Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Narayanan, V.
Results
2012 / IEEE
By: McGuinness, D.L.; Albelson, H.; Narayanan, V.; Nanda, S.; Lukowicz, P.; Jordan, M.I.;
By: McGuinness, D.L.; Albelson, H.; Narayanan, V.; Nanda, S.; Lukowicz, P.; Jordan, M.I.;
2011 / IEEE / 978-1-4503-0636-2
By: Datta, S.; Chun-Yao Wang; Eachempati, S.; Yung-Chih Chen; Narayanan, V.; Yuan Xie;
By: Datta, S.; Chun-Yao Wang; Eachempati, S.; Yung-Chih Chen; Narayanan, V.; Yuan Xie;
2011 / IEEE / 978-1-61284-175-5
By: Cheng, K.; Khakifirooz, A.; Kulkarni, P.; Ponoth, S.; Haran, B.; Kumar, A.; Adam, T.; Reznicek, A.; Loubet, N.; He, H.; Kuss, J.; Wang, M.; Levin, T.M.; Monsieur, F.; Liu, Q.; Sreenivasan, R.; Cai, J.; Kimball, A.; Mehta, S.; Luning, S.; Zhu, Y.; Zhu, Z.; Yamamoto, T.; Bryant, A.; Lin, C.; Naczas, S.; Jagannathan, H.; Edge, L.F.; Allegret-Maret, S.; Dube, A.; Kanakasabapathy, S.; Schmitz, S.; Inada, A.; Seo, S.; Raymond, M.; Zhang, Z.; Yagishita, A.; Demarest, J.; Li, J.; Hopstaken, M.; Berliner, N.; Upham, A.; Johnson, R.; Holmes, S.; Standaert, T.; Smalley, M.; Zamdmer, N.; Ren, Z.; Wu, T.; Bu, H.; Paruchuri, V.; Sadana, D.; Narayanan, V.; Haensch, W.; O'Neill, J.; Hook, T.; Khare, M.; Doris, B.;
By: Cheng, K.; Khakifirooz, A.; Kulkarni, P.; Ponoth, S.; Haran, B.; Kumar, A.; Adam, T.; Reznicek, A.; Loubet, N.; He, H.; Kuss, J.; Wang, M.; Levin, T.M.; Monsieur, F.; Liu, Q.; Sreenivasan, R.; Cai, J.; Kimball, A.; Mehta, S.; Luning, S.; Zhu, Y.; Zhu, Z.; Yamamoto, T.; Bryant, A.; Lin, C.; Naczas, S.; Jagannathan, H.; Edge, L.F.; Allegret-Maret, S.; Dube, A.; Kanakasabapathy, S.; Schmitz, S.; Inada, A.; Seo, S.; Raymond, M.; Zhang, Z.; Yagishita, A.; Demarest, J.; Li, J.; Hopstaken, M.; Berliner, N.; Upham, A.; Johnson, R.; Holmes, S.; Standaert, T.; Smalley, M.; Zamdmer, N.; Ren, Z.; Wu, T.; Bu, H.; Paruchuri, V.; Sadana, D.; Narayanan, V.; Haensch, W.; O'Neill, J.; Hook, T.; Khare, M.; Doris, B.;
2011 / IEEE / 978-1-4503-0636-2
By: Kestur, S.; Irick, K.; Sungho Park; Al Maashri, A.; Narayanan, V.; Chakrabarti, C.;
By: Kestur, S.; Irick, K.; Sungho Park; Al Maashri, A.; Narayanan, V.; Chakrabarti, C.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-660-6
By: Kultursay, E.; Swaminathan, K.; Datta, S.; Kandemir, M.; Narayanan, V.; Saripalli, V.;
By: Kultursay, E.; Swaminathan, K.; Datta, S.; Kandemir, M.; Narayanan, V.; Saripalli, V.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9949-6
