Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Lee, C.W.
Results
2011 / IEEE / 978-1-4577-0115-3
By: Kang, Y.H.; Jung, T.S.; Kim, H.S.; Ryu, Y.K.; Kim, H.U.; Lee, C.W.;
By: Kang, Y.H.; Jung, T.S.; Kim, H.S.; Ryu, Y.K.; Kim, H.U.; Lee, C.W.;
Dimension reduction, generalized deformable models and the development of occularity and orientation
1991 / IEEE / 0-7803-0164-1By: Yuille, A.L.; Lee, C.W.; Kolodny, J.A.;
1992 / IEEE / 0-7803-0753-4
By: Lee, C.W.; Hasegawa, O.; Fujiki, M.; Ishizuka, M.; Wongwarawipat, W.;
By: Lee, C.W.; Hasegawa, O.; Fujiki, M.; Ishizuka, M.; Wongwarawipat, W.;
1996 / IEEE / 0-7803-3253-9
By: Lee, S.W.; Lee, B.H.; Lee, C.W.; Kim, M.S.; Cho, K.R.; Kim, B.K.; Hwang, Y.K.;
By: Lee, S.W.; Lee, B.H.; Lee, C.W.; Kim, M.S.; Cho, K.R.; Kim, B.K.; Hwang, Y.K.;
1996 / IEEE / 0-7803-3213-X
By: Suh, I.H.; Lee, B.H.; Lee, C.W.; Oh, S.R.; Ryoo, J.S.; Kim, J.H.; Yeo, H.J.;
By: Suh, I.H.; Lee, B.H.; Lee, C.W.; Oh, S.R.; Ryoo, J.S.; Kim, J.H.; Yeo, H.J.;
1997 / IEEE / 0-7803-3820-0
By: Kim, M.S.; Hong, Y.S.; Cho, K.R.; Hwang, Y.K.; Song, J.B.; Lee, C.W.;
By: Kim, M.S.; Hong, Y.S.; Cho, K.R.; Hwang, Y.K.; Song, J.B.; Lee, C.W.;
1997 / IEEE / 0-7803-4119-8
By: Lee, C.W.; Kim, M.S.; Han, Y.S.; Cho, K.R.; Park, S.M.; Sooyong Lee; Kwang, Y.K.; Sungchul Kang;
By: Lee, C.W.; Kim, M.S.; Han, Y.S.; Cho, K.R.; Park, S.M.; Sooyong Lee; Kwang, Y.K.; Sungchul Kang;
2002 / IEEE / 1-55752-708-3
By: Tackeuchi, A.; Kuroda, T.; Everitt, H.O.; Lee, C.W.; Neogi, A.; Yablonovitch, E.;
By: Tackeuchi, A.; Kuroda, T.; Everitt, H.O.; Lee, C.W.; Neogi, A.; Yablonovitch, E.;
2003 / IEEE
By: Kim, S.H.; Hwang, J.S.; Sung, G.Y.; Hahn, T.S.; Kim, J.H.; Lee, T.W.; Lee, C.W.; Kim, D.H.;
By: Kim, S.H.; Hwang, J.S.; Sung, G.Y.; Hahn, T.S.; Kim, J.H.; Lee, T.W.; Lee, C.W.; Kim, D.H.;
2004 / IEEE / 1-55752-777-6
By: Ko, H.S.; Lee, J.M.; Oh, S.H.; Kim, K.S.; Park, M.H.; Park, S.; Lee, C.W.;
By: Ko, H.S.; Lee, J.M.; Oh, S.H.; Kim, K.S.; Park, M.H.; Park, S.; Lee, C.W.;
2005 / IEEE / 0-7803-8741-4
By: Han, J.H.; Cho, J.H.; Park, I.Y.; Lee, C.W.; Kim, M.K.; Kim, J.M.; Lim, H.G.;
By: Han, J.H.; Cho, J.H.; Park, I.Y.; Lee, C.W.; Kim, M.K.; Kim, J.M.; Lim, H.G.;
2005 / IEEE / 0-7803-8741-4
By: Song, B.S.; Park, I.Y.; Lee, C.W.; Yoon, Y.H.; Lim, H.G.; Cho, J.H.;
By: Song, B.S.; Park, I.Y.; Lee, C.W.; Yoon, Y.H.; Lim, H.G.; Cho, J.H.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1931-9
By: Tsai, C.C.; Cheng, W.H.; Su, Y.I.; Lee, C.W.; Huang, S.B.; Hu, H.L.; Kuang, J.H.; Lin, Y.J.; Lo, Y.T.; Chen, M.H.; Hsu, Y.C.;
By: Tsai, C.C.; Cheng, W.H.; Su, Y.I.; Lee, C.W.; Huang, S.B.; Hu, H.L.; Kuang, J.H.; Lin, Y.J.; Lo, Y.T.; Chen, M.H.; Hsu, Y.C.;
2009 / IEEE / 978-89-956056-2-2
By: Chung, C.C.; Lee, C.W.; Wongoo Lee; Lee, Y.O.; Minseok Jang; Youngsub Son;
By: Chung, C.C.; Lee, C.W.; Wongoo Lee; Lee, Y.O.; Minseok Jang; Youngsub Son;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4256-0
By: Ferain, I.; Yan, R.; Colinge, J.P.; Dehdashti, N.; Afzalian, A.; Lee, C.W.; Razavi, P.; Murphy, R.; McCarthy, B.; Kelleher, A.M.; White, M.; Blake, A.; O'Neill, B.;
By: Ferain, I.; Yan, R.; Colinge, J.P.; Dehdashti, N.; Afzalian, A.; Lee, C.W.; Razavi, P.; Murphy, R.; McCarthy, B.; Kelleher, A.M.; White, M.; Blake, A.; O'Neill, B.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4256-0
By: Lee, C.W.; Ferain, I.; Dehdashti, N.; Afzalian, A.; Colinge, J.P.; Razavi, P.; Yan, R.;
By: Lee, C.W.; Ferain, I.; Dehdashti, N.; Afzalian, A.; Colinge, J.P.; Razavi, P.; Yan, R.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4256-0
By: Nguyen, B.Y.; Bourdelle, K.; Dehdashti-Akhavan, N.; Lee, C.W.; Ferain, I.; Colinge, J.P.; Afzalian, A.; Razavi, P.; Duane, R.; Yan, R.;
By: Nguyen, B.Y.; Bourdelle, K.; Dehdashti-Akhavan, N.; Lee, C.W.; Ferain, I.; Colinge, J.P.; Afzalian, A.; Razavi, P.; Duane, R.; Yan, R.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-5416-7
By: Park, K.H.; Jeon, M.Y.; Yee, D.S.; Baek, Y.S.; Shin, J.W.; Kim, N.J.; Han, S.P.; Lee, C.W.; Sim, E.D.; Shin, J.H.;
By: Park, K.H.; Jeon, M.Y.; Yee, D.S.; Baek, Y.S.; Shin, J.W.; Kim, N.J.; Han, S.P.; Lee, C.W.; Sim, E.D.; Shin, J.H.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-6657-3
By: Noh, S.K.; Yee, D.S.; Lee, D.H.; Jeon, M.Y.; Han, S.P.; Park, K.H.; Lee, C.W.; Shin, J.H.; Leem, Y.A.; Kim, N.J.;
By: Noh, S.K.; Yee, D.S.; Lee, D.H.; Jeon, M.Y.; Han, S.P.; Park, K.H.; Lee, C.W.; Shin, J.H.; Leem, Y.A.; Kim, N.J.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-9129-2
By: Dehdashti Akhavan, N.; Ferain, I.; Lee, C.W.; Pavanello, M.A.; de Souza, M.; Trevisoli, R.D.; Yan, R.; Doria, R.T.; Colinge, J.P.; Kranti, A.; Yu, R.; Razavi, P.;
By: Dehdashti Akhavan, N.; Ferain, I.; Lee, C.W.; Pavanello, M.A.; de Souza, M.; Trevisoli, R.D.; Yan, R.; Doria, R.T.; Colinge, J.P.; Kranti, A.; Yu, R.; Razavi, P.;