Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Liu, X.
Results
2012 / IEEE
By: Li, C.; Gao, C.; Yang, Z.; Hu, X.; Zhang, W.; Tsang, Y. H.; Wang, Y.; Liu, X.; Zhao, W.; Wang, Y.; Li, X.; Shen, D.;
By: Li, C.; Gao, C.; Yang, Z.; Hu, X.; Zhang, W.; Tsang, Y. H.; Wang, Y.; Liu, X.; Zhao, W.; Wang, Y.; Li, X.; Shen, D.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8340-2
By: Liu, X.; Kuyken, B.; Green, W.M.J.; Roelkens, G.; Baets, R.; Osgood, R.M.;
By: Liu, X.; Kuyken, B.; Green, W.M.J.; Roelkens, G.; Baets, R.; Osgood, R.M.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-932-9
By: Liu, X.; Fini, J.M.; Gnauck, A.H.; Chandrasekhar, S.; Dimarcello, F.V.; Monberg, E.M.; Winzer, P.J.; Yan, M.F.; Fishteyn, M.; Taunay, T.F.; Zhu, B.; Burrows, E.C.; Pan, Y.;
By: Liu, X.; Fini, J.M.; Gnauck, A.H.; Chandrasekhar, S.; Dimarcello, F.V.; Monberg, E.M.; Winzer, P.J.; Yan, M.F.; Fishteyn, M.; Taunay, T.F.; Zhu, B.; Burrows, E.C.; Pan, Y.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-932-9
By: Dimarcello, F.V.; Monberg, E.M.; Fini, J.M.; Yan, M.F.; Liu, X.; Fishteyn, M.; Taunay, T.F.; Chandrasekhar, S.; Zhu, B.;
By: Dimarcello, F.V.; Monberg, E.M.; Fini, J.M.; Yan, M.F.; Liu, X.; Fishteyn, M.; Taunay, T.F.; Chandrasekhar, S.; Zhu, B.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0541-0
By: Hasegawa, M.; Zhu, Z.Q.; Liu, X.; Chen, Z.; Maruyama, T.; Deohar, R.; Pride, A.;
By: Hasegawa, M.; Zhu, Z.Q.; Liu, X.; Chen, Z.; Maruyama, T.; Deohar, R.; Pride, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0541-0
By: Pride, A.; Hasegawa, M.; Zhu, Z.Q.; Liu, X.; Chen, Z.; Maruyama, T.; Deohar, R.;
By: Pride, A.; Hasegawa, M.; Zhu, Z.Q.; Liu, X.; Chen, Z.; Maruyama, T.; Deohar, R.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1589-1
By: Medvedev, A.V.; Sun, Y.L.; Liu, Y.; Liu, X.; Besio, W.G.; Koka, K.;
By: Medvedev, A.V.; Sun, Y.L.; Liu, Y.; Liu, X.; Besio, W.G.; Koka, K.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1470-2
By: Awate, B.; Li, L.; Liu, X.; Mason, A.J.; Reguera, G.; Worden, R.M.;
By: Awate, B.; Li, L.; Liu, X.; Mason, A.J.; Reguera, G.; Worden, R.M.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8939-8
By: DiGiovanni, D.J.; Sumetsky, M.; Taunay, T.F.; Monberg, E.M.; Liu, X.; Fini, J.M.; Dulashko, Y.;
By: DiGiovanni, D.J.; Sumetsky, M.; Taunay, T.F.; Monberg, E.M.; Liu, X.; Fini, J.M.; Dulashko, Y.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9965-6
By: Compaan, A.D.; Scarpulla, M.A.; Nowell, M.M.; Wieland, K.A.; Dohyoung Kwon; Paudel, N.R.; Liu, X.;
By: Compaan, A.D.; Scarpulla, M.A.; Nowell, M.M.; Wieland, K.A.; Dohyoung Kwon; Paudel, N.R.; Liu, X.;
2012 / IEEE / 978-1-55752-935-1
By: Picard, M.J.; Brochu, G.; Costin, F.; Ayotte, S.; Babin, A.; Chandrasekhar, S.; Liu, X.; Pelletier, F.;
By: Picard, M.J.; Brochu, G.; Costin, F.; Ayotte, S.; Babin, A.; Chandrasekhar, S.; Liu, X.; Pelletier, F.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9965-6
By: Mesropian, S.; Larrabee, D.; Liu, X.; Bhusari, D.; King, R.; Law, D.; Boisvert, J.; Karam, N.; Benedikt, B.; Rouhani, K.; Peterson, D.; Krut, D.; Edmondson, K.; Woo, R.;
By: Mesropian, S.; Larrabee, D.; Liu, X.; Bhusari, D.; King, R.; Law, D.; Boisvert, J.; Karam, N.; Benedikt, B.; Rouhani, K.; Peterson, D.; Krut, D.; Edmondson, K.; Woo, R.;
2012 / IEEE
By: Wang, S.; Vaidyanathan, R.; Aziz, T.; Liu, X.; Mamun, K. A.; Lutman, M.E.; Mace, M.; Huda, M. N.; Stein, J.;
By: Wang, S.; Vaidyanathan, R.; Aziz, T.; Liu, X.; Mamun, K. A.; Lutman, M.E.; Mace, M.; Huda, M. N.; Stein, J.;
2013 / IEEE
By: Bult, K.; van der Goes, F.; Arslan, E.; Liu, X.; Spiridon, S.; Chen, H.-F.; Yan, H.; van der Tang, J.; Guermandi, D.;
By: Bult, K.; van der Goes, F.; Arslan, E.; Liu, X.; Spiridon, S.; Chen, H.-F.; Yan, H.; van der Tang, J.; Guermandi, D.;
2013 / IEEE
By: Sun, H.; Lv, H.; Liu, M.; Niu, J.; Yang, X.; Liu, X.; Xie, H.; Wang, M.; Long, S.; Liu, Q.;
By: Sun, H.; Lv, H.; Liu, M.; Niu, J.; Yang, X.; Liu, X.; Xie, H.; Wang, M.; Long, S.; Liu, Q.;
Comparative Study of Novel Variable Flux Reluctance Machines With Doubly Fed Doubly Salient Machines
2013 / IEEEBy: Zhu, Z. Q.; Liu, X.;
2015 / IEEE
By: Zeng, W.; Sheng, J.; Wen, J.; Liu, X.; Ma, J.; Jin, Z.; Li, Z.Y.; Wang, Y.; Hong, Z.;
By: Zeng, W.; Sheng, J.; Wen, J.; Liu, X.; Ma, J.; Jin, Z.; Li, Z.Y.; Wang, Y.; Hong, Z.;
2015 / IEEE
By: Xu, C.; Persson, M.; Karlsson, S.; Danielsson, M.; Bornefalk, H.; Chen, H.; Liu, X.; Huber, B.;
By: Xu, C.; Persson, M.; Karlsson, S.; Danielsson, M.; Bornefalk, H.; Chen, H.; Liu, X.; Huber, B.;
2015 / IEEE
By: Lu, Z.; He, Q.; Lu, Y.; Wang, W.; Wang, J.; Liu, X.; Huang, L.; Liu, Z.; Lu, W.; Qian, J.; Zhao, J.; Yang, Y.; Zhang, Z.;
By: Lu, Z.; He, Q.; Lu, Y.; Wang, W.; Wang, J.; Liu, X.; Huang, L.; Liu, Z.; Lu, W.; Qian, J.; Zhao, J.; Yang, Y.; Zhang, Z.;