-6
By: Martelli, C.; Francese, P.A.; Qiuting Huang; Nielsen, J.;

2004 / IEEE / 0-7803-8253-6
By: Pasand, R.; Sesay, A.B.; Nielsen, J.;

2004 / IEEE / 0-7803-8521-7
By: Nielsen, J.; Khaleshosseini, S.; Pasand, R.; Sesay, A.;

2004 / IEEE / 0-7803-8510-1
By: Andreani, P.; Nielsen, J.; Wismar, U.;

2003 / IEEE
By: Nielsen, J.; Zwierzchowski, S.;

2004 / IEEE / 0-7803-8847-X
By: Sesay, A.; Nielsen, J.; Pasand, R.;

2005 / IEEE / 0-7695-2338-2
By: Lund, H.H.; Vesisenaho, M.; Sutinen, E.; Nielsen, J.;

2005 / IEEE / 0-7803-9195-0
By: Enteshari, A.; Nielsen, J.; Pasand, R.;

2005 / IEEE / 0-7803-8887-9
By: Pasand, R.; Nielsen, J.; Khalesehosseini, S.;

2005 / IEEE / 0-7803-8885-2
By: Khalesehosseini, S.; Nielsen, J.; Pasand, R.;

2005 / IEEE / 0-7803-8885-2
By: Khalesehosseini, S.; Pasand, R.; Nielsen, J.;

2006 / IEEE / 0-7695-2633-0
By: Nielsen, J.; Lund, H.H.;

1985 / IEEE
By: Nielsen, J.;

2006 / IEEE / 1-4244-0142-9
By: Serrat, J.; Marin, R.; Nielsen, J.; Georgalas, N.; Parker, D.; Lehtihet, E.; Carroll, R.; Fahy, C.; Zach, M.;

2006 / IEEE / 1-4244-0416-9
By: Townsend, K.A.; Nielsen, J.; Haslett, J.W.; Belostotski, L.;

2006 / IEEE
By: Nielsen, J.; Pasand, R.;

2006 / IEEE / 1-4244-0038-4
By: Nielsen, J.; Pasand, R.; Enteshari, A.;

2006 / IEEE / 1-4244-0038-4
By: Abedi, O.; Nielsen, J.;

2006 / IEEE / 1-4244-0102-X
By: Khalesehosseini, S.; Nielsen, J.;

2006 / IEEE / 1-4244-0617-X
By: Sethi, S.; Nielsen, J.; Pasand, R.;

2006 / IEEE / 1-4244-0564-5
By: Derakhshan, A.; Marti, P.; Lund, H.H.; Nielsen, J.; Klitbo, T.; Beck, R.;

2006 / IEEE / 1-4244-0062-7
By: Abedi, O.; Fallah, N.; Nielsen, J.;

2007 / IEEE / 1-4244-0266-2
By: Bauch, G.; Khan, S.; Steinbach, E.; Andersen, J.B.; Nielsen, J.; Herdin, M.; Nossek, J.A.; Utschick, W.; Guthy, C.; Tejera, P.;

2007 / IEEE / 1-4244-0658-7
By: Guthy, C.; Bach Andersen, J.; Bauch, G.; Utschick, W.; Herdin, M.; Tejera, P.; Nossek, J.A.; Nielsen, J.;

2007 / IEEE / 1-4244-0920-9
By: Haslett, J.W.; Townsend, K.A.; Nielsen, J.;

2007 / IEEE / 1-4244-0768-0
By: Nielsen, J.; Khalesehosseini, S.;

2007 / IEEE / 1-4244-0768-0
By: Khalesehosseini, S.; Nielsen, J.;

2007 / IEEE / 1-4244-0353-7
By: Khalesehosseini, S.; Nielsen, J.;

2008 / IEEE / 978-1-4244-1722-3
By: Broumandan, A.; Lachapelle, G.; Nielsen, J.;

2008 / IEEE / 978-1-4244-1722-3
By: Broumandan, A.; Lachapelle, G.; Nielsen, J.;

2008 / IEEE / 978-1-4244-1722-3
By: Lachapelle, G.; Nielsen, J.; Lin, T.; Broumandan, A.;

2008 / IEEE / 978-1-4244-1722-3
By: Sharmeen, S.; Fattouche, M.; Nielsen, J.;

2008 / IEEE / 978-1-4244-1722-3
By: Nielsen, J.; Khalesehosseini, S.;

2008 / IEEE / 978-1-4244-1722-3
By: Ma, Y.; Mensing, C.; Sand, S.; Fleury, B.H.; Tafazolli, R.; Nielsen, J.; Figueiras, J.; Yin, X.;

2009 / IEEE / 978-1-4244-2979-0
By: Nielsen, J.; Broumandan, A.; Lachapelle, G.;

2009 / IEEE / 978-1-4244-2979-0
By: Broumandan, A.; Lachapelle, G.; Nielsen, J.;

2009 / IEEE / 978-0-7695-3739-9
By: Pedersen, C.; Nielsen, J.; Mailund, T.;

2009 / IEEE / 978-1-4244-7282-6
By: Nielsen, J.; Kanters, J.K.; Andersen, M.P.; Matz, J.; Xue, J.Q.; Struijk, J.J.; Graff, C.; Toft, E.;

2010 / IEEE
By: Nielsen, J.; Broumandan, A.; Lachapelle, G.;

2010 / IEEE / 978-1-4244-7101-0
By: Rogers, B.; Rock, L.; Nielsen, J.; YangQuan Chen; Adams, J.; Dalia, A.;

2010 / IEEE / 978-1-4244-4967-5
By: Nielsen, J.; Dehghanian, V.; Lachapelle, G.;

2010 / IEEE / 978-1-4244-5376-4
By: Lachapelle, G.; Nielsen, J.; Broumandan, A.;

2010 / IEEE / 978-1-4244-5376-4
By: Nielsen, J.; Dehghanian, V.; Aflaki, P.; Lachapelle, G.;

2010 / IEEE / 978-1-4244-5376-4
By: Lachapelle, G.; Nielsen, J.; Dehghanian, V.;

2010 / IEEE
By: Nielsen, J.; Dehghanian, V.; Lachapelle, G.;

2010 / IEEE / 978-1-4244-6317-6
By: Dehghanian, V.; Lachapelle, G.; Nielsen, J.;

2010 / IEEE / 978-1-4244-6317-6
By: Lachapelle, G.; Nielsen, J.; Zaheri, M.; Dehghanian, V.;

2011 / IEEE
By: Nielsen, J.; Broumandan, A.; Lachapelle, G.;

2011 / IEEE / 978-1-4244-4127-3
By: Wright, S.M.; Noll, D.; Nielsen, J.; Hollingsworth, N.A.; Moody, K.L.; McDougall, M.P.;

2011 / IEEE / 978-1-61284-233-2
By: Nielsen, J.; Meybodi, S.A.; Dohler, M.; Bendtsen, J.;