Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Nara, Y.
Results
2011 / IEEE
By: Kudo, H.; Nara, Y.; Kitada, H.; Owada, T.; Sakai, H.; Haneda, M.; Ochimizu, H.; Sunayama, M.; Tabira, T.; Ohtsuka, N.;
By: Kudo, H.; Nara, Y.; Kitada, H.; Owada, T.; Sakai, H.; Haneda, M.; Ochimizu, H.; Sunayama, M.; Tabira, T.; Ohtsuka, N.;
1995 / IEEE / 0-7803-2700-4
By: Fukano, T.; Nara, Y.; Asano, K.; Horie, H.; Nakamura, S.; Sasaki, N.;
By: Fukano, T.; Nara, Y.; Asano, K.; Horie, H.; Nakamura, S.; Sasaki, N.;
1997 / IEEE
By: Miyazaki, H.; Osawa, N.; Kumagai, D.; Nakajima, T.; Taura, Y.; Gamou, N.; Sato, M.; Hanagata, T.; Mori, H.; Nara, Y.; Nakada, H.; Yamamoto, S.;
By: Miyazaki, H.; Osawa, N.; Kumagai, D.; Nakajima, T.; Taura, Y.; Gamou, N.; Sato, M.; Hanagata, T.; Mori, H.; Nara, Y.; Nakada, H.; Yamamoto, S.;
1998 / IEEE / 0-7803-4774-9
By: Nakabayashi, M.; Kojima, M.; Fukuda, M.; Suzuki, R.; Hatada, A.; Kurahashi, T.; Kimura, T.; Kobayashi, M.; Tsunoda, H.; Minakata, H.; Satoh, A.; Kosemura, K.; Shido, H.; Kosugi, M.; Nakamura, S.; Sasaki, N.; Fukano, T.; Nara, Y.;
By: Nakabayashi, M.; Kojima, M.; Fukuda, M.; Suzuki, R.; Hatada, A.; Kurahashi, T.; Kimura, T.; Kobayashi, M.; Tsunoda, H.; Minakata, H.; Satoh, A.; Kosemura, K.; Shido, H.; Kosugi, M.; Nakamura, S.; Sasaki, N.; Fukano, T.; Nara, Y.;
1982 / IEEE
By: Iwata, K.; Nara, Y.; Tanahashi, J.; Sasaki, S.; Kimura, S.; Kobayashi, A.; Kijima, Y.;
By: Iwata, K.; Nara, Y.; Tanahashi, J.; Sasaki, S.; Kimura, S.; Kobayashi, A.; Kijima, Y.;
2004 / IEEE / 0-7803-8511-X
By: Naito, M.; Sakai, S.; Nagayama, T.; Umisedo, S.; Nagai, N.; Tanjyo, M.; Nara, Y.; Hamamoto, N.; Aoyama, T.;
By: Naito, M.; Sakai, S.; Nagayama, T.; Umisedo, S.; Nagai, N.; Tanjyo, M.; Nara, Y.; Hamamoto, N.; Aoyama, T.;
2005 / IEEE / 4-900784-00-1
By: Nara, Y.; Amai, H.; Saitou, T.; Torii, K.; Watanabe, T.; Inumiya, S.; Kitazoe, M.; Robata, T.; Matsuki, T.; Yamamura, M.; Akasaka, Y.; Yuba, Y.;
By: Nara, Y.; Amai, H.; Saitou, T.; Torii, K.; Watanabe, T.; Inumiya, S.; Kitazoe, M.; Robata, T.; Matsuki, T.; Yamamura, M.; Akasaka, Y.; Yuba, Y.;
Direct measurement of effects of shallow-trench isolation on carrier profiles in sub-50 nm N-MOSFETs
2005 / IEEE / 4-900784-00-1By: Aoyama, T.; Kubo, T.; Tagawa, Y.; Momiyama, Y.; Fukutome, H.; Nara, Y.; Arimoto, H.;
2005 / IEEE / 4-900784-00-1
By: Nara, Y.; Ootsuka, F.; Ogawa, O.; Kamiyama, S.; Akasaka, Y.; Sasaki, T.; Miyagawa, K.; Shiraishi, K.;
By: Nara, Y.; Ootsuka, F.; Ogawa, O.; Kamiyama, S.; Akasaka, Y.; Sasaki, T.; Miyagawa, K.; Shiraishi, K.;
2005 / IEEE / 0-7803-9203-5
By: Nara, Y.; Yamada, K.; Ohno, T.; Yamabe, K.; Watanabe, H.; Umezawa, N.; Boero, M.; Torii, K.; Shiraishi, K.; Chikyow, T.;
By: Nara, Y.; Yamada, K.; Ohno, T.; Yamabe, K.; Watanabe, H.; Umezawa, N.; Boero, M.; Torii, K.; Shiraishi, K.; Chikyow, T.;
2005 / IEEE / 4-9902158-6-9
By: Fukuda, M.; Aoyama, T.; Nagayama, T.; Tanjo, M.; Hamamoto, N.; Umisedo, S.; Nara, Y.;
By: Fukuda, M.; Aoyama, T.; Nagayama, T.; Tanjo, M.; Hamamoto, N.; Umisedo, S.; Nara, Y.;
2005 / IEEE / 0-7803-9268-X
By: Torii, K.; Ootsuka, F.; Matsuki, T.; Akasaka, Y.; Inumiya, S.; Nara, Y.;
By: Torii, K.; Ootsuka, F.; Matsuki, T.; Akasaka, Y.; Inumiya, S.; Nara, Y.;
2005 / IEEE / 0-7803-9268-X
By: Akasaka, Y.; Miyazaki, S.; Shiraishi, K.; Yamada, K.; Nara, Y.; Green, M.L.; Chikyow, T.; Watanabe, H.; Ohmori, K.; Ahmet, P.; Ohta, A.; Furutou, H.; Torii, K.; Nakamura, G.; Nakaoka, T.; Nakayama, T.;
By: Akasaka, Y.; Miyazaki, S.; Shiraishi, K.; Yamada, K.; Nara, Y.; Green, M.L.; Chikyow, T.; Watanabe, H.; Ohmori, K.; Ahmet, P.; Ohta, A.; Furutou, H.; Torii, K.; Nakamura, G.; Nakaoka, T.; Nakayama, T.;
2006 / IEEE / 1-4244-0005-8
By: Nakamura, N.; Umezawa, N.; Shiraishi, K.; Akasaka, Y.; Ogawa, O.; Nara, Y.; Ootsuka, F.; Chikyow, T.; Kasuya, T.;
By: Nakamura, N.; Umezawa, N.; Shiraishi, K.; Akasaka, Y.; Ogawa, O.; Nara, Y.; Ootsuka, F.; Chikyow, T.; Kasuya, T.;
2006 / IEEE / 1-4244-0404-5
By: Takeuchi, H.; Akasaka, Y.; Watanabe, H.; Umezawa, N.; Shiraishi, K.; Nara, Y.; Yamada, K.; Tsu-Jae King Liu; Chikyow, T.;
By: Takeuchi, H.; Akasaka, Y.; Watanabe, H.; Umezawa, N.; Shiraishi, K.; Nara, Y.; Yamada, K.; Tsu-Jae King Liu; Chikyow, T.;
2006 / IEEE / 1-4244-0289-1
By: Satake, H.; Watanabe, T.; Ootsuka, F.; Toriumi, A.; Nara, Y.; Watanabe, M.; Migita, S.; Mise, N.;
By: Satake, H.; Watanabe, T.; Ootsuka, F.; Toriumi, A.; Nara, Y.; Watanabe, M.; Migita, S.; Mise, N.;
2006 / IEEE / 1-4244-0161-5
By: Nakayama, T.; Chang, K.-S.; Nakajima, K.; Umezawa, N.; Yoshitake, M.; Akasaka, Y.; Watanabe, H.; Yamabe, K.; Shiraishi, K.; Ahmet, P.; Ohmori, K.; Chikyow, T.; Yamada, K.; Iwai, H.; Green, M.L.; Nara, Y.; Kakushima, K.;
By: Nakayama, T.; Chang, K.-S.; Nakajima, K.; Umezawa, N.; Yoshitake, M.; Akasaka, Y.; Watanabe, H.; Yamabe, K.; Shiraishi, K.; Ahmet, P.; Ohmori, K.; Chikyow, T.; Yamada, K.; Iwai, H.; Green, M.L.; Nara, Y.; Kakushima, K.;
2006 / IEEE / 1-4244-0161-5
By: Takeuchi, H.; Akasaka, Y.; Shiraishi, K.; Yamada, K.; Iwai, H.; King Liu, T.-J.; Nara, Y.; Chikyow, T.; Toii, K.; Ahmet, P.; Ohmori, K.; Umezawa, N.; Watanabe, H.; Ohta, A.; Nakaoka, T.; Miyazaki, S.; Nakayama, T.;
By: Takeuchi, H.; Akasaka, Y.; Shiraishi, K.; Yamada, K.; Iwai, H.; King Liu, T.-J.; Nara, Y.; Chikyow, T.; Toii, K.; Ahmet, P.; Ohmori, K.; Umezawa, N.; Watanabe, H.; Ohta, A.; Nakaoka, T.; Miyazaki, S.; Nakayama, T.;
2006 / IEEE / 1-4244-0161-5
