Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Libeyre, P.
Results
2012 / IEEE
By: Lyraud, C.; Rodriguez-Mateos, F.; Jong, C.; Jewell, M.; Bessette, D.; Libeyre, P.; Sgobba, S.; Reed, R.; Dalder, E.; Myatt, L.; Freudenberg, K.; Litherland, S.; Hussung, R.; Rey, C.; Martovetsky, N.; Reiersen, W.; Hamada, K.;
By: Lyraud, C.; Rodriguez-Mateos, F.; Jong, C.; Jewell, M.; Bessette, D.; Libeyre, P.; Sgobba, S.; Reed, R.; Dalder, E.; Myatt, L.; Freudenberg, K.; Litherland, S.; Hussung, R.; Rey, C.; Martovetsky, N.; Reiersen, W.; Hamada, K.;
2012 / IEEE
By: Wang, L.; Han, S.; Pan, W.; Wu, W.; Yu, X.; Liu, L.; Libeyre, P.; Foussat, A.; Zhou, Z.; Du, S.; Wei, J.;
By: Wang, L.; Han, S.; Pan, W.; Wu, W.; Yu, X.; Liu, L.; Libeyre, P.; Foussat, A.; Zhou, Z.; Du, S.; Wei, J.;
2012 / IEEE
By: Devred, A.; Libeyre, P.; Matsuda, H.; Nakajima, H.; Koizumi, N.; Uno, Y.; Yano, Y.; Oshikiri, M.; Saito, T.; Kawano, K.; Takahashi, Y.; Isono, T.; Nunoya, Y.; Hamada, K.; Jewell, M.C.; Bessette, D.;
By: Devred, A.; Libeyre, P.; Matsuda, H.; Nakajima, H.; Koizumi, N.; Uno, Y.; Yano, Y.; Oshikiri, M.; Saito, T.; Kawano, K.; Takahashi, Y.; Isono, T.; Nunoya, Y.; Hamada, K.; Jewell, M.C.; Bessette, D.;
2012 / IEEE
By: Foussat, A.; Wei, J.; Wu, W.; Zhou, Z.; Libeyre, P.; Du, S.; Li, H.; Yu, X.; Liu, L.; Han, S.;
By: Foussat, A.; Wei, J.; Wu, W.; Zhou, Z.; Libeyre, P.; Du, S.; Li, H.; Yu, X.; Liu, L.; Han, S.;
2012 / IEEE
By: Bessette, D.; Shuangsong, D.; Foussat, A.; Gauthier, F.; Mitchell, N.; Libeyre, P.; Jong, C.T.J.;
By: Bessette, D.; Shuangsong, D.; Foussat, A.; Gauthier, F.; Mitchell, N.; Libeyre, P.; Jong, C.T.J.;
1996 / IEEE
By: Komarek, P.; Turck, B.; Decool, P.; Bertrand, B.; Libeyre, P.; Maurer, W.; Spadoni, M.; Salpietro, E.; Zahn, G.; Ulbricht, A.;
By: Komarek, P.; Turck, B.; Decool, P.; Bertrand, B.; Libeyre, P.; Maurer, W.; Spadoni, M.; Salpietro, E.; Zahn, G.; Ulbricht, A.;
2000 / IEEE
By: Libeyre, P.; Ulbricht, A.; Mitchell, N.; Decool, P.; Salpietro, E.; Palmer, J.; Hurd, F.; Fillunger, H.; Maix, R.; Theisen, E.; Bresson, D.; Bourquard, A.; Valle, N.; Laurenti, A.; Schellong, B.; Garre, R.; Della Corte, A.; Zahn, G.;
By: Libeyre, P.; Ulbricht, A.; Mitchell, N.; Decool, P.; Salpietro, E.; Palmer, J.; Hurd, F.; Fillunger, H.; Maix, R.; Theisen, E.; Bresson, D.; Bourquard, A.; Valle, N.; Laurenti, A.; Schellong, B.; Garre, R.; Della Corte, A.; Zahn, G.;
1999 / IEEE / 0-7803-5829-5
By: Pesenti, P.; Maix, R.; Laurenti, A.; Krischel, D.; Fillunger, H.; Theisen, E.; Decool, P.; Bourquard, A.; Bevilacqua, G.; Libeyre, P.; Valle, N.;
By: Pesenti, P.; Maix, R.; Laurenti, A.; Krischel, D.; Fillunger, H.; Theisen, E.; Decool, P.; Bourquard, A.; Bevilacqua, G.; Libeyre, P.; Valle, N.;
1999 / IEEE / 0-7803-5829-5
By: Theisen, E.; Pesenti, P.; Maix, R.; Laurenti, A.; Krischel, D.; Valle, N.; Fillunger, H.; Decool, P.; Bourquard, A.; Bevilacqua, G.; Libeyre, P.;
By: Theisen, E.; Pesenti, P.; Maix, R.; Laurenti, A.; Krischel, D.; Valle, N.; Fillunger, H.; Decool, P.; Bourquard, A.; Bevilacqua, G.; Libeyre, P.;
2002 / IEEE
