Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Kishiro, J.
Results
2000 / IEEE
By: Maebara, S.; Morimoto, I.; Zheng, X.D.; Kishiro, J.; Takayama, K.; Horioka, K.; Kawasaki, S.; Shiho, M.; Ishizuka, H.;
By: Maebara, S.; Morimoto, I.; Zheng, X.D.; Kishiro, J.; Takayama, K.; Horioka, K.; Kawasaki, S.; Shiho, M.; Ishizuka, H.;
2000 / IEEE
By: Kawasaki, S.; Kishiro, J.; Minami, K.; Maebara, S.; Morimoto, I.; Zheng, X.D.; Shiho, M.;
By: Kawasaki, S.; Kishiro, J.; Minami, K.; Maebara, S.; Morimoto, I.; Zheng, X.D.; Shiho, M.;
2000 / IEEE
By: Horioka, K.; Watanabe, M.; Takayama, K.; Kishiro, J.; Ogawa, M.; Hasegawa, J.; Shiho, M.; Hotta, E.; Nakajima, M.;
By: Horioka, K.; Watanabe, M.; Takayama, K.; Kishiro, J.; Ogawa, M.; Hasegawa, J.; Shiho, M.; Hotta, E.; Nakajima, M.;
2002 / IEEE / 978-0-7354-0107-5
By: Horioka, K.; Nakajima, M.; Watanabe, M.; Honda, M.; Shiho, M.; Takayama, K.; Kishiro, J.;
By: Horioka, K.; Nakajima, M.; Watanabe, M.; Honda, M.; Shiho, M.; Takayama, K.; Kishiro, J.;
1993 / IEEE / 0-7803-1203-1
By: Takayama, K.; Ozaki, T.; Hiramatsu, S.; Kimura, Y.; Whittum, D.H.; Ebihara, K.; Kishiro, J.; Saito, K.;
By: Takayama, K.; Ozaki, T.; Hiramatsu, S.; Kimura, Y.; Whittum, D.H.; Ebihara, K.; Kishiro, J.; Saito, K.;
1997 / IEEE / 0-7803-4376-X
By: Arakawa, D.; Takayama, K.; Yoshii, M.; Toyama, T.; Koba, K.; Kishiro, J.;
By: Arakawa, D.; Takayama, K.; Yoshii, M.; Toyama, T.; Koba, K.; Kishiro, J.;
1997 / IEEE / 0-7803-4376-X
By: Kishiro, J.; Igarashi, S.; Arakawa, D.; Toyama, T.; Takayama, K.; Koba, K.;
By: Kishiro, J.; Igarashi, S.; Arakawa, D.; Toyama, T.; Takayama, K.; Koba, K.;
1997 / IEEE / 0-7803-4376-X
By: Marutsuka, K.; Mori, Y.; Machida, S.; Koba, K.; Kishiro, J.; Arakawa, D.; Shoji, Y.; Yoshii, M.; Toyama, T.; Takayama, K.; Takagi, H.; Shirakata, M.; Sato, H.; Ohmori, C.;
By: Marutsuka, K.; Mori, Y.; Machida, S.; Koba, K.; Kishiro, J.; Arakawa, D.; Shoji, Y.; Yoshii, M.; Toyama, T.; Takayama, K.; Takagi, H.; Shirakata, M.; Sato, H.; Ohmori, C.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Nakamura, E.; Kishiro, J.; Igarashi, S.; Arakawa, D.; Toyama, T.; Takayama, K.;
By: Nakamura, E.; Kishiro, J.; Igarashi, S.; Arakawa, D.; Toyama, T.; Takayama, K.;
1998 / IEEE / 0-7803-4287-9
By: Yoshida, M.; Watanabe, M.; Hashimoto, D.; Nakajima, M.; Horioka, K.; Kawasaki, S.; Hasegawa, J.; Shiho, M.; Maebara, S.; Kishiro, J.; Takayama, K.; Ogawa, M.;
By: Yoshida, M.; Watanabe, M.; Hashimoto, D.; Nakajima, M.; Horioka, K.; Kawasaki, S.; Hasegawa, J.; Shiho, M.; Maebara, S.; Kishiro, J.; Takayama, K.; Ogawa, M.;
2001 / IEEE / 0-7803-7191-7
By: Kishiro, J.; Takayama, K.; Yamada, R.; Shimosaki, Y.; Toyama, T.; Wake, M.;
