Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Miller, J.R.
Results
1992 / IEEE
By: Dedurin, A.M.; Egorov, S.A.; Chernoplekov, N.A.; Novikov, S.I.; Bondarchuk, E.N.; Mokhnatuk, V.A.; Martovetsky, N.N.; Malofeev, A.M.; Klimenko, E.Y.; Karpushov, I.D.; Marston, P.G.; Slack, D.S.; Miller, J.R.; Heim, J.R.; Henning, C.D.; Trokhachev, G.V.; Filatov, O.G.;
By: Dedurin, A.M.; Egorov, S.A.; Chernoplekov, N.A.; Novikov, S.I.; Bondarchuk, E.N.; Mokhnatuk, V.A.; Martovetsky, N.N.; Malofeev, A.M.; Klimenko, E.Y.; Karpushov, I.D.; Marston, P.G.; Slack, D.S.; Miller, J.R.; Heim, J.R.; Henning, C.D.; Trokhachev, G.V.; Filatov, O.G.;
1993 / IEEE
By: Schneider-Muntau, H.-J.; Markiewicz, W.D.; Van Sciver, S.W.; Miller, J.R.; Bobrov, E.S.; Weggel, R.J.; Williams, J.E.C.; Leupold, M.J.; Iwasa, Y.;
By: Schneider-Muntau, H.-J.; Markiewicz, W.D.; Van Sciver, S.W.; Miller, J.R.; Bobrov, E.S.; Weggel, R.J.; Williams, J.E.C.; Leupold, M.J.; Iwasa, Y.;
1994 / IEEE
By: Bonito-Oliva, A.; Bobrov, S.; Bole, S.; Bird, M.D.; Miller, J.R.; Weggel, R.; Stejskal, V.; Leupold, M.; Iwasa, Y.; Eyssa, Y.; Williams, J.E.C.; Wood, R.J.; Welton, S.; van Sciver, S.W.; Summers, L.T.; Schneider-Muntau, H.-J.; Painter, T.A.; Kenney, W.J.;
By: Bonito-Oliva, A.; Bobrov, S.; Bole, S.; Bird, M.D.; Miller, J.R.; Weggel, R.; Stejskal, V.; Leupold, M.; Iwasa, Y.; Eyssa, Y.; Williams, J.E.C.; Wood, R.J.; Welton, S.; van Sciver, S.W.; Summers, L.T.; Schneider-Muntau, H.-J.; Painter, T.A.; Kenney, W.J.;
1994 / IEEE
By: Painter, T.A.; Shapiro, A.; Boghosian, H.; Schaedler, R.M.; Rutman, G.; Summers, L.T.; Miller, J.R.; King, M.J.; Ciancetta, G.M.; Devernoe, A.L.; Bonito-Oliva, A.; Bascunan, J.;
By: Painter, T.A.; Shapiro, A.; Boghosian, H.; Schaedler, R.M.; Rutman, G.; Summers, L.T.; Miller, J.R.; King, M.J.; Ciancetta, G.M.; Devernoe, A.L.; Bonito-Oliva, A.; Bascunan, J.;
1994 / IEEE
By: Valencia, J.E.; Sweet, M.R.; Saylor, W.W.; Miller, J.R.; Moss, C.E.; Echave, M.A.; Casperson, D.E.; Edwards, B.C.;
By: Valencia, J.E.; Sweet, M.R.; Saylor, W.W.; Miller, J.R.; Moss, C.E.; Echave, M.A.; Casperson, D.E.; Edwards, B.C.;
1996 / IEEE
By: Miller, J.R.; Kountz, D.J.; Face, D.W.; Katz, J.; Jung, K.J.; Mun, I.K.; Ma, Q.Y.; Zhang, K.;
By: Miller, J.R.; Kountz, D.J.; Face, D.W.; Katz, J.; Jung, K.J.; Mun, I.K.; Ma, Q.Y.; Zhang, K.;
1997 / IEEE
