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Author: Kawano, Y.
Results
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Mahjoub, M.; Ochiai, Y.; Ishibashi, K.; Kawano, Y.; Aoki, N.; Ferry, D.K.; Bird, J.P.; Song, J.;
By: Mahjoub, M.; Ochiai, Y.; Ishibashi, K.; Kawano, Y.; Aoki, N.; Ferry, D.K.; Bird, J.P.; Song, J.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0377-4
By: Kanda, K.; Kawano, Y.; Yamaura, S.; Niratsuka, K.; Mori, T.; Suzuki, T.; Tamura, N.; Shima, M.; Oishi, K.; Mineyama, A.; Shimazui, N.; Kano, H.; Hasegawa, N.; Nakamoto, H.; Murakami, T.; Kudo, M.; Kawai, S.; Tamura, T.; Shirai, N.; Sasaki, T.;
By: Kanda, K.; Kawano, Y.; Yamaura, S.; Niratsuka, K.; Mori, T.; Suzuki, T.; Tamura, N.; Shima, M.; Oishi, K.; Mineyama, A.; Shimazui, N.; Kano, H.; Hasegawa, N.; Nakamoto, H.; Murakami, T.; Kudo, M.; Kawai, S.; Tamura, T.; Shirai, N.; Sasaki, T.;
2011 / IEEE / 978-0-85825-974-4
By: Sato, M.; Kawano, Y.; Mineyama, A.; Joshin, K.; Hara, N.; Suzuki, T.;
By: Sato, M.; Kawano, Y.; Mineyama, A.; Joshin, K.; Hara, N.; Suzuki, T.;
1993 / IEEE / 0-7803-1450-6
By: Kondoh, E.; Ohta, T.; Yamamoto, H.; Katagiri, T.; Takeyasu, N.; Kawano, Y.;
By: Kondoh, E.; Ohta, T.; Yamamoto, H.; Katagiri, T.; Takeyasu, N.; Kawano, Y.;
1994 / IEEE / 0-7803-2072-7
By: Misono, S.; Oikawa, T.; Sugiyama, M.; Kawano, Y.; Tomizawa, M.; Niizuma, M.; Degawa, S.;
By: Misono, S.; Oikawa, T.; Sugiyama, M.; Kawano, Y.; Tomizawa, M.; Niizuma, M.; Degawa, S.;
1994 / IEEE / 0-7803-2135-9
By: Takagaki, M.; Niizuma, M.; Kawano, Y.; Sugiyama, M.; Degawa, S.; Tomizawa, M.;
By: Takagaki, M.; Niizuma, M.; Kawano, Y.; Sugiyama, M.; Degawa, S.; Tomizawa, M.;
2004 / IEEE / 0-7803-8333-8
By: Hirose, T.; Makiyama, K.; Takahashi, T.; Kawano, Y.; Takikawa, A.; Suzuki, T.; Kano, H.; Nakasha, Y.;
By: Hirose, T.; Makiyama, K.; Takahashi, T.; Kawano, Y.; Takikawa, A.; Suzuki, T.; Kano, H.; Nakasha, Y.;
2004 / IEEE / 0-7803-8289-7
By: Nakamura, K.; Li, Y.; McFeely, F.R.; Callegari, A.; Narayanan, V.; Shahidi, G.; Ieong, M.; Jammy, R.; Wann, C.; Ng, H.; Duch, F.; Sikorski, E.; Jamison, P.; Lacey, D.; Kawano, Y.; Wajda, C.; Gribelyuk, M.; Cabral, C., Jr.; Milkove, K.; Nguyen, P.; Ku, V.; Steegen, A.; Cartier, E.; Zafar, S.;
