Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Kimura, Y.
Results
2011 / IEEE / 978-1-4577-1613-3
By: Kimura, Y.; Kogo, Y.; Kawai, Y.; Hayashizaki, Y.; Arner, E.; Lezhava, A.; Daub, C.O.; Ishizu, Y.; Aoki, S.; de Hoon, M.J.L.;
By: Kimura, Y.; Kogo, Y.; Kawai, Y.; Hayashizaki, Y.; Arner, E.; Lezhava, A.; Daub, C.O.; Ishizu, Y.; Aoki, S.; de Hoon, M.J.L.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0836-6
By: Sun, Y.; Higaki, T.; Kiso, T.; Kimura, Y.; Inoue, M.; Sasa, S.; Maemoto, T.;
By: Sun, Y.; Higaki, T.; Kiso, T.; Kimura, Y.; Inoue, M.; Sasa, S.; Maemoto, T.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-1137-3
By: Matsushita, K.; Nakano, A.; Ishikawa, D.; Kobayashi, A.; Kimura, Y.; Kobayashi, N.;
By: Matsushita, K.; Nakano, A.; Ishikawa, D.; Kobayashi, A.; Kimura, Y.; Kobayashi, N.;
2015 / IEEE
By: Ou, H.; Fujiwara, T.; Sakai, Y.; Sakamoto, T.; Tsutsumi, T.; Suzuki, K.; Kimura, Y.;
By: Ou, H.; Fujiwara, T.; Sakai, Y.; Sakamoto, T.; Tsutsumi, T.; Suzuki, K.; Kimura, Y.;
2014 / IEEE
By: Funamoto, K.; Kimura, Y.; Marzbanrad, F.; Khandoker, A. H.; Palaniswami, M.; Ito, T.; Endo, M.; Sugibayashi, R.;
By: Funamoto, K.; Kimura, Y.; Marzbanrad, F.; Khandoker, A. H.; Palaniswami, M.; Ito, T.; Endo, M.; Sugibayashi, R.;
1989 / IEEE
By: Takeda, S.; Akai, K.; Yoshioka, M.; Yoshida, M.; Yokoya, K.; Yamaoka, Y.; Yamamoto, N.; Urakawa, J.; Takeuchi, Y.; Takata, K.; Takashima, T.; Suetake, M.; Shintake, T.; Shidara, T.; Sakai, H.; Otake, Y.; Odagiri, J.; Mizuno, H.; Matsumoto, H.; Kurokawa, S.; Kubo, T.; Kobayashi, H.; Kimura, Y.; Kawamoto, T.; Ishihara, N.; Higo, T.; Hayano, H.; Araki, S.; Akemoto, M.;
By: Takeda, S.; Akai, K.; Yoshioka, M.; Yoshida, M.; Yokoya, K.; Yamaoka, Y.; Yamamoto, N.; Urakawa, J.; Takeuchi, Y.; Takata, K.; Takashima, T.; Suetake, M.; Shintake, T.; Shidara, T.; Sakai, H.; Otake, Y.; Odagiri, J.; Mizuno, H.; Matsumoto, H.; Kurokawa, S.; Kubo, T.; Kobayashi, H.; Kimura, Y.; Kawamoto, T.; Ishihara, N.; Higo, T.; Hayano, H.; Araki, S.; Akemoto, M.;
1989 / IEEE
By: Inukai, E.; Ishihara, T.; Uyeda, K.; Takahashi, K.; Umeda, M.; Higuchi, N.; Kimura, Y.; Meguro, S.;
By: Inukai, E.; Ishihara, T.; Uyeda, K.; Takahashi, K.; Umeda, M.; Higuchi, N.; Kimura, Y.; Meguro, S.;
1989 / IEEE
By: Jo, M.; Ohashi, S.; Terada, N.; Hirabayashi, M.; Ihara, H.; Hayashi, K.; Shimomura, T.; Sugise, R.; Kimura, Y.; Tokumoto, M.;
By: Jo, M.; Ohashi, S.; Terada, N.; Hirabayashi, M.; Ihara, H.; Hayashi, K.; Shimomura, T.; Sugise, R.; Kimura, Y.; Tokumoto, M.;
1993 / IEEE / 0-7803-1203-1
By: Takayama, K.; Ozaki, T.; Hiramatsu, S.; Kimura, Y.; Whittum, D.H.; Ebihara, K.; Kishiro, J.; Saito, K.;
By: Takayama, K.; Ozaki, T.; Hiramatsu, S.; Kimura, Y.; Whittum, D.H.; Ebihara, K.; Kishiro, J.; Saito, K.;
1996 / IEEE / 0-8186-7293-5
By: Nemoto, Y.; Ohta, K.; Kimura, Y.; Jayanthi, K.; Ouchi, M.; Mansfield, G.;
By: Nemoto, Y.; Ohta, K.; Kimura, Y.; Jayanthi, K.; Ouchi, M.; Mansfield, G.;
1995 / IEEE / 0-7803-3008-0
By: Uenishi, A.; Yoshida, S.; Nakajima, T.; Kimura, Y.; Ukita, S.; Shirasawa, T.;
By: Uenishi, A.; Yoshida, S.; Nakajima, T.; Kimura, Y.; Ukita, S.; Shirasawa, T.;
1988 / IEEE
