Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Kumar, A.
Results
2012 / IEEE
By: Mayberry, C.; Duc Nguyen; Kouhestani, C.; Rosen, N.; Kambour, K.; Devine, R.A.B.; Gang Li; Yang Yang; Chen, C.-C.; Kumar, A.;
By: Mayberry, C.; Duc Nguyen; Kouhestani, C.; Rosen, N.; Kambour, K.; Devine, R.A.B.; Gang Li; Yang Yang; Chen, C.-C.; Kumar, A.;
2012 / IEEE
By: Apostolopoulos, D.; Avramopoulos, H.; Kalavrouziotis, D.; Giannoulis, G.; Vyrsokinos, K.; Papaioannou, S.; Yioultsis, T.V.; Pitilakis, A.; Tsilipakos, O.; Kriezis, E.E.; Pleros, N.; Bozhevolnyi, S.I.; Kumar, A.; Dereux, A.; Markey, L.; Weeber, J.; Hassan, K.; Karl, M.; Baus, M.; Tekin, T.;
By: Apostolopoulos, D.; Avramopoulos, H.; Kalavrouziotis, D.; Giannoulis, G.; Vyrsokinos, K.; Papaioannou, S.; Yioultsis, T.V.; Pitilakis, A.; Tsilipakos, O.; Kriezis, E.E.; Pleros, N.; Bozhevolnyi, S.I.; Kumar, A.; Dereux, A.; Markey, L.; Weeber, J.; Hassan, K.; Karl, M.; Baus, M.; Tekin, T.;
2012 / IEEE
By: Giannoulis, G.; Pleros, N.; Apostolopoulos, D.; Papaioannou, S.; Kumar, A.; Bozhevolnyi, S.; Markey, L.; Hassan, K.; Weeber, J.-C.; Dereux, A.; Baus, M.; Karl, M.; Tekin, T.; Tsilipakos, O.; Pitilakis, A.K.; Kriezis, E.E.; Vyrsokinos, K.; Avramopoulos, H.; Kalavrouziotis, D.;
By: Giannoulis, G.; Pleros, N.; Apostolopoulos, D.; Papaioannou, S.; Kumar, A.; Bozhevolnyi, S.; Markey, L.; Hassan, K.; Weeber, J.-C.; Dereux, A.; Baus, M.; Karl, M.; Tekin, T.; Tsilipakos, O.; Pitilakis, A.K.; Kriezis, E.E.; Vyrsokinos, K.; Avramopoulos, H.; Kalavrouziotis, D.;
2012 / IEEE
By: Kripesh, V.; Premchandran, C.S.; Tai Chong Chai; Xiaowu Zhang; Seung Wook Yoon; Kumar, A.; Lu Shen; Sekhar, V.N.; Lau, J.H.;
By: Kripesh, V.; Premchandran, C.S.; Tai Chong Chai; Xiaowu Zhang; Seung Wook Yoon; Kumar, A.; Lu Shen; Sekhar, V.N.; Lau, J.H.;
2012 / IEEE
By: Lau, J.H.; Kripesh, V.; Khan, N.; Kumar, A.; Rao, V.S.; Dim-Lee Kwong; Selvanayagam, C.S.; Rajoo, R.; Xiaowu Zhang; Tummala, R.R.; Sundaram, V.;
By: Lau, J.H.; Kripesh, V.; Khan, N.; Kumar, A.; Rao, V.S.; Dim-Lee Kwong; Selvanayagam, C.S.; Rajoo, R.; Xiaowu Zhang; Tummala, R.R.; Sundaram, V.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-175-5
By: Cheng, K.; Khakifirooz, A.; Kulkarni, P.; Ponoth, S.; Haran, B.; Kumar, A.; Adam, T.; Reznicek, A.; Loubet, N.; He, H.; Kuss, J.; Wang, M.; Levin, T.M.; Monsieur, F.; Liu, Q.; Sreenivasan, R.; Cai, J.; Kimball, A.; Mehta, S.; Luning, S.; Zhu, Y.; Zhu, Z.; Yamamoto, T.; Bryant, A.; Lin, C.; Naczas, S.; Jagannathan, H.; Edge, L.F.; Allegret-Maret, S.; Dube, A.; Kanakasabapathy, S.; Schmitz, S.; Inada, A.; Seo, S.; Raymond, M.; Zhang, Z.; Yagishita, A.; Demarest, J.; Li, J.; Hopstaken, M.; Berliner, N.; Upham, A.; Johnson, R.; Holmes, S.; Standaert, T.; Smalley, M.; Zamdmer, N.; Ren, Z.; Wu, T.; Bu, H.; Paruchuri, V.; Sadana, D.; Narayanan, V.; Haensch, W.; O'Neill, J.; Hook, T.; Khare, M.; Doris, B.;
