Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Lee, D.K.
Results
1989 / IEEE
By: Neilson, G.H.; Aceto, S.C.; Anabitarte, E.; Anderson, F.S.B.; Bell, G.L.; Bell, J.D.; Benson, R.D.; Bigelow, T.S.; Carreras, B.A.; Clark, T.L.; Colchin, R.J.; Crume, E.C.; DeVan, W.R.; Dunlap, J.L.; Dyer, G.R.; England, A.C.; Glowienka, J.C.; Halliwell, J.W.; Hanson, G.R.; Harris, J.H.; Hedrick, C.L.; Hidalgo, C.; Hillis, D.L.; Hiroe, S.; Horton, L.D.; Howe, H.C.; Isler, R.C.; Jernigan, T.C.; Langley, R.A.; Lee, D.K.; Lue, J.W.; Lyon, J.F.; Ma, C.H.; Mioduszewski, P.K.; Morris, R.N.; Murakami, M.; Rasmussen, D.A.; Ritz, C.P.; Rogers, P.S.; Schwenterly, S.W.; Shaw, P.L.; Shepard, T.D.; Simpkins, J.E.; Thomas, C.E.; Uckan, T.; Wade, M.R.; White, J.A.; Wilgen, J.B.; Wilson, C.T.; Wing, W.R.; Yamada, H.; Zielinski, J.J.;
By: Neilson, G.H.; Aceto, S.C.; Anabitarte, E.; Anderson, F.S.B.; Bell, G.L.; Bell, J.D.; Benson, R.D.; Bigelow, T.S.; Carreras, B.A.; Clark, T.L.; Colchin, R.J.; Crume, E.C.; DeVan, W.R.; Dunlap, J.L.; Dyer, G.R.; England, A.C.; Glowienka, J.C.; Halliwell, J.W.; Hanson, G.R.; Harris, J.H.; Hedrick, C.L.; Hidalgo, C.; Hillis, D.L.; Hiroe, S.; Horton, L.D.; Howe, H.C.; Isler, R.C.; Jernigan, T.C.; Langley, R.A.; Lee, D.K.; Lue, J.W.; Lyon, J.F.; Ma, C.H.; Mioduszewski, P.K.; Morris, R.N.; Murakami, M.; Rasmussen, D.A.; Ritz, C.P.; Rogers, P.S.; Schwenterly, S.W.; Shaw, P.L.; Shepard, T.D.; Simpkins, J.E.; Thomas, C.E.; Uckan, T.; Wade, M.R.; White, J.A.; Wilgen, J.B.; Wilson, C.T.; Wing, W.R.; Yamada, H.; Zielinski, J.J.;
1989 / IEEE
By: England, A.C.; Simpson, C.M.; Saltmarsh, M.J.; Rome, J.A.; Neilson, G.H.; Murakami, M.; Million, D.L.; Lynch, V.E.; Lee, D.K.; Jernigan, T.C.; Hillis, D.L.; Henderson, M.A.; Harris, J.H.; Hanson, J.D.; Gandy, R.F.; Colchin, R.J.; Anderson, F.S.B.;
By: England, A.C.; Simpson, C.M.; Saltmarsh, M.J.; Rome, J.A.; Neilson, G.H.; Murakami, M.; Million, D.L.; Lynch, V.E.; Lee, D.K.; Jernigan, T.C.; Hillis, D.L.; Henderson, M.A.; Harris, J.H.; Hanson, J.D.; Gandy, R.F.; Colchin, R.J.; Anderson, F.S.B.;
1997 / IEEE / 0-7803-4226-7
By: Jung, Y.S.; Kessel, C.; Kim, D.L.; Kim, K.S.; Kim, J.Y.; Kim, W.C.; Kyum, M.C.; Lee, D.Y.; Lee, B.Y.; Lee, D.K.; Lee, S.G.; Lim, J.Y.; Manickam, J.; Montgomery, B.; Namkung, W.; Nevins, W.; Oh, Y.K.; Park, J.H.; Pomphrey, N.; Reiersen, W.; Schultz, J.H.; Schmidt, J.A.; Simmons, R.T.; Sinnis, J.C.; Swain, D.W.; Sevier, L.; Wang, P.W.; Yang, J.G.; You, G.H.; Yoon, B.J.; Young, K.M.; Choi, D.I.; Lee, G.S.; Jinchoon Kim; Park, H.K.; Chang, C.S.; Choi, B.H.; Kim, K.; Cho, M.H.; Neilson, G.H.; Baang, S.; Bernabei, S.; Brown, T.; Chang, H.Y.; Cho, C.H.; Cho, S.; Cho, Y.S.; Chung, K.H.; Kie-Hyung Chung; Dahlgren, F.; Grisham, L.; Han, J.H.; Huh, N.I.; Hwang, S.M.; Hwang, Y.S.; Hill, D.; Hong, B.G.; Hong, J.S.; Hong, S.H.; Im, K.H.; In, S.R.; Jardin, S.; Jhang, H.G.; Joo, M.;
By: Jung, Y.S.; Kessel, C.; Kim, D.L.; Kim, K.S.; Kim, J.Y.; Kim, W.C.; Kyum, M.C.; Lee, D.Y.; Lee, B.Y.; Lee, D.K.; Lee, S.G.; Lim, J.Y.; Manickam, J.; Montgomery, B.; Namkung, W.; Nevins, W.; Oh, Y.K.; Park, J.H.; Pomphrey, N.; Reiersen, W.; Schultz, J.H.; Schmidt, J.A.; Simmons, R.T.; Sinnis, J.C.; Swain, D.W.; Sevier, L.; Wang, P.W.; Yang, J.G.; You, G.H.; Yoon, B.J.; Young, K.M.; Choi, D.I.; Lee, G.S.; Jinchoon Kim; Park, H.K.; Chang, C.S.; Choi, B.H.; Kim, K.; Cho, M.H.; Neilson, G.H.; Baang, S.; Bernabei, S.; Brown, T.; Chang, H.Y.; Cho, C.H.; Cho, S.; Cho, Y.S.; Chung, K.H.; Kie-Hyung Chung; Dahlgren, F.; Grisham, L.; Han, J.H.; Huh, N.I.; Hwang, S.M.; Hwang, Y.S.; Hill, D.; Hong, B.G.; Hong, J.S.; Hong, S.H.; Im, K.H.; In, S.R.; Jardin, S.; Jhang, H.G.; Joo, M.;
1991 / IEEE / 0-7803-0147-1
By: Zielinski, J.J.; Aceto, S.C.; Schatz, J.G.; McLaren, P.E.; St. Onge, K.D.; Schwelberger, J.G.; Reedy, S.D.; Okada, H.; Lewis, J.F.; Lee, D.K.; Henkel, G.H.; Glowlenka, J.C.; Fehling, D.T.; Carnevali, A.; Connor, K.A.; DeVan, W.R.; Drohman, G.E.;
By: Zielinski, J.J.; Aceto, S.C.; Schatz, J.G.; McLaren, P.E.; St. Onge, K.D.; Schwelberger, J.G.; Reedy, S.D.; Okada, H.; Lewis, J.F.; Lee, D.K.; Henkel, G.H.; Glowlenka, J.C.; Fehling, D.T.; Carnevali, A.; Connor, K.A.; DeVan, W.R.; Drohman, G.E.;
2001 / IEEE
By: Her, N.I.; Kim, J.Y.; Jhang, H.G.; You, K.-I.; Lee, G.S.; Lee, D.K.; Sa, J.W.; Choi, C.H.; Oh, Y.K.;
By: Her, N.I.; Kim, J.Y.; Jhang, H.G.; You, K.-I.; Lee, G.S.; Lee, D.K.; Sa, J.W.; Choi, C.H.; Oh, Y.K.;
2002 / IEEE
By: Oh, Y.K.; Choi, C.H.; Lee, S.C.; Kwon, T.H.; Lee, Y.W.; Lee, D.K.; Hong, C.D.; Ahn, H.J.; Kim, D.S.; Lee, J.S.;
By: Oh, Y.K.; Choi, C.H.; Lee, S.C.; Kwon, T.H.; Lee, Y.W.; Lee, D.K.; Hong, C.D.; Ahn, H.J.; Kim, D.S.; Lee, J.S.;
2002 / IEEE
By: Choi, C.H.; Cho, S.; Kim, J.Y.; You, K.-I.; Lee, D.K.; Oh, Y.K.; Ahn, H.J.; Sa, J.W.;
By: Choi, C.H.; Cho, S.; Kim, J.Y.; You, K.-I.; Lee, D.K.; Oh, Y.K.; Ahn, H.J.; Sa, J.W.;
2002 / IEEE
By: Lee, D.K.; You, K.-I.; Sa, J.W.; Choi, C.H.; Oh, Y.K.; Hong, C.D.; Kwon, M.; Lee, S.C.; Lee, Y.W.; Lee, J.S.; Kwon, T.H.; Ahn, H.J.; Lee, G.S.;
By: Lee, D.K.; You, K.-I.; Sa, J.W.; Choi, C.H.; Oh, Y.K.; Hong, C.D.; Kwon, M.; Lee, S.C.; Lee, Y.W.; Lee, J.S.; Kwon, T.H.; Ahn, H.J.; Lee, G.S.;
2002 / IEEE / 0-7803-7073-2
By: Choi, C.H.; Sa, J.W.; Lee, G.S.; Bak, J.S.; Kwon, M.; Her, N.I.; Cho, S.; Oh, Y.K.; Lee, D.K.; Kim, K.; Kim, Y.S.; Park, Y.M.; Cho, K.J.; Ahn, H.J.;
By: Choi, C.H.; Sa, J.W.; Lee, G.S.; Bak, J.S.; Kwon, M.; Her, N.I.; Cho, S.; Oh, Y.K.; Lee, D.K.; Kim, K.; Kim, Y.S.; Park, Y.M.; Cho, K.J.; Ahn, H.J.;
2003 / IEEE / 0-7803-7911-X
By: Lee, S.J.; Ko, T.K.; Lee, H.J.; Lee, G.S.; Park, J.S.; Song, D.W.; Lee, D.K.; Han, W.S.; Woo, I.S.; Song, Y.J.; Kim, K.P.; Song, N.H.; Kim, D.J.; Kim, C.S.; Kim, J.S.; Chang, Y.B.; Chertovskikh, A.; Yonekawa, H.; Choi, J.Y.; Baek, S.H.; Chung, W.H.; Chu, Y.; Kim, M.K.; Lee, S.I.; Lim, B.S.; Park, K.R.; Park, H.K.; Keeman Kim;
By: Lee, S.J.; Ko, T.K.; Lee, H.J.; Lee, G.S.; Park, J.S.; Song, D.W.; Lee, D.K.; Han, W.S.; Woo, I.S.; Song, Y.J.; Kim, K.P.; Song, N.H.; Kim, D.J.; Kim, C.S.; Kim, J.S.; Chang, Y.B.; Chertovskikh, A.; Yonekawa, H.; Choi, J.Y.; Baek, S.H.; Chung, W.H.; Chu, Y.; Kim, M.K.; Lee, S.I.; Lim, B.S.; Park, K.R.; Park, H.K.; Keeman Kim;
2004 / IEEE
By: Hong, G.W.; Joo, H.G.; Choi, K.D.; Lee, D.K.; Kim, J.T.; Lee, S.J.; Han, J.H.; Min, W.G.; Kim, W.S.; Kim, S.H.; Park, C.B.; Hahn, S.;
By: Hong, G.W.; Joo, H.G.; Choi, K.D.; Lee, D.K.; Kim, J.T.; Lee, S.J.; Han, J.H.; Min, W.G.; Kim, W.S.; Kim, S.H.; Park, C.B.; Hahn, S.;
2005 / IEEE / 4-88686-063-X
By: Choi, W.S.; Lee, D.K.; Oh, Y.C.; Kim, J.S.; Shin, C.G.; Cho, C.N.; Lee, J.U.; Kim, C.H.;
By: Choi, W.S.; Lee, D.K.; Oh, Y.C.; Kim, J.S.; Shin, C.G.; Cho, C.N.; Lee, J.U.; Kim, C.H.;
2006 / IEEE
By: Lim, B.S.; Bak, J.S.; Lee, S.I.; Chu, Y.; Kim, C.S.; Woo, I.S.; Kim, D.J.; Song, N.H.; Park, W.W.; Song, Y.J.; Lee, D.K.; Joo, J.J.; Lee, G.S.; An, S.J.; Kim, K.P.; Ko, M.S.; Chung, W.; Pak, K.; Park, H.K.; Kim, K.; Choi, J.Y.;
By: Lim, B.S.; Bak, J.S.; Lee, S.I.; Chu, Y.; Kim, C.S.; Woo, I.S.; Kim, D.J.; Song, N.H.; Park, W.W.; Song, Y.J.; Lee, D.K.; Joo, J.J.; Lee, G.S.; An, S.J.; Kim, K.P.; Ko, M.S.; Chung, W.; Pak, K.; Park, H.K.; Kim, K.; Choi, J.Y.;
2006 / IEEE / 1-4244-0123-2
By: Kim, C.H.; Lee, Y.H.; Chung, M.S.; Kwon, K.I.; Kim, S.G.; Park, J.K.; Lee, D.K.;
By: Kim, C.H.; Lee, Y.H.; Chung, M.S.; Kwon, K.I.; Kim, S.G.; Park, J.K.; Lee, D.K.;
2006 / IEEE / 1-4244-0461-4
By: Matthews, K.; Nguyen, B.; Curtin, M.; Bengston, S.; Erdtmann, M.; Kang, S.J.; Kohli, P.; Fiorenza, J.G.; Wise, R.; Lochtefeld, A.; Lee, B.Y.; Lee, D.K.; Yuk, H.S.; Kim, I.K.;
By: Matthews, K.; Nguyen, B.; Curtin, M.; Bengston, S.; Erdtmann, M.; Kang, S.J.; Kohli, P.; Fiorenza, J.G.; Wise, R.; Lochtefeld, A.; Lee, B.Y.; Lee, D.K.; Yuk, H.S.; Kim, I.K.;
1985 / IEEE
By: Ramchandani, H.; Lee, D.K.; Hemmaplardh, K.; Cashar, E.E.; Biglari, H.; Sackett, S.A.;
By: Ramchandani, H.; Lee, D.K.; Hemmaplardh, K.; Cashar, E.E.; Biglari, H.; Sackett, S.A.;
2009 / IEEE
By: Bang, E.N.; Park, K.R.; Soo Hwan Park; Lee, D.K.; Lee, K.S.; Hahn, S.H.; Yoon, S.W.; Hyun Jung Lee; Kim, Y.O.; Yonekawa, H.; Yong Chu; Leuer, J.A.; Bak, J.S.; Oh, Y.K.;
By: Bang, E.N.; Park, K.R.; Soo Hwan Park; Lee, D.K.; Lee, K.S.; Hahn, S.H.; Yoon, S.W.; Hyun Jung Lee; Kim, Y.O.; Yonekawa, H.; Yong Chu; Leuer, J.A.; Bak, J.S.; Oh, Y.K.;
2009 / IEEE
By: Hahn, S.H.; Kim, K.H.; Choi, J.H.; Lee, D.K.; Chang, H.S.; Lee, Y.J.; Park, S.H.; Park, Y.M.; Hyun Jung Lee; Kim, Y.O.; Baang, E.N.; Yonekawa, H.; Yong Chu; Park, K.R.; Bak, J.S.; Oh, Y.K.; Kim, Y.S.; Cho, K.W.; Park, M.K.; Hwang, I.S.;
By: Hahn, S.H.; Kim, K.H.; Choi, J.H.; Lee, D.K.; Chang, H.S.; Lee, Y.J.; Park, S.H.; Park, Y.M.; Hyun Jung Lee; Kim, Y.O.; Baang, E.N.; Yonekawa, H.; Yong Chu; Park, K.R.; Bak, J.S.; Oh, Y.K.; Kim, Y.S.; Cho, K.W.; Park, M.K.; Hwang, I.S.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2635-5
By: Kim, Y.H.; Lee, Y.W.; Yun, M.S.; Jang, G.Y.; Ann, H.S.; Kwon, M.; Park, J.S.; Kim, Y.S.; Hwang, I.S.; Jin, J.K.; Hong, S.L.; Kong, J.D.; Chu, Y.; Hahn, S.H.; Kim, K.H.; Lee, D.K.; Kim, C.H.; Choi, J.H.; Seong, D.K.; Shin, H.S.;
By: Kim, Y.H.; Lee, Y.W.; Yun, M.S.; Jang, G.Y.; Ann, H.S.; Kwon, M.; Park, J.S.; Kim, Y.S.; Hwang, I.S.; Jin, J.K.; Hong, S.L.; Kong, J.D.; Chu, Y.; Hahn, S.H.; Kim, K.H.; Lee, D.K.; Kim, C.H.; Choi, J.H.; Seong, D.K.; Shin, H.S.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2635-5
By: Kim, C.H.; Choi, J.H.; Hwang, I.S.; Hong, S.L.; Kong, J.D.; Lee, D.K.; Yoo, H.K.; Park, B.J.; Kwon, M.; Kim, Y.S.;
By: Kim, C.H.; Choi, J.H.; Hwang, I.S.; Hong, S.L.; Kong, J.D.; Lee, D.K.; Yoo, H.K.; Park, B.J.; Kwon, M.; Kim, Y.S.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-5476-1
By: Jin, J.K.; Yun, M.S.; Choi, J.H.; Lee, D.K.; Shin, H.S.; Lee, Y.W.; Kim, Y.H.; Seong, D.K.; Han, S.H.; Jang, G.Y.; Ahn, H.S.; Kwon, M.; Kim, Y.S.; Hong, S.L.; Kim, C.H.; Kong, J.D.;
By: Jin, J.K.; Yun, M.S.; Choi, J.H.; Lee, D.K.; Shin, H.S.; Lee, Y.W.; Kim, Y.H.; Seong, D.K.; Han, S.H.; Jang, G.Y.; Ahn, H.S.; Kwon, M.; Kim, Y.S.; Hong, S.L.; Kim, C.H.; Kong, J.D.;
2010 / IEEE / 978-4-88552-246-8
By: Oh, G.Y.; Kim, H.J.; Lee, D.K.; Jang, W.G.; Choi, Y.W.; Ki, H.C.; Kim, S.H.; Kim, D.G.;
By: Oh, G.Y.; Kim, H.J.; Lee, D.K.; Jang, W.G.; Choi, Y.W.; Ki, H.C.; Kim, S.H.; Kim, D.G.;
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap