Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Lei, F.
Results
2013 / IEEE
By: Reed, R. A.; Weller, R. A.; Wrobel, F.; Truscott, P. R.; Tang, H. H. K.; Sihver, L.; Akkerman, A.; Barak, J.; Culpepper, W.; Duzellier, S.; Foster, C.; Gaillardin, M.; Hubert, G.; Jordan, T.; Jun, I.; Koontz, S.; Lei, F.; McNulty, P.; Mendenhall, M. H.; Murat, M.; Nieminen, P.; O'Neill, P.; Raine, M.; Reddell, B.; Saigne, F.; Santin, G.;
By: Reed, R. A.; Weller, R. A.; Wrobel, F.; Truscott, P. R.; Tang, H. H. K.; Sihver, L.; Akkerman, A.; Barak, J.; Culpepper, W.; Duzellier, S.; Foster, C.; Gaillardin, M.; Hubert, G.; Jordan, T.; Jun, I.; Koontz, S.; Lei, F.; McNulty, P.; Mendenhall, M. H.; Murat, M.; Nieminen, P.; O'Neill, P.; Raine, M.; Reddell, B.; Saigne, F.; Santin, G.;
1994 / IEEE / 0-7803-2544-3
By: Rossi, E.; Labanti, C.; Di Cocco, G.; Swinyard, B.; Lei, F.; Bird, A.J.; Jupp, I.D.; Hills, G.; Green, A.R.; Dean, A.J.; Carter, T.;
By: Rossi, E.; Labanti, C.; Di Cocco, G.; Swinyard, B.; Lei, F.; Bird, A.J.; Jupp, I.D.; Hills, G.; Green, A.R.; Dean, A.J.; Carter, T.;
2002 / IEEE
By: Heynderickx, D.; Quaghebeur, B.; Evans, H.; Daly, E.; Nieminen, R.; Dyer, C.S.; Truscott, R.R.; Lei, F.;
By: Heynderickx, D.; Quaghebeur, B.; Evans, H.; Daly, E.; Nieminen, R.; Dyer, C.S.; Truscott, R.R.; Lei, F.;
2003 / IEEE / 0-7803-8257-9
By: Daly, E.; Dyer, C.S.; Quaghebeur, B.; Heynderickx, D.; Truscott, P.R.; Lei, F.; Evans, H.; Nieminen, P.; Nartallo, R.; Santin, G.;
By: Daly, E.; Dyer, C.S.; Quaghebeur, B.; Heynderickx, D.; Truscott, P.R.; Lei, F.; Evans, H.; Nieminen, P.; Nartallo, R.; Santin, G.;
2004 / IEEE
By: Moutrie, M.; Chugg, A.; Comber, C.; Hunter, K.; Trousse, B.; Truscott, P.; Clucas, S.; Frydland, A.; Dyer, C.S.; Lei, F.;
By: Moutrie, M.; Chugg, A.; Comber, C.; Hunter, K.; Trousse, B.; Truscott, P.; Clucas, S.; Frydland, A.; Dyer, C.S.; Lei, F.;
2003 / IEEE / 92-9092-846-8
By: Daly, E.; Dyer, C.S.; Quaghebeur, B.; Heynderickx, D.; Evans, H.; Truscott, P.R.; Lei, F.; Nierninen, P.; Nartallo, R.; Santin, G.;
By: Daly, E.; Dyer, C.S.; Quaghebeur, B.; Heynderickx, D.; Evans, H.; Truscott, P.R.; Lei, F.; Nierninen, P.; Nartallo, R.; Santin, G.;
2006 / IEEE
By: Allison, J.; Amako, K.; Apostolakis, J.; Araujo, H.; Dubois, P.A.; Asai, M.; Barrand, G.; Capra, R.; Chauvie, S.; Chytracek, R.; Cirrone, G.A.P.; Cooperman, G.; Cosmo, G.; Cuttone, G.; Daquino, G.G.; Donszelmann, M.; Dressel, M.; Folger, G.; Foppiano, F.; Generowicz, J.; Grichine, V.; Guatelli, S.; Gumplinger, P.; Heikkinen, A.; Hrivnacova, I.; Howard, A.; Incerti, S.; Ivanchenko, V.; Johnson, T.; Jones, F.; Koi, T.; Kokoulin, R.; Kossov, M.; Kurashige, H.; Lara, V.; Larsson, S.; Lei, F.; Link, O.; Longo, F.; Maire, M.; Mantero, A.; Mascialino, B.; McLaren, I.; Lorenzo, P.M.; Minamimoto, K.; Murakami, K.; Nieminen, P.; Pandola, L.; Parlati, S.; Peralta, L.; Perl, J.; Pfeiffer, A.; Pia, M.G.; Ribon, A.; Rodrigues, P.; Russo, G.; Sadilov, S.; Santin, G.; Sasaki, T.; Smith, D.; Starkov, N.; Tanaka, S.; Tcherniaev, E.; Tome, B.; Trindade, A.; Truscott, P.; Urban, L.; Verderi, M.; Walkden, A.; Wellisch, J.P.; Williams, D.C.; Wright, D.; Yoshida, H.;
By: Allison, J.; Amako, K.; Apostolakis, J.; Araujo, H.; Dubois, P.A.; Asai, M.; Barrand, G.; Capra, R.; Chauvie, S.; Chytracek, R.; Cirrone, G.A.P.; Cooperman, G.; Cosmo, G.; Cuttone, G.; Daquino, G.G.; Donszelmann, M.; Dressel, M.; Folger, G.; Foppiano, F.; Generowicz, J.; Grichine, V.; Guatelli, S.; Gumplinger, P.; Heikkinen, A.; Hrivnacova, I.; Howard, A.; Incerti, S.; Ivanchenko, V.; Johnson, T.; Jones, F.; Koi, T.; Kokoulin, R.; Kossov, M.; Kurashige, H.; Lara, V.; Larsson, S.; Lei, F.; Link, O.; Longo, F.; Maire, M.; Mantero, A.; Mascialino, B.; McLaren, I.; Lorenzo, P.M.; Minamimoto, K.; Murakami, K.; Nieminen, P.; Pandola, L.; Parlati, S.; Peralta, L.; Perl, J.; Pfeiffer, A.; Pia, M.G.; Ribon, A.; Rodrigues, P.; Russo, G.; Sadilov, S.; Santin, G.; Sasaki, T.; Smith, D.; Starkov, N.; Tanaka, S.; Tcherniaev, E.; Tome, B.; Trindade, A.; Truscott, P.; Urban, L.; Verderi, M.; Walkden, A.; Wellisch, J.P.; Williams, D.C.; Wright, D.; Yoshida, H.;