By: Cheng, K.; Khakifirooz, A.; Kulkarni, P.; Ponoth, S.; Haran, B.; Kumar, A.; Adam, T.; Reznicek, A.; Loubet, N.; He, H.; Kuss, J.; Wang, M.; Levin, T.M.; Monsieur, F.; Liu, Q.; Sreenivasan, R.; Cai, J.; Kimball, A.; Mehta, S.; Luning, S.; Zhu, Y.; Zhu, Z.; Yamamoto, T.; Bryant, A.; Lin, C.; Naczas, S.; Jagannathan, H.; Edge, L.F.; Allegret-Maret, S.; Dube, A.; Kanakasabapathy, S.; Schmitz, S.; Inada, A.; Seo, S.; Raymond, M.; Zhang, Z.; Yagishita, A.; Demarest, J.; Li, J.; Hopstaken, M.; Berliner, N.; Upham, A.; Johnson, R.; Holmes, S.; Standaert, T.; Smalley, M.; Zamdmer, N.; Ren, Z.; Wu, T.; Bu, H.; Paruchuri, V.; Sadana, D.; Narayanan, V.; Haensch, W.; O'Neill, J.; Hook, T.; Khare, M.; Doris, B.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9949-6
By: Inaba, S.; Nishida, A.; Kumar, A.; Nishimura, J.; Takeuchi, K.; Mogami, T.; Tsunomura, T.; Hiramoto, T.;
By: Inaba, S.; Nishida, A.; Kumar, A.; Nishimura, J.; Takeuchi, K.; Mogami, T.; Tsunomura, T.; Hiramoto, T.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9949-6
By: Yamashita, T.; Basker, V.S.; Standaert, T.; Yeh, C.-C.; Yamamoto, T.; Maitra, K.; Lin, C.-H.; Faltermeier, J.; Kanakasabapathy, S.; Wang, M.; Sunamura, H.; Jagannathan, H.; Reznicek, A.; Schmitz, S.; Inada, A.; Wang, J.; Adhikari, H.; Berliner, N.; Lee, K.-L.; Kulkarni, P.; Zhu, Y.; Kumar, A.; Bryant, A.; Wu, S.; Kanarsky, T.; Cho, J.; Mclellan, E.; Holmes, S.J.; Johnson, R.C.; Levin, T.; Demarest, J.; Li, J.; Oldiges, P.; Arnold, J.; Colburn, M.; Hane, M.; Mcherron, D.; Paruchuri, V.K.; Doris, B.; Miller, R.J.; Bu, H.; Khare, M.; O'Neill, J.; Leobandung, E.;
By: Yamashita, T.; Basker, V.S.; Standaert, T.; Yeh, C.-C.; Yamamoto, T.; Maitra, K.; Lin, C.-H.; Faltermeier, J.; Kanakasabapathy, S.; Wang, M.; Sunamura, H.; Jagannathan, H.; Reznicek, A.; Schmitz, S.; Inada, A.; Wang, J.; Adhikari, H.; Berliner, N.; Lee, K.-L.; Kulkarni, P.; Zhu, Y.; Kumar, A.; Bryant, A.; Wu, S.; Kanarsky, T.; Cho, J.; Mclellan, E.; Holmes, S.J.; Johnson, R.C.; Levin, T.; Demarest, J.; Li, J.; Oldiges, P.; Arnold, J.; Colburn, M.; Hane, M.; Mcherron, D.; Paruchuri, V.K.; Doris, B.; Miller, R.J.; Bu, H.; Khare, M.; O'Neill, J.; Leobandung, E.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9949-6
By: Cheng, K.; Khakifirooz, A.; Kulkarni, P.; Ponoth, S.; Haran, B.; Kumar, A.; Adam, T.; Reznicek, A.; Loubet, N.; He, H.; Kuss, J.; Wang, M.; Levin, T.M.; Monsieur, F.; Liu, Q.; Sreenivasan, R.; Cai, J.; Kimball, A.; Mehta, S.; Luning, S.; Zhu, Y.; Zhu, Z.; Yamamoto, T.; Bryant, A.; Lin, C.; Naczas, S.; Jagannathan, H.; Edge, L.F.; Allegret-Maret, S.; Dube, A.; Kanakasabapathy, S.; Schmitz, S.; Inada, A.; Seo, S.; Raymond, M.; Zhang, Z.; Yagishita, A.; Demarest, J.; Li, J.; Hopstaken, M.; Berliner, N.; Upham, A.; Johnson, R.; Holmes, S.; Standaert, T.; Smalley, M.; Zamdmer, N.; Ren, Z.; Wu, T.; Bu, H.; Paruchuri, V.; Sadana, D.; Narayanan, V.; Haensch, W.; O'Neill, J.; Hook, T.; Khare, M.; Doris, B.;
