Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Miller, B.
Results
2011 / IEEE / 978-1-4577-1756-7
By: Miller, B.; Suarez, E.; Karmakar, S.; Chan, P.-Y.; Chandy, J.; Baskar, K.; Jain, F.; Heller, E.;
By: Miller, B.; Suarez, E.; Karmakar, S.; Chan, P.-Y.; Chandy, J.; Baskar, K.; Jain, F.; Heller, E.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0377-4
By: Miller, B.; Brasili, D.; Jain, A.; Fishbein, B.; Kessler, R.; Lin, D.; Tiwary, P.; Vulih, J.; Balasubramanian, S.; Aina, A.; Spaeth, M.; Crain, E.; Meninger, S.; Xanthopoulos, T.; Yalala, V.; Carlson, D.; Hartman, D.; Pragaspathi, I.; Kandadi, V.; Stysiack, B.; Hughes, A.; Lin, W.; Shi-Huang Yin; Varadharajan, A.; Kulkarni, M.; Salvi, M.; Mehrotra, R.; Kiszely, T.; Kuhn, R.;
By: Miller, B.; Brasili, D.; Jain, A.; Fishbein, B.; Kessler, R.; Lin, D.; Tiwary, P.; Vulih, J.; Balasubramanian, S.; Aina, A.; Spaeth, M.; Crain, E.; Meninger, S.; Xanthopoulos, T.; Yalala, V.; Carlson, D.; Hartman, D.; Pragaspathi, I.; Kandadi, V.; Stysiack, B.; Hughes, A.; Lin, W.; Shi-Huang Yin; Varadharajan, A.; Kulkarni, M.; Salvi, M.; Mehrotra, R.; Kiszely, T.; Kuhn, R.;
2012 / IEEE
By: Wegman, J.; Poulton, K.; Jewett, B.; Whaley, M.; Rytting, M.; Miller, B.; Patterson, J.S.; Anklam, W.; Brandt, P.; Andries, A.; Hendrix, Z.; Demarsin, F.; Lugil, N.; Van de Sande, F.; Liu, J.;
By: Wegman, J.; Poulton, K.; Jewett, B.; Whaley, M.; Rytting, M.; Miller, B.; Patterson, J.S.; Anklam, W.; Brandt, P.; Andries, A.; Hendrix, Z.; Demarsin, F.; Lugil, N.; Van de Sande, F.; Liu, J.;
1995 / IEEE
By: Miller, B.; Ugurbil, K.; Pardo, J.; Georgopoulos, A.; Retzel, E.; Honda, C.; Wilcox, G.; Carlis, J.; Riedl, J.; Claypool, M.; Eide, R.;
By: Miller, B.; Ugurbil, K.; Pardo, J.; Georgopoulos, A.; Retzel, E.; Honda, C.; Wilcox, G.; Carlis, J.; Riedl, J.; Claypool, M.; Eide, R.;
1995 / IEEE / 0-7803-2450-1
By: Lee, R.; Geraghty, D.; Jianhui Zhou; Vahala, K.; Miller, B.; Newkirk, M.;
By: Lee, R.; Geraghty, D.; Jianhui Zhou; Vahala, K.; Miller, B.; Newkirk, M.;
1998 / IEEE / 0-7803-4344-1
By: Jain, A.; Bannon, P.; Carlson, D.; Kim, S.J.; Kim, K.-I.; Hwang, G.C.; Park, S.-B.; Kobayashi, S.; Kobayashi, H.; Chen, A.; Saito, Y.; Yalala, V.; Olesin, A.; Nagarajan, M.; Mueller, R.; Miller, B.; Mehta, S.; Lilly, B.; Castelino, R.; Brasili, D.; Bouchard, G.; Blake-Campos, R.; Bertone, M.; Benninghoff, T.;
By: Jain, A.; Bannon, P.; Carlson, D.; Kim, S.J.; Kim, K.-I.; Hwang, G.C.; Park, S.-B.; Kobayashi, S.; Kobayashi, H.; Chen, A.; Saito, Y.; Yalala, V.; Olesin, A.; Nagarajan, M.; Mueller, R.; Miller, B.; Mehta, S.; Lilly, B.; Castelino, R.; Brasili, D.; Bouchard, G.; Blake-Campos, R.; Bertone, M.; Benninghoff, T.;
1998 / IEEE / 0-7803-5118-5
By: Jonsson, B.J.; Hill, B.; Miller, B.; Dahlberg, E.D.; Rao, K.V.; Strom, V.;
By: Jonsson, B.J.; Hill, B.; Miller, B.; Dahlberg, E.D.; Rao, K.V.; Strom, V.;
1994 / IEEE / 0-930815-39-4
