Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Nakano, M.
Results
2012 / IEEE
By: Yanai, T.; Fukunaga, H.; Kakehashi, H.; Nakano, M.; Takahashi, K.; Honda, M.; Sakamoto, Y.;
By: Yanai, T.; Fukunaga, H.; Kakehashi, H.; Nakano, M.; Takahashi, K.; Honda, M.; Sakamoto, Y.;
2012 / IEEE
By: Miyagi, D.; Shiozaki, A.; Nomiyama, T.; Kawabe, M.; Nakano, M.; Takahashi, N.; Kaihara, H.;
By: Miyagi, D.; Shiozaki, A.; Nomiyama, T.; Kawabe, M.; Nakano, M.; Takahashi, N.; Kaihara, H.;
2012 / IEEE
By: Tsutsumi, T.; Zhenyu Li; Martin, Y.; Ohtsuka, S.; Suehiro, J.; Nakano, M.; Shou, R.;
By: Tsutsumi, T.; Zhenyu Li; Martin, Y.; Ohtsuka, S.; Suehiro, J.; Nakano, M.; Shou, R.;
2011 / IEEE / 978-1-936968-19-0
By: Sanada, Y.; Inamori, M.; Suzuki, H.; Minami, K.; Nakao, F.; Nakano, M.; Kishi, T.;
By: Sanada, Y.; Inamori, M.; Suzuki, H.; Minami, K.; Nakao, F.; Nakano, M.; Kishi, T.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-456-5
By: Iwahashi, N.; Nakano, M.; Funakoshi, K.; Nagai, T.; Nakamura, T.; Araki, T.;
By: Iwahashi, N.; Nakano, M.; Funakoshi, K.; Nagai, T.; Nakamura, T.; Araki, T.;
Bayesian nonparametric spectrogram modeling based on infinite factorial infinite hidden Markov model
2011 / IEEE / 978-1-4577-0693-6By: Sagayama, S.; Ono, N.; Nakamura, T.; Kameoka, H.; Le Roux, J.; Nakano, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1362-0
By: Teramoto, J.; Nakano, M.; Ishihama, A.; Yamamoto, K.; Shimada, T.;
By: Teramoto, J.; Nakano, M.; Ishihama, A.; Yamamoto, K.; Shimada, T.;
1990 / IEEE / 0-87942-573-3
By: Matsuoka, H.; Sukegawa, K.; Nakano, M.; Kawamura, S.; Park, K.H.; Sasaki, T.;
By: Matsuoka, H.; Sukegawa, K.; Nakano, M.; Kawamura, S.; Park, K.H.; Sasaki, T.;
1991 / IEEE / 0-7803-0135-8
By: Nagafuchi, T.; Harami, T.; Suzuki, H.; Nakano, M.; Kawazu, S.; Miyahara, Y.; Yoshiyuki, K.; Tanabe, Y.; Satoh, S.; Rizawa, T.;
By: Nagafuchi, T.; Harami, T.; Suzuki, H.; Nakano, M.; Kawazu, S.; Miyahara, Y.; Yoshiyuki, K.; Tanabe, Y.; Satoh, S.; Rizawa, T.;
1991 / IEEE / 0-7803-0513-2
By: Nakano, M.; Matsumoto, S.; Toda, M.; Mikawa, M.; Toyama, T.; Sueno, T.; Sato, H.;
By: Nakano, M.; Matsumoto, S.; Toda, M.; Mikawa, M.; Toyama, T.; Sueno, T.; Sato, H.;
1993 / IEEE / 0-7803-1760-2
By: Nakano, M.; Angulo, J.R.; De Luca, A.; Meana, H.M.P.; Sanchez, J.C.;
By: Nakano, M.; Angulo, J.R.; De Luca, A.; Meana, H.M.P.; Sanchez, J.C.;
1993 / IEEE / 0-7803-1450-6
By: Mitsuhashi, K.; Mori, Y.; Takegawa, Y.; Kakimoto, S.; Takagi, J.; Nakano, M.; Kotaki, H.; Akagi, Y.; Tsuchimoto, S.;
By: Mitsuhashi, K.; Mori, Y.; Takegawa, Y.; Kakimoto, S.; Takagi, J.; Nakano, M.; Kotaki, H.; Akagi, Y.; Tsuchimoto, S.;