By: Cheng, K.; Khakifirooz, A.; Kulkarni, P.; Ponoth, S.; Haran, B.; Kumar, A.; Adam, T.; Reznicek, A.; Loubet, N.; He, H.; Kuss, J.; Wang, M.; Levin, T.M.; Monsieur, F.; Liu, Q.; Sreenivasan, R.; Cai, J.; Kimball, A.; Mehta, S.; Luning, S.; Zhu, Y.; Zhu, Z.; Yamamoto, T.; Bryant, A.; Lin, C.; Naczas, S.; Jagannathan, H.; Edge, L.F.; Allegret-Maret, S.; Dube, A.; Kanakasabapathy, S.; Schmitz, S.; Inada, A.; Seo, S.; Raymond, M.; Zhang, Z.; Yagishita, A.; Demarest, J.; Li, J.; Hopstaken, M.; Berliner, N.; Upham, A.; Johnson, R.; Holmes, S.; Standaert, T.; Smalley, M.; Zamdmer, N.; Ren, Z.; Wu, T.; Bu, H.; Paruchuri, V.; Sadana, D.; Narayanan, V.; Haensch, W.; O'Neill, J.; Hook, T.; Khare, M.; Doris, B.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-372-8
By: Parija, G.R.; Chakaravarthy, V.T.; Kumar, A.; Sabharwal, Y.; Roy, S.;
By: Parija, G.R.; Chakaravarthy, V.T.; Kumar, A.; Sabharwal, Y.; Roy, S.;
2011 / IEEE / 978-1-890843-23-6
By: Calderwood, T.; Barnwell, B.; Thompson, J.; Vang, S.; Kumar, A.;
By: Calderwood, T.; Barnwell, B.; Thompson, J.; Vang, S.; Kumar, A.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-350-6
By: Anselmo, T.; Sentinelli, A.; Rossi, B.; Kumar, A.; Fragneto, P.;
By: Anselmo, T.; Sentinelli, A.; Rossi, B.; Kumar, A.; Fragneto, P.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-932-9
By: Kumar, A.; Bozhevolnyi, S.; Papaioannou, S.; Apostolopoulos, D.; Giannoulis, G.; Kalavrouziotis, D.; Pleros, N.; Vyrsokinos, K.; Avramopoulos, H.; Kriezis, E.E.; Pitilakis, A.; Tsilipakos, O.; Tolga, T.; Karl, M.; Baus, M.; Dereux, A.; Weeber, J.C.; Hassan, K.; Markey, L.;
By: Kumar, A.; Bozhevolnyi, S.; Papaioannou, S.; Apostolopoulos, D.; Giannoulis, G.; Kalavrouziotis, D.; Pleros, N.; Vyrsokinos, K.; Avramopoulos, H.; Kriezis, E.E.; Pitilakis, A.; Tsilipakos, O.; Tolga, T.; Karl, M.; Baus, M.; Dereux, A.; Weeber, J.C.; Hassan, K.; Markey, L.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0223-5
By: Nishimura, J.; Mizutani, T.; Kumar, A.; Hiramoto, T.; Saraya, T.;
By: Nishimura, J.; Mizutani, T.; Kumar, A.; Hiramoto, T.; Saraya, T.;
Integrated optical bio-sensor based on pure surface plasmon-polariton excited by a waveguide grating
2011 / IEEE / 978-1-4577-0861-9By: Kumar, A.; Tripathi, S.M.; Baiad, M.D.; Kashyap, R.; Nenova, G.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-760-3
By: Ponoth, S.; Vinet, M.; Doris, B.; Shahidi, G.; Khare, M.; Hook, T.; Luning, S.; Levin, T.; Schmitz, S.; Kanakasabapathy, S.; Le Tiec, Y.; Sreenivasan, R.; Berliner, N.; Destefanis, V.; Kuss, J.; Mehta, S.; Loubet, N.; Khakifirooz, A.; Posseme, N.; Haran, B.; Cheng, K.; Liu, Q.; Grenouillet, L.; Kumar, A.; Kulkarni, P.;
By: Ponoth, S.; Vinet, M.; Doris, B.; Shahidi, G.; Khare, M.; Hook, T.; Luning, S.; Levin, T.; Schmitz, S.; Kanakasabapathy, S.; Le Tiec, Y.; Sreenivasan, R.; Berliner, N.; Destefanis, V.; Kuss, J.; Mehta, S.; Loubet, N.; Khakifirooz, A.; Posseme, N.; Haran, B.; Cheng, K.; Liu, Q.; Grenouillet, L.; Kumar, A.; Kulkarni, P.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0255-6
By: Ghatpande, N.; Patil, A.; Ghole, R.; Madhusudan Rao, B.; Kumar, A.;
By: Ghatpande, N.; Patil, A.; Ghole, R.; Madhusudan Rao, B.; Kumar, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-2037-6
By: Yadav, K.L.; Kumar, A.; Singh, H.; Rawat, M.; Adhlakha, N.; Rani, J.; Patel, P.K.;