By: Lo-Soun Su; Volkringer, N.; Miller, B.; Smith, B.; Kumar, R.; Mike Loo; Yee Ming Ting;
By: Lo-Soun Su; Volkringer, N.; Miller, B.; Smith, B.; Kumar, R.; Mike Loo; Yee Ming Ting;
Spectral angle automatic cluster routine (SAALT): an unsupervised multispectral clustering algorithm
1999 / IEEE / 0-7803-5425-7By: Lisowski, J.; Borowski, B.; Najarian, M.; Weisberg, A.; Miller, B.;
1996 / IEEE / 1-55752-422-X
By: Fukazawa, M.; Haiyun Tang; Yao, M.; Miller, B.; Newkirk, M.; Vahala, K.; Jianhui Zhou;
By: Fukazawa, M.; Haiyun Tang; Yao, M.; Miller, B.; Newkirk, M.; Vahala, K.; Jianhui Zhou;
2001 / IEEE / 0-7803-6608-5
By: Berucci, D.; Paul, P.; Benninghoff, T.; Anderson, W.; Jain, A.; Zou, T.; Xanthopoulos, D.; Vardharajan, A.; Truex, T.; Shen, M.; Russell, S.; Pickholtz, J.; Braganza, M.; Mueller, R.; Miller, B.; Kumar, A.; Kowaleski, J.; Hess, G.; Grodstein, J.; Gowda, O.; Faber, R.; Eble, J.; Chang, T.; Burnetie, J.;
By: Berucci, D.; Paul, P.; Benninghoff, T.; Anderson, W.; Jain, A.; Zou, T.; Xanthopoulos, D.; Vardharajan, A.; Truex, T.; Shen, M.; Russell, S.; Pickholtz, J.; Braganza, M.; Mueller, R.; Miller, B.; Kumar, A.; Kowaleski, J.; Hess, G.; Grodstein, J.; Gowda, O.; Faber, R.; Eble, J.; Chang, T.; Burnetie, J.;
2002 / IEEE / 0-7803-7185-2
By: Turner, K.; Zhang, X.; Ayon, A.A.; Spearing, S.M.; Nagle, S.; Miller, B.; Choi, D.;
By: Turner, K.; Zhang, X.; Ayon, A.A.; Spearing, S.M.; Nagle, S.; Miller, B.; Choi, D.;
2002 / IEEE
By: Sauer, N.; Liming Zhang; Weiguo Yang; Miller, B.; Stulz, L.; Van Thourhout, D.; Bernasconi, P.; Cabot, S.;
By: Sauer, N.; Liming Zhang; Weiguo Yang; Miller, B.; Stulz, L.; Van Thourhout, D.; Bernasconi, P.; Cabot, S.;
2003 / IEEE / 0-7803-7707-9
By: Truex, T.; Dever, D.; Kowaleski, J.A., Jr.; Zlatkovic, V.; Zelic, G.; Jianxun Sun; Yongsik Seok; Ramey, D.A.; O'Neill, N.; Mueller, R.O.; Moyer, G.; Miller, B.; Kolk, H.; Houghton, C.; Hokinson, R.; Germini, V.; DiPace, A.; Clouser, J.; Clay, D.; Castelino, R.; Bertucci, D.; Bakke, S.; Bair, L.; Anderson, W.; Ament, D.;
By: Truex, T.; Dever, D.; Kowaleski, J.A., Jr.; Zlatkovic, V.; Zelic, G.; Jianxun Sun; Yongsik Seok; Ramey, D.A.; O'Neill, N.; Mueller, R.O.; Moyer, G.; Miller, B.; Kolk, H.; Houghton, C.; Hokinson, R.; Germini, V.; DiPace, A.; Clouser, J.; Clay, D.; Castelino, R.; Bertucci, D.; Bakke, S.; Bair, L.; Anderson, W.; Ament, D.;
2004 / IEEE / 0-7695-2242-4
By: Hilkner, C.P.; Ganek, A.G.; Hellerstein, J.L.; Miller, B.; Sweitzer, J.W.;
By: Hilkner, C.P.; Ganek, A.G.; Hellerstein, J.L.; Miller, B.; Sweitzer, J.W.;
2004 / IEEE / 0-7803-8557-8
By: Kelley, M.; Hughes, L.; Cady, R.; Matthews, K.; Miller, B.; Booth, D.; Thomas, J.; Doig, A.; Songsheng Tan; Albee, P.; Husted, A.; Sylvester, J.; Knowles, P.; Sidebottom, N.;
By: Kelley, M.; Hughes, L.; Cady, R.; Matthews, K.; Miller, B.; Booth, D.; Thomas, J.; Doig, A.; Songsheng Tan; Albee, P.; Husted, A.; Sylvester, J.; Knowles, P.; Sidebottom, N.;
