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Author: Missaggia, L.J.
Results
2011 / IEEE / 978-1-4244-8939-8
By: Redmond, S.M.; Connors, M.K.; Donnelly, J.P.; Missaggia, L.J.; Mathewson, D.C.; Smith, G.M.; Turner, G.W.; Sanchez-Rubio, A.; Swint, R.B.;
By: Redmond, S.M.; Connors, M.K.; Donnelly, J.P.; Missaggia, L.J.; Mathewson, D.C.; Smith, G.M.; Turner, G.W.; Sanchez-Rubio, A.; Swint, R.B.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8939-8
By: Smith, G.M.; Juodawlkis, P.W.; Turner, G.W.; Mathewson, D.C.; Connors, M.K.; Missaggia, L.J.; Donnelly, J.P.; Siegel, A.M.; Duerr, E.K.;
By: Smith, G.M.; Juodawlkis, P.W.; Turner, G.W.; Mathewson, D.C.; Connors, M.K.; Missaggia, L.J.; Donnelly, J.P.; Siegel, A.M.; Duerr, E.K.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8939-8
By: Klamkin, J.; Madison, S.M.; Juodawlkis, P.W.; Yegnanarayanan, S.; Oakley, D.C.; Missaggia, L.J.; O'Donnell, F.J.; Napoleone, A.;
By: Klamkin, J.; Madison, S.M.; Juodawlkis, P.W.; Yegnanarayanan, S.; Oakley, D.C.; Missaggia, L.J.; O'Donnell, F.J.; Napoleone, A.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-1527-3
By: Smith, G.M.; Redmond, S.M.; Turner, G.W.; Sanchez-Rubio, A.; Swint, R.B.; Mathewson, D.C.; Creedon, K.J.; Connors, M.K.; Missaggia, L.J.; Donnelly, J.P.;
By: Smith, G.M.; Redmond, S.M.; Turner, G.W.; Sanchez-Rubio, A.; Swint, R.B.; Mathewson, D.C.; Creedon, K.J.; Connors, M.K.; Missaggia, L.J.; Donnelly, J.P.;
1993 / IEEE
By: Donnelly, J.P.; Walpole, J.N.; Missaggia, L.J.; Johnson, G.D.; Goodhue, W.D.; Bailey, R.J.; Wang, C.A.; Lincoln, G.A.;
By: Donnelly, J.P.; Walpole, J.N.; Missaggia, L.J.; Johnson, G.D.; Goodhue, W.D.; Bailey, R.J.; Wang, C.A.; Lincoln, G.A.;
1993 / IEEE
By: Turner, G.W.; Walpole, J.N.; Choi, H.K.; Conners, M.K.; Missaggia, L.J.; Eglash, S.J.;
By: Turner, G.W.; Walpole, J.N.; Choi, H.K.; Conners, M.K.; Missaggia, L.J.; Eglash, S.J.;
1993 / IEEE
By: Wang, C.A.; Goodhue, W.D.; Donnelly, J.P.; Walpole, J.N.; Bailey, R.J.; Missaggia, L.J.; Johnson, G.D.; Lincoln, G.A.;
By: Wang, C.A.; Goodhue, W.D.; Donnelly, J.P.; Walpole, J.N.; Bailey, R.J.; Missaggia, L.J.; Johnson, G.D.; Lincoln, G.A.;
1994 / IEEE
By: Walpole, J.N.; Kintzer, E.S.; Chinn, S.R.; Livas, J.C.; Missaggia, L.J.; Wang, C.A.;
By: Walpole, J.N.; Kintzer, E.S.; Chinn, S.R.; Livas, J.C.; Missaggia, L.J.; Wang, C.A.;
1994 / IEEE
