Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Naito, T.
Results
2011 / IEEE / 978-1-4577-0653-0
By: Naito, T.; Kajitani, K.; Yoshimitsu, Y.; Kawamura, A.; Kamijo, S.; Fujimura, K.;
By: Naito, T.; Kajitani, K.; Yoshimitsu, Y.; Kawamura, A.; Kamijo, S.; Fujimura, K.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-1442-8
By: Jue, J.P.; Naito, T.; Takita, Y.; Tajima, K.; Yi Zhu; Hashiguchi, T.;
By: Jue, J.P.; Naito, T.; Takita, Y.; Tajima, K.; Yi Zhu; Hashiguchi, T.;
1990 / IEEE
By: Seino, M.; Suyama, M.; Miyata, H.; Kiyonaga, T.; Onoda, Y.; Kuwahara, H.; Onaka, H.; Naito, T.; Watanabe, S.; Chikama, T.;
By: Seino, M.; Suyama, M.; Miyata, H.; Kiyonaga, T.; Onoda, Y.; Kuwahara, H.; Onaka, H.; Naito, T.; Watanabe, S.; Chikama, T.;
1991 / IEEE / 0-7803-0135-8
By: Akemoto, M.; Matsumoto, H.; Takeda, S.; Naito, T.; Miura, A.; Hayano, H.;
By: Akemoto, M.; Matsumoto, H.; Takeda, S.; Naito, T.; Miura, A.; Hayano, H.;
1995 / IEEE / 0-7803-1965-6
By: Tsusaka, Y.; Naito, T.; Sato, Y.; Akao, N.; Nagamatsu, S.; Kuno, T.; Nomura, H.; Tanaka, M.; Koide, M.;
By: Tsusaka, Y.; Naito, T.; Sato, Y.; Akao, N.; Nagamatsu, S.; Kuno, T.; Nomura, H.; Tanaka, M.; Koide, M.;
1996 / IEEE / 0-7803-3544-9
By: Naito, T.; Kawai, H.; Ohashi, H.; Asano, K.; Umeno, T.; Taguchi, T.;
By: Naito, T.; Kawai, H.; Ohashi, H.; Asano, K.; Umeno, T.; Taguchi, T.;
1997 / IEEE / 0-7803-4100-7
By: Morisawa, T.; Matsuzawa, N.; Mori, S.; Sasago, M.; Inoue, M.; Ohtsuka, H.; Ogawa, T.; Ohfuji, T.; Kuhara, K.; Morishita, S.; Tatsumi, T.; Kamon, K.; Nakazawa, K.; Onodera, T.; Uematsu, M.; Yamaguchi, A.; Takechi, S.; Kishimura, S.; Naruse, Y.; Naito, T.; Takahashi, M.; Matsuo, T.; Endo, M.; Kaimoto, Y.;
By: Morisawa, T.; Matsuzawa, N.; Mori, S.; Sasago, M.; Inoue, M.; Ohtsuka, H.; Ogawa, T.; Ohfuji, T.; Kuhara, K.; Morishita, S.; Tatsumi, T.; Kamon, K.; Nakazawa, K.; Onodera, T.; Uematsu, M.; Yamaguchi, A.; Takechi, S.; Kishimura, S.; Naruse, Y.; Naito, T.; Takahashi, M.; Matsuo, T.; Endo, M.; Kaimoto, Y.;
1998 / IEEE / 1-55752-521-8
By: Shimojoh, N.; Terahara, T.; Naito, T.; Suyama, M.; Chikama, T.; Tanaka, T.;
By: Shimojoh, N.; Terahara, T.; Naito, T.; Suyama, M.; Chikama, T.; Tanaka, T.;
1998 / IEEE / 84-89900-14-0
By: Chikama, T.; Tanaka, T.; Shimojoh, N.; Terahara, T.; Naito, T.; Suyama, M.;
By: Chikama, T.; Tanaka, T.; Shimojoh, N.; Terahara, T.; Naito, T.; Suyama, M.;
1997 / IEEE / 0-7803-4376-X
By: Okugi, T.; Muto, M.; Hashimoto, Y.; Urakawa, J.; Terunuma, N.; Hayano, H.; Naito, T.;
By: Okugi, T.; Muto, M.; Hashimoto, Y.; Urakawa, J.; Terunuma, N.; Hayano, H.; Naito, T.;
1997 / IEEE / 0-7803-4376-X
By: Matsumoto, H.; Urakawa, J.; Naito, T.; Akemoto, M.; Hayano, H.; Takeda, S.; Takano, M.; Sakamoto, T.; Kagaya, S.; Okugi, T.; Kashiwagi, S.; Araki, S.; Funahashi, Y.; Korhonen, T.; Hinode, F.; Kubo, K.; Terunuma, N.; Oide, K.;
