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Author: Malhi, S.D.S.
Results
1985 / IEEE
By: Sundaresan, R.; Chatterjiee, P.K.; Banerjee, S.K.; Shichijo, H.; Malhi, S.D.S.; Hon Wai Lam; Elahy, M.; Womack, R.H.; Hite, L.R.; Shah, A.H.; Richardson, W.F.; Pollack, G.P.;
By: Sundaresan, R.; Chatterjiee, P.K.; Banerjee, S.K.; Shichijo, H.; Malhi, S.D.S.; Hon Wai Lam; Elahy, M.; Womack, R.H.; Hite, L.R.; Shah, A.H.; Richardson, W.F.; Pollack, G.P.;
1986 / IEEE
By: Wang, C.; Womack, R.H.; Shah, A.H.; Chatterjee, P.K.; Tran, B.; Pilch, C.J.; Malhi, S.D.S.; Bordelon, D.M.; Richardson, W.F.; Pollack, G.P.; Banerjee, S.K.; Elahy, M.; Davis, H.E.; Shichijo, H.; Gallia, J.D.;
By: Wang, C.; Womack, R.H.; Shah, A.H.; Chatterjee, P.K.; Tran, B.; Pilch, C.J.; Malhi, S.D.S.; Bordelon, D.M.; Richardson, W.F.; Pollack, G.P.; Banerjee, S.K.; Elahy, M.; Davis, H.E.; Shichijo, H.; Gallia, J.D.;
1983 / IEEE
By: Malhi, S.D.S.; Shah, R.R.; Chatterjee, P.K.; Lam, H.W.; Pinizzoto, R.F.; Chen, C.E.C.; Bellavance, D.W.; Shichijo, H.;
By: Malhi, S.D.S.; Shah, R.R.; Chatterjee, P.K.; Lam, H.W.; Pinizzoto, R.F.; Chen, C.E.C.; Bellavance, D.W.; Shichijo, H.;
1983 / IEEE
By: Pinizzotto, R.F.; Bellavance, D.W.; Chatterjee, P.K.; Malhi, S.D.S.; Lam, H.W.; Shah, R.R.; Shichijo, H.; Chen, C.E.C.;
By: Pinizzotto, R.F.; Bellavance, D.W.; Chatterjee, P.K.; Malhi, S.D.S.; Lam, H.W.; Shah, R.R.; Shichijo, H.; Chen, C.E.C.;
1983 / IEEE
By: Chatterjee, P.K.; Malhi, S.D.S.; Shichijo, H.; Lam, H.W.; Douglas, M.A.; Shah, R.R.;
By: Chatterjee, P.K.; Malhi, S.D.S.; Shichijo, H.; Lam, H.W.; Douglas, M.A.; Shah, R.R.;
1984 / IEEE
By: Malhi, S.D.S.; Karnaugh, R.; Hester, R.K.; Pinizzotto, R.F.; Haken, R.A.; Shah, A.H.; Hite, L.; Chatterjee, P.K.; Davis, H.E.; Mahant-Shetti, S.S.; Gosmeyer, C.D.; Sundaresan, R.S.; Chen, C.E.; Lam, H.W.;
By: Malhi, S.D.S.; Karnaugh, R.; Hester, R.K.; Pinizzotto, R.F.; Haken, R.A.; Shah, A.H.; Hite, L.; Chatterjee, P.K.; Davis, H.E.; Mahant-Shetti, S.S.; Gosmeyer, C.D.; Sundaresan, R.S.; Chen, C.E.; Lam, H.W.;
1984 / IEEE
By: Banerjee, S.K.; Elahy, M.; Shichijo, H.; Pollack, G.P.; Richardson, W.F.; Malhi, S.D.S.; Shah, A.H.; Womack, R.H.; Lam, H.W.; Chatterjee, P.K.;
By: Banerjee, S.K.; Elahy, M.; Shichijo, H.; Pollack, G.P.; Richardson, W.F.; Malhi, S.D.S.; Shah, A.H.; Womack, R.H.; Lam, H.W.; Chatterjee, P.K.;
1984 / IEEE
By: Leiss, J.E.; Bonifield, T.D.; Chatterjee, P.K.; Malhi, S.D.S.; Coleman, D.J.; Pinizzotto, R.F.; Carter, D.E.;
