Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Nakamura, K.
Results
2011 / IEEE
By: Ryoukai, T.; Ishiguro, M.; Liu, H.Q.; Hanada, K.; Nishino, N.; Zushi, H.; Tashima, S.; Fujisawa, A.; Hasegawa, M.; Banerjee, S.; Idei, H.; Nakamura, K.;
By: Ryoukai, T.; Ishiguro, M.; Liu, H.Q.; Hanada, K.; Nishino, N.; Zushi, H.; Tashima, S.; Fujisawa, A.; Hasegawa, M.; Banerjee, S.; Idei, H.; Nakamura, K.;
2012 / IEEE
By: Takahiro, T.; Sei, T.; Iriuchijima, Y.; Fujiwara, T.; Sagawa, N.; Nakamura, K.; Khorram, H.R.; Hayashi, T.; Nakano, K.; Shiraishi, K.;
By: Takahiro, T.; Sei, T.; Iriuchijima, Y.; Fujiwara, T.; Sagawa, N.; Nakamura, K.; Khorram, H.R.; Hayashi, T.; Nakano, K.; Shiraishi, K.;
2011 / IEEE / 978-3-00-035081-8
By: Takiguchi, Y.; Honda, Y.; Taniguchi, M.; Nakamura, K.; Nanba, M.; Egami, N.;
By: Takiguchi, Y.; Honda, Y.; Taniguchi, M.; Nakamura, K.; Nanba, M.; Egami, N.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0531-1
By: Komada, G.; Yamamoto, H.; Yamazaki, K.; Takahashi, T.; Nakamura, K.;
By: Komada, G.; Yamamoto, H.; Yamazaki, K.; Takahashi, T.; Nakamura, K.;
2011 / IEEE / 978-90-75815-14-6
By: Ichinokura, O.; Sakamoto, K.; Arimatsu, K.; Ohinata, T.; Goto, H.; Nakamura, K.; Abe, Y.;
By: Ichinokura, O.; Sakamoto, K.; Arimatsu, K.; Ohinata, T.; Goto, H.; Nakamura, K.; Abe, Y.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-456-5
By: Ince, G.; Nakajima, H.; Nakamura, K.; Imura, J.; Rodemann, T.; Nakadai, K.;
By: Ince, G.; Nakajima, H.; Nakamura, K.; Imura, J.; Rodemann, T.; Nakadai, K.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-456-5
By: Ince, G.; Nakajima, H.; Nakamura, K.; Imura, J.; Rodemann, T.; Nakadai, K.;
By: Ince, G.; Nakajima, H.; Nakamura, K.; Imura, J.; Rodemann, T.; Nakadai, K.;
2011 / IEEE / 978-4-907764-39-5
By: Iwata, H.; Hashimoto, S.; Nakamura, K.; Kamezaki, M.; Sugano, S.;
By: Iwata, H.; Hashimoto, S.; Nakamura, K.; Kamezaki, M.; Sugano, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1005-6
By: Yamamoto, H.; Tachikawa, T.; Nakamura, K.; Kamei, A.; Tsuchida, S.; Nakamura, R.;
By: Yamamoto, H.; Tachikawa, T.; Nakamura, K.; Kamei, A.; Tsuchida, S.; Nakamura, R.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1250-0
By: Ikeda, K.; Morooka, Y.; Nakamura, K.; Makino, M.; Ootsubo, M.; Iwai, S.;
By: Ikeda, K.; Morooka, Y.; Nakamura, K.; Makino, M.; Ootsubo, M.; Iwai, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Idei, H.; Sakaguchi, M.; Higashijima, A.; Nakashima, H.; Kawasaki, S.; Mitarai, O.; Maekawa, T.; Takase, Y.; Hasegawa, M.; Sakamoto, M.; Nakamura, K.; Hanada, K.; Zushi, H.; Fukuyama, A.; Kalinnikova, E.; Nagata, K.;
By: Idei, H.; Sakaguchi, M.; Higashijima, A.; Nakashima, H.; Kawasaki, S.; Mitarai, O.; Maekawa, T.; Takase, Y.; Hasegawa, M.; Sakamoto, M.; Nakamura, K.; Hanada, K.; Zushi, H.; Fukuyama, A.; Kalinnikova, E.; Nagata, K.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-1405-3
By: Nakamura, K.; Murakami, K.; Suzuki, K.; Kanbayashi, T.; Endo, M.; Yonezawa, N.; Sugahara, Y.; Hirata, Y.; Kosuge, K.; Kashiwazaki, K.;
By: Nakamura, K.; Murakami, K.; Suzuki, K.; Kanbayashi, T.; Endo, M.; Yonezawa, N.; Sugahara, Y.; Hirata, Y.; Kosuge, K.; Kashiwazaki, K.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-1490-9
By: Nakamura, K.; Fujii, N.; Nagasaka, Y.; Chao, Z.C.; Tani, J.; Namikawa, J.; Komatsu, M.;
By: Nakamura, K.; Fujii, N.; Nagasaka, Y.; Chao, Z.C.; Tani, J.; Namikawa, J.; Komatsu, M.;
2014 / IEEE
By: Suzuki, S. Y.; Nakamura, K.; Higuchi, T.; Konno, T.; Nakao, M.; Itoh, R.; Yamada, S.;
By: Suzuki, S. Y.; Nakamura, K.; Higuchi, T.; Konno, T.; Nakao, M.; Itoh, R.; Yamada, S.;
2015 / IEEE
By: Tomitaka, A.; Ferguson, R.M.; Khandhar, A.P.; Kemp, S.J.; Ota, S.; Krishnan, K.M.; Nakamura, K.; Takemura, Y.;
By: Tomitaka, A.; Ferguson, R.M.; Khandhar, A.P.; Kemp, S.J.; Ota, S.; Krishnan, K.M.; Nakamura, K.; Takemura, Y.;
2014 / IEEE
By: Nakamura, K.; Fujita, H.; Fukuyama, A.; Araki, K.; Higashijima, A.; Nakashima, H.; Kawasaki, S.; Nagashima, Y.; Idei, H.; Matsuoka, K.; Fujisawa, A.; Hanada, K.; Zushi, H.; Tokunaga, K.; Hasegawa, M.; Sueoka, M.; Liu, X.L.; Xue, E.B.; Xia, F.; Mitarai, O.; Kurihara, K.; Kawamata, Y.;
By: Nakamura, K.; Fujita, H.; Fukuyama, A.; Araki, K.; Higashijima, A.; Nakashima, H.; Kawasaki, S.; Nagashima, Y.; Idei, H.; Matsuoka, K.; Fujisawa, A.; Hanada, K.; Zushi, H.; Tokunaga, K.; Hasegawa, M.; Sueoka, M.; Liu, X.L.; Xue, E.B.; Xia, F.; Mitarai, O.; Kurihara, K.; Kawamata, Y.;
2014 / IEEE
By: Eshita, T.; Wang, W.; Nomura, K.; Yamaguchi, H.; Kawashima, S.; Inoue, K.; Hikosaka, Y.; Nakamura, K.; Mihara, S.; Saito, H.;
By: Eshita, T.; Wang, W.; Nomura, K.; Yamaguchi, H.; Kawashima, S.; Inoue, K.; Hikosaka, Y.; Nakamura, K.; Mihara, S.; Saito, H.;
2013 / IEEE
By: Toko, K.; Suzuno, M.; Nakamura, K.; Baba, M.; Usami, N.; Hara, K. O.; Khan, M. Ajmal; Suemasu, T.; Du, W.;
By: Toko, K.; Suzuno, M.; Nakamura, K.; Baba, M.; Usami, N.; Hara, K. O.; Khan, M. Ajmal; Suemasu, T.; Du, W.;
2013 / IEEE
By: Komura, S.; Tanimori, T.; Uchida, T.; Ikeno, M.; Tanaka, M.; Sato, Y.; Iwaki, S.; Kurosawa, S.; Kishimoto, Y.; Kabuki, S.; Oda, M.; Nakamura, S.; Matsuoka, Y.; Nakamura, K.; Kubo, H.; Takada, A.; Parker, J. D.; Mizumoto, T.; Mizumura, Y.; Sonoda, S.; Tomono, D.; Sawano, T.;
By: Komura, S.; Tanimori, T.; Uchida, T.; Ikeno, M.; Tanaka, M.; Sato, Y.; Iwaki, S.; Kurosawa, S.; Kishimoto, Y.; Kabuki, S.; Oda, M.; Nakamura, S.; Matsuoka, Y.; Nakamura, K.; Kubo, H.; Takada, A.; Parker, J. D.; Mizumoto, T.; Mizumura, Y.; Sonoda, S.; Tomono, D.; Sawano, T.;