By: Nakamura, K.; Li, Y.; McFeely, F.R.; Callegari, A.; Narayanan, V.; Shahidi, G.; Ieong, M.; Jammy, R.; Wann, C.; Ng, H.; Duch, F.; Sikorski, E.; Jamison, P.; Lacey, D.; Kawano, Y.; Wajda, C.; Gribelyuk, M.; Cabral, C., Jr.; Milkove, K.; Nguyen, P.; Ku, V.; Steegen, A.; Cartier, E.; Zafar, S.;
2004 / IEEE / 0-7803-8616-7
By: Makiyarna, K.; Ohki, T.; Masuda, S.; Kawano, Y.; Takahashi, T.; Inoue, Y.; Hirose, T.; Sato, M.; Shigematsu, H.;
By: Makiyarna, K.; Ohki, T.; Masuda, S.; Kawano, Y.; Takahashi, T.; Inoue, Y.; Hirose, T.; Sato, M.; Shigematsu, H.;
2004 / IEEE / 0-7803-8616-7
By: Takahashi, T.; Nakasha, Y.; Kawano, Y.; Suzuki, T.; Takikawa, M.; Hirose, T.; Makiyama, K.;
By: Takahashi, T.; Nakasha, Y.; Kawano, Y.; Suzuki, T.; Takikawa, M.; Hirose, T.; Makiyama, K.;
2004 / IEEE / 0-7803-8595-0
By: Kishimoto, S.; Ohno, Y.; Komoto, Y.; Kawano, Y.; Maezawa, K.; Mizutani, T.;
By: Kishimoto, S.; Ohno, Y.; Komoto, Y.; Kawano, Y.; Maezawa, K.; Mizutani, T.;
2005 / IEEE / 0-7803-9250-7
By: Makiyama, K.; Takahashi, T.; Nakasha, Y.; Kawano, Y.; Suzuki, T.; Hirose, T.;
By: Makiyama, K.; Takahashi, T.; Nakasha, Y.; Kawano, Y.; Suzuki, T.; Hirose, T.;
2004 / IEEE / 0-7803-8423-7
By: Komoto, Y.; Kawano, Y.; Maezawa, K.; Sano, K.; Mizutani, T.; Kishimoto, S.; Ohno, Y.;
By: Komoto, Y.; Kawano, Y.; Maezawa, K.; Sano, K.; Mizutani, T.; Kishimoto, S.; Ohno, Y.;
2005 / IEEE / 0-7803-9294-9
By: Okumura, K.; Murakami, K.; Matsunaga, Y.; Kawano, Y.; Hasebe, T.; Takata, T.; Kishimoto, K.; Hayashi, H.; Inanami, R.; Nakamura, K.; Sugihara, M.;
By: Okumura, K.; Murakami, K.; Matsunaga, Y.; Kawano, Y.; Hasebe, T.; Takata, T.; Kishimoto, K.; Hayashi, H.; Inanami, R.; Nakamura, K.; Sugihara, M.;
2006 / IEEE / 0-7803-9389-9
By: Inanami, R.; Inanami, Rx.; Okumura, K.; Nakamura, K.; Takata, T.; Sugihara, M.; Hayashi, H.; Murakami, K.; Matsunaga, Y.; Kawano, Y.; Hasebe, T.; Kishimoto, K.;
By: Inanami, R.; Inanami, Rx.; Okumura, K.; Nakamura, K.; Takata, T.; Sugihara, M.; Hayashi, H.; Murakami, K.; Matsunaga, Y.; Kawano, Y.; Hasebe, T.; Kishimoto, K.;
2006 / IEEE / 0-7803-9541-7
By: Hamaguchi, K.; Oishi, Y.; Hirose, T.; Takahashi, T.; Kawano, Y.; Masuda, S.; Yokoo, K.; Nakasha, Y.;
By: Hamaguchi, K.; Oishi, Y.; Hirose, T.; Takahashi, T.; Kawano, Y.; Masuda, S.; Yokoo, K.; Nakasha, Y.;
2006 / IEEE
By: Takahashi, T.; Masuda, S.; Yokoo, K.; Nakasha, Y.; Hirose, T.; Kawano, Y.; Hamaguchi, K.; Oishi, Y.;
By: Takahashi, T.; Masuda, S.; Yokoo, K.; Nakasha, Y.; Hirose, T.; Kawano, Y.; Hamaguchi, K.; Oishi, Y.;
2006 / IEEE / 2-9600551-6-0
By: Hirose, T.; Nakasha, Y.; Kawano, Y.; Joshin, K.; Suzuki, T.; Makiyama, K.; Takahashi, T.; Ohki, T.;
By: Hirose, T.; Nakasha, Y.; Kawano, Y.; Joshin, K.; Suzuki, T.; Makiyama, K.; Takahashi, T.; Ohki, T.;
2006 / IEEE / 2-9600551-7-9
By: Makiyama, K.; Takahashi, T.; Suzuki, T.; Ohki, T.; Hirose, T.; Nakasha, Y.; Kawano, Y.; Joshin, K.;
By: Makiyama, K.; Takahashi, T.; Suzuki, T.; Ohki, T.; Hirose, T.; Nakasha, Y.; Kawano, Y.; Joshin, K.;
2007 / IEEE
By: Kawano, Y.; Suzuki, T.; Hirose, T.; Makiyama, K.; Takahashi, T.; Yamaura, S.; Nakasha, Y.;
By: Kawano, Y.; Suzuki, T.; Hirose, T.; Makiyama, K.; Takahashi, T.; Yamaura, S.; Nakasha, Y.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1940-1
By: Hirose, T.; Makiyama, K.; Ohki, T.; Takahashi, T.; Hara, N.; Suzuki, T.; Kawano, Y.; Nakasha, Y.;
By: Hirose, T.; Makiyama, K.; Ohki, T.; Takahashi, T.; Hara, N.; Suzuki, T.; Kawano, Y.; Nakasha, Y.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2377-4
By: Suzuki, T.; Shima, M.; Futatsugi, T.; Joshin, K.; Yamaura, S.; Okabe, K.; Kawano, Y.;
By: Suzuki, T.; Shima, M.; Futatsugi, T.; Joshin, K.; Yamaura, S.; Okabe, K.; Kawano, Y.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2641-6
By: Hirose, T.; Nakasha, Y.; Sato, M.; Suzuki, T.; Kawano, Y.; Joshin, K.; Hara, N.;
By: Hirose, T.; Nakasha, Y.; Sato, M.; Suzuki, T.; Kawano, Y.; Joshin, K.; Hara, N.;
2009 / IEEE
By: Sato, M.; Nakasha, Y.; Hara, N.; Ohki, T.; Kawano, Y.; Makiyama, K.; Takahashi, T.; Suzuki, T.; Tajima, T.;
By: Sato, M.; Nakasha, Y.; Hara, N.; Ohki, T.; Kawano, Y.; Makiyama, K.; Takahashi, T.; Suzuki, T.; Tajima, T.;
2010 / IEEE / 978-2-87487-017-0
By: Hirose, T.; Suzuki, T.; Toyoda, O.; Xiaoyu Mi; Kawano, Y.; Joshin, K.; Ueda, S.;
By: Hirose, T.; Suzuki, T.; Toyoda, O.; Xiaoyu Mi; Kawano, Y.; Joshin, K.; Ueda, S.;
2010 / IEEE / 978-2-87487-016-3
By: Hirose, T.; Suzuki, T.; Toyoda, O.; Xiaoyu Mi; Kawano, Y.; Joshin, K.; Ueda, S.;
By: Hirose, T.; Suzuki, T.; Toyoda, O.; Xiaoyu Mi; Kawano, Y.; Joshin, K.; Ueda, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8292-4
By: Mineyama, A.; Kawano, Y.; Joshin, K.; Hirose, T.; Sato, M.; Suzuki, T.;
By: Mineyama, A.; Kawano, Y.; Joshin, K.; Hirose, T.; Sato, M.; Suzuki, T.;