Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Li, H.Y.
Results
2012 / IEEE
By: Kwong, D.L.; Gao, S.; Chong, S.C.; Hirshberg, A.; Li, H.Y.; Baram, A.; Ong, L.G.; Xie, L.; Herer, I.;
By: Kwong, D.L.; Gao, S.; Chong, S.C.; Hirshberg, A.; Li, H.Y.; Baram, A.; Ong, L.G.; Xie, L.; Herer, I.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1982-0
By: Teo, K.H.; Trigg, A.D.; Che, F.X.; Chua, H.M.; Li, H.Y.; Gao, S.;
By: Teo, K.H.; Trigg, A.D.; Che, F.X.; Chua, H.M.; Li, H.Y.; Gao, S.;
2012 / IEEE
By: Dongzhi Chi; Murthy, R.; Siao Li Liew; Cheng, C.K.; Yeow Meng Tan; Chai, T.C.; Lau, J.; Khan, O.K.N.; Sekhar, V.N.; Li, H.Y.; Zhang, X.;
By: Dongzhi Chi; Murthy, R.; Siao Li Liew; Cheng, C.K.; Yeow Meng Tan; Chai, T.C.; Lau, J.; Khan, O.K.N.; Sekhar, V.N.; Li, H.Y.; Zhang, X.;
1997 / IEEE
By: Crossley, P.A.; Southern, E.P.; Li, H.Y.; Weller, G.C.; Caunce, B.R.J.; Pickering, S.D.A.; Potts, S.;
By: Crossley, P.A.; Southern, E.P.; Li, H.Y.; Weller, G.C.; Caunce, B.R.J.; Pickering, S.D.A.; Potts, S.;
1997 / IEEE / 0-7803-3694-1
By: Stevanovich, S.; Schiller, P.J.; Polla, D.L.; Vu, J.N.C.; Nguyen, C.H.; Li, H.Y.; Nguyen, P.C.; Vu, T.T.; Harjani, R.; Vu, L.T.; Yang, Y.Q.;
By: Stevanovich, S.; Schiller, P.J.; Polla, D.L.; Vu, J.N.C.; Nguyen, C.H.; Li, H.Y.; Nguyen, P.C.; Vu, T.T.; Harjani, R.; Vu, L.T.; Yang, Y.Q.;
2001 / IEEE / 0-7803-7197-6
By: Chen, S.F.; Lu, Y.J.; Xia, S.H.; Liu, G.Y.; Li, H.Y.; Wang, J.Y.; Cui, S.; Zhang, T.J.;
By: Chen, S.F.; Lu, Y.J.; Xia, S.H.; Liu, G.Y.; Li, H.Y.; Wang, J.Y.; Cui, S.; Zhang, T.J.;
2004 / IEEE / 0-7803-8397-4
By: Chen, B.X.; Lu, Y.J.; Wu, J.S.; Li, H.Y.; Ding, Y.G.; Xia, S.H.; Liu, G.Y.;
By: Chen, B.X.; Lu, Y.J.; Wu, J.S.; Li, H.Y.; Ding, Y.G.; Xia, S.H.; Liu, G.Y.;
2004 / IEEE / 0-7803-8437-7
By: Wu, J.S.; Li, H.Y.; Ding, Y.G.; Xia, S.H.; Liu, G.Y.; Chen, B.X.; Lu, Y.J.;
By: Wu, J.S.; Li, H.Y.; Ding, Y.G.; Xia, S.H.; Liu, G.Y.; Chen, B.X.; Lu, Y.J.;
2006 / IEEE
By: Guo, L.H.; Kwong, D.-L.; Balasubramanian, N.; Lo, G.Q.; Popov, A.P.; Bliznetsov, V.; Wang, Y.H.; Li, H.Y.;
By: Guo, L.H.; Kwong, D.-L.; Balasubramanian, N.; Lo, G.Q.; Popov, A.P.; Bliznetsov, V.; Wang, Y.H.; Li, H.Y.;
2006 / IEEE
By: Li, H.Y.; Kwong, D.-L.; Balasubraminian, N.; Lo, G.Q.; Hwang, N.; Teoh, K.W.; Zhang, Q.X.; Guo, L.H.;
By: Li, H.Y.; Kwong, D.-L.; Balasubraminian, N.; Lo, G.Q.; Hwang, N.; Teoh, K.W.; Zhang, Q.X.; Guo, L.H.;
2005 / IEEE / 0-7803-9268-X
By: Li, H.Y.; Zhang, Q.X.; Guo, L.H.; Kwong, D.L.; Balasubramanian, N.; Liao, E.B.; Lo, G.Q.; Kuo, C.C.; Loh, W.Y.; Bera, L.K.;
By: Li, H.Y.; Zhang, Q.X.; Guo, L.H.; Kwong, D.L.; Balasubramanian, N.; Liao, E.B.; Lo, G.Q.; Kuo, C.C.; Loh, W.Y.; Bera, L.K.;
2005 / IEEE / 0-7803-8397-4
By: Xia, S.H.; Chen, X.D.; Liu, G.Y.; Chen, B.X.; Yang, J.X.; Li, H.Y.; Ding, Y.G.;
By: Xia, S.H.; Chen, X.D.; Liu, G.Y.; Chen, B.X.; Yang, J.X.; Li, H.Y.; Ding, Y.G.;
2006 / IEEE
By: Li, H.Y.; Guo, L.H.; Balasubramanian, N.; Lo, G.Q.; Cheng, C.K.; Shen, Z.X.; Chua, H.M.; Kwong, D.-L.; Teoh, K.W.; Liao, E.B.; Hwang, N.; Zhang, Q.X.; Bera, L.K.; Loh, W.Y.;
By: Li, H.Y.; Guo, L.H.; Balasubramanian, N.; Lo, G.Q.; Cheng, C.K.; Shen, Z.X.; Chua, H.M.; Kwong, D.-L.; Teoh, K.W.; Liao, E.B.; Hwang, N.; Zhang, Q.X.; Bera, L.K.; Loh, W.Y.;
2006 / IEEE / 1-4244-0301-4
By: Li, H.Y.; Chen, X.S.; Choi, Y.B.; Yeoh, W.G.; Tang, M.; Kwong, D.L.; Guo, L.H.; Baiasubramanian, N.; Lo, G.Q.;
By: Li, H.Y.; Chen, X.S.; Choi, Y.B.; Yeoh, W.G.; Tang, M.; Kwong, D.L.; Guo, L.H.; Baiasubramanian, N.; Lo, G.Q.;
2006 / IEEE / 1-4244-0401-0
By: Ding, Y.G.; Zhao, R.Q.; Shao, Y.J.; Lu, Y.J.; Wu, J.S.; Li, H.Y.; Wang, J.Y.; Xia, S.H.; Liu, G.Y.; Wang, W.Y.;
By: Ding, Y.G.; Zhao, R.Q.; Shao, Y.J.; Lu, Y.J.; Wu, J.S.; Li, H.Y.; Wang, J.Y.; Xia, S.H.; Liu, G.Y.; Wang, W.Y.;
2006 / IEEE / 1-4244-0438-X
By: Tang, M.; Liao, E.B.; Guo, L.H.; Yu, A.B.; Li, H.Y.; Yang, R.; Kumar, R.; Zhang, Q.X.; Kwong, D.L.; Balasubramanian, N.; Lo, G.Q.; Liu, A.Q.;
By: Tang, M.; Liao, E.B.; Guo, L.H.; Yu, A.B.; Li, H.Y.; Yang, R.; Kumar, R.; Zhang, Q.X.; Kwong, D.L.; Balasubramanian, N.; Lo, G.Q.; Liu, A.Q.;
2007 / IEEE / 1-4244-1089-4
By: Rowland, S.M.; Onado, F.; Carcelle, X.; Goldberg, M.; Li, H.Y.; Yang, S.N.;
By: Rowland, S.M.; Onado, F.; Carcelle, X.; Goldberg, M.; Li, H.Y.; Yang, S.N.;
2007 / IEEE / 1-4244-0841-5
By: Kwong, D.L.; Balasubramanian, N.; Lo, G.Q.; Liu, A.Q.; Kumar, R.; Guo, L.H.; Zhang, Q.X.; Liao, E.B.; Yang, R.; Li, H.Y.; Tang, M.; Yu, A.B.;
By: Kwong, D.L.; Balasubramanian, N.; Lo, G.Q.; Liu, A.Q.; Kumar, R.; Guo, L.H.; Zhang, Q.X.; Liao, E.B.; Yang, R.; Li, H.Y.; Tang, M.; Yu, A.B.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2230-2
By: Thew, M.L.; Navas, O.K.; Hnin, W.Y.; Sekhar, V.N.; Li, H.Y.; Xiaowu Zhang; Chai, T.C.; Zhu, W.H.; Chi, D.Z.; Liew, S.L.; Cheng, C.K.; Tan, Y.M.; Balakumar, S.; Murthy, R.; Lau, J.;
By: Thew, M.L.; Navas, O.K.; Hnin, W.Y.; Sekhar, V.N.; Li, H.Y.; Xiaowu Zhang; Chai, T.C.; Zhu, W.H.; Chi, D.Z.; Liew, S.L.; Cheng, C.K.; Tan, Y.M.; Balakumar, S.; Murthy, R.; Lau, J.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2230-2
By: Li, H.Y.; Rakesh, K.; Kripesh, V.; Mohanraj, S.; Khan, N.; Khoo, Y.M.; Li, H.B.; Rao, V.S.; Teoh, K.W.; Liao, E.B.;
By: Li, H.Y.; Rakesh, K.; Kripesh, V.; Mohanraj, S.; Khan, N.; Khoo, Y.M.; Li, H.B.; Rao, V.S.; Teoh, K.W.; Liao, E.B.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2230-2
By: Lo, G.Q.; Rong Yang; Liao, E.B.; Yu, A.B.; Balasubramanian, N.; Li, H.Y.; Zhang, Q.X.; Tang, M.; Kwong, D.L.;
