Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Lee, J.J.
Results
2012 / IEEE / 978-1-4673-0818-2
By: Kainga, P.; Rabinovich, M.; Eberhart, R.; Lee, J.J.; Shafer, B.; Johnson, D.;
By: Kainga, P.; Rabinovich, M.; Eberhart, R.; Lee, J.J.; Shafer, B.; Johnson, D.;
The first demonstration of an optically steered microwave phased array antenna using true-time-delay
1991 / IEEEBy: Lee, J.J.; Tangonan, G.L.; Walston, A.A.; Ng, W.; Bernstein, N.; Newberg, I.L.;
1995 / IEEE
By: Livingston, S.; Loo, R.Y.; Lee, J.J.; Wechsberg, M.; Tangonan, G.L.; Huan-Wun Yen; Lewis, J.B.; Jones, V.I.;
By: Livingston, S.; Loo, R.Y.; Lee, J.J.; Wechsberg, M.; Tangonan, G.L.; Huan-Wun Yen; Lewis, J.B.; Jones, V.I.;
1995 / IEEE / 0-7803-2140-5
By: Oh, G.Y.; Lee, J.J.; Lee, H.M.; Livingston, R.; Cho, W.J.; Lee, H.J.;
By: Oh, G.Y.; Lee, J.J.; Lee, H.M.; Livingston, R.; Cho, W.J.; Lee, H.J.;
1997 / IEEE / 0-7803-4059-0
By: Wojkowski, J.; Lee, J.J.; Mohseini, H.; Michel, E.; Slivken, S.; Kim, K.S.; Kim, J.D.; Razeghi, M.; Xu, J.; Jelen, C.; Jeon, H.I.;
By: Wojkowski, J.; Lee, J.J.; Mohseini, H.; Michel, E.; Slivken, S.; Kim, K.S.; Kim, J.D.; Razeghi, M.; Xu, J.; Jelen, C.; Jeon, H.I.;
1997 / IEEE / 4-88552-187-4
By: Newberg, I.L.; Tangonan, G.L.; Lee, J.J.; Stephens, R.R.; Wang, H.T.;
By: Newberg, I.L.; Tangonan, G.L.; Lee, J.J.; Stephens, R.R.; Wang, H.T.;
2000 / IEEE / 0-930815-59-9
By: Le, A.; Liang, M.; Wu, J.C.L.; Lee, J.J.; Lo, K.; Wu, S.; Zine Chen;
By: Le, A.; Liang, M.; Wu, J.C.L.; Lee, J.J.; Lo, K.; Wu, S.; Zine Chen;
2000 / IEEE / 0-7803-6369-8
By: Schaffner, J.H.; Wu, M.; Broas, R.J.; Livingston, S.W.; Lee, J.J.; Lynch, J.J.; Colburn, J.S.; Tangonan, G.L.; Dolezal, F.A.; Sievenpiper, D.F.; Loo, R.Y.;
By: Schaffner, J.H.; Wu, M.; Broas, R.J.; Livingston, S.W.; Lee, J.J.; Lynch, J.J.; Colburn, J.S.; Tangonan, G.L.; Dolezal, F.A.; Sievenpiper, D.F.; Loo, R.Y.;
2000 / IEEE
By: Futakuchi, N.; Kim, S.H.; Lee, S.; Kang, B.K.; Nakano, Y.; Choi, Y.W.; Lee, J.J.; Kim, D.G.;
By: Futakuchi, N.; Kim, S.H.; Lee, S.; Kang, B.K.; Nakano, Y.; Choi, Y.W.; Lee, J.J.; Kim, D.G.;
2001 / IEEE / 0-7803-7070-8
By: Sievenpiper, D.F.; Schaffner, J.H.; Livingston, S.W.; Lee, J.J.; Loo, R.Y.;
By: Sievenpiper, D.F.; Schaffner, J.H.; Livingston, S.W.; Lee, J.J.; Loo, R.Y.;
2002 / IEEE / 0-7803-7216-6
By: Martin, J.; Ryan, E.T.; Jianing Sun; Gidley, D.W.; Junker, K.; Lin, S.; Wetzel, J.; Guenther, T.; Lee, J.J.;
By: Martin, J.; Ryan, E.T.; Jianing Sun; Gidley, D.W.; Junker, K.; Lin, S.; Wetzel, J.; Guenther, T.; Lee, J.J.;
2002 / IEEE / 0-7803-7312-X
By: Yeap, G.C.-F.; Chen, J.; Grudowski, P.; Jeon, Y.; Shiho, Y.; Qi, W.; Jallepalli, S.; Ramani, N.; Hellig, K.; Vishnubhotla, L.; Luo, T.; Tseng, H.; Du, Y.; Lim, S.; Abramowitz, P.; Reddy, C.; Parihar, S.; Singh, R.; Wright, M.; Patterson, K.; Benavides, N.; Bonser, D.; Gompel, T.V.; Conner, J.; Lee, J.J.; Rendon, M.; Hall, D.; Nghiem, A.; Stout, R.; Weidemann, K.; Duvallet, A.; Alvis, J.; Dyer, D.; Burnett, D.; Ingersoll, P.; Wimmer, K.; Veeraraghavan, S.; Foisy, M.; Hall, M.; Pellerin, J.; Wristers, D.; Woo, M.; Lage, C.;
By: Yeap, G.C.-F.; Chen, J.; Grudowski, P.; Jeon, Y.; Shiho, Y.; Qi, W.; Jallepalli, S.; Ramani, N.; Hellig, K.; Vishnubhotla, L.; Luo, T.; Tseng, H.; Du, Y.; Lim, S.; Abramowitz, P.; Reddy, C.; Parihar, S.; Singh, R.; Wright, M.; Patterson, K.; Benavides, N.; Bonser, D.; Gompel, T.V.; Conner, J.; Lee, J.J.; Rendon, M.; Hall, D.; Nghiem, A.; Stout, R.; Weidemann, K.; Duvallet, A.; Alvis, J.; Dyer, D.; Burnett, D.; Ingersoll, P.; Wimmer, K.; Veeraraghavan, S.; Foisy, M.; Hall, M.; Pellerin, J.; Wristers, D.; Woo, M.; Lage, C.;
2002 / IEEE / 0-7803-7312-X
By: Choi, C.J.; Lee, Y.J.; Cho, J.K.; Heo, S.J.; Ryu, J.D.; Yoon, S.P.; Lee, J.W.; Lee, J.J.; Lee, S.H.; Kim, D.C.; Ku, J.-H.; Nam, B.Y.; Choi, S.; Moon, J.T.; Chung, U.I.; Fujihara, K.; Kim, Y.S.; Choi, G.H.; Lee, M.B.; Kim, B.H.; Chung, J.H.;
By: Choi, C.J.; Lee, Y.J.; Cho, J.K.; Heo, S.J.; Ryu, J.D.; Yoon, S.P.; Lee, J.W.; Lee, J.J.; Lee, S.H.; Kim, D.C.; Ku, J.-H.; Nam, B.Y.; Choi, S.; Moon, J.T.; Chung, U.I.; Fujihara, K.; Kim, Y.S.; Choi, G.H.; Lee, M.B.; Kim, B.H.; Chung, J.H.;
2002 / IEEE / 0-7803-7312-X
By: Kwong, D.L.; Niwa, M.; Harada, Y.; Clark, R.D.; Lei, X.; Lee, C.H.; Sim, J.H.; Bae, S.H.; Bai, W.P.; Lee, J.J.;
By: Kwong, D.L.; Niwa, M.; Harada, Y.; Clark, R.D.; Lei, X.; Lee, C.H.; Sim, J.H.; Bae, S.H.; Bai, W.P.; Lee, J.J.;
2002 / IEEE / 0-7803-7462-2
By: Tajiri, M.; Shimaoka, A.; Evans, D.R.; Burmaster, A.; Hsu, S.T.; Stecker, L.; Lee, J.J.; Ulrich, B.D.; Pan, W.; Zhuang, W.W.; Ignatiev, A.; Wu, N.J.; Liu, S.Q.; Wang, Y.; Sakiyama, A.; Awaya, N.; Naka, T.; Inoue, K.;
By: Tajiri, M.; Shimaoka, A.; Evans, D.R.; Burmaster, A.; Hsu, S.T.; Stecker, L.; Lee, J.J.; Ulrich, B.D.; Pan, W.; Zhuang, W.W.; Ignatiev, A.; Wu, N.J.; Liu, S.Q.; Wang, Y.; Sakiyama, A.; Awaya, N.; Naka, T.; Inoue, K.;
2002 / IEEE
By: Yeap, G.C.F.; Moosa, M.; Jiang, J.; Lee, J.J.; Tobin, P.J.; Hebert, L.; Luo, T.-Y.; Abramowitz, P.; Jeon, Y.; Tseng, H.-H.; Sultan, A.; Jeon, J.; Miner, G.; Hegedus, A.; Chua, T.C.; Cave, N.; Anderson, S.G.H.; Alvis, J.;
By: Yeap, G.C.F.; Moosa, M.; Jiang, J.; Lee, J.J.; Tobin, P.J.; Hebert, L.; Luo, T.-Y.; Abramowitz, P.; Jeon, Y.; Tseng, H.-H.; Sultan, A.; Jeon, J.; Miner, G.; Hegedus, A.; Chua, T.C.; Cave, N.; Anderson, S.G.H.; Alvis, J.;
2003 / IEEE / 0-7803-7804-0
By: Lee, J.J.; Tam, E.P.W.; Lo, W.L.; Chung, H.S.H.; Jun Zhang; Wu, A.K.M.;
By: Lee, J.J.; Tam, E.P.W.; Lo, W.L.; Chung, H.S.H.; Jun Zhang; Wu, A.K.M.;
2004 / IEEE / 0-7803-8557-8
By: Wood, G.L.; Schepler, K.L.; Goff, J.R.; Merkle, L.D.; Dubinskii, M.; Castillo, V.K.; Quarles, G.J.; Sang-Ho Lee; Messing, G.L.; Dumm, J.Q.; Hedge, S.M.; Lee, J.J.; Rush, D.; Gonzalez, L.; Guha, S.; Zelmon, D.;
By: Wood, G.L.; Schepler, K.L.; Goff, J.R.; Merkle, L.D.; Dubinskii, M.; Castillo, V.K.; Quarles, G.J.; Sang-Ho Lee; Messing, G.L.; Dumm, J.Q.; Hedge, S.M.; Lee, J.J.; Rush, D.; Gonzalez, L.; Guha, S.; Zelmon, D.;
2004 / IEEE / 0-7803-8439-3
By: Min, B.G.; Chung, J.; Sun, K.; Won, Y.S.; Hwang, C.M.; Choi, J.; Kim, H.K.; Son, H.S.; Park, S.K.; Park, C.Y.; Choe, S.W.; Park, J.W.; Lee, J.J.; Lee, J.C.; Rho, Y.R.; Nam, K.W.;
By: Min, B.G.; Chung, J.; Sun, K.; Won, Y.S.; Hwang, C.M.; Choi, J.; Kim, H.K.; Son, H.S.; Park, S.K.; Park, C.Y.; Choe, S.W.; Park, J.W.; Lee, J.J.; Lee, J.C.; Rho, Y.R.; Nam, K.W.;
2005 / IEEE / 0-7803-9143-8
By: Su, Y.N.; Tsai, J.S.; Liang, M.S.; Jang, S.M.; Chiou, J.M.; Huang, R.Y.; Lee, J.J.; Chu, H.Y.; Shieh, J.H.; Ting, C.Y.;
By: Su, Y.N.; Tsai, J.S.; Liang, M.S.; Jang, S.M.; Chiou, J.M.; Huang, R.Y.; Lee, J.J.; Chu, H.Y.; Shieh, J.H.; Ting, C.Y.;
2005 / IEEE / 0-7803-8741-4
By: Sun, K.; Hwang, C.M.; Lee, J.J.; Kim, H.C.; Ahn, C.B.; Moon, K.C.; Kim, K.H.; Jeong, K.S.;
By: Sun, K.; Hwang, C.M.; Lee, J.J.; Kim, H.C.; Ahn, C.B.; Moon, K.C.; Kim, K.H.; Jeong, K.S.;
2006 / IEEE / 1-4244-0104-6
By: Shieh, J.H.; Chen, L.C.; Lee, X.L.; Liang, M.C.; Lee, J.J.; Liang, M.S.; Tsai, J.S.; Jang, S.M.; Hwang, R.L.;
By: Shieh, J.H.; Chen, L.C.; Lee, X.L.; Liang, M.C.; Lee, J.J.; Liang, M.S.; Tsai, J.S.; Jang, S.M.; Hwang, R.L.;
2006 / IEEE / 1-4244-0005-8
By: Lim, Ra.; Hung, C.L.; Chang, V.S.; Yen, F.Y.; Hou, Y.T.; Hsu, R.F.; Ma, T.P.; Liang, M.S.; Chen, S.C.; Tao, H.J.; Chang, S.M.; Jin, Y.; Hwang, R.L.; Lee, J.J.; Yin, K.M.; Chiou, J.M.; Lin, H.J.; Jiang, J.C.; Yao, L.G.;
By: Lim, Ra.; Hung, C.L.; Chang, V.S.; Yen, F.Y.; Hou, Y.T.; Hsu, R.F.; Ma, T.P.; Liang, M.S.; Chen, S.C.; Tao, H.J.; Chang, S.M.; Jin, Y.; Hwang, R.L.; Lee, J.J.; Yin, K.M.; Chiou, J.M.; Lin, H.J.; Jiang, J.C.; Yao, L.G.;