By: Matsumoto, H.; Urakawa, J.; Naito, T.; Akemoto, M.; Hayano, H.; Takeda, S.; Takano, M.; Sakamoto, T.; Kagaya, S.; Okugi, T.; Kashiwagi, S.; Araki, S.; Funahashi, Y.; Korhonen, T.; Hinode, F.; Kubo, K.; Terunuma, N.; Oide, K.;
1998 / IEEE / 0-7803-4984-9
By: Terahara, T.; Shimojoh, N.; Naito, T.; Suyama, M.; Chikama, T.; Tanaka, T.;
By: Terahara, T.; Shimojoh, N.; Naito, T.; Suyama, M.; Chikama, T.; Tanaka, T.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Kubo, K.; Kotseroglou, T.; Kamada, S.; Hayano, H.; Zimmermann, F.; Woodley, M.; Turner, J.; Ross, M.; Minty, M.; Naito, T.; Bane, K.; Takano, M.; Okugi, T.; Kashiwagi, S.; Urakawa, J.; Toge, N.; Terunuma, N.; Oide, K.;
By: Kubo, K.; Kotseroglou, T.; Kamada, S.; Hayano, H.; Zimmermann, F.; Woodley, M.; Turner, J.; Ross, M.; Minty, M.; Naito, T.; Bane, K.; Takano, M.; Okugi, T.; Kashiwagi, S.; Urakawa, J.; Toge, N.; Terunuma, N.; Oide, K.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Terunuma, N.; Naito, T.; Mitsuhashi, T.; Kubo, K.; Toge, N.; Kashiwagi, S.; Hayano, H.; Okugi, T.; Urakawa, J.;
By: Terunuma, N.; Naito, T.; Mitsuhashi, T.; Kubo, K.; Toge, N.; Kashiwagi, S.; Hayano, H.; Okugi, T.; Urakawa, J.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Kamada, S.; Miyahara, T.; Okugi, T.; Takayama, Y.; Naito, T.; Urakawa, J.;
By: Kamada, S.; Miyahara, T.; Okugi, T.; Takayama, Y.; Naito, T.; Urakawa, J.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Kamada, S.; Kubo, K.; Hayano, H.; Takayama, Y.; Okugi, T.; Hirose, T.; Zimmermann, F.; Woodley, M.; Turner, J.; Minty, M.; Takano, M.; Kashiwagi, S.; Urakawa, J.; Naito, T.;
By: Kamada, S.; Kubo, K.; Hayano, H.; Takayama, Y.; Okugi, T.; Hirose, T.; Zimmermann, F.; Woodley, M.; Turner, J.; Minty, M.; Takano, M.; Kashiwagi, S.; Urakawa, J.; Naito, T.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Kitabayashi, T.; Yoshii, K.; Yamamoto, N.; Naito, T.; Nakamura, T.T.; Kaji, M.; Kudo, K.; Komada, I.; Kawamoto, T.; Katoh, T.; Odagiri, J.-I.; Araki, S.; Akiyama, A.; Yoshida, S.; Takagi, M.; Koizumi, N.;
By: Kitabayashi, T.; Yoshii, K.; Yamamoto, N.; Naito, T.; Nakamura, T.T.; Kaji, M.; Kudo, K.; Komada, I.; Kawamoto, T.; Katoh, T.; Odagiri, J.-I.; Araki, S.; Akiyama, A.; Yoshida, S.; Takagi, M.; Koizumi, N.;
1994 / IEEE
By: Goze, F.; Laukhin, V.N.; Cassoux, P.; Faulmann, C.; Tokumoto, M.; Kobayashi, A.; Kobayashi, H.; Naito, T.; Askenazy, S.; Brossard, L.; Audouard, A.; Utmet, J.P.;
By: Goze, F.; Laukhin, V.N.; Cassoux, P.; Faulmann, C.; Tokumoto, M.; Kobayashi, A.; Kobayashi, H.; Naito, T.; Askenazy, S.; Brossard, L.; Audouard, A.; Utmet, J.P.;
2000 / IEEE / 0-7803-6269-1
By: Seki, Y.; Otsuki, M.; Kirisawa, M.; Naito, T.; Nishiura, A.; Nemoto, M.;