By: Seo, S.; Edge, L.F.; Paruchuri, V.K.; Narayanan, V.; Khare, M.; Divakaruni, R.; Doris, B.; Stathis, J.H.; Park, D.; Cartier, E.A.; Chang, J.; Brown, S.L.; Hopstaken, M.; Bruley, J.; Haran, B.; Vo, T.; Li, J.T.; Horak, D.; Fan, S.; Sankarapandian, M.; Ariyoshi, K.; Jamison, P.; Watanabe, K.; Wang, M.M.; Adam, L.; Inada, A.; Frank, M.; Kanakasabapathy, S.;
By: Seo, S.; Edge, L.F.; Paruchuri, V.K.; Narayanan, V.; Khare, M.; Divakaruni, R.; Doris, B.; Stathis, J.H.; Park, D.; Cartier, E.A.; Chang, J.; Brown, S.L.; Hopstaken, M.; Bruley, J.; Haran, B.; Vo, T.; Li, J.T.; Horak, D.; Fan, S.; Sankarapandian, M.; Ariyoshi, K.; Jamison, P.; Watanabe, K.; Wang, M.M.; Adam, L.; Inada, A.; Frank, M.; Kanakasabapathy, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9949-6
By: Guillorn, M.A.; Chang, J.; Haensch, W.; Fuller, N.; Narayanan, V.; Sikorski, E.; Graham, W.; To, B.; Bucchignano, J.; Klaus, D.P.; Kratschmer, E.; Newbury, J.; Zhang, Z.; Lavoie, C.; Lauer, I.; Mauer, S.; Khater, M.; Bangsaruntip, S.; Brink, M.; Liu, F.; Majumdar, A.; Ott, J.A.; Bruce, R.; Pyzyna, A.; Engelmann, S.; Glodde, M.; Joseph, E.;
By: Guillorn, M.A.; Chang, J.; Haensch, W.; Fuller, N.; Narayanan, V.; Sikorski, E.; Graham, W.; To, B.; Bucchignano, J.; Klaus, D.P.; Kratschmer, E.; Newbury, J.; Zhang, Z.; Lavoie, C.; Lauer, I.; Mauer, S.; Khater, M.; Bangsaruntip, S.; Brink, M.; Liu, F.; Majumdar, A.; Ott, J.A.; Bruce, R.; Pyzyna, A.; Engelmann, S.; Glodde, M.; Joseph, E.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9949-6
By: Cheng, K.; Khakifirooz, A.; Kulkarni, P.; Ponoth, S.; Haran, B.; Kumar, A.; Adam, T.; Reznicek, A.; Loubet, N.; He, H.; Kuss, J.; Wang, M.; Levin, T.M.; Monsieur, F.; Liu, Q.; Sreenivasan, R.; Cai, J.; Kimball, A.; Mehta, S.; Luning, S.; Zhu, Y.; Zhu, Z.; Yamamoto, T.; Bryant, A.; Lin, C.; Naczas, S.; Jagannathan, H.; Edge, L.F.; Allegret-Maret, S.; Dube, A.; Kanakasabapathy, S.; Schmitz, S.; Inada, A.; Seo, S.; Raymond, M.; Zhang, Z.; Yagishita, A.; Demarest, J.; Li, J.; Hopstaken, M.; Berliner, N.; Upham, A.; Johnson, R.; Holmes, S.; Standaert, T.; Smalley, M.; Zamdmer, N.; Ren, Z.; Wu, T.; Bu, H.; Paruchuri, V.; Sadana, D.; Narayanan, V.; Haensch, W.; O'Neill, J.; Hook, T.; Khare, M.; Doris, B.;