By: Watanabe, H.; Nara, Y.; Kamiyama, S.; Torii, K.; Kimura, K.; Uematsu, M.; Shiraishi, K.; Suzuki, M.; Nakajima, K.; Zhao Ming; Yamada, K.; Chikyow, T.;
By: Watanabe, H.; Nara, Y.; Kamiyama, S.; Torii, K.; Kimura, K.; Uematsu, M.; Shiraishi, K.; Suzuki, M.; Nakajima, K.; Zhao Ming; Yamada, K.; Chikyow, T.;
2007 / IEEE
By: Umezawa, N.; Shiraishi, K.; Torii, K.; Boero, M.; Nara, Y.; Watanabe, H.; Yamabe, K.; Ohno, T.; Yamada, K.; Chikyow, T.;
By: Umezawa, N.; Shiraishi, K.; Torii, K.; Boero, M.; Nara, Y.; Watanabe, H.; Yamabe, K.; Ohno, T.; Yamada, K.; Chikyow, T.;
2007 / IEEE
By: Nunoya, Y.; Hamajima, T.; Nara, Y.; Tsuda, M.; Okuno, K.; Sato, H.; Yagai, T.; Takahata, K.;
By: Nunoya, Y.; Hamajima, T.; Nara, Y.; Tsuda, M.; Okuno, K.; Sato, H.; Yagai, T.; Takahata, K.;
2007 / IEEE / 1-4244-0841-5
By: Sugino, H.; Nara, Y.; Shoji, S.; Funatsu, T.; Shirasaki, Y.; Arakawa, T.;
By: Sugino, H.; Nara, Y.; Shoji, S.; Funatsu, T.; Shirasaki, Y.; Arakawa, T.;
2007 / IEEE / 978-4-900784-03-1
By: Ota, H.; Nara, Y.; Ootsuka, F.; Inumiya, S.; Akasaka, Y.; Nabatame, T.; Satake, H.; Horikawa, T.; Okada, K.; Toriumi, A.;
By: Ota, H.; Nara, Y.; Ootsuka, F.; Inumiya, S.; Akasaka, Y.; Nabatame, T.; Satake, H.; Horikawa, T.; Okada, K.; Toriumi, A.;
2007 / IEEE / 978-4-900784-03-1
By: Miyazaki, S.; Nakajima, K.; Ohta, A.; Watanabe, H.; Shiraishi, K.; Sugita, Y.; Kadoshima, M.; Ohji, Y.; Nara, Y.; Aoyama, T.; Matsuki, T.; Kurosawa, E.; Aminaka, T.; Yamada, K.; Chikyow, T.;
By: Miyazaki, S.; Nakajima, K.; Ohta, A.; Watanabe, H.; Shiraishi, K.; Sugita, Y.; Kadoshima, M.; Ohji, Y.; Nara, Y.; Aoyama, T.; Matsuki, T.; Kurosawa, E.; Aminaka, T.; Yamada, K.; Chikyow, T.;
2007 / IEEE / 978-4-900784-03-1
By: Khare, M.; Nara, Y.; Tsunashima, Y.; Lee, B.-H.; Lee, J.C.; Imai, K.; Chung, U-I.; Bohr, M.;
By: Khare, M.; Nara, Y.; Tsunashima, Y.; Lee, B.-H.; Lee, J.C.; Imai, K.; Chung, U-I.; Bohr, M.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1507-6
By: Ohmori, K.; Yamada, K.; Yamabe, K.; Shiraishi, K.; Ohji, Y.; Nara, Y.; Sugita, Y.; Ishikawa, A.; Adachi, T.; Nakajima, K.; Watanabe, H.; Hosoi, T.; Chikyow, T.;
By: Ohmori, K.; Yamada, K.; Yamabe, K.; Shiraishi, K.; Ohji, Y.; Nara, Y.; Sugita, Y.; Ishikawa, A.; Adachi, T.; Nakajima, K.; Watanabe, H.; Hosoi, T.; Chikyow, T.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1507-6
By: Mise, N.; Ohji, Y.; Nara, Y.; Ono, T.; Sato, M.; Murayama, K.; Kamiyama, S.; Eimori, T.; Morooka, T.;
By: Mise, N.; Ohji, Y.; Nara, Y.; Ono, T.; Sato, M.; Murayama, K.; Kamiyama, S.; Eimori, T.; Morooka, T.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1507-6
By: Yoshinaga, H.; Miyazaki, S.; Kurosawa, E.; Ohta, A.; Aminaka, T.; Sato, M.; Matsuki, T.; Kadoshima, M.; Ohji, Y.; Nara, Y.; Aoyama, T.; Yamada, K.; Yamabe, K.; Shiraishi, K.;
By: Yoshinaga, H.; Miyazaki, S.; Kurosawa, E.; Ohta, A.; Aminaka, T.; Sato, M.; Matsuki, T.; Kadoshima, M.; Ohji, Y.; Nara, Y.; Aoyama, T.; Yamada, K.; Yamabe, K.; Shiraishi, K.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1507-6
By: Nara, Y.; Aoyama, T.; Ootuka, M.; Kitajima, M.; Kurosawa, E.; Miura, T.; Kamiyama, S.;
By: Nara, Y.; Aoyama, T.; Ootuka, M.; Kitajima, M.; Kurosawa, E.; Miura, T.; Kamiyama, S.;
2008 / IEEE
By: Watanabe, T.; Shirai, K.; Katakami, A.; Ootsuka, F.; Tanjyo, M.; Nakata, H.; Ohji, Y.; Nara, Y.; Eimori, T.; Aoyama, T.; Kitajima, M.;
By: Watanabe, T.; Shirai, K.; Katakami, A.; Ootsuka, F.; Tanjyo, M.; Nakata, H.; Ohji, Y.; Nara, Y.; Eimori, T.; Aoyama, T.; Kitajima, M.;
2008 / IEEE
By: Yagai, T.; Takahata, K.; Okuno, K.; Nunoya, Y.; Hamajima, T.; Tsuda, M.; Ohmura, J.; Nara, Y.;
By: Yagai, T.; Takahata, K.; Okuno, K.; Nunoya, Y.; Hamajima, T.; Tsuda, M.; Ohmura, J.; Nara, Y.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1737-7
By: Tanjyo, M.; Nagayama, T.; Horsky, T.; Jacobson, D.; Krull, W.; Saker, K.; Ohji, Y.; Nara, Y.; Eimori, T.; Aoyama, T.; Kitajima, M.; Nakata, H.; Watanabe, T.; Shirai, K.; Katakami, A.; Ootsuka, F.; Nagai, N.; Matsumoto, T.; Maehara, N.; Koga, Y.; Umisedo, S.; Hamamoto, N.;
By: Tanjyo, M.; Nagayama, T.; Horsky, T.; Jacobson, D.; Krull, W.; Saker, K.; Ohji, Y.; Nara, Y.; Eimori, T.; Aoyama, T.; Kitajima, M.; Nakata, H.; Watanabe, T.; Shirai, K.; Katakami, A.; Ootsuka, F.; Nagai, N.; Matsumoto, T.; Maehara, N.; Koga, Y.; Umisedo, S.; Hamamoto, N.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1737-7
By: Kato, S.; Aoyama, T.; Ohji, Y.; Nara, Y.; Onizawa, T.; Yamaguchi, K.;
By: Kato, S.; Aoyama, T.; Ohji, Y.; Nara, Y.; Onizawa, T.; Yamaguchi, K.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2049-0
By: Hasunuma, R.; Yamada, K.; Shiraishi, K.; Miyazaki, S.; Aoyama, T.; Yamabe, K.; Sato, M.; Ohji, Y.; Nara, Y.;
By: Hasunuma, R.; Yamada, K.; Shiraishi, K.; Miyazaki, S.; Aoyama, T.; Yamabe, K.; Sato, M.; Ohji, Y.; Nara, Y.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2049-0
By: Yamabe, K.; Chikyow, T.; Takase, M.; Fukata, N.; Sekiguchi, T.; Hasumuma, R.; Yamada, K.; Chen, J.; Nara, Y.; Sato, M.;
By: Yamabe, K.; Chikyow, T.; Takase, M.; Fukata, N.; Sekiguchi, T.; Hasumuma, R.; Yamada, K.; Chen, J.; Nara, Y.; Sato, M.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2049-0
By: Tamura, C.; Sato, M.; Ohji, Y.; Nara, Y.; Aoyama, T.; Hasunuma, R.; Yamada, K.; Shiraishi, K.; Yamabe, K.;
By: Tamura, C.; Sato, M.; Ohji, Y.; Nara, Y.; Aoyama, T.; Hasunuma, R.; Yamada, K.; Shiraishi, K.; Yamabe, K.;
2006 / IEEE / 978-1-4244-0603-6
