Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Liu, Z.
Results
2012 / IEEE
By: Chandrasekharan, K.; Narasimham, B.; Bhuva, B.L.; Kauppila, J.S.; Gaspard, N.J.; Djaja, G.; Wang, J.K.; Liu, Z.;
By: Chandrasekharan, K.; Narasimham, B.; Bhuva, B.L.; Kauppila, J.S.; Gaspard, N.J.; Djaja, G.; Wang, J.K.; Liu, Z.;
2012 / IEEE
By: Martinez-Bonastre, O.; Liu, Z.; Matijasevic, M.; Crowcroft, J.; Cesar, P.; Montpetit, M.-J.;
By: Martinez-Bonastre, O.; Liu, Z.; Matijasevic, M.; Crowcroft, J.; Cesar, P.; Montpetit, M.-J.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-7317-5
By: Mu, Z.; Sun, B.; Tang, Y.; Tangel, M.L.; Liu, Z.; Fatichah, C.; Le, P.Q.; Vu, H.A.; Hirota, K.; Yamazaki, Y.; Dong, F.; Yamaguchi, M.; Thet, O.; Masano, D.; Yan, F.;
By: Mu, Z.; Sun, B.; Tang, Y.; Tangel, M.L.; Liu, Z.; Fatichah, C.; Le, P.Q.; Vu, H.A.; Hirota, K.; Yamazaki, Y.; Dong, F.; Yamaguchi, M.; Thet, O.; Masano, D.; Yan, F.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0279-2
By: Ravishankar, J.; Phung, B.T.; Ambikairajah, R.; Liu, Z.; Blackburn, T.R.;
By: Ravishankar, J.; Phung, B.T.; Ambikairajah, R.; Liu, Z.; Blackburn, T.R.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-1858-8
By: Dietrich, C.; Farzinfar, M.; Styner, M.A.; Liu, Z.; Gupta, A.; Li, Y.; Smith, R.G.;
By: Dietrich, C.; Farzinfar, M.; Styner, M.A.; Liu, Z.; Gupta, A.; Li, Y.; Smith, R.G.;
2013 / IEEE
By: Zhang, Y.; Sun, M.; Palacios, T.; Fujishima, T.; Gao, F.; Lee, H.-S.; Piedra, D.; Liu, Z.;
By: Zhang, Y.; Sun, M.; Palacios, T.; Fujishima, T.; Gao, F.; Lee, H.-S.; Piedra, D.; Liu, Z.;
2012 / IEEE
By: Stocki, T. J.; Warren, C.; Waller, D.; Thompson, M.; Robichaud, A.; Oakham, G.; Noel, S.; Magill, M. P. C.; Morgan, B. E.; Smith, J.; Ong, D.; Anghel, V. N. P.; Armitage, J.; Botte, J.; Boudjemline, K.; Bryman, D.; Bueno, J.; Charles, E.; Cousins, T.; Erlandson, A.; Gallant, G.; Gazit, R.; Golovko, V.V.; Hydomako, R.; Jewett, C.; Jonkmans, G.; Liu, Z.; McCall, M.;
By: Stocki, T. J.; Warren, C.; Waller, D.; Thompson, M.; Robichaud, A.; Oakham, G.; Noel, S.; Magill, M. P. C.; Morgan, B. E.; Smith, J.; Ong, D.; Anghel, V. N. P.; Armitage, J.; Botte, J.; Boudjemline, K.; Bryman, D.; Bueno, J.; Charles, E.; Cousins, T.; Erlandson, A.; Gallant, G.; Gazit, R.; Golovko, V.V.; Hydomako, R.; Jewett, C.; Jonkmans, G.; Liu, Z.; McCall, M.;
2012 / IEEE
By: Anghel, V.; Armitage, J.; Waller, D.; Thompson, M.; Stocki, T.J.; Robichaud, A.; Oakham, G.; Botte, J.; Boudjemline, K.; Bryman, D.; Bueno, J.; Charles, E.; Cousins, T.; Erlandson, A.; Gallant, G.; Gazit, R.; Golovko, V.V.; Hydomako, R.; Jewett, C.; Jonkmans, G.; Liu, Z.; Magill, M.; Noel, S.;