By: Cheng, K.; Khakifirooz, A.; Kulkarni, P.; Ponoth, S.; Haran, B.; Kumar, A.; Adam, T.; Reznicek, A.; Loubet, N.; He, H.; Kuss, J.; Wang, M.; Levin, T.M.; Monsieur, F.; Liu, Q.; Sreenivasan, R.; Cai, J.; Kimball, A.; Mehta, S.; Luning, S.; Zhu, Y.; Zhu, Z.; Yamamoto, T.; Bryant, A.; Lin, C.; Naczas, S.; Jagannathan, H.; Edge, L.F.; Allegret-Maret, S.; Dube, A.; Kanakasabapathy, S.; Schmitz, S.; Inada, A.; Seo, S.; Raymond, M.; Zhang, Z.; Yagishita, A.; Demarest, J.; Li, J.; Hopstaken, M.; Berliner, N.; Upham, A.; Johnson, R.; Holmes, S.; Standaert, T.; Smalley, M.; Zamdmer, N.; Ren, Z.; Wu, T.; Bu, H.; Paruchuri, V.; Sadana, D.; Narayanan, V.; Haensch, W.; O'Neill, J.; Hook, T.; Khare, M.; Doris, B.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0803-9
By: Mukundrajan, R.; Swaminathan, K.; Narayanan, V.; Soundararajan, N.;
By: Mukundrajan, R.; Swaminathan, K.; Narayanan, V.; Soundararajan, N.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1484-9
By: Irick, K.M.; Yongseok Jin; Sungmin Bae; Cho, Y.C.P.; Narayanan, V.;
By: Irick, K.M.; Yongseok Jin; Sungmin Bae; Cho, Y.C.P.; Narayanan, V.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1921-9
By: Narayanan, V.; Yu, C.-L.; DeBole, M.; Al Maashri, A.; Chakrabarti, C.;
By: Narayanan, V.; Yu, C.-L.; DeBole, M.; Al Maashri, A.; Chakrabarti, C.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1400-9
By: Cotter, M.; Maashri, A.A.; DeBole, M.; Narayanan, V.; Chakrabarti, C.; Yu, C.-L.;
By: Cotter, M.; Maashri, A.A.; DeBole, M.; Narayanan, V.; Chakrabarti, C.; Yu, C.-L.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0323-1
By: Narayanan, V.; Chakrabarti, C.; Cotter, M.; Maashri, A.A.; Chi-Li Yu; Yang Xiao; DeBole, M.;
By: Narayanan, V.; Chakrabarti, C.; Cotter, M.; Maashri, A.A.; Chi-Li Yu; Yang Xiao; DeBole, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0074-2
By: Suresh, R.; Stephen, A.; Vijayalakshmi, L.; Narayanan, V.; Giribabu, K.;
By: Suresh, R.; Stephen, A.; Vijayalakshmi, L.; Narayanan, V.; Giribabu, K.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0074-2
By: Saravanan, R.; Narayanan, V.; Prakash, T.; Stephen, A.; Kumaresan, M.;
By: Saravanan, R.; Narayanan, V.; Prakash, T.; Stephen, A.; Kumaresan, M.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-2145-8
By: Narayanan, V.; Sabarad, J.; Kestur, S.; Mi Sun Park; Irwin, M.J.;
By: Narayanan, V.; Sabarad, J.; Kestur, S.; Mi Sun Park; Irwin, M.J.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0772-7
By: Kestur, S.; Sabarad, J.; Khosla, D.; Yang Chen; Narayanan, V.; Dantara, D.; Mi Sun Park;
By: Kestur, S.; Sabarad, J.; Khosla, D.; Yang Chen; Narayanan, V.; Dantara, D.; Mi Sun Park;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0074-2
By: Narayanan, V.; Suresh, R.; Giribabu, K.; Stephen, A.; Vijayalakshmi, L.;
By: Narayanan, V.; Suresh, R.; Giribabu, K.; Stephen, A.; Vijayalakshmi, L.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0847-2
By: Kwon, U.; Wong, K.; Chudzik, M.P.; Chen, X.; Divakaruni, R.; Narayanan, V.; Krishnan, M.; Paruchuri, V.; Muncy, J.; Zhang, Y.; Salvador, D.S.; Cutler, J.; Lai, W.L.; Ramachandran, R.; Kim, I.; Bao, R.; Liu, Y.; Krishnan, S.A.; Econimikos, L.; Zhang, X.; Ortolland, C.; Thanh, L.D.; Laloe, J.; Huang, J.Y.; Edge, L.F.; Wang, H.M.; Gribelyuk, M.A.; Rath, D.L.; Bingert, R.;
By: Kwon, U.; Wong, K.; Chudzik, M.P.; Chen, X.; Divakaruni, R.; Narayanan, V.; Krishnan, M.; Paruchuri, V.; Muncy, J.; Zhang, Y.; Salvador, D.S.; Cutler, J.; Lai, W.L.; Ramachandran, R.; Kim, I.; Bao, R.; Liu, Y.; Krishnan, S.A.; Econimikos, L.; Zhang, X.; Ortolland, C.; Thanh, L.D.; Laloe, J.; Huang, J.Y.; Edge, L.F.; Wang, H.M.; Gribelyuk, M.A.; Rath, D.L.; Bingert, R.;
2012 / IEEE / 978-1-4503-1199-1
By: Jog, A.; Das, C.R.; Iyer, R.; Narayanan, V.; Yuan Xie; Cong Xu; Mishra, A.K.;
By: Jog, A.; Das, C.R.; Iyer, R.; Narayanan, V.; Yuan Xie; Cong Xu; Mishra, A.K.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0847-2
By: Huiling Shang; Jain, S.; Josse, E.; Alptekin, E.; Nam, M.H.; Kim, S.W.; Cho, K.H.; Kim, I.; Liu, Y.; Yang, X.; Wu, X.; Ciavatti, J.; Kim, N.S.; Vega, R.; Kang, L.; Meer, H.V.; Samavedam, S.; Celik, M.; Soss, S.; Utomo, H.; Ramachandran, R.; Lai, W.; Sardesai, V.; Tran, C.; Kim, J.Y.; Park, Y.H.; Tan, W.L.; Shimizu, T.; Joy, R.; Strane, J.; Tabakman, K.; Lalanne, F.; Montanini, P.; Babich, K.; Kim, J.B.; Economikos, L.; Cote, W.; Reddy, C.; Belyansky, M.; Arndt, R.; Kwon, U.; Wong, K.; Koli, D.; Levedakis, D.; Lee, J.W.; Muncy, J.; Krishnan, S.; Schepis, D.; Chen, X.; Kim, B.D.; Tian, C.; Linder, B.P.; Cartier, E.; Narayanan, V.; Northrop, G.; Menut, O.; Meiring, J.; Thomas, A.; Aminpur, M.; Park, S.H.; Lee, K.Y.; Kim, B.Y.; Rhee, S.H.; Hamieh, B.; Srivastava, R.; Koshy, R.; Goldberg, C.; Pallachalil, M.; Chae, M.; Ogino, A.; Watanabe, T.; Oh, M.; Mallela, H.; Codi, D.; Malinge, P.; Weybright, M.; Mann, R.; Mittal, A.; Eller, M.; Lian, S.; Li, Y.; Divakaruni, R.; Bukofsky, S.; Kim, J.D.; Sudijono, J.; Neumueller, W.; Matsuoka, F.; Sampson, R.;
By: Huiling Shang; Jain, S.; Josse, E.; Alptekin, E.; Nam, M.H.; Kim, S.W.; Cho, K.H.; Kim, I.; Liu, Y.; Yang, X.; Wu, X.; Ciavatti, J.; Kim, N.S.; Vega, R.; Kang, L.; Meer, H.V.; Samavedam, S.; Celik, M.; Soss, S.; Utomo, H.; Ramachandran, R.; Lai, W.; Sardesai, V.; Tran, C.; Kim, J.Y.; Park, Y.H.; Tan, W.L.; Shimizu, T.; Joy, R.; Strane, J.; Tabakman, K.; Lalanne, F.; Montanini, P.; Babich, K.; Kim, J.B.; Economikos, L.; Cote, W.; Reddy, C.; Belyansky, M.; Arndt, R.; Kwon, U.; Wong, K.; Koli, D.; Levedakis, D.; Lee, J.W.; Muncy, J.; Krishnan, S.; Schepis, D.; Chen, X.; Kim, B.D.; Tian, C.; Linder, B.P.; Cartier, E.; Narayanan, V.; Northrop, G.; Menut, O.; Meiring, J.; Thomas, A.; Aminpur, M.; Park, S.H.; Lee, K.Y.; Kim, B.Y.; Rhee, S.H.; Hamieh, B.; Srivastava, R.; Koshy, R.; Goldberg, C.; Pallachalil, M.; Chae, M.; Ogino, A.; Watanabe, T.; Oh, M.; Mallela, H.; Codi, D.; Malinge, P.; Weybright, M.; Mann, R.; Mittal, A.; Eller, M.; Lian, S.; Li, Y.; Divakaruni, R.; Bukofsky, S.; Kim, J.D.; Sudijono, J.; Neumueller, W.; Matsuoka, F.; Sampson, R.;
2012 / IEEE / 978-1-4503-1199-1
By: DeBole, M.; Maashri, A.A.; Chakrabarti, C.; Narayanan, V.; Yang Xiao; Chandramoorthy, N.; Cotter, M.;
By: DeBole, M.; Maashri, A.A.; Chakrabarti, C.; Narayanan, V.; Yang Xiao; Chandramoorthy, N.; Cotter, M.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-1605-7
By: Kestur, S.; Khosla, D.; Yang Chen; Narayanan, V.; Dantara, D.; Sabarad, J.; Mi Sun Park;
By: Kestur, S.; Khosla, D.; Yang Chen; Narayanan, V.; Dantara, D.; Sabarad, J.; Mi Sun Park;
2012 / IEEE
By: Krishnamurthy, M.; Mondal, Sudipta; Ray, Krishanu; Kundu, M.; Ravindra Kumar, G.; Singh, Prashant Kumar; Lad, Amit D.; Bane, Kartik; Ahmed, Saima; Narayanan, V.; Rajeev, R.; Chatterjee, Gourab;
By: Krishnamurthy, M.; Mondal, Sudipta; Ray, Krishanu; Kundu, M.; Ravindra Kumar, G.; Singh, Prashant Kumar; Lad, Amit D.; Bane, Kartik; Ahmed, Saima; Narayanan, V.; Rajeev, R.; Chatterjee, Gourab;
2015 / IEEE
By: Wong, K.; Kwon, U.; Bao, R.; Miao, X.; Krishnan, S.; Rausch, W.; Narayanan, V.; Grunow, S.; Wachnik, R.; Weng, W.; Li, X.;
By: Wong, K.; Kwon, U.; Bao, R.; Miao, X.; Krishnan, S.; Rausch, W.; Narayanan, V.; Grunow, S.; Wachnik, R.; Weng, W.; Li, X.;
2014 / IEEE
By: Ando, T.; Kannan, B.; Narayanan, V.; Krishnan, S. A.; Bruley, J.; Copel, M.; Haight, R.; Cartier, E. A.; Linder, B. P.; Kwon, U.; Lai, W. L.;
By: Ando, T.; Kannan, B.; Narayanan, V.; Krishnan, S. A.; Bruley, J.; Copel, M.; Haight, R.; Cartier, E. A.; Linder, B. P.; Kwon, U.; Lai, W. L.;
2014 / IEEE
By: Theis, T.N.; Narayanan, V.; Frank, M.M.; Dubourdieu, C.; Solomon, P.M.; Frank, D.J.;
By: Theis, T.N.; Narayanan, V.; Frank, M.M.; Dubourdieu, C.; Solomon, P.M.; Frank, D.J.;
2003 / IEEE
By: Narayanan, V.; Kandemir, M.; Irwin, M.J.; Hu, J.S.; Kim, N.S.; Mudge, T.; Baauw, D.; Austin, T.; Flautner, K.;
By: Narayanan, V.; Kandemir, M.; Irwin, M.J.; Hu, J.S.; Kim, N.S.; Mudge, T.; Baauw, D.; Austin, T.; Flautner, K.;
2004 / IEEE / 0-7695-2132-0
By: Narayanan, V.; Brooks, R.R.; Swankoski, E.J.; Irwin, M.J.; Kandemir, M.;
By: Narayanan, V.; Brooks, R.R.; Swankoski, E.J.; Irwin, M.J.; Kandemir, M.;
2004 / IEEE / 0-7803-8315-X
By: McFeely, F.R.; Narayanan, V.; Stathis, J.H.; Lombardo, S.; Palumbo, F.; Yurkas, J.J.;
By: McFeely, F.R.; Narayanan, V.; Stathis, J.H.; Lombardo, S.; Palumbo, F.; Yurkas, J.J.;
2004 / IEEE / 0-7803-8289-7
By: Jamison, P.; Cabral, C., Jr.; Gusev, E.P.; Narayanan, V.; Cartier, E.; Jammy, R.; Guha, S.; Lacey, D.; Newbury, J.; D'Emic, C.; Carruthers, R.; Linder, B.; Chudzik, M.P.; Gribelyuk, M.; Callegari, A.; Zafar, S.; Cohen, S.A.; Copel, M.; Bojarczuk, N.; Frank, M.; Chan, K.K.; Steen, M.;
By: Jamison, P.; Cabral, C., Jr.; Gusev, E.P.; Narayanan, V.; Cartier, E.; Jammy, R.; Guha, S.; Lacey, D.; Newbury, J.; D'Emic, C.; Carruthers, R.; Linder, B.; Chudzik, M.P.; Gribelyuk, M.; Callegari, A.; Zafar, S.; Cohen, S.A.; Copel, M.; Bojarczuk, N.; Frank, M.; Chan, K.K.; Steen, M.;
2004 / IEEE / 0-7803-8289-7
By: Cabral, C., Jr.; Jammy, R.; Carruthers, R.; Kozlowski, P.; Linder, B.; Kedzierski, J.; Fang, S.; Narayanan, V.; Zafar, S.; Steegen, A.;
By: Cabral, C., Jr.; Jammy, R.; Carruthers, R.; Kozlowski, P.; Linder, B.; Kedzierski, J.; Fang, S.; Narayanan, V.; Zafar, S.; Steegen, A.;
2004 / IEEE / 0-7803-8289-7
By: Park, D.-G.; Luo, Z.J.; Wann, C.H.; Sekiguchi, A.; Ng, H.; Rengarajan, R.; Jammy, R.; Wise, R.; Steegen, A.; Narayanan, V.; D'Emic, C.; Kozlowski, P.; Duch, E.; Kim, H.; Ku, V.; Mitchell, R.; Chakravarti, A.; Ronsheim, P.; Gluschenkov, O.; Bruley, J.; Chudzik, M.; Chou, A.; Lee, B.H.; Jamison, P.; Edleman, N.; Zhu, W.; Nguyen, P.; Wong, K.; Cabral, C.;
By: Park, D.-G.; Luo, Z.J.; Wann, C.H.; Sekiguchi, A.; Ng, H.; Rengarajan, R.; Jammy, R.; Wise, R.; Steegen, A.; Narayanan, V.; D'Emic, C.; Kozlowski, P.; Duch, E.; Kim, H.; Ku, V.; Mitchell, R.; Chakravarti, A.; Ronsheim, P.; Gluschenkov, O.; Bruley, J.; Chudzik, M.; Chou, A.; Lee, B.H.; Jamison, P.; Edleman, N.; Zhu, W.; Nguyen, P.; Wong, K.; Cabral, C.;
2004 / IEEE / 0-7803-8289-7
By: Nakamura, K.; Li, Y.; McFeely, F.R.; Callegari, A.; Narayanan, V.; Shahidi, G.; Ieong, M.; Jammy, R.; Wann, C.; Ng, H.; Duch, F.; Sikorski, E.; Jamison, P.; Lacey, D.; Kawano, Y.; Wajda, C.; Gribelyuk, M.; Cabral, C., Jr.; Milkove, K.; Nguyen, P.; Ku, V.; Steegen, A.; Cartier, E.; Zafar, S.;