By: Shiraishi, K.; Yamada, K.; Nara, Y.; Chikyow, T.; Ahmet, P.; Ohmori, K.; Watanabe, H.; Nakaoka, T.; Miyazaki, S.; Nakayama, T.; Torii, K.; Akasaka, Y.;
By: Shiraishi, K.; Yamada, K.; Nara, Y.; Chikyow, T.; Ahmet, P.; Ohmori, K.; Watanabe, H.; Nakaoka, T.; Miyazaki, S.; Nakayama, T.; Torii, K.; Akasaka, Y.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1802-2
By: Kadoshima, M.; Ohji, Y.; Nara, Y.; Aoyama, T.; Yamada, K.; Chikyo, T.; Shiraishi, K.; Miyazaki, S.; Kitajima, M.; Kurosawa, E.; Aminaka, T.; Hayashi, M.; Sato, M.; Mise, N.; Matsuki, T.;
By: Kadoshima, M.; Ohji, Y.; Nara, Y.; Aoyama, T.; Yamada, K.; Chikyo, T.; Shiraishi, K.; Miyazaki, S.; Kitajima, M.; Kurosawa, E.; Aminaka, T.; Hayashi, M.; Sato, M.; Mise, N.; Matsuki, T.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1802-2
By: Miyazaki, S.; Uedono, A.; Yamabe, K.; Chikyow, T.; Adachi, T.; Shiraishi, K.; Morooka, T.; Kadoshima, M.; Kamiyama, S.; Mise, N.; Umezawa, N.; Sato, M.; Ohji, Y.; Nara, Y.; Eimori, T.; Aoyama, T.; Yamada, K.;
By: Miyazaki, S.; Uedono, A.; Yamabe, K.; Chikyow, T.; Adachi, T.; Shiraishi, K.; Morooka, T.; Kadoshima, M.; Kamiyama, S.; Mise, N.; Umezawa, N.; Sato, M.; Ohji, Y.; Nara, Y.; Eimori, T.; Aoyama, T.; Yamada, K.;
2009 / IEEE
By: Ono, T.; Eimori, T.; Morooka, T.; Mise, N.; Sato, M.; Mise, N.; Ohji, Y.; Nara, Y.; Kamiyama, S.;
By: Ono, T.; Eimori, T.; Morooka, T.; Mise, N.; Sato, M.; Mise, N.; Ohji, Y.; Nara, Y.; Kamiyama, S.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2185-5
By: Kamiyama, S.; Morooka, T.; Kadoshima, M.; Mise, N.; Nara, Y.; Matsuki, T.; Eimori, T.; Ohji, Y.; Aoyama, T.; Ono, T.; Sato, M.;
By: Kamiyama, S.; Morooka, T.; Kadoshima, M.; Mise, N.; Nara, Y.; Matsuki, T.; Eimori, T.; Ohji, Y.; Aoyama, T.; Ono, T.; Sato, M.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2185-5
By: Shiraishi, K.; Yamada, K.; Nara, Y.; Watanabe, H.; Akasaka, Y.; Ohta, A.; Miyazaki, S.; Nakayama, T.;
By: Shiraishi, K.; Yamada, K.; Nara, Y.; Watanabe, H.; Akasaka, Y.; Ohta, A.; Miyazaki, S.; Nakayama, T.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2377-4
By: Kamiyama, S.; Ishikawa, D.; Kurosawa, E.; Nakata, H.; Ohji, Y.; Ootuka, M.; Aoyama, T.; Nara, Y.; Kitajima, M.;
By: Kamiyama, S.; Ishikawa, D.; Kurosawa, E.; Nakata, H.; Ohji, Y.; Ootuka, M.; Aoyama, T.; Nara, Y.; Kitajima, M.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2377-4
By: Eimori, T.; Shiraishi, K.; Kamiyama, S.; Mise, N.; Nakamura, M.; Morooka, T.; Tachibana, A.; Sugino, S.; Arimura, H.; Shimokawa, J.; Umezawa, N.; Sato, M.; Ohji, Y.; Nara, Y.; Nabatame, T.; Aoyama, T.; Yamada, K.; Watanabe, H.; Yamabe, K.;