By: Booth, J.C.; Ma, Q.Y.; Hong, S.H.; Chen, M.L.; DeGroot, D.C.; Miller, J.R.; Ono, R.H.; Rudman, D.A.; Beall, J.A.;
By: Booth, J.C.; Ma, Q.Y.; Hong, S.H.; Chen, M.L.; DeGroot, D.C.; Miller, J.R.; Ono, R.H.; Rudman, D.A.; Beall, J.A.;
1999 / IEEE / 0-7803-5207-6
By: Noland, T.L.; Mohammed, G.H.; Miller, J.R.; Zarco-Tejada, P.J.; Sampson, P.H.;
By: Noland, T.L.; Mohammed, G.H.; Miller, J.R.; Zarco-Tejada, P.J.; Sampson, P.H.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Miller, J.R.; Kenney, S.; Green, M.A.; Eyssa, Y.; Wang, S.T.; Prestemon, S.;
By: Miller, J.R.; Kenney, S.; Green, M.A.; Eyssa, Y.; Wang, S.T.; Prestemon, S.;
2001 / IEEE / 0-7803-7223-9
By: Kohlbacher, O.; Miller, J.R.; Halpern, A.L.; Huson, D.H.; Fasulo, D.; Edwards, N.J.; Chaturvedi, K.; Turner, R.J.; Istrail, S.; Yooseph, S.; Walenz, B.; Schwartz, R.; Remington, K.A.; Reinert, K.;
By: Kohlbacher, O.; Miller, J.R.; Halpern, A.L.; Huson, D.H.; Fasulo, D.; Edwards, N.J.; Chaturvedi, K.; Turner, R.J.; Istrail, S.; Yooseph, S.; Walenz, B.; Schwartz, R.; Remington, K.A.; Reinert, K.;
2001 / IEEE / 0-7803-7191-7
By: Hassenein, A.; Spampinato, P.T.; King, B.J.; Kirk, H.G.; Ludewig, H.; Palmer, R.B.; Pearson, C.E.; Samulyak, R.; Simos, N.; Stumer, I.; Thieberger, P.; Weggel, R.J.; Fukui, Y.; Johnson, C.D.; Ravn, H.; Hwang, P.; Naumovitch, G.; Childress, S.; Mokhov, N.V.; Green, M.A.; Reginato, L.L.; Zeller, A.; Miller, J.R.; Lu, C.; McDonald, K.T.; Prebys, E.J.; Gabriel, T.A.; Haines, J.R.; Kahn, S.A.;
By: Hassenein, A.; Spampinato, P.T.; King, B.J.; Kirk, H.G.; Ludewig, H.; Palmer, R.B.; Pearson, C.E.; Samulyak, R.; Simos, N.; Stumer, I.; Thieberger, P.; Weggel, R.J.; Fukui, Y.; Johnson, C.D.; Ravn, H.; Hwang, P.; Naumovitch, G.; Childress, S.; Mokhov, N.V.; Green, M.A.; Reginato, L.L.; Zeller, A.; Miller, J.R.; Lu, C.; McDonald, K.T.; Prebys, E.J.; Gabriel, T.A.; Haines, J.R.; Kahn, S.A.;
2002 / IEEE
By: DeKamp, J.C.; Bird, M.D.; Prestemon, S.; Miller, J.R.; Morris, L.; Toth, J.; Zeller, A.; Thoennessen, M.;
By: DeKamp, J.C.; Bird, M.D.; Prestemon, S.; Miller, J.R.; Morris, L.; Toth, J.; Zeller, A.; Thoennessen, M.;
2002 / IEEE / 0-7803-7536-X
By: Hollinger, A.; Miller, J.R.; Haboudane, D.; Shen-en Qian; Baoxin Hu; Tremblay, N.;
By: Hollinger, A.; Miller, J.R.; Haboudane, D.; Shen-en Qian; Baoxin Hu; Tremblay, N.;
2003 / IEEE