By: Groves, S.H.; Napoleone, A.; Bailey, R.J.; Missaggia, L.J.; Woodhouse, J.D.; Walpole, J.N.; Donnelly, J.P.;
By: Groves, S.H.; Napoleone, A.; Bailey, R.J.; Missaggia, L.J.; Woodhouse, J.D.; Walpole, J.N.; Donnelly, J.P.;
1993 / IEEE / 0-7803-1263-5
By: Dennis, C.L.; Mull, D.E.; Walpole, J.N.; Liau, Z.L.; Missaggia, L.J.;
By: Dennis, C.L.; Mull, D.E.; Walpole, J.N.; Liau, Z.L.; Missaggia, L.J.;
1995 / IEEE
By: Missaggia, L.J.; Mull, D.E.; Kintzer, E.S.; Livas, J.C.; Walpole, J.N.; Liau, Z.L.; DiNatale, W.F.;
By: Missaggia, L.J.; Mull, D.E.; Kintzer, E.S.; Livas, J.C.; Walpole, J.N.; Liau, Z.L.; DiNatale, W.F.;
1996 / IEEE
By: Groves, S.H.; Donnelly, J.P.; Walpole, J.N.; Napoleone, A.; Bailey, R.J.; Woodhouse, J.D.; Missaggia, L.J.;
By: Groves, S.H.; Donnelly, J.P.; Walpole, J.N.; Napoleone, A.; Bailey, R.J.; Woodhouse, J.D.; Missaggia, L.J.;
1996 / IEEE
By: Donnelly, J.P.; Walpole, J.N.; Betts, G.E.; Groves, S.H.; Napoleone, A.; O'Donnell, F.J.; Missaggia, L.J.; Bailey, R.J.; Woodhouse, J.D.;
By: Donnelly, J.P.; Walpole, J.N.; Betts, G.E.; Groves, S.H.; Napoleone, A.; O'Donnell, F.J.; Missaggia, L.J.; Bailey, R.J.; Woodhouse, J.D.;
1994 / IEEE / 0-7803-1470-0
By: Walpole, J.N.; Kintzer, E.S.; Chinn, S.R.; Livas, J.C.; Missaggia, L.J.; Wang, C.A.;
By: Walpole, J.N.; Kintzer, E.S.; Chinn, S.R.; Livas, J.C.; Missaggia, L.J.; Wang, C.A.;
1994 / IEEE / 0-7803-1470-0
By: O'Donnell, F.J.; Groves, S.H.; Donnelly, J.P.; Reeder, R.E.; Walpole, J.N.; Napoleone, A.; Missaggia, L.J.; Woodhouse, J.D.; Bailey, R.J.;
By: O'Donnell, F.J.; Groves, S.H.; Donnelly, J.P.; Reeder, R.E.; Walpole, J.N.; Napoleone, A.; Missaggia, L.J.; Woodhouse, J.D.; Bailey, R.J.;
1997 / IEEE
By: Bailey, J.; Donnelly, J.P.; Betts, G.E.; Nagoleone, A.; Walpole, J.N.; Missaggia, L.J.; O'Donnell, F.J.; Groves, S.H.;
By: Bailey, J.; Donnelly, J.P.; Betts, G.E.; Nagoleone, A.; Walpole, J.N.; Missaggia, L.J.; O'Donnell, F.J.; Groves, S.H.;
1997 / IEEE / 0-7803-3895-2
By: Napoleone, A.; Missaggia, L.J.; Bailey, R.J.; Groves, S.H.; Walpole, J.N.; Donnelly, J.P.;
By: Napoleone, A.; Missaggia, L.J.; Bailey, R.J.; Groves, S.H.; Walpole, J.N.; Donnelly, J.P.;
1998 / IEEE
By: Conners, M.K.; Turner, G.W.; Walpole, J.N.; Choi, H.K.; Manfra, M.J.; Missaggia, L.J.;
By: Conners, M.K.; Turner, G.W.; Walpole, J.N.; Choi, H.K.; Manfra, M.J.; Missaggia, L.J.;
1990 / IEEE / 0-87942-550-4
By: Missaggia, L.J.; Walpole, J.N.; Wang, C.A.; Donnelly, J.P.; Choi, H.K.;