By: Seki, Y.; Otsuki, M.; Kirisawa, M.; Naito, T.; Nishiura, A.; Nemoto, M.;
VR training system with adaptive operational assistance considering straight-line transfer operation
1999 / IEEE / 0-7803-5841-4By: Yoneda, M.; Naito, T.; Miyata, K.; Fukuda, T.; Arai, F.;
2001 / IEEE / 4-88686-056-7
By: Nemoto, M.; Naito, T.; Seki, Y.; Kirisawa, M.; Otsuki, M.; Nishiura, A.;
By: Nemoto, M.; Naito, T.; Seki, Y.; Kirisawa, M.; Otsuki, M.; Nishiura, A.;
2001 / IEEE / 4-88686-056-7
By: Naito, T.; Otsuki, M.; Seki, Y.; Kirisawa, M.; Gupta, R.N.; Nemoto, M.; Chang, H.-R.; Winterhalter, C.R.;
By: Naito, T.; Otsuki, M.; Seki, Y.; Kirisawa, M.; Gupta, R.N.; Nemoto, M.; Chang, H.-R.; Winterhalter, C.R.;
2001 / IEEE / 0-7803-7191-7
By: Okugi, T.; Naito, T.; Kubo, K.; Hayano, H.; Bane, K.L.F.; Urakawa, J.;
By: Okugi, T.; Naito, T.; Kubo, K.; Hayano, H.; Bane, K.L.F.; Urakawa, J.;
2001 / IEEE / 0-7803-6705-7
By: Tanaka, T.; Shimojoh, N.; Suyama, M.; Ueki, T.; Yokota, I.; Naito, T.; Nakamoto, H.;
By: Tanaka, T.; Shimojoh, N.; Suyama, M.; Ueki, T.; Yokota, I.; Naito, T.; Nakamoto, H.;
2001 / IEEE / 0-7803-6705-7
By: Torii, K.; Sugiyama, A.; Suyama, M.; Ueki, T.; Nakamoto, H.; Tanaka, T.; Naito, T.; Shimojoh, N.;
By: Torii, K.; Sugiyama, A.; Suyama, M.; Ueki, T.; Nakamoto, H.; Tanaka, T.; Naito, T.; Shimojoh, N.;
2002 / IEEE / 0-7803-7350-2
By: Sakai, Y.; Shimizu, R.; Nakagami, Y.; Naito, T.; Nakao, Y.; Hamano, N.; Tagashita, H.;
By: Sakai, Y.; Shimizu, R.; Nakagami, Y.; Naito, T.; Nakao, Y.; Hamano, N.; Tagashita, H.;
2002 / IEEE / 1-55752-701-6
By: Suyama, M.; Nakamoto, H.; Shimojoh, N.; Torii, K.; Tanaka, T.; Naito, T.;
By: Suyama, M.; Nakamoto, H.; Shimojoh, N.; Torii, K.; Tanaka, T.; Naito, T.;
2002 / IEEE / 1-55752-701-6
By: Suyama, M.; Naito, T.; Tanaka, T.; Sugiyama, A.; Shimojoh, N.; Ueki, T.; Torii, K.; Nakamoto, H.;
By: Suyama, M.; Naito, T.; Tanaka, T.; Sugiyama, A.; Shimojoh, N.; Ueki, T.; Torii, K.; Nakamoto, H.;
2003 / IEEE / 1-55752-746-6
By: Nakamoto, H.; Yuki, M.; Tanaka, T.; Torii, K.; Yokota, I.; Naito, T.;
By: Nakamoto, H.; Yuki, M.; Tanaka, T.; Torii, K.; Yokota, I.; Naito, T.;
2003 / IEEE / 0-7803-7749-4
By: Nobuyuki, S.; Naito, T.; Imai, H.; Sakai, K.; Hara, Y.; Furukawa, Y.; Tamura, S.; Wai Tung Ng; Xu, E.H.P.; Ma, V.W.Y.; Kohno, T.; Takasuka, K.;
By: Nobuyuki, S.; Naito, T.; Imai, H.; Sakai, K.; Hara, Y.; Furukawa, Y.; Tamura, S.; Wai Tung Ng; Xu, E.H.P.; Ma, V.W.Y.; Kohno, T.; Takasuka, K.;
2005 / IEEE / 0-7803-8907-7
By: Akazawa, T.; Nakanishi, M.; Nemoto, Y.; Miyazaki, C.; Naito, T.; Yoshimira, Y.; Tanaka, N.;
By: Akazawa, T.; Nakanishi, M.; Nemoto, Y.; Miyazaki, C.; Naito, T.; Yoshimira, Y.; Tanaka, N.;
2005 / IEEE / 0-7803-8859-3
