Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Ku, S.H.
Results
2001 / IEEE / 0-7803-6412-0
By: Zhu, W.J.; Ma, T.P.; Chen, T.C.; Agnello, P.; Ku, S.H.; Varekamp, P.R.; Snare, J.; Khare, M.;
By: Zhu, W.J.; Ma, T.P.; Chen, T.C.; Agnello, P.; Ku, S.H.; Varekamp, P.R.; Snare, J.; Khare, M.;
2002 / IEEE / 0-7803-7462-2
By: Khare, M.; Ku, S.H.; Donaton, R.A.; Greco, S.; Brodsky, C.; Chen, X.; Chou, A.; DellaGuardia, R.; Deshpande, S.; Doris, B.; Fung, S.K.H.; Gabor, A.; Gribelyuk, M.; Holmes, S.; Jamin, F.F.; Lai, W.L.; Lee, W.H.; Li, Y.; McFarland, P.; Mo, R.; Mittl, S.; Narasimha, S.; Nielsen, D.; Purtell, R.; Rausch, W.; Sankaran, S.; Snare, J.; Tsou, L.; Vayshenker, A.; Wagner, T.; Wehella-Gamage, D.; Wu, E.; Wu, S.; Yan, W.; Barth, E.; Ferguson, R.; Gilbert, P.; Schepis, D.; Sekiguchi, A.; Goldblatt, R.; Welser, J.; Muller, K.P.; Agnello, P.;
By: Khare, M.; Ku, S.H.; Donaton, R.A.; Greco, S.; Brodsky, C.; Chen, X.; Chou, A.; DellaGuardia, R.; Deshpande, S.; Doris, B.; Fung, S.K.H.; Gabor, A.; Gribelyuk, M.; Holmes, S.; Jamin, F.F.; Lai, W.L.; Lee, W.H.; Li, Y.; McFarland, P.; Mo, R.; Mittl, S.; Narasimha, S.; Nielsen, D.; Purtell, R.; Rausch, W.; Sankaran, S.; Snare, J.; Tsou, L.; Vayshenker, A.; Wagner, T.; Wehella-Gamage, D.; Wu, E.; Wu, S.; Yan, W.; Barth, E.; Ferguson, R.; Gilbert, P.; Schepis, D.; Sekiguchi, A.; Goldblatt, R.; Welser, J.; Muller, K.P.; Agnello, P.;
2002 / IEEE / 0-7803-7462-2
By: Lee, B.H.; Mocuta, A.; Welser, J.; Haensch, W.; Agnello, P.; Leobandung, E.; Yang, I.Y.; Ieong, M.; Ku, S.H.; Narasimha, S.; Jenkins, K.A.; Domenicucci, A.; Gribelyuk, M.; Kermel, H.; Sendelbach, M.; Jamin, F.; Mezzapelle, J.; Mitchell, R.M.; Chakravarti, A.; Mocuta, D.; Lavoie, C.; Cabral, C.; Chan, K.; Mo, R.; O'Neil, P.; Rim, K.; Sadana, D.; Bedell, S.; Chen, H.;
By: Lee, B.H.; Mocuta, A.; Welser, J.; Haensch, W.; Agnello, P.; Leobandung, E.; Yang, I.Y.; Ieong, M.; Ku, S.H.; Narasimha, S.; Jenkins, K.A.; Domenicucci, A.; Gribelyuk, M.; Kermel, H.; Sendelbach, M.; Jamin, F.; Mezzapelle, J.; Mitchell, R.M.; Chakravarti, A.; Mocuta, D.; Lavoie, C.; Cabral, C.; Chan, K.; Mo, R.; O'Neil, P.; Rim, K.; Sadana, D.; Bedell, S.; Chen, H.;
2004 / IEEE / 0-7803-8289-7
By: Boyd, D.C.; Ott, J.A.; Sung, C.Y.; Zhu, H.; Bernstein, K.; Fried, D.M.; Chudzik, M.P.; Steen, S.E.; Holt, J.R.; To, B.N.; Zhang, Y.; Oldiges, P.; Jamin, F.F.; Surpris, Y.; Lehner, E.A.; Yang, H.S.; Mo, R.T.; Murthy, C.S.; Chan, K.K.; Shi, L.; Ieong, M.; Ku, S.H.; Chan, V.; Yang, M.; Rovedo, N.;
By: Boyd, D.C.; Ott, J.A.; Sung, C.Y.; Zhu, H.; Bernstein, K.; Fried, D.M.; Chudzik, M.P.; Steen, S.E.; Holt, J.R.; To, B.N.; Zhang, Y.; Oldiges, P.; Jamin, F.F.; Surpris, Y.; Lehner, E.A.; Yang, H.S.; Mo, R.T.; Murthy, C.S.; Chan, K.K.; Shi, L.; Ieong, M.; Ku, S.H.; Chan, V.; Yang, M.; Rovedo, N.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1507-6