By: Missaggia, L.J.; Walpole, J.N.; Wang, C.A.; Donnelly, J.P.; Choi, H.K.;
1997 / IEEE / 1-55752-480-7
By: Betts, G.E.; Missaggia, L.J.; Napoleone, A.; Bailey, R.J.; Donnelly, J.P.; O'Donnell, F.J.; Groves, S.H.; Walpole, J.N.;
By: Betts, G.E.; Missaggia, L.J.; Napoleone, A.; Bailey, R.J.; Donnelly, J.P.; O'Donnell, F.J.; Groves, S.H.; Walpole, J.N.;
1998 / IEEE
By: Missaggia, L.J.; Bailey, R.J.; Groves, S.H.; Walpole, J.N.; Napoleone, A.; Donnelly, J.P.; Cook, C.C.; Reeder, R.E.;
By: Missaggia, L.J.; Bailey, R.J.; Groves, S.H.; Walpole, J.N.; Napoleone, A.; Donnelly, J.P.; Cook, C.C.; Reeder, R.E.;
2000 / IEEE
By: Donnelly, J.P.; Walpole, J.N.; Wright, M.W.; Taylor, P.J.; Groves, S.H.; Chinn, S.R.; Liau, Z.L.; Missaggia, L.J.;
By: Donnelly, J.P.; Walpole, J.N.; Wright, M.W.; Taylor, P.J.; Groves, S.H.; Chinn, S.R.; Liau, Z.L.; Missaggia, L.J.;
1999 / IEEE / 1-55752-595-1
By: Walpole, J.N.; Prasankumar, R.P.; Bilinsky, I.P.; Fujimoto, J.G.; Missaggia, L.J.;
By: Walpole, J.N.; Prasankumar, R.P.; Bilinsky, I.P.; Fujimoto, J.G.; Missaggia, L.J.;
1996 / IEEE / 1-55752-443-2
By: Donnelly, J.P.; Walpole, J.N.; Betts, G.E.; Groves, S.H.; Woodhouse, J.D.; Missaggia, L.J.; O'Donnell, F.J.; Bailey, R.J.;
By: Donnelly, J.P.; Walpole, J.N.; Betts, G.E.; Groves, S.H.; Woodhouse, J.D.; Missaggia, L.J.; O'Donnell, F.J.; Bailey, R.J.;
2002 / IEEE
By: Plant, J.; Huang, R.; Chinn, S.R.; Groves, S.H.; Napoleone, A.; Walpole, J.N.; Harris, C.T.; Missaggia, L.J.; Taylor, P.J.; Donnelly, J.P.; Bailey, R.J.;
By: Plant, J.; Huang, R.; Chinn, S.R.; Groves, S.H.; Napoleone, A.; Walpole, J.N.; Harris, C.T.; Missaggia, L.J.; Taylor, P.J.; Donnelly, J.P.; Bailey, R.J.;
2002 / IEEE
By: Kirk, J.B.; Chou, T.M.; Evans, G.A.; Selmic, S.R.; Walpole, J.N.; Missaggia, L.J.; Harris, C.T.; Donnelly, J.P.;
By: Kirk, J.B.; Chou, T.M.; Evans, G.A.; Selmic, S.R.; Walpole, J.N.; Missaggia, L.J.; Harris, C.T.; Donnelly, J.P.;
2002 / IEEE / 0-7803-7500-9
By: Huang, R.K.; Turner, G.W.; Goodhue, W.T.; Mull, D.E.; Plant, J.; Bailey, R.J.; Harris, C.T.; Missaggia, L.J.; Walpole, J.N.; Donnelly, J.P.;
By: Huang, R.K.; Turner, G.W.; Goodhue, W.T.; Mull, D.E.; Plant, J.; Bailey, R.J.; Harris, C.T.; Missaggia, L.J.; Walpole, J.N.; Donnelly, J.P.;
2002 / IEEE / 0-7803-7500-9
By: Twichell, J.C.; Williamson, R.C.; Donnelly, J.P.; Missaggia, L.J.; Molvar, K.M.; Mahoney, L.J.; Juodawlkis, P.W.; Groves, S.H.; Napoleone, A.; Oakley, D.C.; Hargreaves, J.J.; O'Donnell, F.J.;
By: Twichell, J.C.; Williamson, R.C.; Donnelly, J.P.; Missaggia, L.J.; Molvar, K.M.; Mahoney, L.J.; Juodawlkis, P.W.; Groves, S.H.; Napoleone, A.; Oakley, D.C.; Hargreaves, J.J.; O'Donnell, F.J.;
2003 / IEEE
By: Huang, R.K.; Donnelly, J.P.; Turner, G.W.; Goodhue, W.D.; Mull, D.E.; Bailey, R.J.; Plant, J.J.; Harris, C.T.; Missaggia, L.J.; Walpole, J.N.;
By: Huang, R.K.; Donnelly, J.P.; Turner, G.W.; Goodhue, W.D.; Mull, D.E.; Bailey, R.J.; Plant, J.J.; Harris, C.T.; Missaggia, L.J.; Walpole, J.N.;
2003 / IEEE
By: Mull, D.E.; Plant, J.; Harris, C.T.; Missaggia, L.J.; Donnelly, J.P.; Huang, R.K.; Goodhue, W.D.;
By: Mull, D.E.; Plant, J.; Harris, C.T.; Missaggia, L.J.; Donnelly, J.P.; Huang, R.K.; Goodhue, W.D.;
2003 / IEEE / 0-7803-7888-1
By: Missaggia, L.J.; Huang, R.K.; Turner, G.W.; Goodhue, W.T.; Mull, D.E.; Plant, J.; Harris, C.T.; Donnelly, J.P.;
By: Missaggia, L.J.; Huang, R.K.; Turner, G.W.; Goodhue, W.T.; Mull, D.E.; Plant, J.; Harris, C.T.; Donnelly, J.P.;
2003 / IEEE / 0-7803-7888-1
By: Plant, J.J.; Juodawlkis, P.W.; Donnelly, J.P.; Missaggia, L.J.; Huang, R.K.;
By: Plant, J.J.; Juodawlkis, P.W.; Donnelly, J.P.; Missaggia, L.J.; Huang, R.K.;
2004 / IEEE / 0-7803-8557-8
By: Sanchez-Rubio, A.; Fan, T.Y.; Donnelly, J.P.; Goyal, A.K.; Liau, Z.L.; Turner, G.W.; Harris, C.T.; Missaggia, L.J.; Huang, R.K.; Chann, B.;
By: Sanchez-Rubio, A.; Fan, T.Y.; Donnelly, J.P.; Goyal, A.K.; Liau, Z.L.; Turner, G.W.; Harris, C.T.; Missaggia, L.J.; Huang, R.K.; Chann, B.;
2005 / IEEE
By: Plant, J.J.; Ray, K.G.; Missaggia, L.J.; Donnelly, J.P.; Huang, R.K.; Juodawlkis, P.W.;
By: Plant, J.J.; Ray, K.G.; Missaggia, L.J.; Donnelly, J.P.; Huang, R.K.; Juodawlkis, P.W.;
2005 / IEEE / 1-55752-796-2
By: Donnelly, J.P.; Missaggia, L.J.; Huang, R.K.; Turner, G.W.; Harris, C.T.;
By: Donnelly, J.P.; Missaggia, L.J.; Huang, R.K.; Turner, G.W.; Harris, C.T.;
2005 / IEEE / 1-55752-795-4
By: Missaggia, L.J.; O'Donnell, F.J.; Plant, J.J.; Juodawlkis, P.W.; Donnelly, J.P.; Huang, R.K.;
By: Missaggia, L.J.; O'Donnell, F.J.; Plant, J.J.; Juodawlkis, P.W.; Donnelly, J.P.; Huang, R.K.;
2005 / IEEE / 1-55752-795-4
By: Sanchez-Rubio, A.; Fan, T.Y.; Donnelly, J.P.; Goyal, A.K.; Liau, Z.L.; Turner, G.W.; Harris, C.T.; Missaggia, L.J.; Huang, R.K.; Chann, B.;
By: Sanchez-Rubio, A.; Fan, T.Y.; Donnelly, J.P.; Goyal, A.K.; Liau, Z.L.; Turner, G.W.; Harris, C.T.; Missaggia, L.J.; Huang, R.K.; Chann, B.;