By: Anghel, V.; Armitage, J.; Waller, D.; Thompson, M.; Stocki, T.J.; Robichaud, A.; Oakham, G.; Botte, J.; Boudjemline, K.; Bryman, D.; Bueno, J.; Charles, E.; Cousins, T.; Erlandson, A.; Gallant, G.; Gazit, R.; Golovko, V.V.; Hydomako, R.; Jewett, C.; Jonkmans, G.; Liu, Z.; Magill, M.; Noel, S.;
2014 / IEEE
By: Zhao, J.; Liu, Z.-A.; Deng, F.; Liu, Z.; Wang, C.; Gessler, T.; Kuehn, W.; Guo, F.; Lin, H.; Wang, K.; Gong, W.; Xu, H.;
By: Zhao, J.; Liu, Z.-A.; Deng, F.; Liu, Z.; Wang, C.; Gessler, T.; Kuehn, W.; Guo, F.; Lin, H.; Wang, K.; Gong, W.; Xu, H.;
2014 / IEEE
By: Wagner, M. N.; Fleischer, S.; Zhao, J.; Ye, H.; Spruck, B.; Liu, Z.; Liang, Y.; Lange, S.; Krocyl, G.; Kuhn, W.; Hu, J.; Galuska, M.;
By: Wagner, M. N.; Fleischer, S.; Zhao, J.; Ye, H.; Spruck, B.; Liu, Z.; Liang, Y.; Lange, S.; Krocyl, G.; Kuhn, W.; Hu, J.; Galuska, M.;
Dam-Break Flood Routing Simulation and Scale Effect Analysis Based on Virtual Geographic Environment
2015 / IEEEBy: Wang, J.; Yin, L.; Zhu, J.; Liu, Z.; Hu, Y.; Zhang, H.;
2015 / IEEE
By: Lu, Z.; He, Q.; Lu, Y.; Wang, W.; Wang, J.; Liu, X.; Huang, L.; Liu, Z.; Lu, W.; Qian, J.; Zhao, J.; Yang, Y.; Zhang, Z.;
By: Lu, Z.; He, Q.; Lu, Y.; Wang, W.; Wang, J.; Liu, X.; Huang, L.; Liu, Z.; Lu, W.; Qian, J.; Zhao, J.; Yang, Y.; Zhang, Z.;
2015 / IEEE
By: Liu, Z.; Chen, Y.; Slavik, R.; Richardson, D.J.; Alam, S.; Petrovich, M.N.; Poletti, F.; Becker, M.; Schubert, C.; Richter, T.; Heidt, A.M.; Wheeler, N.V.; Li, Z.; Kelly, B.; Phelan, R.; OCarroll, J.; Bradley, T.; Wooler, J.P.;
By: Liu, Z.; Chen, Y.; Slavik, R.; Richardson, D.J.; Alam, S.; Petrovich, M.N.; Poletti, F.; Becker, M.; Schubert, C.; Richter, T.; Heidt, A.M.; Wheeler, N.V.; Li, Z.; Kelly, B.; Phelan, R.; OCarroll, J.; Bradley, T.; Wooler, J.P.;
2015 / IEEE
By: Feng, X.; Fu, B.; Wang, J.; Li, J.; Si, Z.; Wei, X.; Liu, N.; Liu, Z.; Liu, Z.; Lu, H.;
By: Feng, X.; Fu, B.; Wang, J.; Li, J.; Si, Z.; Wei, X.; Liu, N.; Liu, Z.; Liu, Z.; Lu, H.;
High Power Narrow-Linewidth Nanosecond All-Fiber Lasers and their Actively Coherent Beam Combination
2014 / IEEEBy: Ma, Y.; Wang, X.; Zhou, P.; Su, R.; Liu, Z.; Xu, X.; Ma, P.; Xiao, H.;
2014 / IEEE
By: Chen, L.; Li, M.; He, T.; Luo, Q.; Xu, Y.; Liu, Y.; Peng, T.; Zhang, J.; Liu, Z.; Liu, K.;
By: Chen, L.; Li, M.; He, T.; Luo, Q.; Xu, Y.; Liu, Y.; Peng, T.; Zhang, J.; Liu, Z.; Liu, K.;