By: Nakamura, K.; Li, Y.; McFeely, F.R.; Callegari, A.; Narayanan, V.; Shahidi, G.; Ieong, M.; Jammy, R.; Wann, C.; Ng, H.; Duch, F.; Sikorski, E.; Jamison, P.; Lacey, D.; Kawano, Y.; Wajda, C.; Gribelyuk, M.; Cabral, C., Jr.; Milkove, K.; Nguyen, P.; Ku, V.; Steegen, A.; Cartier, E.; Zafar, S.;
2004 / IEEE / 0-7803-8651-5
By: Sashikanth, M.; Chandrasekhar, V.; Sundar, E.S.; Narayanan, V.; Kamakoti, V.;
By: Sashikanth, M.; Chandrasekhar, V.; Sundar, E.S.; Narayanan, V.; Kamakoti, V.;
2004 / IEEE / 0-7803-8684-1
By: Gusev, E.P.; Cabral, C., Jr.; Under, B.P.; Kim, Y.H.; Maitra, K.; Carrier, E.; Nayfeh, H.; Amos, R.; Biery, G.; Bojarczuk, N.; Callegari, A.; Carruthers, R.; Cohen, S.A.; Copel, M.; Fang, S.; Frank, M.; Guha, S.; Gribelyuk, M.; Jamison, P.; Jammy, R.; Ieong, M.; Kedzierski, J.; Kozlowski, P.; Ku, K.; Lacey, D.; LaTulipe, D.; Narayanan, V.; Ng, H.; Nguyen, P.; Newbury, J.; Paruchuri, V.; Rengarajan, R.; Shahidi, G.; Steegen, A.; Steen, M.; Zafar, S.; Zhang, Y.;
By: Gusev, E.P.; Cabral, C., Jr.; Under, B.P.; Kim, Y.H.; Maitra, K.; Carrier, E.; Nayfeh, H.; Amos, R.; Biery, G.; Bojarczuk, N.; Callegari, A.; Carruthers, R.; Cohen, S.A.; Copel, M.; Fang, S.; Frank, M.; Guha, S.; Gribelyuk, M.; Jamison, P.; Jammy, R.; Ieong, M.; Kedzierski, J.; Kozlowski, P.; Ku, K.; Lacey, D.; LaTulipe, D.; Narayanan, V.; Ng, H.; Nguyen, P.; Newbury, J.; Paruchuri, V.; Rengarajan, R.; Shahidi, G.; Steegen, A.; Steen, M.; Zafar, S.; Zhang, Y.;
2004 / IEEE / 0-7803-8684-1
By: Maitra, K.; McFeely, F.R.; Kozlowski, P.; Jamison, P.; Duch, E.; D'Emic, C.; Chudzik, M.; LaTulipe, D.; Carruthers, R.; Callegari, A.; Bojarczuk, N.; Carrier, E.; Cabral, C., Jr.; Zafar, S.; Narayanan, V.; Gusev, E.P.; Steen, M.; Paruchuri, V.; Newbury, J.;
By: Maitra, K.; McFeely, F.R.; Kozlowski, P.; Jamison, P.; Duch, E.; D'Emic, C.; Chudzik, M.; LaTulipe, D.; Carruthers, R.; Callegari, A.; Bojarczuk, N.; Carrier, E.; Cabral, C., Jr.; Zafar, S.; Narayanan, V.; Gusev, E.P.; Steen, M.; Paruchuri, V.; Newbury, J.;
2004 / IEEE / 0-7803-8684-1
By: Andreoni, W.; Curioni, A.; Gribelyuk, M.; Jammy, R.; Feely, F.M.; Lacey, D.; Shepard, J.; D'Emic, C.; Narayanan, V.; Gusev, E.; Zafar, S.; Carrier, E.; Jamison, P.; Callegari, A.; Pignedoli, C.;
By: Andreoni, W.; Curioni, A.; Gribelyuk, M.; Jammy, R.; Feely, F.M.; Lacey, D.; Shepard, J.; D'Emic, C.; Narayanan, V.; Gusev, E.; Zafar, S.; Carrier, E.; Jamison, P.; Callegari, A.; Pignedoli, C.;
2005 / IEEE / 4-900784-00-1
By: Zafar, S.; Jammy, R.; Cabral, C., Jr.; Gusev, E.; Narayanan, V.; Jamison, P.; McFeely, F.R.; Callegari, A.;
By: Zafar, S.; Jammy, R.; Cabral, C., Jr.; Gusev, E.; Narayanan, V.; Jamison, P.; McFeely, F.R.; Callegari, A.;