2005 / IEEE / 0-7803-8912-3
By: Cannon, K.; Burt, I.; LaPoint, M.A.; Papanikolopoulos, N.; Miller, B.; Hays, C.;
By: Cannon, K.; Burt, I.; LaPoint, M.A.; Papanikolopoulos, N.; Miller, B.; Hays, C.;
2005 / IEEE / 1-59593-061-2
By: May, J.; Karavanic, K.L.; Pugh, B.; Knapp, R.; Huck, K.; Miller, B.; Mohror, K.;
By: May, J.; Karavanic, K.L.; Pugh, B.; Knapp, R.; Huck, K.; Miller, B.; Mohror, K.;
2006 / IEEE
By: Sining Mao; Ryan, P.; Feng Liu; Xingfu Chen; Bin Xu; Puling Lu; Patwari, M.; Haiwen Xi; Clif Chang; Miller, B.; Menard, D.; Pant, B.; Loven, J.; Duxstad, K.; Shaoping Li; Zhengyong Zhang; Johnston, A.; Lamberton, R.; Gubbins, M.; McLaughlin, T.; Gadbois, J.; Juren Ding; Cross, B.; Song Xue; Yonghua Chen;
By: Sining Mao; Ryan, P.; Feng Liu; Xingfu Chen; Bin Xu; Puling Lu; Patwari, M.; Haiwen Xi; Clif Chang; Miller, B.; Menard, D.; Pant, B.; Loven, J.; Duxstad, K.; Shaoping Li; Zhengyong Zhang; Johnston, A.; Lamberton, R.; Gubbins, M.; McLaughlin, T.; Gadbois, J.; Juren Ding; Cross, B.; Song Xue; Yonghua Chen;
2005 / IEEE / 0-7803-9189-6
By: Robison, G.; Sik-Lam Wong; Palmer, D.; Eichenberger, C.; Shimer, D.; Miller, B.;
By: Robison, G.; Sik-Lam Wong; Palmer, D.; Eichenberger, C.; Shimer, D.; Miller, B.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1319-5
By: Kelvin Liang; Yoonju Cho; Thakor, N.V.; Miller, B.; Folowosele, F.;
By: Kelvin Liang; Yoonju Cho; Thakor, N.V.; Miller, B.; Folowosele, F.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2230-2
By: Johnson, R.W.; Connell, J.; Henson, P.; Comish, J.; Miller, B.; Joshi, P.; Nelms, M.;
By: Johnson, R.W.; Connell, J.; Henson, P.; Comish, J.; Miller, B.; Joshi, P.; Nelms, M.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3961-4
By: Palmer, J.; Ljunggren, K.; Peterson, M.; Miller, B.; Strand, S.-E.;
By: Palmer, J.; Ljunggren, K.; Peterson, M.; Miller, B.; Strand, S.-E.;
2010 / IEEE
By: Covington, M.; Qing He; Dion Song; Lei Wang; Kolbo, P.; Jiaoming Qiu; Stokes, S.; Yonghua Chen; Miller, B.; Kaizhong Gao; Dimitrov, D.; Sapozhnikov, V.;
By: Covington, M.; Qing He; Dion Song; Lei Wang; Kolbo, P.; Jiaoming Qiu; Stokes, S.; Yonghua Chen; Miller, B.; Kaizhong Gao; Dimitrov, D.; Sapozhnikov, V.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-6696-2
By: Pantev, R.; Miller, B.; Goseva-Popstojanova, K.; Dimitrijevikj, A.;
By: Pantev, R.; Miller, B.; Goseva-Popstojanova, K.; Dimitrijevikj, A.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-7627-5
By: Dimitrijevikj, A.; Pantev, R.; Goseva-Popstojanova, K.; Miller, B.;
By: Dimitrijevikj, A.; Pantev, R.; Goseva-Popstojanova, K.; Miller, B.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-9105-6
By: Ljunggren, K.; Peterson, M.; Strand, S.-E.; Miller, B.; Andersson-Ljus, L.;
By: Ljunggren, K.; Peterson, M.; Strand, S.-E.; Miller, B.; Andersson-Ljus, L.;