By: Leiss, J.E.; Bonifield, T.D.; Chatterjee, P.K.; Malhi, S.D.S.; Coleman, D.J.; Pinizzotto, R.F.; Carter, D.E.;
1984 / IEEE
By: Elahy, M.; Pollack, G.P.; Chatterjee, P.K.; Womack, R.; Shah, A.H.; Richardson, W.F.; Banerjee, S.; Shichijo, H.; Bonifield, T.; Malhi, S.D.S.;
By: Elahy, M.; Pollack, G.P.; Chatterjee, P.K.; Womack, R.; Shah, A.H.; Richardson, W.F.; Banerjee, S.; Shichijo, H.; Bonifield, T.; Malhi, S.D.S.;
1984 / IEEE
By: Shichijo, H.; Malhi, S.D.S.; Chatterjee, P.K.; Lam, H.W.; Womack, R.H.; Sundaresan, R.; Elahy, M.; Banerjee, S.K.; Hite, L.R.; Shah, A.H.; Pollack, G.P.; Richardson, W.F.;
By: Shichijo, H.; Malhi, S.D.S.; Chatterjee, P.K.; Lam, H.W.; Womack, R.H.; Sundaresan, R.; Elahy, M.; Banerjee, S.K.; Hite, L.R.; Shah, A.H.; Pollack, G.P.; Richardson, W.F.;
1985 / IEEE
By: Malhi, S.D.S.; Shichijo, H.; Lam, H.W.; Chatterjee, P.K.; Womack, R.H.; Banerjee, S.K.; Sundaresan, R.; Elahy, M.; Pollack, G.P.; Richardson, W.F.; Shah, A.H.; Hite, L.R.;
By: Malhi, S.D.S.; Shichijo, H.; Lam, H.W.; Chatterjee, P.K.; Womack, R.H.; Banerjee, S.K.; Sundaresan, R.; Elahy, M.; Pollack, G.P.; Richardson, W.F.; Shah, A.H.; Hite, L.R.;
1985 / IEEE
By: Lam, H.W.; Malhi, S.D.S.; Sundaresan, R.; Hite, L.R.; Chatterjee, P.K.; Hester, R.K.; Shah, A.H.;
By: Lam, H.W.; Malhi, S.D.S.; Sundaresan, R.; Hite, L.R.; Chatterjee, P.K.; Hester, R.K.; Shah, A.H.;
1985 / IEEE
By: Richardson, W.F.; Bordelon, D.M.; Chatterjee, P.K.; Davis, H.E.; Gallia, J.; Wang, C.-P.; Womack, R.H.; Elahy, M.; Banerjee, S.K.; Shichijo, H.; Malhi, S.D.S.; Shah, A.H.; Pollack, G.P.;
By: Richardson, W.F.; Bordelon, D.M.; Chatterjee, P.K.; Davis, H.E.; Gallia, J.; Wang, C.-P.; Womack, R.H.; Elahy, M.; Banerjee, S.K.; Shichijo, H.; Malhi, S.D.S.; Shah, A.H.; Pollack, G.P.;
1986 / IEEE
By: Shichijo, H.; Banerjee, S.K.; Chatterjee, P.K.; Shah, A.H.; Davis, H.E.; Gallia, J.; Wang, C.-P.; Elahy, M.; Womack, R.H.; Bordelon, D.M.; Richardson, W.F.; Pollack, G.P.; Malhi, S.D.S.;
By: Shichijo, H.; Banerjee, S.K.; Chatterjee, P.K.; Shah, A.H.; Davis, H.E.; Gallia, J.; Wang, C.-P.; Elahy, M.; Womack, R.H.; Bordelon, D.M.; Richardson, W.F.; Pollack, G.P.; Malhi, S.D.S.;
1987 / IEEE
By: Stierman, R.J.; Davis, H.E.; Malhi, S.D.S.; Chatterjee, P.K.; Driscoll, C.C.; Bean, K.E.;
By: Stierman, R.J.; Davis, H.E.; Malhi, S.D.S.; Chatterjee, P.K.; Driscoll, C.C.; Bean, K.E.;