2007 / IEEE
By: Chann, B.; Huang, R.K.; Sanchez-Rubio, A.; Fan, T.Y.; Goyal, A.K.; Turner, G.W.; Harris, C.T.; Donnelly, J.P.; Missaggia, L.J.;
By: Chann, B.; Huang, R.K.; Sanchez-Rubio, A.; Fan, T.Y.; Goyal, A.K.; Turner, G.W.; Harris, C.T.; Donnelly, J.P.; Missaggia, L.J.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0924-2
By: Missaggia, L.J.; Huang, R.K.; Turner, G.W.; Swint, R.; Donnelly, J.P.; Bien Chann;
By: Missaggia, L.J.; Huang, R.K.; Turner, G.W.; Swint, R.; Donnelly, J.P.; Bien Chann;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0924-2
By: Juodawlkis, P.W.; O'Donnell, F.J.; Jensen, K.E.; Missaggia, L.J.; Plant, J.J.;
By: Juodawlkis, P.W.; O'Donnell, F.J.; Jensen, K.E.; Missaggia, L.J.; Plant, J.J.;
2008 / IEEE / 978-1-55752-859-9
By: Chann, B.; Huang, R.K.; Turner, G.W.; Sanchez-Rubio, A.; Donnelly, J.P.; Swint, R.B.; Augst, S.J.; Missaggia, L.J.;
By: Chann, B.; Huang, R.K.; Turner, G.W.; Sanchez-Rubio, A.; Donnelly, J.P.; Swint, R.B.; Augst, S.J.; Missaggia, L.J.;
2006 / IEEE / 978-1-55752-813-1
By: Liau, Z.L.; Harris, C.T.; Missaggia, L.J.; Chann, B.; Huang, R.K.; Goyal, A.K.; Sanchez-Rubio, A.; Turner, G.W.; Fan, T.Y.; Donnelly, J.P.;
By: Liau, Z.L.; Harris, C.T.; Missaggia, L.J.; Chann, B.; Huang, R.K.; Goyal, A.K.; Sanchez-Rubio, A.; Turner, G.W.; Fan, T.Y.; Donnelly, J.P.;
2006 / IEEE / 978-1-55752-813-1
By: Ram, R.J.; Huang, R.K.; Turner, G.W.; Missaggia, L.J.; Connors, M.K.; Manfra, M.J.;
By: Ram, R.J.; Huang, R.K.; Turner, G.W.; Missaggia, L.J.; Connors, M.K.; Manfra, M.J.;
2009 / IEEE
By: Plant, J.J.; Juodawlkis, P.W.; O'Donnell, F.J.; Jensen, K.E.; Missaggia, L.J.; Loh, W.;
By: Plant, J.J.; Juodawlkis, P.W.; O'Donnell, F.J.; Jensen, K.E.; Missaggia, L.J.; Loh, W.;
2009 / IEEE / 978-1-55752-869-8
By: Chann, B.; Huang, R.K.; Dorsch, F.; Miester, C.; Hostetler, J.L.; Missaggia, L.J.; Donnelly, J.P.; Sanchez-Rubio, A.; Turner, G.W.; Connors, M.K.; Augst, S.J.;
By: Chann, B.; Huang, R.K.; Dorsch, F.; Miester, C.; Hostetler, J.L.; Missaggia, L.J.; Donnelly, J.P.; Sanchez-Rubio, A.; Turner, G.W.; Connors, M.K.; Augst, S.J.;
2010 / IEEE / 978-1-55752-890-2
By: O'Donnell, F.J.; Ray, K.G.; Smith, G.M.; Loh, W.; Missaggia, L.J.; Donnelly, J.P.; Connors, M.K.; Plant, J.J.; Huang, R.K.; Klamkin, J.; Juodawlkis, P.W.;
By: O'Donnell, F.J.; Ray, K.G.; Smith, G.M.; Loh, W.; Missaggia, L.J.; Donnelly, J.P.; Connors, M.K.; Plant, J.J.; Huang, R.K.; Klamkin, J.; Juodawlkis, P.W.;
2010 / IEEE / 978-1-55752-890-2
By: Chann, B.; Huang, R.K.; Missaggia, L.J.; Turner, G.W.; Brattain, M.A.; Sanchez-Rubio, A.; Caissie, J.M.; Creedon, K.J.; Connors, M.K.;
By: Chann, B.; Huang, R.K.; Missaggia, L.J.; Turner, G.W.; Brattain, M.A.; Sanchez-Rubio, A.; Caissie, J.M.; Creedon, K.J.; Connors, M.K.;
2011 / IEEE
By: Juodawlkis, P.W.; Plant, J.J.; Loh, W.; Missaggia, L.J.; O'Donnell, F.J.; Oakley, D.C.; Donnelly, J.P.; Klamkin, J.; Gopinath, J.T.; Ripin, D.J.; Gee, S.; Delfyett, P.J.; Napoleone, A.;
By: Juodawlkis, P.W.; Plant, J.J.; Loh, W.; Missaggia, L.J.; O'Donnell, F.J.; Oakley, D.C.; Donnelly, J.P.; Klamkin, J.; Gopinath, J.T.; Ripin, D.J.; Gee, S.; Delfyett, P.J.; Napoleone, A.;
2011 / IEEE
By: Plant, J.J.; O'Donnell, F.J.; Loh, W.; Juodawlkis, P.W.; Missaggia, L.J.; Brattain, M.A.;
By: Plant, J.J.; O'Donnell, F.J.; Loh, W.; Juodawlkis, P.W.; Missaggia, L.J.; Brattain, M.A.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-906-0
By: Oakley, D.C.; O'Donnell, F.J.; Loh, W.; Missaggia, L.J.; Napoloeone, A.; Plant, J.J.; Juodawlkis, P.W.; Donnelly, J.P.; Klamkin, J.;
By: Oakley, D.C.; O'Donnell, F.J.; Loh, W.; Missaggia, L.J.; Napoloeone, A.; Plant, J.J.; Juodawlkis, P.W.; Donnelly, J.P.; Klamkin, J.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-911-4
By: Hollis, M.A.; Madison, S.M.; Klamkin, J.; Juodawlkis, P.W.; Plant, J.J.; Oakley, D.C.; Caissie, J.M.; Missaggia, L.J.; Sheehan, M.; O'Donnell, F.J.; Napoleone, A.;
By: Hollis, M.A.; Madison, S.M.; Klamkin, J.; Juodawlkis, P.W.; Plant, J.J.; Oakley, D.C.; Caissie, J.M.; Missaggia, L.J.; Sheehan, M.; O'Donnell, F.J.; Napoleone, A.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-911-4
By: Creedon, K.J.; Kansky, J.E.; Redmond, S.M.; Sanchez-Rubio, A.; Missaggia, L.J.; Fan, T.Y.; Turner, G.W.; Connors, M.K.;
By: Creedon, K.J.; Kansky, J.E.; Redmond, S.M.; Sanchez-Rubio, A.; Missaggia, L.J.; Fan, T.Y.; Turner, G.W.; Connors, M.K.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-757-3
By: Oakley, D.C.; Madison, S.M.; Klamkin, J.; Juodawlkis, P.W.; Plant, J.J.; Napoleone, A.; Caissie, J.M.; Missaggia, L.J.; Sheehan, M.; O'Donnell, F.J.;
By: Oakley, D.C.; Madison, S.M.; Klamkin, J.; Juodawlkis, P.W.; Plant, J.J.; Napoleone, A.; Caissie, J.M.; Missaggia, L.J.; Sheehan, M.; O'Donnell, F.J.;