Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Liu, S.
Results
2011 / IEEE
By: Sherman, P.; Zafrani, M.; LaBel, K.A.; Phan, A.M.; Kim, H.S.; Lauenstein, J.-M.; Ladbury, R.L.; Titus, J.L.; Liu, S.; Goldsman, N.;
By: Sherman, P.; Zafrani, M.; LaBel, K.A.; Phan, A.M.; Kim, H.S.; Lauenstein, J.-M.; Ladbury, R.L.; Titus, J.L.; Liu, S.; Goldsman, N.;
2011 / IEEE
By: Hernandez, F.; Scheick, L.; Marec, R.; Ferlet-Cavrois, V.; Lauenstein, J.-M.; Liu, S.; Sherman, P.; Zafrani, M.; LaBel, K.; Ecoffet, R.; Mangeret, R.; Brisebois, M.A.; Carrier, D.; Cao, H.; Coquelet, L.; Sukhaseum, N.; Poivey, C.; Muschitiello, M.; Bezerra, F.;
By: Hernandez, F.; Scheick, L.; Marec, R.; Ferlet-Cavrois, V.; Lauenstein, J.-M.; Liu, S.; Sherman, P.; Zafrani, M.; LaBel, K.; Ecoffet, R.; Mangeret, R.; Brisebois, M.A.; Carrier, D.; Cao, H.; Coquelet, L.; Sukhaseum, N.; Poivey, C.; Muschitiello, M.; Bezerra, F.;
2012 / IEEE
By: Ecoffet, R.; Gouyet, L.; Muschitiello, M.; Widmer, F.; Sukhaseum, N.; Marin, M.; Ferlet-Cavois, F.; Bezerra, F.; Titus, J. L.; Sherman, P.; Marec, R.; Liu, S.; Zafrani, M.;
By: Ecoffet, R.; Gouyet, L.; Muschitiello, M.; Widmer, F.; Sukhaseum, N.; Marin, M.; Ferlet-Cavois, F.; Bezerra, F.; Titus, J. L.; Sherman, P.; Marec, R.; Liu, S.; Zafrani, M.;
2012 / IEEE
By: Maestro, J.A.; Casini, F.; Reviriego, P.; Sorrenti, G.; Liu, S.; Mecha, H.; Alderighi, M.;
By: Maestro, J.A.; Casini, F.; Reviriego, P.; Sorrenti, G.; Liu, S.; Mecha, H.; Alderighi, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1005-6
By: Meyer, F.; Hanssen, R.; Gong, W.; Mika, A.; Liu, S.; Webley, P.W.; Morton, D.;
By: Meyer, F.; Hanssen, R.; Gong, W.; Mika, A.; Liu, S.; Webley, P.W.; Morton, D.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-932-9
By: Irfan, M.; Zervas, G.; Amaya, N.; Richardson, D.J.; Petropoulos, P.; Liu, S.; Rancano, V.J.F.; Smith, K.; Lord, A.; Zhou, Y.R.; Simeonidou, D.; Henning, I.; Garrich, M.; Banias, K.;
By: Irfan, M.; Zervas, G.; Amaya, N.; Richardson, D.J.; Petropoulos, P.; Liu, S.; Rancano, V.J.F.; Smith, K.; Lord, A.; Zhou, Y.R.; Simeonidou, D.; Henning, I.; Garrich, M.; Banias, K.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0586-1
By: Titus, J.L.; Ecoffet, R.; Sherman, P.; Marec, R.; Liu, S.; Zafrani, M.; Bezerra, F.; Gouyet, L.; Muschitiello, M.; Widmer, F.; Sukhaseum, N.; Marin, M.; Ferlet-Cavrois, V.;
By: Titus, J.L.; Ecoffet, R.; Sherman, P.; Marec, R.; Liu, S.; Zafrani, M.; Bezerra, F.; Gouyet, L.; Muschitiello, M.; Widmer, F.; Sukhaseum, N.; Marin, M.; Ferlet-Cavrois, V.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0586-1
By: Ferlet-Cavrois, V.; Schwank, J.R.; Bezerra, F.; Poizat, M.; Truscott, P.; Zafrani, M.; Foy, J.; Piquet, B.; Berger, G.; Virtanen, A.; Kettunen, H.; Schardt, D.; Metzger, S.; Hoeffgen, S.K.; Peyre, D.; Binois, C.; Menicucci, A.; Nickson, B.; Santin, G.; Harboe-Sorensen, R.; Zadeh, A.; Poivey, C.; Hedlund, A.; Javanainen, A.; Beutier, T.; Liu, S.; Muschitiello, M.;