By: Izumi, K.; Kimura, Y.; Ohta, E.; Akahori, T.; Eguchi, H.; Kosaka, D.; Takahashi, J.; Yamazaki, H.; Matsumoto, S.;
By: Izumi, K.; Kimura, Y.; Ohta, E.; Akahori, T.; Eguchi, H.; Kosaka, D.; Takahashi, J.; Yamazaki, H.; Matsumoto, S.;
1997 / IEEE / 0-7803-3887-1
By: Ando, M.; Goto, N.; Kimura, Y.; Akiyama, A.; Yamamoto, T.; Hirokawa, J.;
By: Ando, M.; Goto, N.; Kimura, Y.; Akiyama, A.; Yamamoto, T.; Hirokawa, J.;
1991 / IEEE
By: Ino, M.; Ichikawa, F.; Yoshimaru, M.; Nagatomo, Y.; Endoh, A.; Kimura, Y.; Mitsuhashi, T.; Takahashi, M.; Miyagawa, Y.; Itob, H.;
By: Ino, M.; Ichikawa, F.; Yoshimaru, M.; Nagatomo, Y.; Endoh, A.; Kimura, Y.; Mitsuhashi, T.; Takahashi, M.; Miyagawa, Y.; Itob, H.;
1998 / IEEE / 0-7803-5164-9
By: Hassan, M.; Togawa, T.; Fukuoka, M.; Shimase, A.; Asai, A.; Kimura, Y.;
By: Hassan, M.; Togawa, T.; Fukuoka, M.; Shimase, A.; Asai, A.; Kimura, Y.;
1999 / IEEE / 0-7803-5126-6
By: Suga, A.; Kimura, M.; Sato, T.; Anbutsu, H.; Sakate, M.; Asada, Y.; Takahashi, H.; Ando, S.; Kubosawa, H.; Higaki, N.; Shimada, T.; Nakagawa, Y.; Kaido, N.; Saito, H.; Hirochi, K.; Kimoto, M.; Nakayama, H.; Kimura, Y.; Asato, A.; Okano, H.; Miyake, H.;
By: Suga, A.; Kimura, M.; Sato, T.; Anbutsu, H.; Sakate, M.; Asada, Y.; Takahashi, H.; Ando, S.; Kubosawa, H.; Higaki, N.; Shimada, T.; Nakagawa, Y.; Kaido, N.; Saito, H.; Hirochi, K.; Kimoto, M.; Nakayama, H.; Kimura, Y.; Asato, A.; Okano, H.; Miyake, H.;
1999 / IEEE
By: Kaido, N.; Nakagawa, Y.; Hirochi, K.; Kimoto, M.; Nakayama, H.; Kimura, Y.; Asato, A.; Okano, H.; Miyake, H.; Saito, H.; Kimura, M.; Suga, A.; Sakate, M.; Sato, T.; Anbutsu, H.; Asada, Y.; Takahashi, H.; Ando, S.; Higaki, N.; Kubosawa, H.; Shimada, T.;
By: Kaido, N.; Nakagawa, Y.; Hirochi, K.; Kimoto, M.; Nakayama, H.; Kimura, Y.; Asato, A.; Okano, H.; Miyake, H.; Saito, H.; Kimura, M.; Suga, A.; Sakate, M.; Sato, T.; Anbutsu, H.; Asada, Y.; Takahashi, H.; Ando, S.; Higaki, N.; Kubosawa, H.; Shimada, T.;
1999 / IEEE / 0-7803-5674-8
By: Nemoto, N.; Kiyosawa, M.; Momose, K.; Kimura, Y.; Okuyama, F.; Mori, H.;
By: Nemoto, N.; Kiyosawa, M.; Momose, K.; Kimura, Y.; Okuyama, F.; Mori, H.;
1999 / IEEE / 0-7803-5674-8
By: Saito, H.; Togawa, T.; Tsuchiya, K.; Okada, S.; Shimase, A.; Otsuka, K.; Moinudin, H.M.D.; Kimura, Y.;
By: Saito, H.; Togawa, T.; Tsuchiya, K.; Okada, S.; Shimase, A.; Otsuka, K.; Moinudin, H.M.D.; Kimura, Y.;
1999 / IEEE / 0-7803-5682-9
By: Sasaki, Y.; Yuminaka, Y.; Kimura, Y.; Onaya, Y.; Hao San; Tanaka, K.; Kobayashi, K.; Kobayashi, H.; Mohamed Zin, M.A.; Ichimura, J.-I.; Abe, F.;
By: Sasaki, Y.; Yuminaka, Y.; Kimura, Y.; Onaya, Y.; Hao San; Tanaka, K.; Kobayashi, K.; Kobayashi, H.; Mohamed Zin, M.A.; Ichimura, J.-I.; Abe, F.;
2000 / IEEE / 0-7695-0571-6
By: Kimura, Y.; Mitsuishi, T.; Funyu, Y.; Sasaki, J.; Kamata, H.; Ogawa, A.;
By: Kimura, Y.; Mitsuishi, T.; Funyu, Y.; Sasaki, J.; Kamata, H.; Ogawa, A.;
Affine-invariant recognition of gray-scale characters using global affine transformation correlation
2001 / IEEEBy: Wakahara, T.; Tomono, A.; Kimura, Y.;
2001 / IEEE / 0-7695-1266-6
By: Widiyanto, A.; Sadamichi, Y.; Maruyama, N.; Kato, S.; Kimura, Y.; Joukaku, Y.;
By: Widiyanto, A.; Sadamichi, Y.; Maruyama, N.; Kato, S.; Kimura, Y.; Joukaku, Y.;