2005 / IEEE / 4-900784-00-1
By: Rubino, J.; Chang, L.; Narayanan, V.; Boyd, D.; Steen, M.; Linder, B.P.; Kim, Y.H.; Doris, B.; Leong, M.; Guarini, K.W.; Jammy, R.; Kozlowski, P.; D'Emic, C.; Carruthers, R.; Walker, J.F.; Newbury, J.; Kirsch, P.; Zhang, Y.; Babich, K.; Wong, L.; Shi, L.; Sikorski, E.; Topol, A.; Sleight, J.;
By: Rubino, J.; Chang, L.; Narayanan, V.; Boyd, D.; Steen, M.; Linder, B.P.; Kim, Y.H.; Doris, B.; Leong, M.; Guarini, K.W.; Jammy, R.; Kozlowski, P.; D'Emic, C.; Carruthers, R.; Walker, J.F.; Newbury, J.; Kirsch, P.; Zhang, Y.; Babich, K.; Wong, L.; Shi, L.; Sikorski, E.; Topol, A.; Sleight, J.;
2005 / IEEE / 4-900784-00-1
By: Paruchuri, V.K.; Basker, V.S.; Linder, B.P.; Copel, M.; Jamison, P.; Narayanan, V.; McFeely, F.R.; Cartier, E.; Shahidi, G.; Jammy, R.; Guha, S.; Deligianni, H.; Rubino, J.; Sleight, J.; Steen, M.; Shaw, T.; Carruthers, R.; Lim, D.; Haight, R.;
By: Paruchuri, V.K.; Basker, V.S.; Linder, B.P.; Copel, M.; Jamison, P.; Narayanan, V.; McFeely, F.R.; Cartier, E.; Shahidi, G.; Jammy, R.; Guha, S.; Deligianni, H.; Rubino, J.; Sleight, J.; Steen, M.; Shaw, T.; Carruthers, R.; Lim, D.; Haight, R.;
2005 / IEEE / 0-7803-9058-X
By: Ieong, M.; Jammy, R.; Guha, S.; Oldiges, P.; Medeiros, D.R.; Newbury, J.S.; Kozlowski, P.M.; Wang, X.; Maitra, K.; Cohen, S.A.; Copel, M.; Steen, M.L.; Lee, K.L.; Jamison, P.C.; Gusev, E.P.; Cartier, E.A.; Zafar, S.; Linder, B.; Bojarczuk, N.; Narayanan, V.; Paruchuri, V.K.; Frank, M.M.; Shahidi, G.;
By: Ieong, M.; Jammy, R.; Guha, S.; Oldiges, P.; Medeiros, D.R.; Newbury, J.S.; Kozlowski, P.M.; Wang, X.; Maitra, K.; Cohen, S.A.; Copel, M.; Steen, M.L.; Lee, K.L.; Jamison, P.C.; Gusev, E.P.; Cartier, E.A.; Zafar, S.; Linder, B.; Bojarczuk, N.; Narayanan, V.; Paruchuri, V.K.; Frank, M.M.; Shahidi, G.;
2005 / IEEE / 0-7803-9058-X
By: Li, Y.; Hagan, J.; Boyd, D.; Jamison, P.; Settlemyer, K.; Park, D.G.; Doris, B.; Leong, M.; Jammy, R.; Guarini, K.; Gousev, E.; Callegari, S.; Narayanan, V.; Linder, B.; Dobuzinsky, D.; Mezzapelli, J.; Staendert, T.;
By: Li, Y.; Hagan, J.; Boyd, D.; Jamison, P.; Settlemyer, K.; Park, D.G.; Doris, B.; Leong, M.; Jammy, R.; Guarini, K.; Gousev, E.; Callegari, S.; Narayanan, V.; Linder, B.; Dobuzinsky, D.; Mezzapelli, J.; Staendert, T.;
2006 / IEEE / 0-7695-2502-4
By: Park, D.; Nicopoulos, C.; Richardson, T.D.; Degalahal, V.; Das, C.; Yuan Xie; Narayanan, V.;
By: Park, D.; Nicopoulos, C.; Richardson, T.D.; Degalahal, V.; Das, C.; Yuan Xie; Narayanan, V.;