By: Lo, G.Q.; Rong Yang; Liao, E.B.; Yu, A.B.; Balasubramanian, N.; Li, H.Y.; Zhang, Q.X.; Tang, M.; Kwong, D.L.;
2008 / IEEE
By: Zhang, Q.X.; Dim Lee Kwong; Balasubramanian, N.; Guo Qiang Lo; Min Tang; Yu, A.B.; Liao, E.B.; Guo, L.H.; Li, H.Y.; Rong Yang;
By: Zhang, Q.X.; Dim Lee Kwong; Balasubramanian, N.; Guo Qiang Lo; Min Tang; Yu, A.B.; Liao, E.B.; Guo, L.H.; Li, H.Y.; Rong Yang;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4475-5
By: Selvanayagam, C.S.; Ranganathan, N.; Lau, J.H.; Chai, T.C.; Zhang, X.; Vath, C.J.; Doricko, J.; Jiangyan Sun; Kripesh, V.; Biswas, K.; Liao, E.B.; Li, H.Y.; Wai, E.; Vempati, S.R.; Ong, Y.Y.; Tang, G.Y.; Pinjala, D.; Shiguo Liu;
By: Selvanayagam, C.S.; Ranganathan, N.; Lau, J.H.; Chai, T.C.; Zhang, X.; Vath, C.J.; Doricko, J.; Jiangyan Sun; Kripesh, V.; Biswas, K.; Liao, E.B.; Li, H.Y.; Wai, E.; Vempati, S.R.; Ong, Y.Y.; Tang, G.Y.; Pinjala, D.; Shiguo Liu;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3587-6
By: Li, H.Y.; Ding, Y.G.; Ju, Z.M.; Wang, D.A.; Lv, Q.N.; Xia, S.H.; Liu, G.Y.;
By: Li, H.Y.; Ding, Y.G.; Ju, Z.M.; Wang, D.A.; Lv, Q.N.; Xia, S.H.; Liu, G.Y.;
Voltage sags pattern recognition technique for fault section identification in distribution networks
2009 / IEEE / 978-1-4244-2234-0By: Mokhlis, H.; Li, H.Y.; Khalid, A.R.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-4812-8
By: Fan, Q.H.; Ying, Q.S.; Li, H.Y.; Huang, Y.D.; Du, H.P.; Jia, L.X.;
By: Fan, Q.H.; Ying, Q.S.; Li, H.Y.; Huang, Y.D.; Du, H.P.; Jia, L.X.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-4812-8
By: Du, H.P.; Li, H.Y.; Fan, Q.H.; Jia, L.X.; Ji, Z.M.; Yin, Q.S.; Liu, L.; Cui, J.S.;
By: Du, H.P.; Li, H.Y.; Fan, Q.H.; Jia, L.X.; Ji, Z.M.; Yin, Q.S.; Liu, L.; Cui, J.S.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-6412-8
By: Chua, T.T.; Pang, X.F.; Che, F.X.; Lee, W.S.; Liao, E.B.; Li, H.Y.;
By: Chua, T.T.; Pang, X.F.; Che, F.X.; Lee, W.S.; Liao, E.B.; Li, H.Y.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-6412-8
By: Khong, C.H.; Li, H.Y.; Ho, S.W.; Chua, T.T.; Toh, C.H.; Nathapong, S.; Liao, E.B.; Kriangsak, S.L.; Ng, C.; Pang, X.F.; Lim, L.S.; Lee, W.S.; Chew, S.P.;
By: Khong, C.H.; Li, H.Y.; Ho, S.W.; Chua, T.T.; Toh, C.H.; Nathapong, S.; Liao, E.B.; Kriangsak, S.L.; Ng, C.; Pang, X.F.; Lim, L.S.; Lee, W.S.; Chew, S.P.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-8562-8
By: Li, H.Y.; Gao, S.; Teo, K.H.; Khan, N.; Pang, X.F.; Lee, W.S.; Li, H.B.; Ong, L.G.;
By: Li, H.Y.; Gao, S.; Teo, K.H.; Khan, N.; Pang, X.F.; Lee, W.S.; Li, H.B.; Ong, L.G.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-8562-8
By: Lo, G.Q.; Lim, D.F.; Li, H.Y.; Peng, L.; Tan, C.S.; Kwong, D.L.;
By: Lo, G.Q.; Lim, D.F.; Li, H.Y.; Peng, L.; Tan, C.S.; Kwong, D.L.;