By: Kishiro, J.; Takayama, K.; Yamada, R.; Shimosaki, Y.; Toyama, T.; Wake, M.;
2001 / IEEE / 0-7803-7191-7
By: Nakamura, E.; Kishiro, J.; Igarashi, S.; Egawa, K.; Arakida, Y.; Sakuda, M.; Uota, M.; Takayama, K.; Toyama, T.; Shirakata, M.;
By: Nakamura, E.; Kishiro, J.; Igarashi, S.; Egawa, K.; Arakida, Y.; Sakuda, M.; Uota, M.; Takayama, K.; Toyama, T.; Shirakata, M.;
2001 / IEEE / 0-7803-7191-7
By: Honda, M.; Watanabe, M.; Kishiro, J.; Takayama, K.; Horioka, K.; Nakajima, M.;
By: Honda, M.; Watanabe, M.; Kishiro, J.; Takayama, K.; Horioka, K.; Nakajima, M.;
2003 / IEEE / 0-7803-7738-9
By: Ikegami, M.; Kato, T.; Qiang, J.; Ryne, R.; Fu, S.; Wang, S.; Yamazaki, Y.; Kishiro, J.; Yoshikawa, H.; Hasegawa, K.; Ito, T.; Kobayashi, T.; Kondo, Y.; Kobayashi, H.; Arai, S.; Anami, S.; Chiba, J.; Takasaki, E.; Fukuda, S.; Noguchi, S.; Tanaka, H.; Naito, F.; Kamikubota, N.; Igarashi, Z.; Yamaguchi, S.; Ueno, A.; Ikegami, K.; Okada, M.; Kubota, C.; Yoshino, K.; Nigorikawa, K.; Kadokura, E.; Kawamura, M.; Fukui, Y.;
By: Ikegami, M.; Kato, T.; Qiang, J.; Ryne, R.; Fu, S.; Wang, S.; Yamazaki, Y.; Kishiro, J.; Yoshikawa, H.; Hasegawa, K.; Ito, T.; Kobayashi, T.; Kondo, Y.; Kobayashi, H.; Arai, S.; Anami, S.; Chiba, J.; Takasaki, E.; Fukuda, S.; Noguchi, S.; Tanaka, H.; Naito, F.; Kamikubota, N.; Igarashi, Z.; Yamaguchi, S.; Ueno, A.; Ikegami, K.; Okada, M.; Kubota, C.; Yoshino, K.; Nigorikawa, K.; Kadokura, E.; Kawamura, M.; Fukui, Y.;
2003 / IEEE / 0-7803-7738-9
By: Kishiro, J.; Arakida, Y.; Torikai, K.; Ishibashi, K.; Takayama, K.; Inagaki, S.; Wake, M.; Toyama, T.; Nakamura, E.; Koseki, K.;
By: Kishiro, J.; Arakida, Y.; Torikai, K.; Ishibashi, K.; Takayama, K.; Inagaki, S.; Wake, M.; Toyama, T.; Nakamura, E.; Koseki, K.;
2003 / IEEE / 0-7803-7738-9
By: Koseki, K.; Shimosaki, Y.; Kishiro, J.; Takayama, K.; Shiho, M.; Horioka, K.; Iwashita, D.; Sakuda, M.; Torikai, K.; Igarashi, S.; Shirakata, M.; Sato, H.; Wake, M.; Arakida, Y.; Toyama, T.; Nakamura, E.;
By: Koseki, K.; Shimosaki, Y.; Kishiro, J.; Takayama, K.; Shiho, M.; Horioka, K.; Iwashita, D.; Sakuda, M.; Torikai, K.; Igarashi, S.; Shirakata, M.; Sato, H.; Wake, M.; Arakida, Y.; Toyama, T.; Nakamura, E.;
2003 / IEEE / 0-7803-7738-9
By: Torikai, K.; Kishiro, J.; Takayama, K.; Koseki, K.; Shimosaki, Y.; Igarashi, S.; Nakamura, E.; Sato, H.; Shirakata, M.; Wake, M.; Inagaki, S.; Arakida, Y.; Toyama, T.;
By: Torikai, K.; Kishiro, J.; Takayama, K.; Koseki, K.; Shimosaki, Y.; Igarashi, S.; Nakamura, E.; Sato, H.; Shirakata, M.; Wake, M.; Inagaki, S.; Arakida, Y.; Toyama, T.;
2004 / IEEE
By: Watanabe, Y.; Igarashi, S.; Adachi, T.; Tani, N.; Kishiro, J.; Sato, H.; Someya, H.;
By: Watanabe, Y.; Igarashi, S.; Adachi, T.; Tani, N.; Kishiro, J.; Sato, H.; Someya, H.;
2005 / IEEE / 0-7803-8859-3
By: Hayashi, N.; Toyama, T.; Miura, T.; Lee, S.; Arakawa, D.; Toyokawa, R.; Teruyama, Y.; Kishiro, J.; Hiroki, S.;
By: Hayashi, N.; Toyama, T.; Miura, T.; Lee, S.; Arakawa, D.; Toyokawa, R.; Teruyama, Y.; Kishiro, J.; Hiroki, S.;
2005 / IEEE / 0-7803-8859-3
By: Tani, N.; Noda, F.; Hotchi, H.; Molodojentsev, A.Yu.; Machida, S.; Kishiro, J.;
By: Tani, N.; Noda, F.; Hotchi, H.; Molodojentsev, A.Yu.; Machida, S.; Kishiro, J.;
2005 / IEEE / 0-7803-8859-3
By: Toyama, T.; Kishiro, J.; Toyokawa, R.; Hayashi, N.; Muto, S.; Miura, T.; Lee, S.; Hashimoto, Y.; Arakawa, D.;
By: Toyama, T.; Kishiro, J.; Toyokawa, R.; Hayashi, N.; Muto, S.; Miura, T.; Lee, S.; Hashimoto, Y.; Arakawa, D.;
2005 / IEEE / 0-7803-8859-3
By: Takayama, K.; Koseki, K.; Yamane, I.; Watanabe, M.; Toyama, T.; Sueno, T.; Shirakata, M.; Shiho, M.; Sato, H.; Sakuda, M.; Kishiro, J.; Kawasaki, A.; Iwashita, T.; Torikai, K.; Tokuchi, A.; Nakamura, E.; Arakida, Y.; Shimosaki, Y.; Wake, M.; Kono, T.; Arakawa, D.; Horioka, K.; Igarashi, S.;
By: Takayama, K.; Koseki, K.; Yamane, I.; Watanabe, M.; Toyama, T.; Sueno, T.; Shirakata, M.; Shiho, M.; Sato, H.; Sakuda, M.; Kishiro, J.; Kawasaki, A.; Iwashita, T.; Torikai, K.; Tokuchi, A.; Nakamura, E.; Arakida, Y.; Shimosaki, Y.; Wake, M.; Kono, T.; Arakawa, D.; Horioka, K.; Igarashi, S.;
2005 / IEEE / 0-7803-8859-3
By: Noda, F.; Molodojentsev, A.Yu.; Machida, S.; Kishiro, J.; Hayashi, N.; Yamamoto, K.; Shobuda, Y.; Saha, P.K.; Hotchi, H.;
By: Noda, F.; Molodojentsev, A.Yu.; Machida, S.; Kishiro, J.; Hayashi, N.; Yamamoto, K.; Shobuda, Y.; Saha, P.K.; Hotchi, H.;
2006 / IEEE
By: Irie, Y.; Yamazaki, Y.; Watanabe, M.; Kamiya, J.; Kishiro, J.; Takayanagi, T.; Kawakubo, T.; Sakai, I.;
By: Irie, Y.; Yamazaki, Y.; Watanabe, M.; Kamiya, J.; Kishiro, J.; Takayanagi, T.; Kawakubo, T.; Sakai, I.;
2006 / IEEE
By: Watanabe, M.; Chida, Y.; Tounosu, S.; Kawakubo, T.; Sakai, I.; Kishiro, J.; Watanuki, T.; Yamazaki, Y.; Ueno, T.; Watanabe, M.; Kamiya, J.; Takayanagi, T.; Irie, Y.;
By: Watanabe, M.; Chida, Y.; Tounosu, S.; Kawakubo, T.; Sakai, I.; Kishiro, J.; Watanuki, T.; Yamazaki, Y.; Ueno, T.; Watanabe, M.; Kamiya, J.; Takayanagi, T.; Irie, Y.;
1981 / IEEE
By: Yamamoto, A.; Kimura, Y.; Hosoyama, K.; Mitsunobu, S.; Kishiro, J.; Hirabayashi, H.; Kubo, T.; Kohriki, T.;
By: Yamamoto, A.; Kimura, Y.; Hosoyama, K.; Mitsunobu, S.; Kishiro, J.; Hirabayashi, H.; Kubo, T.; Kohriki, T.;
1985 / IEEE
By: Kishiro, J.; Shintake, T.; Ishii, H.; Tejima, M.; Mizumachi, Y.; Ieiri, T.; Ogata, A.;
By: Kishiro, J.; Shintake, T.; Ishii, H.; Tejima, M.; Mizumachi, Y.; Ieiri, T.; Ogata, A.;