By: Yang, B.; Waite, A.; Agnello, P.; Luning, S.; Leobandung, E.; Khare, M.; Maciejewski, E.; Schepis, D.; Freeman, G.; Wachnik, R.; Sung, C.; Park, D.; Chen, X.; Utomo, H.; Luo, Z.; Narasimha, S.; Holt, J.; Liang, Q.; Liu, J.; Fisher, P.; Greene, B.; Nummy, K.; Pal, R.; Yin, H.; Yu, J.; Black, L.; Chidambarrao, D.; Domenicucci, A.; Wang, X.; Ku, S.H.; Wang, Y.; Meer, H.V.; Kim, B.; Nayfeh, H.; Kim, S.D.; Tabakman, K.;
By: Yang, B.; Waite, A.; Agnello, P.; Luning, S.; Leobandung, E.; Khare, M.; Maciejewski, E.; Schepis, D.; Freeman, G.; Wachnik, R.; Sung, C.; Park, D.; Chen, X.; Utomo, H.; Luo, Z.; Narasimha, S.; Holt, J.; Liang, Q.; Liu, J.; Fisher, P.; Greene, B.; Nummy, K.; Pal, R.; Yin, H.; Yu, J.; Black, L.; Chidambarrao, D.; Domenicucci, A.; Wang, X.; Ku, S.H.; Wang, Y.; Meer, H.V.; Kim, B.; Nayfeh, H.; Kim, S.D.; Tabakman, K.;
2009 / IEEE
By: Chen, K.C.; Lu, W.P.; Chen, V.; Zou, N.K.; Ku, S.H.; Chih-Yuan Lu; Chiu, J.P.; Chou, Y.L.; Ma, H.C.; Tahui Wang;
By: Chen, K.C.; Lu, W.P.; Chen, V.; Zou, N.K.; Ku, S.H.; Chih-Yuan Lu; Chiu, J.P.; Chou, Y.L.; Ma, H.C.; Tahui Wang;
2009 / IEEE / 978-1-4244-5641-3
By: Ku, S.H.; Tahui Wang; Ma, H.C.; Chou, Y.L.; Chiu, J.P.; Zou, N.K.; Chen, K.C.; Chih-Yuan Lu; Lu, W.P.; Chen, V.;
By: Ku, S.H.; Tahui Wang; Ma, H.C.; Chou, Y.L.; Chiu, J.P.; Zou, N.K.; Chen, K.C.; Chih-Yuan Lu; Lu, W.P.; Chen, V.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-5063-3
By: Chen, K.F.; Lu, W.P.; Chen, Y.J.; Lin, S.W.; Yeh, T.H.; Lu, C.; Wang, T.; Chen, K.C.; Huang, J.S.; Chen, M.S.; Han, T.T.; Huang, I.J.; Zous, N.K.; Ku, S.H.; Chong, L.H.; Cheng, C.H.;
By: Chen, K.F.; Lu, W.P.; Chen, Y.J.; Lin, S.W.; Yeh, T.H.; Lu, C.; Wang, T.; Chen, K.C.; Huang, J.S.; Chen, M.S.; Han, T.T.; Huang, I.J.; Zous, N.K.; Ku, S.H.; Chong, L.H.; Cheng, C.H.;
2011 / IEEE
By: Lu, W.P.; Chen, V.; Zou, N.K.; Ku, S.H.; Chen, K.C.; Chung, Y.T.; Chou, Y.L.; Tahui Wang; Chih-Yuan Lu;
By: Lu, W.P.; Chen, V.; Zou, N.K.; Ku, S.H.; Chen, K.C.; Chung, Y.T.; Chou, Y.L.; Tahui Wang; Chih-Yuan Lu;
2011 / IEEE
By: Liu, C.H.; Ku, S.H.; Lee, G.D.; Tsai, C.H.; Tzeng, W.C.; Ou, T.F.; Liu, K.W.; Chen, K.C.; Lu, W.P.; Chih-Yuan Lu; Chen, M.S.; Huang, S.W.; Zous, N.K.;
By: Liu, C.H.; Ku, S.H.; Lee, G.D.; Tsai, C.H.; Tzeng, W.C.; Ou, T.F.; Liu, K.W.; Chen, K.C.; Lu, W.P.; Chih-Yuan Lu; Chen, M.S.; Huang, S.W.; Zous, N.K.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8492-8
By: Chen, Y.J.; Huang, J.S.; Chen, K.F.; Chong, L.H.; Cheng, C.H.; Lee, C.H.; Chienying Lee; Chih-Yuan Lu; Tahui Wang; Chen, K.C.; Lu, W.P.; Chen, M.S.; Han, T.T.; Huang, I.J.; Zous, N.K.; Ku, S.H.;
By: Chen, Y.J.; Huang, J.S.; Chen, K.F.; Chong, L.H.; Cheng, C.H.; Lee, C.H.; Chienying Lee; Chih-Yuan Lu; Tahui Wang; Chen, K.C.; Lu, W.P.; Chen, M.S.; Han, T.T.; Huang, I.J.; Zous, N.K.; Ku, S.H.;