By: Yadav, K.L.; Kumar, A.; Singh, H.; Rawat, M.; Adhlakha, N.; Rani, J.; Patel, P.K.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-2134-2
By: Alnemer, L.; Al-Azzam, O.; Kianian, S.F.; Iqbal, M.J.; Bassi, F.; Kumar, A.; Denton, A.M.; Chitraranjan, C.;
By: Alnemer, L.; Al-Azzam, O.; Kianian, S.F.; Iqbal, M.J.; Bassi, F.; Kumar, A.; Denton, A.M.; Chitraranjan, C.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1880-9
By: Samantaray, S.R.; Saroagi, N.; Kumar, A.; Sriharsha, S.; Babu, B.C.;
By: Samantaray, S.R.; Saroagi, N.; Kumar, A.; Sriharsha, S.; Babu, B.C.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1846-5
By: Abouzeid, F.; Clerc, S.; Roche, P.; Kumar, R.; Kumar, A.; Argoud, F.;
By: Abouzeid, F.; Clerc, S.; Roche, P.; Kumar, R.; Kumar, A.; Argoud, F.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-2000-0
By: Kato, S.; Rajkumar, R.; Ishikawa, Y.; Kelkar, M.; Kumar, A.; Lakshmanan, K.;
By: Kato, S.; Rajkumar, R.; Ishikawa, Y.; Kelkar, M.; Kumar, A.; Lakshmanan, K.;
Revisiting oustaloup's recursive filter for analog realization of fractional order differintegrators
2011 / IEEE / 978-1-4673-0136-7By: Das, S.; Kumar, A.; Saha, S.; Pan, I.; Das, S.; Gupta, A.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0816-8
By: Sivalingam, K.M.; Vidhyadharan, S.; Deshpande, S.; Namboothiri, P.G.; Kumar, A.; Murty, S.A.V.S.;
By: Sivalingam, K.M.; Vidhyadharan, S.; Deshpande, S.; Namboothiri, P.G.; Kumar, A.; Murty, S.A.V.S.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0377-4
By: Jain, S.; Khare, S.; Borkar, S.; De, V.; Borkar, N.; Wilson, H.; Aseron, P.; Ruhl, G.; Dighe, S.; Vangal, S.; Howard, J.; Erraguntla, V.; Ramanarayanan, R.; Gb, S.K.; Kumar, A.; Srinivasan, M.; Muthukumar, S.; Ramani, S.; Salihundam, P.; Ambili, V.; Yada, S.;
By: Jain, S.; Khare, S.; Borkar, S.; De, V.; Borkar, N.; Wilson, H.; Aseron, P.; Ruhl, G.; Dighe, S.; Vangal, S.; Howard, J.; Erraguntla, V.; Ramanarayanan, R.; Gb, S.K.; Kumar, A.; Srinivasan, M.; Muthukumar, S.; Ramani, S.; Salihundam, P.; Ambili, V.; Yada, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9965-6
By: Jones, S.; Yang Li; Guha, S.; Yang, J.; Cannella, V.; Kumar, A.;
By: Jones, S.; Yang Li; Guha, S.; Yang, J.; Cannella, V.; Kumar, A.;
2012 / IEEE / 978-1-55752-935-1
By: Giannoulis, G.; Dereux, A.; Weeber, J.C.; Markey, L.; Kumar, A.; Bozhevolnyi, S.I.; Apostolopoulos, D.; Vyrsokinos, K.; Papaioannou, S.; Kalavrouziotis, D.; Pleros, N.; Avramopoulos, H.;
By: Giannoulis, G.; Dereux, A.; Weeber, J.C.; Markey, L.; Kumar, A.; Bozhevolnyi, S.I.; Apostolopoulos, D.; Vyrsokinos, K.; Papaioannou, S.; Kalavrouziotis, D.; Pleros, N.; Avramopoulos, H.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0775-8
By: Segalov, M.; Raz, D.; Mansour, Y.; Kumar, A.; Kaplan, H.; Hassidim, A.; Danna, E.;
By: Segalov, M.; Raz, D.; Mansour, Y.; Kumar, A.; Kaplan, H.; Hassidim, A.; Danna, E.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-0697-4
By: Singh, S.; Verma, D.S.; Bhattacherjee, V.; Sinha, R.; Kumar, A.;
By: Singh, S.; Verma, D.S.; Bhattacherjee, V.; Sinha, R.; Kumar, A.;
Next Page
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap