Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Kim, N.
Results
1996 / IEEE / 0-7803-3355-1
By: Kim, N.; Hackenberger, W.S.; Pickrell, D.P.; Shrout, T.R.; Cao, W.; Randall, C.A.;
By: Kim, N.; Hackenberger, W.S.; Pickrell, D.P.; Shrout, T.R.; Cao, W.; Randall, C.A.;
1997 / IEEE / 0-7803-3885-5
By: Wang, M.M.; Cokgor, I.; Dvornikov, A.S.; McCormick, F.B.; Kim, N.; Rentzepis, P.M.; Esener, S.C.; Coblentz, K.;
By: Wang, M.M.; Cokgor, I.; Dvornikov, A.S.; McCormick, F.B.; Kim, N.; Rentzepis, P.M.; Esener, S.C.; Coblentz, K.;
1998 / IEEE / 0-7803-4947-4
By: Esener, S.; Tomov, I.; Chapman, C.; Kim, N.; Rentzepis, P.; Zhang, H.; Dvornikov, S.; McCormick, F.B.; Costa, J.;
By: Esener, S.; Tomov, I.; Chapman, C.; Kim, N.; Rentzepis, P.; Zhang, H.; Dvornikov, S.; McCormick, F.B.; Costa, J.;
2002 / IEEE / 87-90974-63-8
By: White, J.K.; Firth, P.; Brooks, N.; Benwell, S.; Letal, G.; Butt, N.; Abbott, B.; Grevatt, T.; Walters, H.; Wylde, J.; Fekecs, A.; Zhang, S.; Woodard, A.; Kim, N.; Jones, T.; Das, S.R.; Knight, B.G.;
By: White, J.K.; Firth, P.; Brooks, N.; Benwell, S.; Letal, G.; Butt, N.; Abbott, B.; Grevatt, T.; Walters, H.; Wylde, J.; Fekecs, A.; Zhang, S.; Woodard, A.; Kim, N.; Jones, T.; Das, S.R.; Knight, B.G.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1802-2
By: Chen, X.; Samavedam, S.; Narayanan, V.; Stein, K.; Hobbs, C.; Baiocco, C.; Li, W.; Jaeger, D.; Zaleski, M.; Yang, H.S.; Kim, N.; Lee, Y.; Zhang, D.; Kang, L.; Chen, J.; Zhuang, H.; Sheikh, A.; Wallner, J.; Aquilino, M.; Han, J.; Jin, Z.; Li, J.; Massey, G.; Kalpat, S.; Jha, R.; Moumen, N.; Mo, R.; Kirshnan, S.; Wang, X.; Chudzik, M.; Chowdhury, M.; Nair, D.; Reddy, C.; Teh, Y.W.; Kothandaraman, C.; Coolbaugh, D.; Pandey, S.; Tekleab, D.; Thean, A.; Sherony, M.; Lage, C.; Sudijono, J.; Lindsay, R.; Ku, J.H.; Khare, M.; Steegen, A.;
By: Chen, X.; Samavedam, S.; Narayanan, V.; Stein, K.; Hobbs, C.; Baiocco, C.; Li, W.; Jaeger, D.; Zaleski, M.; Yang, H.S.; Kim, N.; Lee, Y.; Zhang, D.; Kang, L.; Chen, J.; Zhuang, H.; Sheikh, A.; Wallner, J.; Aquilino, M.; Han, J.; Jin, Z.; Li, J.; Massey, G.; Kalpat, S.; Jha, R.; Moumen, N.; Mo, R.; Kirshnan, S.; Wang, X.; Chudzik, M.; Chowdhury, M.; Nair, D.; Reddy, C.; Teh, Y.W.; Kothandaraman, C.; Coolbaugh, D.; Pandey, S.; Tekleab, D.; Thean, A.; Sherony, M.; Lage, C.; Sudijono, J.; Lindsay, R.; Ku, J.H.; Khare, M.; Steegen, A.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2784-0
By: Park, D.-G.; Stein, K.; Khare, M.; Divakaruni, R.; Steegen, A.; Lindsay, R.; Sherony, M.; Narayanan, V.; Samavedam, S.; Theon, V.-Y.; Chudzik, M.; Schepis, D.; Haetty, J.; Chowdhury, M.; Kanarsky, T.; Yan, W.; Chen, J.; Zhuang, H.; Jaeger, D.; Chen, X.; Loesing, R.; Tang, T.; Hatzistergos, M.; Moumen, N.; von Arnim, K.; Han, S.; Schruefer, K.; Lee, Y.; Han, J.-P.; Li, W.; Yin, H.; Pacha, C.; Kim, N.; Ostermayr, M.; Eller, M.; Kim, S.; Kim, K.;
By: Park, D.-G.; Stein, K.; Khare, M.; Divakaruni, R.; Steegen, A.; Lindsay, R.; Sherony, M.; Narayanan, V.; Samavedam, S.; Theon, V.-Y.; Chudzik, M.; Schepis, D.; Haetty, J.; Chowdhury, M.; Kanarsky, T.; Yan, W.; Chen, J.; Zhuang, H.; Jaeger, D.; Chen, X.; Loesing, R.; Tang, T.; Hatzistergos, M.; Moumen, N.; von Arnim, K.; Han, S.; Schruefer, K.; Lee, Y.; Han, J.-P.; Li, W.; Yin, H.; Pacha, C.; Kim, N.; Ostermayr, M.; Eller, M.; Kim, S.; Kim, K.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-6797-6
By: Woo, B.; Kim, S.; Chung, Y.; Seo, M.; Kim, J.; Kim, B.; Kim, J.-J.; Kim, N.;
By: Woo, B.; Kim, S.; Chung, Y.; Seo, M.; Kim, J.; Kim, B.; Kim, J.-J.; Kim, N.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-498-5
By: Arfaei, B.; Tashtoush, T.; Borgesen, P.; Wentlent, L.; Cotts, E.; Kim, N.;
By: Arfaei, B.; Tashtoush, T.; Borgesen, P.; Wentlent, L.; Cotts, E.; Kim, N.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-318-6
By: Xu, D.; Molina-Fernandez, I.; Ortega-Monux, A.; Alonso-Ramos, C.; Cheben, P.; Janz, S.; Kim, N.; Halir, R.; Zavargo-Peche, L.;
By: Xu, D.; Molina-Fernandez, I.; Ortega-Monux, A.; Alonso-Ramos, C.; Cheben, P.; Janz, S.; Kim, N.; Halir, R.; Zavargo-Peche, L.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0156-6
By: Kim, N.; Millet, L.; Park, K.; Bashir, R.; Aluru, N.R.; Hsia, K.J.; Li, H.;
By: Kim, N.; Millet, L.; Park, K.; Bashir, R.; Aluru, N.R.; Hsia, K.J.; Li, H.;