By: Kumada, M.; Danagoulian, S.; Mtingwa, S.; Delerue, N.; Howell, D.; Reichold, A.; Urner, D.; Choi, J.; Huang, J.-Y.; Kang, H.S.; Kim, E.-S.; Kim, S.; Ko, I.S.; Burrows, P.; Christian, G.; Molloy, S.; White, G.; Agapov, I.; Blair, G.; Boorman, G.; Carter, J.; Driouichi, C.; Price, M.; Walker, N.; Bane, K.; Brachmann, A.; Himel, T.; Markiewicz, T.; Nelson, J.; Phinney, N.; Pivi, M.; Raubenheimer, T.; Ross, M.; Ruland, R.; Seryi, A.; Spencer, C.; Tenenbaum, P.; Woodley, M.; Boogert, S.; Liapine, A.; Malton, S.; Torrence, E.; Sanuki, T.; Suehara, T.; Araki, S.; Hayano, H.; Higashi, Y.; Honda, Y.; Kanazawa, K.; Kubo, K.; Kume, T.; Kuriki, M.; Kuroda, S.; Masuzawa, M.; Naito, T.; Okugi, T.; Sugahara, R.; Takahashi, T.; Tauchi, T.; Terunuma, N.; Toge, N.; Urakawa, J.; Vogel, V.; Yamaoka, H.; Yokoya, K.; Gao, J.; Liu, W.; Pei, G.; Wang, J.; Grishanov, B.; Logachev, P.; Podgorny, F.; Telnov, V.; Angal-Kalinin, D.; Appleby, R.; Jones, J.; Kalinin, A.; Napoly, O.; Payet, J.; Braun, H.; Schulte, D.; Zimmermann, F.; Takahashi, T.; Iwashita, Y.; Mihara, T.; Bambade, P.; Gronberg, J.;
By: Kumada, M.; Danagoulian, S.; Mtingwa, S.; Delerue, N.; Howell, D.; Reichold, A.; Urner, D.; Choi, J.; Huang, J.-Y.; Kang, H.S.; Kim, E.-S.; Kim, S.; Ko, I.S.; Burrows, P.; Christian, G.; Molloy, S.; White, G.; Agapov, I.; Blair, G.; Boorman, G.; Carter, J.; Driouichi, C.; Price, M.; Walker, N.; Bane, K.; Brachmann, A.; Himel, T.; Markiewicz, T.; Nelson, J.; Phinney, N.; Pivi, M.; Raubenheimer, T.; Ross, M.; Ruland, R.; Seryi, A.; Spencer, C.; Tenenbaum, P.; Woodley, M.; Boogert, S.; Liapine, A.; Malton, S.; Torrence, E.; Sanuki, T.; Suehara, T.; Araki, S.; Hayano, H.; Higashi, Y.; Honda, Y.; Kanazawa, K.; Kubo, K.; Kume, T.; Kuriki, M.; Kuroda, S.; Masuzawa, M.; Naito, T.; Okugi, T.; Sugahara, R.; Takahashi, T.; Tauchi, T.; Terunuma, N.; Toge, N.; Urakawa, J.; Vogel, V.; Yamaoka, H.; Yokoya, K.; Gao, J.; Liu, W.; Pei, G.; Wang, J.; Grishanov, B.; Logachev, P.; Podgorny, F.; Telnov, V.; Angal-Kalinin, D.; Appleby, R.; Jones, J.; Kalinin, A.; Napoly, O.; Payet, J.; Braun, H.; Schulte, D.; Zimmermann, F.; Takahashi, T.; Iwashita, Y.; Mihara, T.; Bambade, P.; Gronberg, J.;
2005 / IEEE / 0-7803-8859-3
By: Ross, M.; Urakawa, J.; Naito, T.; Kuroda, S.; Kuriki, M.; Kubo, K.; Zimmermann, F.; Korostelev, M.;
By: Ross, M.; Urakawa, J.; Naito, T.; Kuroda, S.; Kuriki, M.; Kubo, K.; Zimmermann, F.; Korostelev, M.;
2005 / IEEE / 0-7803-8859-3
By: Naito, T.; Hayano, H.; Ross, M.; Zimmermann, F.; Korostelev, M.; Nakamura, N.; Sakai, H.; Urakawa, J.; Terunuma, N.; Muto, T.; Kuroda, S.; Kuriki, M.; Kubo, K.; Honda, Y.;
By: Naito, T.; Hayano, H.; Ross, M.; Zimmermann, F.; Korostelev, M.; Nakamura, N.; Sakai, H.; Urakawa, J.; Terunuma, N.; Muto, T.; Kuroda, S.; Kuriki, M.; Kubo, K.; Honda, Y.;
Next Page
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap