Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Lee, D.Y.
Results
1997 / IEEE / 0-7803-4226-7
By: Jung, Y.S.; Kessel, C.; Kim, D.L.; Kim, K.S.; Kim, J.Y.; Kim, W.C.; Kyum, M.C.; Lee, D.Y.; Lee, B.Y.; Lee, D.K.; Lee, S.G.; Lim, J.Y.; Manickam, J.; Montgomery, B.; Namkung, W.; Nevins, W.; Oh, Y.K.; Park, J.H.; Pomphrey, N.; Reiersen, W.; Schultz, J.H.; Schmidt, J.A.; Simmons, R.T.; Sinnis, J.C.; Swain, D.W.; Sevier, L.; Wang, P.W.; Yang, J.G.; You, G.H.; Yoon, B.J.; Young, K.M.; Choi, D.I.; Lee, G.S.; Jinchoon Kim; Park, H.K.; Chang, C.S.; Choi, B.H.; Kim, K.; Cho, M.H.; Neilson, G.H.; Baang, S.; Bernabei, S.; Brown, T.; Chang, H.Y.; Cho, C.H.; Cho, S.; Cho, Y.S.; Chung, K.H.; Kie-Hyung Chung; Dahlgren, F.; Grisham, L.; Han, J.H.; Huh, N.I.; Hwang, S.M.; Hwang, Y.S.; Hill, D.; Hong, B.G.; Hong, J.S.; Hong, S.H.; Im, K.H.; In, S.R.; Jardin, S.; Jhang, H.G.; Joo, M.;
By: Jung, Y.S.; Kessel, C.; Kim, D.L.; Kim, K.S.; Kim, J.Y.; Kim, W.C.; Kyum, M.C.; Lee, D.Y.; Lee, B.Y.; Lee, D.K.; Lee, S.G.; Lim, J.Y.; Manickam, J.; Montgomery, B.; Namkung, W.; Nevins, W.; Oh, Y.K.; Park, J.H.; Pomphrey, N.; Reiersen, W.; Schultz, J.H.; Schmidt, J.A.; Simmons, R.T.; Sinnis, J.C.; Swain, D.W.; Sevier, L.; Wang, P.W.; Yang, J.G.; You, G.H.; Yoon, B.J.; Young, K.M.; Choi, D.I.; Lee, G.S.; Jinchoon Kim; Park, H.K.; Chang, C.S.; Choi, B.H.; Kim, K.; Cho, M.H.; Neilson, G.H.; Baang, S.; Bernabei, S.; Brown, T.; Chang, H.Y.; Cho, C.H.; Cho, S.; Cho, Y.S.; Chung, K.H.; Kie-Hyung Chung; Dahlgren, F.; Grisham, L.; Han, J.H.; Huh, N.I.; Hwang, S.M.; Hwang, Y.S.; Hill, D.; Hong, B.G.; Hong, J.S.; Hong, S.H.; Im, K.H.; In, S.R.; Jardin, S.; Jhang, H.G.; Joo, M.;
1998 / IEEE / 0-7803-4980-6
By: Mok, I.S.; Park, H.J.; Jeong, W.C.; Lee, J.H.; Lee, D.Y.; Lee, S.H.; Kim, J.C.;
By: Mok, I.S.; Park, H.J.; Jeong, W.C.; Lee, J.H.; Lee, D.Y.; Lee, S.H.; Kim, J.C.;
1998 / IEEE
By: Cho, S.I.; Kim, C.H.; Jung, T.S.; Lee, D.Y.; Kim, D.Y.; Nam, H.S.; Roh, J.G.; Yoon, H.; Park, C.W.; Lee, S.Y.; Lee, S.B.; Park, C.S.; Kim, B.S.; Lee, J.B.; Lee, J.H.;
By: Cho, S.I.; Kim, C.H.; Jung, T.S.; Lee, D.Y.; Kim, D.Y.; Nam, H.S.; Roh, J.G.; Yoon, H.; Park, C.W.; Lee, S.Y.; Lee, S.B.; Park, C.S.; Kim, B.S.; Lee, J.B.; Lee, J.H.;
2004 / IEEE / 0-7803-8289-7
By: Kim, K.C.; Lee, B.J.; Kim, S.S.; Kim, J.-H.; Lim, B.R.; Cho, I.W.; Kim, C.W.; Seo, S.A.; Chae, S.D.; Kim, M.C.; Lee, D.Y.; Hwang, S.H.; Kim, S.W.; Seo, M.K.; Kang, H.-K.; Koh, K.W.; Kim, S.H.; Lee, N.I.; Bae, G.J.;
By: Kim, K.C.; Lee, B.J.; Kim, S.S.; Kim, J.-H.; Lim, B.R.; Cho, I.W.; Kim, C.W.; Seo, S.A.; Chae, S.D.; Kim, M.C.; Lee, D.Y.; Hwang, S.H.; Kim, S.W.; Seo, M.K.; Kang, H.-K.; Koh, K.W.; Kim, S.H.; Lee, N.I.; Bae, G.J.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1507-6
By: Kuan-Lun Cheng; Wu, C.C.; Wu, C.M.; Mii, Y.J.; Diaz, C.H.; Tuan, H.C.; Cao, M.; Tao, H.J.; Goto, K.; Lei, M.D.; Hsieh, H.C.; Wang, S.C.; Chang, Y.H.; Chen, F.C.; Yeh, C.H.; Wang, M.Y.; Chiu, Y.H.; Chang, W.; Chen, C.C.; Lin, L.T.; Nieh, C.F.; Huang, M.J.; Lee, D.Y.; Lin, H.H.; Wang, Y.P.; Lin, D.W.; Chu, C.M.; Tarng, Y.Y.; Lu, S.Y.; Yang, S.J.; Hsieh, M.H.; Liu, C.M.; Fu, S.P.; Chen, J.H.; Lin, C.T.; Lien, W.Y.; Huang, H.Y.; Wang, P.W.;
By: Kuan-Lun Cheng; Wu, C.C.; Wu, C.M.; Mii, Y.J.; Diaz, C.H.; Tuan, H.C.; Cao, M.; Tao, H.J.; Goto, K.; Lei, M.D.; Hsieh, H.C.; Wang, S.C.; Chang, Y.H.; Chen, F.C.; Yeh, C.H.; Wang, M.Y.; Chiu, Y.H.; Chang, W.; Chen, C.C.; Lin, L.T.; Nieh, C.F.; Huang, M.J.; Lee, D.Y.; Lin, H.H.; Wang, Y.P.; Lin, D.W.; Chu, C.M.; Tarng, Y.Y.; Lu, S.Y.; Yang, S.J.; Hsieh, M.H.; Liu, C.M.; Fu, S.P.; Chen, J.H.; Lin, C.T.; Lien, W.Y.; Huang, H.Y.; Wang, P.W.;