By: Duchateau, J.-L.; Libeyre, P.; Ciazynski, D.; Salpietro, E.; Maix, R.K.; Hurd, F.; Fillunger, H.; Savoldi, L.; Zanino, R.; Schellong, B.; Beaudet, F.; Bourquard, A.; Kraft, G.; Theisen, E.; Ricci, M.; della Corte, A.; Zahn, G.; Wuchner, F.; Ulbricht, A.; Susser, M.; Marchese, V.; Herz, W.; Bobrov, E.; Martinez, A.;
By: Duchateau, J.-L.; Libeyre, P.; Ciazynski, D.; Salpietro, E.; Maix, R.K.; Hurd, F.; Fillunger, H.; Savoldi, L.; Zanino, R.; Schellong, B.; Beaudet, F.; Bourquard, A.; Kraft, G.; Theisen, E.; Ricci, M.; della Corte, A.; Zahn, G.; Wuchner, F.; Ulbricht, A.; Susser, M.; Marchese, V.; Herz, W.; Bobrov, E.; Martinez, A.;
1981 / IEEE
By: Disdier, F.; Torossian, A.; Claudet, G.; Aymar, R.; Hamelin, J.; Parain, J.; Meuris, C.; Mayaux, C.; Libeyre, P.;
By: Disdier, F.; Torossian, A.; Claudet, G.; Aymar, R.; Hamelin, J.; Parain, J.; Meuris, C.; Mayaux, C.; Libeyre, P.;
1981 / IEEE
By: Torossian, A.; Seyfert, P.; Parain, J.; Meuris, C.; Mayaux, G.; Libeyre, P.; Hamelin, J.; Genevey, P.; Duthil, R.; Disdier, F.; Claudet, G.; Mardion, G.B.; Aymar, R.; Turck, B.;
By: Torossian, A.; Seyfert, P.; Parain, J.; Meuris, C.; Mayaux, G.; Libeyre, P.; Hamelin, J.; Genevey, P.; Duthil, R.; Disdier, F.; Claudet, G.; Mardion, G.B.; Aymar, R.; Turck, B.;
2004 / IEEE
By: Fillunger, H.; Wuechner, F.; Schanz, P.; Raff, S.; Decool, P.; Dolgetta, N.; Libeyre, P.;
By: Fillunger, H.; Wuechner, F.; Schanz, P.; Raff, S.; Decool, P.; Dolgetta, N.; Libeyre, P.;
2004 / IEEE
By: Cloez, H.; Serries, J.P.; Nicollet, S.; Zani, L.; Bej, S.; Van Houtte, D.; Libeyre, P.; Ciazynski, D.; Decool, P.;
By: Cloez, H.; Serries, J.P.; Nicollet, S.; Zani, L.; Bej, S.; Van Houtte, D.; Libeyre, P.; Ciazynski, D.; Decool, P.;
2008 / IEEE
By: Simon, F.; Sborchia, C.; Libeyre, P.; Knaster, J.; Mitchell, N.; Gallix, R.; Bessette, D.; Jong, C.;
By: Simon, F.; Sborchia, C.; Libeyre, P.; Knaster, J.; Mitchell, N.; Gallix, R.; Bessette, D.; Jong, C.;
2008 / IEEE
By: Simon, F.; Sborchia, C.; Mitchell, N.; Gribov, Y.; Libeyre, P.; Benfatto, I.; Bareyt, B.; Bessette, D.;
By: Simon, F.; Sborchia, C.; Mitchell, N.; Gribov, Y.; Libeyre, P.; Benfatto, I.; Bareyt, B.; Bessette, D.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2635-5
By: Lyraud, C.; Beemsterboer, C.J.J.; Mitchell, N.; Libeyre, P.; Vollmann, T.; Jong, C.T.J.;
By: Lyraud, C.; Beemsterboer, C.J.J.; Mitchell, N.; Libeyre, P.; Vollmann, T.; Jong, C.T.J.;
2010 / IEEE
By: Mitchell, N.; Beemsterboer, C.; Libeyre, P.; Vollmann, T.; Bessette, D.; Dolgetta, N.; Lyraud, C.; Jong, C.; Gribov, Y.;
By: Mitchell, N.; Beemsterboer, C.; Libeyre, P.; Vollmann, T.; Bessette, D.; Dolgetta, N.; Lyraud, C.; Jong, C.; Gribov, Y.;
2010 / IEEE
By: Sahu, A.; Bauer, P.; Gallix, R.; Bessette, D.; Foussat, A.; Jong, C.T.J.; Gribov, Y.; Mitchell, N.; Libeyre, P.;
By: Sahu, A.; Bauer, P.; Gallix, R.; Bessette, D.; Foussat, A.; Jong, C.T.J.; Gribov, Y.; Mitchell, N.; Libeyre, P.;
2011 / IEEE
By: Liping Liu; Weiyue Wu; Mitchell, N.; Libeyre, P.; Jong, C.; Dolgetta, N.; Shuangsong Du; Jing Wei; Shiqiang Han; Foussat, A.; Xiaowu Yu; Xufeng Liu;
By: Liping Liu; Weiyue Wu; Mitchell, N.; Libeyre, P.; Jong, C.; Dolgetta, N.; Shuangsong Du; Jing Wei; Shiqiang Han; Foussat, A.; Xiaowu Yu; Xufeng Liu;