2013 / IEEE
By: Mizumoto, T.; Tanimori, T.; Uchida, T.; Ikeno, M.; Tanaka, M.; Sato, Y.; Iwaki, S.; Kurosawa, S.; Kishimoto, Y.; Kabuki, S.; Miuchi, K.; Oda, M.; Nakamura, S.; Komura, S.; Matsuoka, Y.; Nakamura, K.; Sawano, T.; Tomono, D.; Kubo, H.; Takada, A.; Parker, J. D.; Sonoda, S.; Mizumura, Y.;
By: Mizumoto, T.; Tanimori, T.; Uchida, T.; Ikeno, M.; Tanaka, M.; Sato, Y.; Iwaki, S.; Kurosawa, S.; Kishimoto, Y.; Kabuki, S.; Miuchi, K.; Oda, M.; Nakamura, S.; Komura, S.; Matsuoka, Y.; Nakamura, K.; Sawano, T.; Tomono, D.; Kubo, H.; Takada, A.; Parker, J. D.; Sonoda, S.; Mizumura, Y.;
2014 / IEEE
By: Nakamura, K.; Wang, W.; Eshita, T.; Nomura, K.; Mihara, S.; Kawashima, S.; Inoue, K.; Hikosaka, Y.; Saito, H.; Yamaguchi, H.;
By: Nakamura, K.; Wang, W.; Eshita, T.; Nomura, K.; Mihara, S.; Kawashima, S.; Inoue, K.; Hikosaka, Y.; Saito, H.; Yamaguchi, H.;
1988 / IEEE
By: Yamamoto, A.; Nishimura, J.; Nakamura, K.; Doi, Y.; Haruyama, T.; Mito, T.; Kimura, N.; Inoue, H.; Makida, Y.; Yamaoka, H.;
By: Yamamoto, A.; Nishimura, J.; Nakamura, K.; Doi, Y.; Haruyama, T.; Mito, T.; Kimura, N.; Inoue, H.; Makida, Y.; Yamaoka, H.;
1988 / IEEE
By: Itoh, R.; Miyamoto, A.; Aihara, H.; Shirahashi, A.; Yamauchi, M.; Tsukamoto, T.; Ochiai, F.; Nakamura, K.; Kamae, T.; Matsuda, T.; Kobayashi, M.; Iwasaki, H.; Ikeda, H.; Jujii, K.; Fujii, A.; Tanaka, M.; Kusuki, N.;
By: Itoh, R.; Miyamoto, A.; Aihara, H.; Shirahashi, A.; Yamauchi, M.; Tsukamoto, T.; Ochiai, F.; Nakamura, K.; Kamae, T.; Matsuda, T.; Kobayashi, M.; Iwasaki, H.; Ikeda, H.; Jujii, K.; Fujii, A.; Tanaka, M.; Kusuki, N.;
1988 / IEEE
By: Zietlow, T.C.; Wilson, K.T.; Amram, A.; Nakamura, K.; Grusynski, J.S.; Morse, T.C.; Barnes, C.E.;
By: Zietlow, T.C.; Wilson, K.T.; Amram, A.; Nakamura, K.; Grusynski, J.S.; Morse, T.C.; Barnes, C.E.;
1989 / IEEE
By: Enomoto, T.; Nakamura, K.; Horiuchi, T.; Yamada, H.; Yamashina, M.; Ando, K.; Okamoto, F.; Goto, J.;
By: Enomoto, T.; Nakamura, K.; Horiuchi, T.; Yamada, H.; Yamashina, M.; Ando, K.; Okamoto, F.; Goto, J.;
1989 / IEEE
By: Nakamura, K.; Odaka, M.; Higuchi, H.; Hirao, M.; Eno, K.; Ikeda, T.; Saito, O.; Ogiue, K.;
By: Nakamura, K.; Odaka, M.; Higuchi, H.; Hirao, M.; Eno, K.; Ikeda, T.; Saito, O.; Ogiue, K.;
1989 / IEEE
By: Okamoto, F.; Goto, J.; Yamashina, M.; Enomoto, T.; Nakamura, K.; Horiuchi, T.; Yamada, H.;
By: Okamoto, F.; Goto, J.; Yamashina, M.; Enomoto, T.; Nakamura, K.; Horiuchi, T.; Yamada, H.;
1990 / IEEE
By: Nakamura, K.; Takada, M.; Kimuto, H.; Minato, Y.; Sekine, Y.; Ohi, S.; Imai, K.; Yamazaki, T.; Furuta, K.; Takeshima, T.;
By: Nakamura, K.; Takada, M.; Kimuto, H.; Minato, Y.; Sekine, Y.; Ohi, S.; Imai, K.; Yamazaki, T.; Furuta, K.; Takeshima, T.;