By: Eimori, T.; Shiraishi, K.; Kamiyama, S.; Mise, N.; Nakamura, M.; Morooka, T.; Tachibana, A.; Sugino, S.; Arimura, H.; Shimokawa, J.; Umezawa, N.; Sato, M.; Ohji, Y.; Nara, Y.; Nabatame, T.; Aoyama, T.; Yamada, K.; Watanabe, H.; Yamabe, K.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2377-4
By: Morooka, T.; Ishikawa, D.; Matsuki, T.; Ohmori, K.; Yamada, K.; Aminaka, T.; Nara, Y.; Shiraishi, K.; Chikyow, T.; Sugita, Y.;
By: Morooka, T.; Ishikawa, D.; Matsuki, T.; Ohmori, K.; Yamada, K.; Aminaka, T.; Nara, Y.; Shiraishi, K.; Chikyow, T.; Sugita, Y.;
2009 / IEEE
By: Shiraishi, K.; Kadoshima, M.; Miyazaki, S.; Matsuki, T.; Chikyo, T.; Ohji, Y.; Nara, Y.; Aoyama, T.; Yamada, K.;
By: Shiraishi, K.; Kadoshima, M.; Miyazaki, S.; Matsuki, T.; Chikyo, T.; Ohji, Y.; Nara, Y.; Aoyama, T.; Yamada, K.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4492-2
By: Fukuyama, S.; Tsukune, A.; Asami, N.; Sakoda, T.; Ochimizu, H.; Kudo, H.; Kouno, T.; Watatani, H.; Ohara, N.; Owada, T.; Kase, M.; Nara, Y.; Ohkura, Y.; Nakamura, T.; Nakaishi, M.;
By: Fukuyama, S.; Tsukune, A.; Asami, N.; Sakoda, T.; Ochimizu, H.; Kudo, H.; Kouno, T.; Watatani, H.; Ohara, N.; Owada, T.; Kase, M.; Nara, Y.; Ohkura, Y.; Nakamura, T.; Nakaishi, M.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4492-2
By: Watatani, H.; Uedono, A.; Osada, T.; Takesako, S.; Kudo, H.; Kirimura, T.; Kouno, T.; Iba, Y.; Ohara, N.; Akiyama, S.; Owada, T.; Asami, N.; Kase, M.; Nara, Y.;
By: Watatani, H.; Uedono, A.; Osada, T.; Takesako, S.; Kudo, H.; Kirimura, T.; Kouno, T.; Iba, Y.; Ohara, N.; Akiyama, S.; Owada, T.; Asami, N.; Kase, M.; Nara, Y.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2888-5
By: Takase, M.; Fukata, N.; Sekiguchi, T.; Chen, J.; Yamada, K.; Chikyow, T.; Nara, Y.; Sato, M.; Yamabe, K.; Hasunuma, R.;
By: Takase, M.; Fukata, N.; Sekiguchi, T.; Chen, J.; Yamada, K.; Chikyow, T.; Nara, Y.; Sato, M.; Yamabe, K.; Hasunuma, R.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-5641-3
By: Minakata, H.; Takahashi, H.; Nara, Y.; Kase, M.; Tamura, N.; Shiqin Xiao; Morisaki, Y.; Ikeda, K.; Sakoda, T.; Nishigaya, K.; Nakabayashi, M.; Morioka, H.;
By: Minakata, H.; Takahashi, H.; Nara, Y.; Kase, M.; Tamura, N.; Shiqin Xiao; Morisaki, Y.; Ikeda, K.; Sakoda, T.; Nishigaya, K.; Nakabayashi, M.; Morioka, H.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-5429-7
By: Kubo, T.; Hori, M.; Sakoda, T.; Nara, Y.; Kase, M.; Hashimoto, K.; Kaneta, C.; Matsuyama, H.; Tosaka, Y.; Nishigaya, K.; Mori, T.; Tamura, N.; Tanahashi, K.; Ono, K.; Mori, H.; Kobayashi, Y.; Minakata, H.;
By: Kubo, T.; Hori, M.; Sakoda, T.; Nara, Y.; Kase, M.; Hashimoto, K.; Kaneta, C.; Matsuyama, H.; Tosaka, Y.; Nishigaya, K.; Mori, T.; Tamura, N.; Tanahashi, K.; Ono, K.; Mori, H.; Kobayashi, Y.; Minakata, H.;