By: Ferlet-Cavrois, V.; Schwank, J.R.; Bezerra, F.; Poizat, M.; Truscott, P.; Zafrani, M.; Foy, J.; Piquet, B.; Berger, G.; Virtanen, A.; Kettunen, H.; Schardt, D.; Metzger, S.; Hoeffgen, S.K.; Peyre, D.; Binois, C.; Menicucci, A.; Nickson, B.; Santin, G.; Harboe-Sorensen, R.; Zadeh, A.; Poivey, C.; Hedlund, A.; Javanainen, A.; Beutier, T.; Liu, S.; Muschitiello, M.;
2012 / IEEE
By: Tronza, V.; Martovetsky, N.; Park, P.-Y.; Park, S.-H.; Readman, P.; Pantsyrny, V.; Boutboul, T.; Long, F.; Liu, S.; Oberli, L.; Bordini, B.; Jewell, M.C.; Pong, I.; Devred, A.; Lu, J.;
By: Tronza, V.; Martovetsky, N.; Park, P.-Y.; Park, S.-H.; Readman, P.; Pantsyrny, V.; Boutboul, T.; Long, F.; Liu, S.; Oberli, L.; Bordini, B.; Jewell, M.C.; Pong, I.; Devred, A.; Lu, J.;
2012 / IEEE
By: Retiere, F.; Amaudruz, P-A.; Ohlmann, C.; Olchanski, K.; Muir, A.; Mead, S.; Liu, S.; Bishop, D.; Chouinard, R.; Davis, P.; Gorel, P.; Langton, K.;
By: Retiere, F.; Amaudruz, P-A.; Ohlmann, C.; Olchanski, K.; Muir, A.; Mead, S.; Liu, S.; Bishop, D.; Chouinard, R.; Davis, P.; Gorel, P.; Langton, K.;
2014 / IEEE
By: Ocket, I.; Liu, S.; Nauwelaers, B.; Schreurs, D.; Lewandowski, A.; Markovic, T.; Barmuta, P.;
By: Ocket, I.; Liu, S.; Nauwelaers, B.; Schreurs, D.; Lewandowski, A.; Markovic, T.; Barmuta, P.;
2015 / IEEE
By: Yin, G.; Zhong, X.; Tang, J.; Yang, K.; Wang, Y.; Liu, S.; Liu, Y.; Sun, B.; Liao, C.; Wang, Q.;
By: Yin, G.; Zhong, X.; Tang, J.; Yang, K.; Wang, Y.; Liu, S.; Liu, Y.; Sun, B.; Liao, C.; Wang, Q.;
2015 / IEEE
By: Pujol, S.; Che, H.; Cai, W.; Liu, S.; Kikinis, R.; ADNI, .; Fulham, M.J.; Feng, D.; Liu, S.;
By: Pujol, S.; Che, H.; Cai, W.; Liu, S.; Kikinis, R.; ADNI, .; Fulham, M.J.; Feng, D.; Liu, S.;
2015 / IEEE
By: Chen, K.J.; Zhang, B.; Cai, Y.; Dong, Z.; Hua, M.; Liu, S.; Yang, S.; Liu, C.; Fu, K.;
By: Chen, K.J.; Zhang, B.; Cai, Y.; Dong, Z.; Hua, M.; Liu, S.; Yang, S.; Liu, C.; Fu, K.;
2015 / IEEE
By: He, J.; Jia, Z.; Lou, F.; Dong, C.; Zhao, R.; Liu, S.; Wang, Z.; Hou, J.; Zhang, B.;
By: He, J.; Jia, Z.; Lou, F.; Dong, C.; Zhao, R.; Liu, S.; Wang, Z.; Hou, J.; Zhang, B.;
2014 / IEEE
By: Pan, C.; Wang, M.; Liu, S.; Du, S.; Luo, D.; Liu, X.; Li, J.; Qin, J.; Wu, Y.; Liu, J.;
By: Pan, C.; Wang, M.; Liu, S.; Du, S.; Luo, D.; Liu, X.; Li, J.; Qin, J.; Wu, Y.; Liu, J.;
2014 / IEEE
By: Liu, S.; Yuan, J.; Zhang, B.; Cai, Y.; Huang, W.; Zhang, Z.; Zeng, C.; Yu, G.; Fu, K.; Tan, S.; Hou, K.;
By: Liu, S.; Yuan, J.; Zhang, B.; Cai, Y.; Huang, W.; Zhang, Z.; Zeng, C.; Yu, G.; Fu, K.; Tan, S.; Hou, K.;
2014 / IEEE
By: Huo, D.; Li, X.; Chen, J.; Sun, X.; Liu, S.; Li, J.-G.; Zhang, M.; Zhu, Q.; Hui, Y.;
By: Huo, D.; Li, X.; Chen, J.; Sun, X.; Liu, S.; Li, J.-G.; Zhang, M.; Zhu, Q.; Hui, Y.;
2014 / IEEE
By: Huo, D.; Li, X.; Chen, J.; Sun, X.; Liu, S.; Li, J.-G.; Zhang, M.; Zhu, Q.; Hui, Y.;
By: Huo, D.; Li, X.; Chen, J.; Sun, X.; Liu, S.; Li, J.-G.; Zhang, M.; Zhu, Q.; Hui, Y.;