1995 / IEEE / 0-7803-2700-4
By: Nakano, M.; Kotaki, H.; Sato, Y.; Uda, K.; Nakano, A.; Kakimoto, S.; Matsuoka, T.; Hayashida, S.;
By: Nakano, M.; Kotaki, H.; Sato, Y.; Uda, K.; Nakano, A.; Kakimoto, S.; Matsuoka, T.; Hayashida, S.;
1996 / IEEE
By: Takahashi, N.; Takehara, J.; Kitagawa, M.; Kondo, T.; Sato, Y.; Nakano, M.; Muramatsu, K.;
By: Takahashi, N.; Takehara, J.; Kitagawa, M.; Kondo, T.; Sato, Y.; Nakano, M.; Muramatsu, K.;
1995 / IEEE / 0-7803-1965-6
By: Nakano, M.; Sato, S.; Nakayama, S.; Koyama, T.; Tanaka, M.; Sugiura, N.; Kubota, F.;
By: Nakano, M.; Sato, S.; Nakayama, S.; Koyama, T.; Tanaka, M.; Sugiura, N.; Kubota, F.;
1996 / IEEE / 0-7803-3393-4
By: Sato, Y.; Fukushima, T.; Sugimoto, K.; Adachi, K.; Kotaki, H.; Matsuoka, T.; Nakano, M.; Kakimoto, S.;
By: Sato, Y.; Fukushima, T.; Sugimoto, K.; Adachi, K.; Kotaki, H.; Matsuoka, T.; Nakano, M.; Kakimoto, S.;
1996 / IEEE / 0-7803-2775-6
By: Mao-Fu Lai; Wen-Yuh Chiu; Saehcout, V.; Guan-Chyun Hsieh; Nakano, M.;
By: Mao-Fu Lai; Wen-Yuh Chiu; Saehcout, V.; Guan-Chyun Hsieh; Nakano, M.;
1998 / IEEE / 0-7803-4770-6
By: Adachi, K.; Nakano, M.; Kotaki, H.; Kakimoto, S.; Ohta, K.; Shibata, A.; Matsuoka, T.; Hashizume, N.;
By: Adachi, K.; Nakano, M.; Kotaki, H.; Kakimoto, S.; Ohta, K.; Shibata, A.; Matsuoka, T.; Hashizume, N.;
1992 / IEEE / 0-7803-0637-6
By: Fujiwara, K.; Takahashi, N.; Nakata, T.; Matsubara, K.; Ogura, Y.; Nakano, M.;
By: Fujiwara, K.; Takahashi, N.; Nakata, T.; Matsubara, K.; Ogura, Y.; Nakano, M.;
1998 / IEEE / 0-7803-5118-5
By: Nakano, M.; Arai, K.I.; Ishiyama, K.; Yamashiro, Y.; Fukunaga, H.; Okamoto, T.;
By: Nakano, M.; Arai, K.I.; Ishiyama, K.; Yamashiro, Y.; Fukunaga, H.; Okamoto, T.;
1998 / IEEE / 0-7803-4774-9
By: Kakimoto, S.; Kotaki, H.; Hashizume, N.; Ohta, K.; Sugimoto, K.; Shibata, A.; Adachi, K.; Nakano, M.;
By: Kakimoto, S.; Kotaki, H.; Hashizume, N.; Ohta, K.; Sugimoto, K.; Shibata, A.; Adachi, K.; Nakano, M.;
1993 / IEEE
By: Kawarnura, A.; Sato, S.; Hakozaki, K.; Nakano, M.; Tateyama, T.; Hayashida, S.; Yamazaki, O.; Sakiyama, K.; Ohnishi, S.; Iguchi, K.; Uda, K.;
By: Kawarnura, A.; Sato, S.; Hakozaki, K.; Nakano, M.; Tateyama, T.; Hayashida, S.; Yamazaki, O.; Sakiyama, K.; Ohnishi, S.; Iguchi, K.; Uda, K.;
Enterprise modeling and simulation platform integrating manufacturing system design and supply chain
1999 / IEEE / 0-7803-5731-0By: Kubota, F.; Nakano, M.; Sato, S.;
Study of Cu diffusion in ultra thin bonded SOI wafers evaluated by using radioactive isotope tracers
1999 / IEEE / 0-7803-5456-7By: Nakano, M.; Furihata, J.-I.; Mitani, K.;