By: Ambrosio, G.; Bauer, P.; Imbasciati, L.; Zlobin, A.V.; Miller, G.E.; Miller, J.R.; Lamm, M.J.;
By: Ambrosio, G.; Bauer, P.; Imbasciati, L.; Zlobin, A.V.; Miller, G.E.; Miller, J.R.; Lamm, M.J.;
2003 / IEEE
By: Lamm, M.J.; Ambrosio, G.; Bauer, P.; Imbasciati, L.; Zlobin, A.V.; Miller, G.E.; Miller, J.R.;
By: Lamm, M.J.; Ambrosio, G.; Bauer, P.; Imbasciati, L.; Zlobin, A.V.; Miller, G.E.; Miller, J.R.;
2003 / IEEE / 0-7803-7929-2
By: Apostol, S.; Tremblay, N.; Haboudane, D.; Miller, J.R.; Zarco-Tajeda, P.J.;
By: Apostol, S.; Tremblay, N.; Haboudane, D.; Miller, J.R.; Zarco-Tajeda, P.J.;
2003 / IEEE / 0-7803-7929-2
By: Pedros, R.; Berger, M.; Miller, J.R.; Zarco-Tejada, P.J.; Verhoef, W.; Moreno, J.F.; Alonso, L.; Moya, I.; Mohammed, G.; Louis, J.; Jacquemoud, S.; Goulas, Y.; Cerovic, Z.;
By: Pedros, R.; Berger, M.; Miller, J.R.; Zarco-Tejada, P.J.; Verhoef, W.; Moreno, J.F.; Alonso, L.; Moya, I.; Mohammed, G.; Louis, J.; Jacquemoud, S.; Goulas, Y.; Cerovic, Z.;
2003 / IEEE / 0-7803-7929-2
By: Zarco-Tejada, P.J.; Nielsen, U.; Noland, T.L.; Miller, J.R.; Moorthy, I.;
By: Zarco-Tejada, P.J.; Nielsen, U.; Noland, T.L.; Miller, J.R.; Moorthy, I.;
2006 / IEEE / 0-7695-2497-4
By: Miller, J.R.; Kamali, R.; Reichgelt, H.; Lawson, E.; Ekstrom, J.J.; Lunt, B.; Gorka, S.;
By: Miller, J.R.; Kamali, R.; Reichgelt, H.; Lawson, E.; Ekstrom, J.J.; Lunt, B.; Gorka, S.;
2006 / IEEE
By: Hyun Sik Kim; Hendrickson, C.L.; Byoung Seob Lee; Dong Lak Kim; Trowell, A.J.; Yeon Suk Choi; Kenney, S.J.; Cantrell, K.R.; Dixon, I.R.; Bole, S.T.; Miller, J.R.; Markiewicz, W.D.; Painter, T.A.; Marshall, A.G.;
By: Hyun Sik Kim; Hendrickson, C.L.; Byoung Seob Lee; Dong Lak Kim; Trowell, A.J.; Yeon Suk Choi; Kenney, S.J.; Cantrell, K.R.; Dixon, I.R.; Bole, S.T.; Miller, J.R.; Markiewicz, W.D.; Painter, T.A.; Marshall, A.G.;
2006 / IEEE / 0-7803-9510-7
By: Curtiss, B.; Dozier, J.; Ungar, S.G.; Green, R.O.; Schaepman, M.E.; Goetz, A.F.H.; Milton, E.J.; Swayze, G.; Roberts, D.; Goodenough, D.G.; Boardman, J.; Davis, C.; Clark, R.; Ben-Dor, E.; Jacquemoud, S.; Miller, J.R.; Kokaly, R.; Ustin, S.; Bo-Cai Gao; Plaza, A.J.;
By: Curtiss, B.; Dozier, J.; Ungar, S.G.; Green, R.O.; Schaepman, M.E.; Goetz, A.F.H.; Milton, E.J.; Swayze, G.; Roberts, D.; Goodenough, D.G.; Boardman, J.; Davis, C.; Clark, R.; Ben-Dor, E.; Jacquemoud, S.; Miller, J.R.; Kokaly, R.; Ustin, S.; Bo-Cai Gao; Plaza, A.J.;